JPS6110574U - ダイオ−ドの高温逆バイアス試験装置 - Google Patents

ダイオ−ドの高温逆バイアス試験装置

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JPS6110574U
JPS6110574U JP9574384U JP9574384U JPS6110574U JP S6110574 U JPS6110574 U JP S6110574U JP 9574384 U JP9574384 U JP 9574384U JP 9574384 U JP9574384 U JP 9574384U JP S6110574 U JPS6110574 U JP S6110574U
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JP
Japan
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high temperature
reverse bias
test equipment
diode
electrode
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Application number
JP9574384U
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隆 森上
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Publication of JPS6110574U publication Critical patent/JPS6110574U/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】 第１図は本考案の一実施例に係るパネル台の部分正面図
、第２図は全正面図、第３図ａ， ｂはそれぞれ従来の
パネル台の正面図と側面図である。 １・・・・・・台板、１ａ・・・・・・下部台板、１ｂ
・・・・・・上部台板、２・・・・・・凹状電極、２ａ
・・・・・・凹部、３・・・・・・凸状電極、３ａ・・
・・・・突起体、３ｂ・・・・・・突起体支持ばね、４
・・・・・・キャッチ金具、４ｂ・・・・・・固定ポー
ル、５・・・・・・球頭ビス、６・・・・・・蝶番、８
・・・・・・被試験ダイオード、８ａ・・・・・・ダイ
オードリード。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. リード型ダイオードのアノードおよびカソードリードを
    それそれ支持すると共に、これらリードと導電接続をと
    るための一対の支持電極を備えたダイオードの高温逆バ
    イアス試験装置において、前記支持電極は前記リードを
    受入れる凹部を有する凹状電極と、この凹状電極の上に
    重ね、ばねの力により前記凹状電極に支持されたダイオ
    ードのリードを凹状電極に押し付け固定する凸状電極と
    からなることを特徴とするダイオードの高温逆バイアス
    試験装置。
JP9574384U 1984-06-26 1984-06-26 ダイオ−ドの高温逆バイアス試験装置 Pending JPS6110574U (ja)

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JPS6110574U true JPS6110574U (ja) 1986-01-22

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