JPS61120048A - Nmrイメ−ジング装置用フアントム - Google Patents
Nmrイメ−ジング装置用フアントムInfo
- Publication number
- JPS61120048A JPS61120048A JP59240706A JP24070684A JPS61120048A JP S61120048 A JPS61120048 A JP S61120048A JP 59240706 A JP59240706 A JP 59240706A JP 24070684 A JP24070684 A JP 24070684A JP S61120048 A JPS61120048 A JP S61120048A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- phantom
- slice
- rod
- nmr imaging
- shaped
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/58—Calibration of imaging systems, e.g. using test probes, Phantoms; Calibration objects or fiducial markers such as active or passive RF coils surrounding an MR active material
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、NMR,イメージング装置のスライス位置あ
るいはスライス厚さの測定等に用いられるN〜iRイメ
ージング装置用ファントムに関するものである。
るいはスライス厚さの測定等に用いられるN〜iRイメ
ージング装置用ファントムに関するものである。
従来のファントムは、例えば中空円柱状の透明合成樹脂
体(アクリル等)の容器中に水やその他の基準物質を充
填したもの等が用いられているかこれらは主に、感度や
分解能を測定するものであり、スライスがファントムの
どの位置であっても同一の画像パターンが得られるよう
なものであった。
体(アクリル等)の容器中に水やその他の基準物質を充
填したもの等が用いられているかこれらは主に、感度や
分解能を測定するものであり、スライスがファントムの
どの位置であっても同一の画像パターンが得られるよう
なものであった。
さらに、NMRイメージング装置においてスライス位置
とスライス厚さは、傾斜磁場強度と高周波磁場のパルス
印加時間の関係によって決まるもので、それらが実際の
観察領域内で正確に印加されているかを直接に測定する
ことは非常に困難である。
とスライス厚さは、傾斜磁場強度と高周波磁場のパルス
印加時間の関係によって決まるもので、それらが実際の
観察領域内で正確に印加されているかを直接に測定する
ことは非常に困難である。
そこで、スライス位置およびスライス厚さを簡単に測定
できるファントムが必要になった。
できるファントムが必要になった。
NM几イメージング装置において、そのスライス位置と
スライス厚式を容易に測定することができるNMRイメ
ージング装摸用ファントムを提供することKある。
スライス厚式を容易に測定することができるNMRイメ
ージング装摸用ファントムを提供することKある。
本発明は、スライス位置り一よびスライス厚さに応じて
、種々の画像パターンが得られるようにしたファントン
であり、あらかじめ校正された画像パターンから実際の
スライス位置およびスライス厚さを測定することができ
るものである。
、種々の画像パターンが得られるようにしたファントン
であり、あらかじめ校正された画像パターンから実際の
スライス位置およびスライス厚さを測定することができ
るものである。
第2図で、直径35mの棒状合成樹脂体(アクリル等)
の断面に直径30rtm、深さ51の穴を堀りそこに、
核出気共鳴を生じる試料(例えば、水や硫酸鋼溶液等)
を入れ、同じ材料で封止する。
の断面に直径30rtm、深さ51の穴を堀りそこに、
核出気共鳴を生じる試料(例えば、水や硫酸鋼溶液等)
を入れ、同じ材料で封止する。
このような棒状試料を、長さをz5■ずつ変えて24種
類用意する。
類用意する。
この棒状試料を第1図のように直径300mの板状合成
樹脂体に、らせん状に配置し固定する。
樹脂体に、らせん状に配置し固定する。
さらに反対側にも先の板を取付ける。
このようなファントムで、8MR1イメージングを行な
えば、スライスされた位置にある棒状試料だけが、画像
化されるので画像化された棒状試料の位置からスライス
位置が解り、画像化され次棒状試料の数からスライス厚
式を知ることができる。
えば、スライスされた位置にある棒状試料だけが、画像
化されるので画像化された棒状試料の位置からスライス
位置が解り、画像化され次棒状試料の数からスライス厚
式を知ることができる。
ファントムは、第2図に示すような複数個の長さの異な
る棒状の試料3からなる。各々の試料は、その全長が2
.5Wずつ異ep、5.0 w〜6 Z 5 amまで
24種類のものを用いる。さらに棒状の試料3は試料の
容器6、フタ5、硫酸鋼溶tL4からなり、試料の容器
6には直径20■、呆さ5w1lの溝があり、硫酸調水
溶液4を充てんしである。さらに溶液が漏れないように
7タ5で密封している。
る棒状の試料3からなる。各々の試料は、その全長が2
.5Wずつ異ep、5.0 w〜6 Z 5 amまで
24種類のものを用いる。さらに棒状の試料3は試料の
容器6、フタ5、硫酸鋼溶tL4からなり、試料の容器
6には直径20■、呆さ5w1lの溝があり、硫酸調水
溶液4を充てんしである。さらに溶液が漏れないように
7タ5で密封している。
この棒状の試料3を第1図に示すように側板1に取り付
ける。この際、スライスによって得られる画像の判読が
容易なように、棒状の試料3は時計回りに、その長さの
短いものから順に並べてめる。
ける。この際、スライスによって得られる画像の判読が
容易なように、棒状の試料3は時計回りに、その長さの
短いものから順に並べてめる。
さらに、ファントムは安定に置けるように支柱2を介し
て、もう一枚の側板1t−取りつけである。
て、もう一枚の側板1t−取りつけである。
この実施例では、ファントムの材料はアクリルを用いて
いる。
いる。
例えば、第1図のファントムで下部5個の棒状試料が画
像化され九とすると、スライス位置はファントムの第1
の棒状試料(最上部)から20mmのところで、スライ
ス厚さは約101111ということになる。
像化され九とすると、スライス位置はファントムの第1
の棒状試料(最上部)から20mmのところで、スライ
ス厚さは約101111ということになる。
このように、スライス位置やスライス厚式に応じて異な
る画像パターンが得られるようなファントムなので、容
易にそれらと測定することができる等、すぐれた特徴を
有するNM几イメージング装置用ファ/トムka供する
ことができる。
る画像パターンが得られるようなファントムなので、容
易にそれらと測定することができる等、すぐれた特徴を
有するNM几イメージング装置用ファ/トムka供する
ことができる。
lた、i’JM几イメージング装置のスライス位置は通
常、ライトマーカ等を史用して決めている。
常、ライトマーカ等を史用して決めている。
本光明のファントムは、このライトマーカの位置校正と
しても市川である等すぐnた特徴を南゛するN +vI
Rイメー7/グ装置用ファントムを提供することがで
きる。
しても市川である等すぐnた特徴を南゛するN +vI
Rイメー7/グ装置用ファントムを提供することがで
きる。
ン’lお、本発明1よ、上記し、かつ図面lこ示を実施
例に限定することなく、その要旨を震災しない範囲内で
遇亘変形して実施し得るものでり9、ファント・・の試
料の配置などは種々のものが可能である。
例に限定することなく、その要旨を震災しない範囲内で
遇亘変形して実施し得るものでり9、ファント・・の試
料の配置などは種々のものが可能である。
第1図はファントムの概略図、第2図eよファントム内
に配置する棒状試料の断面図でめゐ。 l・・・側板、2・・・支柱、3・・・棒状の試料、4
・・・硫酸竿 1(2) 竿2図
に配置する棒状試料の断面図でめゐ。 l・・・側板、2・・・支柱、3・・・棒状の試料、4
・・・硫酸竿 1(2) 竿2図
Claims (1)
- 1、核磁気共鳴を生ずる物質で形成され、NMRイメー
ジング装置の校正に用いられるファントムにおいて、ス
ライス位置およびスライス厚さに応じて、異なるパター
ンが得られるように、前記、核磁気共鳴を生ずる物質を
配置したことを特徴とするNMRイメージング装置用フ
ァントム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59240706A JPS61120048A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | Nmrイメ−ジング装置用フアントム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59240706A JPS61120048A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | Nmrイメ−ジング装置用フアントム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61120048A true JPS61120048A (ja) | 1986-06-07 |
Family
ID=17063492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59240706A Pending JPS61120048A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | Nmrイメ−ジング装置用フアントム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61120048A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH026701A (ja) * | 1988-06-23 | 1990-01-10 | Hitachi Ltd | 非破壊断面形状検査装置 |
-
1984
- 1984-11-16 JP JP59240706A patent/JPS61120048A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH026701A (ja) * | 1988-06-23 | 1990-01-10 | Hitachi Ltd | 非破壊断面形状検査装置 |
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