JPS61120943A - 熱応力歪測定装置 - Google Patents

熱応力歪測定装置

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Publication number
JPS61120943A
JPS61120943A JP24429684A JP24429684A JPS61120943A JP S61120943 A JPS61120943 A JP S61120943A JP 24429684 A JP24429684 A JP 24429684A JP 24429684 A JP24429684 A JP 24429684A JP S61120943 A JPS61120943 A JP S61120943A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stress
sample
supported
generator
cycle function
Prior art date
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Pending
Application number
JP24429684A
Other languages
English (en)
Inventor
Rintaro Nakatani
林太郎 中谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments and Electronics Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS61120943A publication Critical patent/JPS61120943A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/32—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying repeated or pulsating forces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
    • G01N2203/022—Environment of the test
    • G01N2203/0222—Temperature
    • G01N2203/0226—High temperature; Heating means

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業の利用分野〕 この発明は熱応力歪測定装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来用いられていた熱応力歪測定装置は、温度制御器に
よって制御された加熱炉中に試料を置き、これに周期的
な応力を加えることによって生ずる歪を検出する装置で
、応力の発生回数は指定できないものであった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
熱応力歪測定の応用分野としである温度域での試料の疲
労試験があり、試料の疲労度は応力の周期的な変化の回
数に依存することは一般に良く知られている。そのため
疲労試験を行うためには多周期的な応力の発生が必要で
周期回数指定不能の周期的応力発生器しか持たない従来
のような熱応力歪測定装置では、人間が応力の発生回数
を監視しつづけ所望の回数終了後、手動で周期応力の発
生を止める必要かあった。
〔問題点を解決しようとする手段〕
周期関数発生器の前段に回数指定器を置くことによって
指定回数周期の応力を発生する構成。
〔作用〕
測定開始時に回数指定器に周期回数を指示することによ
り、人間の監視なしで所望の回数周期の応力の発生が必
要な熱応力歪測定ができる。
〔実施例〕
第１図は本発明にかかる熱応力歪測定装置の実極側を示
すものである。試料９はグローブ５により支持された上
部チャック８αと試料管乙により支持された下部チャッ
ク８ｂによって保持され、温度制御部１０により制御さ
れ支持体５によって支持された加熱炉７の中に置かれる
。回数指定器１４の制御により、周期関数発生器１３は
指示された回数分だけ周期関数を発生する。前記周期関
数発生器１５は周期関数に比例した電圧を発生し、電圧
電流発生器１２へ伝えられさらに応力発生器１１により
応力に変換される。前記応力発生器１１に発生した応力
は天秤４を介して、前記プローブ５及び前記上部チャッ
ク８αへ伝えられ、前記試料９に応力が加わる。応力に
呼応して起こる前記試料６の歪みは前記試料管６の上部
に固定された差動トランス本体２に対して、前記プロー
ブ５の上部に設けられた差動トランスコア１の上下位置
で検出する。
〔発明の効果〕
本発明にかかる熱応力歪測定装置を用いた場合、各周期
関数の停止を人間が監視をしなくても連続的な測定が行
えるので、測定の迅速化及び省力化が図れる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の実施例を示す一部断面図付き概略図で
ある。 １・・・・・・・・・差動トランスコア４・・・・・・
・・・天　秤 ７・・・・・・・・・加熱炉 １１・・・・・・応力発生器 １４・・・・・・回数指定器 以　　上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 試料をセットする加熱炉と加熱炉を制御する温度制御部
    と試料の歪みを検出する差動トランス部と応力を発生す
    る応力発生部と応力の発生回数を制御する回数指定器か
    らなる熱応力歪測定装置。
JP24429684A 1984-11-19 1984-11-19 熱応力歪測定装置 Pending JPS61120943A (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5740963A (en) * 1980-08-25 1982-03-06 Toshiba Corp Resin-sealed semiconductor device
JPS59100838A (ja) * 1982-11-30 1984-06-11 Shimadzu Corp 材料試験機における試験荷重補正検出装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5740963A (en) * 1980-08-25 1982-03-06 Toshiba Corp Resin-sealed semiconductor device
JPS59100838A (ja) * 1982-11-30 1984-06-11 Shimadzu Corp 材料試験機における試験荷重補正検出装置

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