JPS6111029A - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
- Publication number
- JPS6111029A JPS6111029A JP59130658A JP13065884A JPS6111029A JP S6111029 A JPS6111029 A JP S6111029A JP 59130658 A JP59130658 A JP 59130658A JP 13065884 A JP13065884 A JP 13065884A JP S6111029 A JPS6111029 A JP S6111029A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay
- ultrasonic
- diagnostic apparatus
- ultrasonic diagnostic
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- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004898 kneading Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、超音波診断装置に関し、更に詳しくは、超音
波信号ビームの焦点制御に関する。
波信号ビームの焦点制御に関する。
（従来の技術）
超音波振動子列を用いた超音波診断装置では、各超音波
撮動子を駆動づるトリガ信号に所定の遅延量を向えるこ
とにより、超音波信号ビームの焦点を絞ることが行われ
ている。
撮動子を駆動づるトリガ信号に所定の遅延量を向えるこ
とにより、超音波信号ビームの焦点を絞ることが行われ
ている。
第３図は、従来のこのような装置の一例を示す回路図で
ある。第３図において、１は遅延線であり、複数の遅延
時間が設定できるように複数の時間設定端子が設けられ
ている。２はトリガ信号入力線であり、遅延線１の入力
端子に接続されている。３は各駆動回路４に加えられる
トリガ信号の遅延量を切り換え選択するスイッチであり
、ａａｉ類の遅延量を選択する例を示している。５は駆
動回路４により励振される超音波振動子である。
ある。第３図において、１は遅延線であり、複数の遅延
時間が設定できるように複数の時間設定端子が設けられ
ている。２はトリガ信号入力線であり、遅延線１の入力
端子に接続されている。３は各駆動回路４に加えられる
トリガ信号の遅延量を切り換え選択するスイッチであり
、ａａｉ類の遅延量を選択する例を示している。５は駆
動回路４により励振される超音波振動子である。
このような構成において、スイッチ３を切り換えて各駆
動回路４に加えられるトリガ１言号のバ延量を切り換え
ることにより、超音波信号ビームの焦点距離を変えるこ
とができる。
動回路４に加えられるトリガ１言号のバ延量を切り換え
ることにより、超音波信号ビームの焦点距離を変えるこ
とができる。
（発明が解決しようとづ′る問題点〉
しかし、このような構成によれば、焦点距Ｈの種類毎に
遅延量を選択するスイッチを設けなりればならず、焦点
距離の種類を多くするためにはスイッチ量が相当多くな
ってしまい、現実的でｂい。
遅延量を選択するスイッチを設けなりればならず、焦点
距離の種類を多くするためにはスイッチ量が相当多くな
ってしまい、現実的でｂい。
本発明は、上記の問題に鑑みてなされたもので、その目
的は、比較的簡単な構成で、超音波信号ビームの焦点距
離を任意の値に設定Ｊることができる超音波診断装置を
実現することにある。
的は、比較的簡単な構成で、超音波信号ビームの焦点距
離を任意の値に設定Ｊることができる超音波診断装置を
実現することにある。
（問題点を解決するｋめの手段）
この問題点を、解決する本発明は、超音波振動子列を構
成する各超音波振動子を所定の遅延量が与えられたトリ
ガ信号で駆動することにより超音波信号ビームを送出づ
るように構成された超音波診断装置において、前記遅延
量を与える手段として可変遅延要素を用いることを特徴
とするものである。
成する各超音波振動子を所定の遅延量が与えられたトリ
ガ信号で駆動することにより超音波信号ビームを送出づ
るように構成された超音波診断装置において、前記遅延
量を与える手段として可変遅延要素を用いることを特徴
とするものである。
（実施例）
以］−１図面を参照し本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第１図は、本発明の一実施例を示す回路図であり、第３
３図と同一部分には同一符号を付して示し、その説明は
省略する。第１図において、６は全体の遅延量を任意に
調整づることができる可変遅延線であり、トリガ信号入
力線２が接続される入力端子及び各駆動回路４が接続さ
れる複数の時間設定端子の他、全体の遅延間を制御づる
ための制御信号の入力線７が設（プられている。尚、第
１図て゛は、各駆動回路４は、第３図のように遅延間を
切り換えるためのスイッチ３を介在さぼることなく直接
可変遅延線６の時間設定端子に接続されている。
３図と同一部分には同一符号を付して示し、その説明は
省略する。第１図において、６は全体の遅延量を任意に
調整づることができる可変遅延線であり、トリガ信号入
力線２が接続される入力端子及び各駆動回路４が接続さ
れる複数の時間設定端子の他、全体の遅延間を制御づる
ための制御信号の入力線７が設（プられている。尚、第
１図て゛は、各駆動回路４は、第３図のように遅延間を
切り換えるためのスイッチ３を介在さぼることなく直接
可変遅延線６の時間設定端子に接続されている。
第２図は、本発明で用いる可変遅延線６の具体例を示す
回路図である。第２図において、し−はインダクタ、Ｖ
Ｃはバリキャップ、ＭＲは整合抵抗、Ｃはキャパシタ、
ＶＲは可変抵抗である。インダクタＬは直列に接続され
ていて、一端は整合抵抗Ｍ Ｒを介して共通電位点に接
続されている。バリキャップＶＣの一端はインダクタＬ
の接続点に接続され、他端は共通に接続されている。キ
ャパシタＣはバリキャップＶＣの共通接続点と共通電位
点間に接続されている。可変抵抗ＶＲの一端は電源十Ｖ
ＣＣに接続され、他端は共通電位点に接続され、可動端
子はバリキャップＶＣの共通接続点に接続されている。
回路図である。第２図において、し−はインダクタ、Ｖ
Ｃはバリキャップ、ＭＲは整合抵抗、Ｃはキャパシタ、
ＶＲは可変抵抗である。インダクタＬは直列に接続され
ていて、一端は整合抵抗Ｍ Ｒを介して共通電位点に接
続されている。バリキャップＶＣの一端はインダクタＬ
の接続点に接続され、他端は共通に接続されている。キ
ャパシタＣはバリキャップＶＣの共通接続点と共通電位
点間に接続されている。可変抵抗ＶＲの一端は電源十Ｖ
ＣＣに接続され、他端は共通電位点に接続され、可動端
子はバリキャップＶＣの共通接続点に接続されている。
ここで、キャパシタＣとしては、必要帯域で十分に短絡
状態になるような静電容量の大さいものを用いる。この
ような構成において、遅延量は、バリキトツブ＼／Ｃに
加える逆バイアス電圧を高くづることによって小さくす
ることができ、逆バイアス電圧を低くすることによって
大きくすることができる。このような逆バイアス電圧の
制御は、可変抵抗ＶＲの可動端子の位置を制御づること
にＪ、り行うことができる。従って、この可変抵抗ＶＲ
の可動端子の位置調整手段を装置の操作パネル面に設（
づておくことにより、任意に全体の遅延量を設定するこ
とができる。
状態になるような静電容量の大さいものを用いる。この
ような構成において、遅延量は、バリキトツブ＼／Ｃに
加える逆バイアス電圧を高くづることによって小さくす
ることができ、逆バイアス電圧を低くすることによって
大きくすることができる。このような逆バイアス電圧の
制御は、可変抵抗ＶＲの可動端子の位置を制御づること
にＪ、り行うことができる。従って、この可変抵抗ＶＲ
の可動端子の位置調整手段を装置の操作パネル面に設（
づておくことにより、任意に全体の遅延量を設定するこ
とができる。
再び第１図に戻り、動作について説明づる。
超音波振動子５が奇数個配列されているものとづると、
焦点距離１−に超音波１３号ビームを絞るために索子ｎ
（ｎ ； ０．±１，４ｙ２．・・・：） Ｎ ＞
に加えな１ノれぼならイ≧い遅延ｍＤｎは、Ｄｎ （
ｄ ２ （Ｎ２−ＩＩ ２））／２ＣＦ・・・（１）
となる、１と−こで、（」（よ超音波振動子５の配列ビ
ツヂであり、Ｃは音速Ｃ゛ある。尚、各超音波振動子５
の番′；８ ＩＩは、例えば５個が縦方向に配列されて
いる場合には、上から順次ｎ＝２．ｎ ＝ｉ、ｎ −○
、 ｎ ＝−１，ｎ ＝−２としてイ・」【Ｊるものど
りる。
焦点距離１−に超音波１３号ビームを絞るために索子ｎ
（ｎ ； ０．±１，４ｙ２．・・・：） Ｎ ＞
に加えな１ノれぼならイ≧い遅延ｍＤｎは、Ｄｎ （
ｄ ２ （Ｎ２−ＩＩ ２））／２ＣＦ・・・（１）
となる、１と−こで、（」（よ超音波振動子５の配列ビ
ツヂであり、Ｃは音速Ｃ゛ある。尚、各超音波振動子５
の番′；８ ＩＩは、例えば５個が縦方向に配列されて
いる場合には、上から順次ｎ＝２．ｎ ＝ｉ、ｎ −○
、 ｎ ＝−１，ｎ ＝−２としてイ・」【Ｊるものど
りる。
ところで、（１）式で示す遅延間Ｄｎか仝休としてに倍
になったものとづ−ると、 ｋ（ｄ２（Ｎ？−ｎ２））／２Ｃに ＝（ｄ２ （Ｎ２−ｎ２））／（２Ｃ（Ｆ／ｋ）１・・
・（２） となり、焦点距離「が１／ｋに変化覆ることになる。
になったものとづ−ると、 ｋ（ｄ２（Ｎ？−ｎ２））／２Ｃに ＝（ｄ２ （Ｎ２−ｎ２））／（２Ｃ（Ｆ／ｋ）１・・
・（２） となり、焦点距離「が１／ｋに変化覆ることになる。
こねにより、可変遅延線６の全体の遅延間を、例えば第
２図に示ブような可変抵抗ＶＲの可動端子の位置を制御
して変えることにＪ、って、超音波信号ビームの焦点距
離を調整範囲内において任意の値に設定づ−ることがて
きる。そして、前）ホのＪ、うに、可変遅延線６のｉＹ
延ｈ１設定操作手段となる可変抵抗ＶＲの可動端子の位
置調整手段を装置の操作パネル面に設（プｌシくζ：と
により、操負省が画像を観察しながら画像のイ［意の位
置におｌ′Ｊる分解能を任意に設定することがてさ、操
作１１を高めることかできる。
２図に示ブような可変抵抗ＶＲの可動端子の位置を制御
して変えることにＪ、って、超音波信号ビームの焦点距
離を調整範囲内において任意の値に設定づ−ることがて
きる。そして、前）ホのＪ、うに、可変遅延線６のｉＹ
延ｈ１設定操作手段となる可変抵抗ＶＲの可動端子の位
置調整手段を装置の操作パネル面に設（プｌシくζ：と
により、操負省が画像を観察しながら画像のイ［意の位
置におｌ′Ｊる分解能を任意に設定することがてさ、操
作１１を高めることかできる。
尚、十記実施例で（Ｊ、可変遅延要素として、バリＡ−
ヤップどインダクタで構成された遅延線を用いるＩ！／
ＩＪ Ｇ：示し／、二か、例えばディジタル的に遅延時
間を変化さ１↓るものであってもよい。
ヤップどインダクタで構成された遅延線を用いるＩ！／
ＩＪ Ｇ：示し／、二か、例えばディジタル的に遅延時
間を変化さ１↓るものであってもよい。
（発明の効果）
以上説明したＪ、うに、本発明によれば、比較内閣１ｉ
な構成Ｃ１超音波信８ビームの焦点距離を任意の値に説
定伎ることができる超音波診断装置を実現できる。
な構成Ｃ１超音波信８ビームの焦点距離を任意の値に説
定伎ることができる超音波診断装置を実現できる。
第１図は本発明の一実施例を示１回路図、第２図は本発
明で用いる可変遅延要素の具体例を示づ回路図、第３図
は従来の装置の一例を示づ回路図である。 ２・・・トリガ信号入力線 ４・・駆動回路 ５・・・超音波振動子６・・・可
変遅延線 ７・・・遅延量制御信号入力線特ｒ「出願
人 横河メディカルシステム株式会社尼１図 篤２図 ３“°′−
明で用いる可変遅延要素の具体例を示づ回路図、第３図
は従来の装置の一例を示づ回路図である。 ２・・・トリガ信号入力線 ４・・駆動回路 ５・・・超音波振動子６・・・可
変遅延線 ７・・・遅延量制御信号入力線特ｒ「出願
人 横河メディカルシステム株式会社尼１図 篤２図 ３“°′−
Claims (2)
- （１）超音波振動子列を構成する各超音波振動子を所定
の遅延量が与えられたトリガ信号で駆動することにより
超音波信号ビームを送出するように構成された超音波診
断装置において、前記遅延量を与える手段として可変遅
延要素を用いることを特徴とする超音波診断装置。 - （２）前記可変遅延要素の遅延量設定操作手段を操作パ
ネル面に設けたことを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59130658A JPS6111029A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59130658A JPS6111029A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 超音波診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6111029A true JPS6111029A (ja) | 1986-01-18 |
Family
ID=15039511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59130658A Pending JPS6111029A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6111029A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07275250A (ja) * | 1995-04-10 | 1995-10-24 | Toshiba Corp | 超音波診断装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55151280A (en) * | 1979-05-15 | 1980-11-25 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Phased array sonar |
| JPS5676067A (en) * | 1979-11-27 | 1981-06-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ultrasonic wave receiving circuit |
| JPS58136337A (ja) * | 1982-02-09 | 1983-08-13 | 松下電器産業株式会社 | 超音波診断装置 |
-
1984
- 1984-06-25 JP JP59130658A patent/JPS6111029A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55151280A (en) * | 1979-05-15 | 1980-11-25 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Phased array sonar |
| JPS5676067A (en) * | 1979-11-27 | 1981-06-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ultrasonic wave receiving circuit |
| JPS58136337A (ja) * | 1982-02-09 | 1983-08-13 | 松下電器産業株式会社 | 超音波診断装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07275250A (ja) * | 1995-04-10 | 1995-10-24 | Toshiba Corp | 超音波診断装置 |
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