JPS61128385A - 画像処理装置 - Google Patents

画像処理装置

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JPS61128385A
JPS61128385A JP59250315A JP25031584A JPS61128385A JP S61128385 A JPS61128385 A JP S61128385A JP 59250315 A JP59250315 A JP 59250315A JP 25031584 A JP25031584 A JP 25031584A JP S61128385 A JPS61128385 A JP S61128385A
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area
image memory
pixel
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Shigeru Kuroe
黒江 茂
Kengo Nakajima
中嶋 憲吾
Isamu Nose
能勢 勇
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は画像処理装置に関し、更に詳細には、濃淡画像
を対象物体の切出しのために領域分割することができか
つ高速な画像処理を行なうことのできる画像処理装置に
関する。
(従来の技術) 従来の画像処理装置を第14図に示す。1−1は濃度値
を1画素4ビツトで量子化する画像久方装置、1−2は
入力画像を格納する画像メモリである。1−2に格納さ
れた画像を(NXM)画素を1要素(ここではN = 
M = 12)として各要素に要素内の平均濃度値(1
−3)を割当て、大まかな濃度情報だけからなる第1の
抽象画像を画像メモリ1 (1−4)に格納する。次に
、(1−4)に格納された画像をもとに要素間の平均濃
度の差を求める(1−5)。ここでは、現要素の平均濃
度をDI、114件傍0平均濃度値をD + 、I −
x t D + −1,J ;DI F J 4 x 
; D l 4 t v Jとした時(第15図参照)
TID+、+−o1−1.+l+TID+、+−DI、
+−11の値を適当な値(フルスケールの1/4即ち4
N2)で正規化したものか。
ma X  (D l * I +D1−1 e I 
−m )オ、l1l−−1,−1 の値を適当な値(3N”/2)で正規化し主要輪郭強度
の初期値を確率PI(0)として表わし、第2の抽象画
像としてメモリ2 (1−6) ニ418J111する
。ただし1以上の値をとった時1とする。
第2の抽象画像をもとにして、主要輪郭要素を弛緩法を
用いて抽出する(1−7)、第2の抽象画像の各(i、
j)要素の値より、初期画像空間を P”’= (pI/r’l 1≦x:i;n、t≦j≦
m;itj!f数)とし1次式による繰り返し演算を行
なう、即ち。
q+」(k)=PIjCk+−(1−Δ、j(kl)Δ
Ij(kゝ=max(TI P+−t、+ +Pt◆z
t I ””” PIs J叩−PI、j◆zl+−I
P鴨、:十P、、□+J+シP + −17J O:’
−P + hx、J −t I)である、ここで物理量
Δ1j(1は第2の画像の各要素の連結性に関するもの
で、各画像要素の値PI(絃)は自身の輪郭強度PI(
5)と連結性Δt r (k )によって更新されるこ
とになる。゛。
この繰り返し演算の打ち切りは、値が0.9あるいは0
.1以下の要素の数が全要素の0.95以上に達したと
ころで行なう0次に二値化して、あらためて画像メモリ
2(1−6)に格納する。第2の加増は、主要な輪郭要
素がら構成される画像である。
次に第2の画像をもとに、領域分割を行なう(1−8)
、主要輪郭要素を8連結で空間的に統合し、外接長方形
で区分する。その代表点を画像テーブル(1−9)に格
納する。
画像テーブル(1−9)を参照して、各小領域のラベル
付けを行なう(1−10)、ラベル付けは次のようにし
て行なう、各小領域内に相当する第1の画像、第2の画
像をもとに2つの物理量を計算する。即ち(1)主要輪
郭要素を境として両側の平均濃度の差より求めた。領域
内の変化値の平均値(ΔD);(2)領域内を占める主
要輪郭要素数の割合(DH)である、ΔD対DH平面で
ΔDaO,7の時“写真”、ΔD<0.7且つDN<0
.4の時“グラフ″、ΔD<0.7且つDH>0.4の
時“文字”の各ラベルを付け、結果として第16図に示
す画像テーブル(1−9)を得る。
このような従来の技術では、“文字″判定された領域か
ら文字列および各文字列の整理した記述がなされていな
い欠点があった。
そこで本出願人はこのような欠点を解消するために特開
昭59−43468号(特願昭57−153992号)
にて次のような処理を行なう画像処理装置を提案した。
すなわち、この画像処理装置は、さらに1′文字″と判
定された領域に直交変換を施し、大まかなピッチを算出
し、文字列を抽出する。そして抽出した文字列の大きさ
1位置類似ピッチの行数をもとに″タイトル″と1′本
文”とに分類する。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記のごとき従来の技術では、入力濃淡
画像を写真領域、グラフ領域およd文字領域の3種類に
分類し、さらに文字領域を“タイトル”と“本文”とに
分類することはできるものの、写真領域の内部を分割す
ることや、白黒力・メ・うからの濃淡画像を対象物体の
切出しのために領域分割することは不可能であった。更
に、従来技術では主要輪郭要素を弛緩法を用いて抽出し
ているので、繰り返し演算で多大な時間を要し、処理速
度が遅いという欠点もあった。
本発明は従来技術のこれらの欠点を除去するためになさ
れたものであって、その目的は濃淡画像を対象物体の切
出しのために領域分割することが可能で、その画像処理
においてラスター走査を好適に用いることのできる高速
な画像処理装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、前記従来技術の問題点を解決するため、蓄積
手段と、平均濃度、・分散計算手段と、分類手段と、連
結手段と、微分手段と、境界要素抽出手段と、境界引き
直し手段とから構成される。
蓄積手段は入力画像の各要素の濃度を電気信号に変換し
て第1の画像として蓄積する。平均濃度・分散計算手段
は蓄積手段に蓄積されている第1の画像の複数の画素か
ら構成される要素の平均濃度を計算するとともに要素内
の複数の画素の濃度値の分散を計算する6分類手段は平
均濃度・分散計算手段で計算された分散の値の大小及び
隣接する要素間の平均濃度の差の大小により各要素を対
象物体の領域である領域構成要素と境界領域とに分類す
る。連結手段は分類手段により領域構成要素に分類され
た要素を連結し、連結された領域に固有の番号を割当て
る。微分手段は蓄積手段に蓄積されて−いる第1の画像
の各画素を微分して微分値と微分の方向とを計算する。
境界要素抽出手段は微分手段からの情報に基づいて領域
の境界である要素(エツジ)を抽出する。境界引き直し
手段は境界要素抽出手段にて抽出された要素(エツジ)
を使って連結手段により連結された境界の引き直しを行
なう。
なお、上記各技術手段と第1図の実施例の要素との対応
は、蓄積手段は画像入力装置12及び轡像メモリ13に
、平均濃度・分散計算手段は平均濃度・分散計算回路1
4に1分類手段は閾値17に、連結手段は連結回路19
に、微分手段は微分回路60に、境界要素抽出手段はエ
ツジ抽出回路63に、境界引き出し手段は領域拡張66
にそれぞれ対応する。
(作用) 本発明によれば、以上のように画像処理装置を構成した
ので各技術手段は次のように作用する。
蓄積手段は入力した原画像の濃淡情報を各画素毎に量子
化して格納する。平均濃度・分散計算手段は例えば入力
画像の(NXM)を1要素として要素内の平均濃度を計
算し、また要素内の(NXM)画素の濃度値の分散を計
算し、これらの計算結果を分類手段に出力する0分類手
段は、各要素の分散の大きさに基づいて各要素が一様な
濃度分布であるかを判断するとともに要素間の平均濃度
の差の大小に基づいて隣接する要素が連結性を有するか
否かを判定し、各要素を領域構成要素と境界要素とに分
類する。そして連結手段により領域構成要素と分類され
た要素の連結がなされ、連結された領域に固有の番号が
割当てられる。このとき、現画像の(NXM)画素を1
要素として領域分割の処理がなされているので分割は荒
くなっている。そこで微分手段により求めた各画素の微
分値及び微分の方向に基づいて境界要素抽出手段は境界
要素(エツジ)の抽出を行ない、この抽出情報に基づい
て境界引き直し手段は精度良く境界の引き直しを行なう
。このようにして入力濃淡画像を対象物体の切出しのた
めに精度良く領域分割することが可能となり前記従来技
術の問題点を解決することができる。
(実施例) 第1図は本発明の実施例を示すブロック図である。同図
において、12は画像入力装置、13は画像メモリA、
14は平均濃度・分散計算回路、15は画像メモリB、
16は画像メモリC117は閾値回路、18は画像メモ
リD、19は連結回路、20は画像メモリE、60は微
分回路、61は画像メモリF、62は画像メモリG、6
3はエツジ抽出回路、64は画像メモg H165は領
域拡張回路、66は画像メモリエである。
画像入力装置12は第14図の従来の画像入力装置1−
1と同様、入力濃淡画像の濃度値を1画素4ビツトで量
子化する0画像メモリA 13は第14図の従来の画像
メモリ1−2と同様、第4図のとと。
く入力画像を2次元的に格納する画像メモリである。平
均濃度・分散計算回路14は画像メモリA 13に格納
された画像の(N X M)画素を1要素(ここではN
=M=4)として各要素内の(N X M)画素の濃度
値の平均と分散を計算する。
B 15及び画像メモリC16に接続されており、画像
メモリB 15には平均濃度・分散計算回路14で計算
された平均濃度が第4図に示す如く2次元的に格納され
、一方、画像メモリC16には同回路14で計算された
分散が同じく2次元的に格納される。
閾値回路17は画像メモリB 15と画像メモリCI6
に格納された情報をそれぞれ例えば左上の要素からラス
ター走査で読み出す、そして読み出された現要素の分散
の値が予め設定された閾値θ、よりも小さく、現要素の
平均濃度と現要素のすぐ上隣りの要素の平均濃度との差
が予め設定された閾値θ。よりも小さく、かつ現要素の
平均濃度と現要素のすぐ左隣りの要素の平均濃度との差
が閾値θ。よりも小さい場合は“1”を画像メモリ01
8の対応位置に書き込み、それ以外の場合には′“0”
を対応位置に書き込む、つまり1画像メモリD  18
で1”とラベル付けされた要素は。
濃度値の分布が一様であり、対象物体の構成要素(以下
、領域と称す)であり、−右画像メモリD 18で“0
”とラベル付けされた要素は対象物体の境界近傍である
。連結回路19は画像メモリD 18上で“1”とラベ
ル付けされた要素を4連結し、統合された1つのブロッ
クに固有の番号(1以上)を割当て、画像メモリE20
に書き込む。
また1画像メモリD 18上で0”とラベル付けされた
要素に対しては番号0を割当て1画像メモリE 20に
書き込む。
微分回路60は画像メモリA tai出力に接続されて
おり、入力画像の画素を微分し、微分値を画像メモリF
 61に書き込み、微分の方向を画像メモリG 62に
書き込む、エツジ抽出回路63は画像メモリF 61と
画像メモリG 62の出力に接続されており、これらの
メモリ61.62に格納されたデータを読み出し、読み
出したある画素の微分値が予め設定された閾値θにより
も大きくかつ特定の近傍の画素の微分値よりも大きい場
合には画像メモ1JH64の対応位置に“1”を書き込
み、それ以外の場合には同画像メモリH64の対応位置
に410”を書き込む、領域拡張回路65は画像メモリ
E 2Gと画像メモリH64の出力に接続されており、
画像メモリE  2G上で“0”以外の番号でラベル付
された領域を画像メモリH64の“1”の点(エツジ)
まで拡張し、その結果を画像メモリI 66に書き込む
次に平均濃度・分散計算回路14の構成を詳細に説明す
る。第2図は平均濃度・分散計算回路14の構成例を示
すブロック図である。同図において、21は平均濃度・
分散計算部、22.23はレジスタ、24は加算器、2
5は除算器、26は掛算器、27は加算器、28,29
,30.31は掛算器、32は加算器、33は減算器で
ある。
各要素内の(NXM)画素の平均濃度iは(1)式に従
って計算される。
x=iΣXll (i=1〜IL j=1〜M) −(
1)但し、xlは各画素の濃度値である。
平均濃度・分散計算回路14の動作について説明すると
、平均濃度・分散制御部21は、まずレジスタ22およ
びレジスタ23にクリア信号を供給し。
これらのレジスタの内容をクリアする0次に、平均濃度
・分散制御部21は画像メモリA 13にアドレスを供
給して各画素の濃度値を読み出し、加算器24にてレジ
スタ22の内容と読み出された各画素の濃度値を加算し
その結果をレジスタ22に記憶する。
この動作をNXM回(ここではN=M=4)fi返すと
レジスタ22は画像メモリA 13の(N X M)画
素の濃度値の加算結果を保持していることになる。した
がって平均濃度はレジスタ22の内容を(N X M)
で除算器25を使って除算することによって得られる。
一方、分散σ” (=V)は(2)式で計算される。
但し、Xl)は各画素の濃度値、Xは平均濃度を表わす
(2)式を展開すると(3)式を得る。
分散を計算す゛る場合、平均濃度・分散計算制御部21
は画素メモリA 13から各画素の濃度値XIJを読み
出す毎に、掛算器26で2乗計算x1,2を行なわせ、
その計算結果を加算器27にてレジスタ23の内容と加
算させ、その和をレジスタ23にセットする。従ってレ
ジスタ23はレジスタ22と同様にΣ(Xl)2の結果
を保持していることになる。(3)式の第2項NMx”
は、除算器25の出力(平均濃度)Xを掛算器28で2
乗し、その結果X!とNMとを掛算器29で掛算するこ
とによって得られる。
(3)式の第3項2マΣX+lは、まず掛算@30でi
Σχ口を計算し、次に掛算器31でその結果を2倍して
得られる。最後に、加算器32は(3)式の第1項と第
2項を加算し、その結果から減算器33は(3)式の第
3項を引算することによって、分散σ2が計算される。
平均濃度・分散計算制御部21は画像メモリA 13か
ら(NXM)個の画素を読み出す毎に。
(NXM)画素の平均濃度iを画像メモリB 15に書
き込み、(N X M)画素の分散σ2を画像メモリC
16に書き込む。この処理を画像メモリA 13全面に
施すことにより、(PXQ)要素の平均濃度値と分散値
とを得る。但し画像メモリA 13の大きさを(pxs
)画素とした時、P=R/N。
Q=S/Mである。第4図はこのときの関係を説明する
ための図である。
次に閾値回路17の構成を詳細に説明する。第3図は閾
値回路17の構成例を示すブロック図である。
同図において、34は閾値回路制御部、35は比較器。
36はシフトレジスタ、37はレジスタ、38は減算器
、39は絶対値回路、40は比較器、 41は減算器、
42は絶対値回路、43は比較器、44はシフトレジス
タ。
45はレジスタ、46.47はANDゲート、48はO
Rゲート、49はANDゲート、50はORゲート、5
1は選択回路である。
閾値回路制御部34は画像メモリB 15と画像メモリ
C16に二次元的に格納されている情報を例えば左上の
要素からラスター走査で同時に読み出し、各要素の読み
出し毎に以下に示す条件に従って画像メモリD 18の
対応位置に“1”または“0”を書き込む。
まず、画像メモリC16の出力(分散値V)は、あらか
じめ設定された閾値θVと比較器35で比較される。比
較器35は1分散値Vが閾値θ9よりも大きい場合(要
素内の濃度値が一様でない状態。
つまり対象物体の境界近傍と考えられる要11)は“1
″を出力し、それ以外の場合(要素内の濃度値が一様で
ある状態、つまり領域と考えられる一素)は0”を出力
する。
一方1画像メモリB 15の出力(平均Dt、j;第1
5図第1二 のものである)は、−行分(Q要素)シフトレジスタ3
6に記憶さ九るとともに,−要素分レジスタ37に記憶
される.つまり、シフトレジスタ36の出力は現在画像
メモリC 16から読み出されている要素のすぐ上隣り
の要素の平均濃度(DI−□,j;第15図)であり、
レジスタ37の出力は現要素のすぐ左隣りの要素の平均
濃度(DI,、−1;第15図)であるa D l +
 JとDI−□,jとの差が減算回路38で演算された
後、絶対値回路39で絶対値化される。比較器40は、
あらかじめ設定された閾値θ0と絶対値回路39の出力
とを比較し,絶対値回路39の出力が閾値θ0よりも大
きい場合(平均濃度が大きく変化している要素、すなわ
ち対象物体の境界近傍と考えられる要素)は“1″を出
力し、それ以外の場合は tt O ttを出力する。
同様に.DI,1とDI,、−1との差およびその絶対
値がそれぞれ減算回路41と絶対値回路42とで演算さ
れた後、比較器43で閾値θ。と比較される。比較器4
3は絶対値回路42の出力が閾値θ0よりも大きい場合
は“1”を出力し、それ以外の場合は10nを出力する
ここで、シフトレジスタ44は、閾値処理結果を一行分
(Q要素)記憶している.レジスタ45は閾値処理結果
を一要素分を記憶している.つまり、シフトレジスタ4
4の出力は現要素のすぐ上隣りの要素の閾値処理結果(
T+−h,It第5図)であり。
レジスタ45の出力は現要素のすぐ左隣りの要素の閾値
処理結果(T+t+−x;第5図)である、閾値処理結
果は″1”か“0”のいずれかであり、′1”は領域を
表わし、110”は境界を表わしおり1本実施例の目的
は領域を取出すことにある.比較器40の出力とシフト
レジスタ44の出力はANDゲート46に入力される。
ANDゲート46は2つの入力が共に“1″である場合
(すなわち、T+−x*Iが1′1”でかっlD+,」
 Dt−t,+1>00の場合)は#( I IIを出
力しそれ以外の場合はtg O #を出力する。現要素
とすぐ左隣りの要素との関係も同様であり、比較器43
の出力とレジスタ45の出力がANDゲート47に入力
され.ANDゲート47は2つの入力が共に′1”であ
る場合は(j I IIを出力し、それ以外の場合は1
10”を出力する。ORゲート48はANDゲート46
の出力とANDゲート47の出力を入力し、いずれかが
“1″である場合は“1”を出力し、それ以外は“O”
を出力する。
ところが、ラスター走査において、第1行を処理してい
る時、すぐ上隣りの要素は、実際は存在せず、また第1
列を処理している時は、すぐ左隣りの要素も存在しない
、閾値回路制御部34は、第1行もしくは第1列を処理
している時は、平均濃度使用可信号を“O”にしておき
、それ以外の時はl# 1 #1にする。ORゲート4
8の出力はこの平均濃度使用可信号とANDゲート49
でAND演算され、比較器35の出力とANDゲート4
9の出力はORゲート50でOR演算される。つまり、
ORゲート50は、分散値Vが閾値θVよりも大きい場
合あるいは隣接する要素間の平均濃度の差が大きい場合
(すなわち現要素が境界と判定されようとしている場合
)は“1”を出力し、それ以外の場合は110nを出力
する。
二二で閾値処理結果は、′1”が領域を表わし、“O″
が境界を表わしている。したがって選択回路51はOR
ゲート50の出力が“1”の場合はu O”を出力し、
ORゲート50の出力が“onの場合。
は1”を出力する。閾値回路制御部34は、閾値処理結
果を画像メモリD 18に書き込ませる。
次に連結回路19について説明する。
連結回路19は第6図に示すようにマイクロプロセッサ
52とROM53(リードオンリーメモリ)とRAM5
4(ランダムアクセスメモリ)とで構成される。マイク
ロプロセッサ52のプログラムはROM53に書かれて
おり、画像メモリD 1gを読み出し4連結している“
1”のブロックに1以上の固有の番号を割当て1画像メ
モリD 18上の“1”の位置に対応した画像メモリE
 20上の位置に、その割当てられた番号を書込む、な
お、4連結とは、第15図において、D I、J要素と
4近傍(DI−z、+要素、DI、j−、要素、D−。
t、J要素、およびDt、j+z要素)の一つの要素と
の関係で、D、、。
要素と4近傍の一つの要素がともに“1”であることを
言い、このときこの2つの要素は4連結していると言う
。したがって4連結しているブロックとは、“1”の集
合で、その“1nの要素は4近傍の関係で連結している
ことを言う。
4連結している“1”のブロックにつき、1個の固有の
番号を割当てるから、結局1画像メモリ  □E 2G
は0から画像メモリD 18上に存在する111”のブ
ロックの個数の範囲の番号を保持している。
但し、Oは画像メモリD 18上の“0”に対応する。
(以下余白。) ・ 次に微分回路60について詳細に説明する。微分回路6
0では微分オペレータ(演算子)として第7図(a) 
、 (b)に示すととき5OBfELオペレータと称さ
れるものを使用する。ここで注目画素をP、とじ、第8
図に示すようにその3X3近傍の画素をP□。
P2.・・・・・・P、とする、 5OBELオペレー
タを用いである画素(例えばp a )の微分値と微分
の方向を ・計算する場合、注目画素(Pl)の近傍の
8つの画素の濃度値を用いる。 5OBELオペレータ
はまず微分値のX成分とY成分を計算する。なお、第7
図(a)は5QBELオペレータのX成分のマスク値、
第7図(b)は5OBELオペレータのY成分のマスク
値の一例である。微分値のX成分は第7図(a)のX成
 分のマスク値と第8図の3×3の近傍の画素の濃度値
との積和であり1本例では(4)式のようになる。
X ” Px + 2 Px + Pl  (P 4 
+ 2 P * + P s)・・・(4)同様に、微
分値のY成分は第7図(b)のY成分のマスク値と第8
図の3×3の近傍の画素の濃度値との積和であり、本例
では(5)式のようになる。
Y=P、+2P3+P2−(Ps+2P、+PS)  
・・・(5)である。
ここで、微分値には(6)式で計算される。
Kヨハσ11丁           ・・・(6)し
かしながら、(6)式の平方根の計算には多くの回路が
必要となるので、ここでは(6)式を(7)式で代用す
る。
K=lXI+lYI                
      ・ (7)一方、微分の方向Tは(8)式
で求められる。
T=tan−1(Y/X)           ・(
8)Tの値は一90度から90度の範囲をとるが、Xと
Yの符号(正負)を考慮すると、とりうる範囲は一18
0度から180度(つまり全方向)となる、しかし、こ
こでは微分の方向を4方向に分類することができれば十
分であるので、第9図に示すように、Tの値(−90度
から90度)を0〜3の値に量子化する。すなわち(9
)式のようにての値を45度毎に4分割する。
微分値を計算するには、(4)、 (5)式かられかる
ように3×3近傍の画素の濃度値が必要である。
これらの濃度値を求めるための回路構成を第10図に示
す、同図おいて67.69.71〜74はレジスタ、6
8゜70はシフトレジスタである0画像メモリA 13
(第1図)に格納されているデータがラスター走査で読
み出されると、読み出されたデータはレジスタ67に一
画素分記憶されるとともに、シフトレジスタ68に一行
分記憶される。シフトレジスタ68の出力はレジスタ6
9に一画素分記憶されるとともに、シフトレジスタ70
に一行分記憶される。したがって、シフトレジスタ68
とシフトレジスタ70で、現在読み出されている画素の
前2行分を記憶していることになる。一方、シフトレジ
タ70の出力はレジスタ71に一画素分記憶される。レ
ジスタ67の出力はレジスタ72に、レジスタ69の出
力はレジスタフ3に、レジスタ71の出力はレジスタ7
4に、それぞれ一画素分記憶される。したがって、レジ
スタ6フとレジスタ72で前2画素分のデータを記憶し
ていることになる。つまり、画像メモリA 13の現在
の出力と2個のシフトレジスタと6個のレジスタが、結
局3×3の近傍の画素(合計9画素)のデータを出力し
ており、新しい画素が読み出される毎に、各々の出力の
データも変化し、常に3×3の近傍の画素のデータが出
力されている。なお。
第10図のp、、 P、・・・P8と第8図のp、、 
pl・・・P8とはそれぞれ対応している。
第11図は微分回路60の構成例を示すブロック図であ
る。同図において、75〜80.82〜87.91は加
算器、81.88は減算器、89.90は絶対値回路、
200は演算器、には微分値、Tは微分の方向である。
また第11図のP、、P□・・・P、と第8図及び第1
0図のP、、P、・・・P、とはそれぞれ対応している
微分回路60は、上述したように1画像メモリA 13
に格納されているデータをラスター走査で読み出し、第
10[の回路を使)て3×3の近傍の画素の濃度値を得
る。そして、まず、(4)式中のP、+2P工+P、を
加算@75.加算器76および加算器77を使って計算
する6次に(4)式中のP2+2p、+p、を加算4B
78.加算器79および加算器80を使って計算する。
加算器77の出力から加算器80の出力を減算器81で
減算し、(4)式のXを得る。(5)式のYも全く同様
に、加算器82.加算器83.加、算器84、加算器8
5、加算器86、加算器87および減算器88を使って
得られる。(7)式のKは、減算器81と減算器88の
出力をそれぞれ絶対値回路89と絶、対値回路90とで
絶対値化し、それらの出力を加算器91で加算すること
により得られる。(a)式と(9)式の計算は演算器2
00で計算される。(8)式のtan−’の演算とその
後の量子化はROM (リードオンリーメモリ)を使っ
て、容易に実現できる。
微分回路60は、以上のようにして求めた微分値の大き
さKを画像メモリF 61に書き込み、微分の方向Tを
画像メモリG 62に書き込む。
次にエツジ抽出回路63の構成について説明する。
第12図はエツジ抽出回路63の構成例を示すブロック
図である。同図において、92,95.96は比較器。
93.94は選択器、97はANDゲートである。
エツジ抽出回路63は、微分回路60と同様に、画像メ
モリF 61に格納されているデータをラスター走査で
読み出し、第1O図に示すごとき回路を用いて3X3の
近傍の画像の微分値p、、pユ・・・P8を得るととも
に、画像メモリG 62に格納されているデータを同時
にラスター走査で読み出し、微分の方向Tを得る。
まず、注目画素の微分値P0は、あらかじめ設定された
閾値θにと比較器92で比較される。比較器92はP、
がθ3よりも大きい場合は“1”を出力し、それ以外の
場合は“10”を出力する。微分値が閾値θによりも大
きいということは、その画幸の周辺で濃度が急に変化し
ていることを示す、このような画素はエツジと呼ばれる
。エツジは通常、領域の境界である。しかしながら、こ
のようにして得られたエツジは境界といっても、通常幅
が広い。そこで、微分値がその3×3の近傍において最
大である画素(局部的最大)をエツジとする。
また、微分値を比較する場合、3×3の近傍の8画素全
部と比較するのではなく、特定の2画素゛、のみを比較
の対象とする。すなわち、注目画素の微分の方向の画素
と逆方向の画素の2画素の微分値と注目画素の微分値と
を比較し、注目画素の微分値が両画素の微分値よりも大
きいか1等しい場合にその注目画素をエツジとする。こ
のように、微分の方向の画素とその逆方向の画素のみと
微分値の大きさを比較することにより、良好なエツジが
得られる。
第12図において、Tは0から3の値をとる。選択器9
3は、Tの値によってp、、p、、p、、p、のいずれ
かを選択して出力する。すなわち、’rh。
のときPユを、T=1のときP2を、T=2のときP3
を、T=3のときP、を出力する。一方、選択器94も
同様に、T=0のときP、を、T=1のときP、を、T
=2のときP7を、T±3のときP。
を選択して出力する。したがって、選択器93と選択器
94の出力は、第8図と第9図とかられかるように、着
目画素P、の微分の方向の画素とその逆方向の画素の微
分値である。
比較器95は注目画素の微分値P、と選択器93の力と
を比較し、注目画素の微分値P0が選択器93の出力も
大きいか等しい場合に1”を出力し、それ以外の場合は
′0”を出力する。同様に、比較器96は注目画素の微
分値P0と選択器94の出力とを比較し、注目画素の微
分値pHが選択器94の出力よりも大きいか等しい場合
にl”を出力し、それ以外の場合は“0“を出力する。
ANDゲート97は、比較器92と比較器95と比較器
96の出力がすべて1”の場合に′1”を出力し、それ
以外の場合は“10”を出力する。
エツジ抽出回路93は1以上のようにして得られたAN
Dゲート97の出力を画像メモリF 64に書込む。
さて、連結回路19(第1図)の処理により、画像メモ
リE 20上では連結している1”のブロックに固有の
ラベル番号を割当てられている。しかしながら1M画像
の(NXM)画素を一要素として、領域分割の処理がな
されているので1画像メモリE 20上の分割は非常に
荒い、そこで、原画像の画素に戻って、領域の境界を引
き直す、この処理について以下詳述する。
第13図は領域拡張回路65の構成例を示すブロック図
である。同図において画像メモリE 20.画像メモリ
I 66、画像メモリH64については第1図のものと
同一である。また、98は領域拡張回路制御部、 99
,100は選択器、101はデコーダ、102’はイン
バータ、 103,105はANDゲート、104はレ
ジスタ有効信号である。
画像メモリE 2Gは原画像の(NXM)画素を一要素
としているので1画像の大きさは(PXQ)要素であり
、一方、画像メモリH64の画像の大きさは(RXS)
画素である。そこで1画像メモリE  20を(NXM
)倍に拡大して画像メモリI 66に書き込む。
領域拡張回路制御部98は、まず画像メモリE 20の
一要素のデータを読み出す毎に、その読み出された同一
データを画像メモリI 66の対応する(NXM)画素
のすべてに書き込む。この時、選択器99は画像メモリ
E 20のデータを出力している。この動作を画像メモ
リE“20のすべての要素について行なうことにより、
画像メモリI 66に(RXS)画素のデータが得られ
る。その後。
領域拡張回路制御部98は選択器99の出力を切換えて
1選択回路99に選択器100のデータを出力させる。
画像メモリI 66では1画像メモリE 20と同様に
、連結しているブロックに固有のラベル番号が割当てら
れており、また境界には0の番号が割当てられている。
一方、画像メモリH64には入力画像の微分処理により
得られたエツジ点情報が格納されている。エツジ抽出回
路63が抽出したエツジは領域の境界を十分精度良く表
わしている。そこで画像メモリI 66上で0のラベル
番号をもつ画素は未定義の画素と定義しなおして、0以
外のラベル番号をもつ領域をその領域の周囲に拡張する
。拡張する条件は、拡張を行なう領域がO以外のラベル
番号を持つこと、かつ、拡張されようとしている画素は
Oのラベル番号をもつこと、更にその拡張されようとし
ている画素がエツジ点でない(画像メモリH64の出力
が“1”でない)ことである、ラベル番号が0から0以
外の番号に書換えられた画素は、そのラベル番号の領域
となり、隣りの画素が拡張条件を満足するなら、拡張す
ることが可能で、拡張は次々に伝播する。
領域拡張回路制御部98は1画像メモリI 66と画像
メモリH64をラスター走査で読み出す、デコーダ10
1は画素メモリI 66の出力がOの場合は1g L 
H9を出力し、それ以外の場合は“0”を出力する。イ
ンバータ102は画像メモリH64の出力を反転させる
。つまり、インバータ102は、メモリH64の出力が
“O” (エツジではない)の場合は“1”を出力し、
画像メモリH64の出力がu 1 yt (エツジであ
る)の場合は“O”を出力する。
ANDゲート103は、デコーダlotとインバータ1
02の出力がともに“1”であるとき“1”を出力し、
それ以外の場合は0”を出力する。なお。
画像メモリI 66に格納されているデータを左上の画
素からラスター走査で読み出す時、最左端の画素にはそ
の左隣りの画素は存在しないから拡張することができな
い、そこで、領域拡張回路制御部98は、最左端の画素
を処理している時はレジスタ有効信号104を“0”に
し、それ以外の時は“1”にする、ANDゲート105
は、レジスタ有効信号と104とANDゲート103の
出力がともに“1”の場合は“1”を出力し、それ以外
の場合は“0”を出力する6選択器100は、ANDゲ
ート105の出力が“O”の場合は画像メモリI 66
のデータを出力し、ANDゲート105の出力が′町1
”の場合はレジスタ106のデータを出力する。領域拡
張回路制御部98は選択器100の出力を選択器99を
通して画像メモリI 66に書き込む。レジスタ106
は選択器100の出力を一画素分記憶している。したが
って、レジスタ106は画像メモリI 66に書き込ま
れた直前の画素のデータを保持している。この処理を、
画像メモリI 66の全画素に行なう。
しかしながら、左上の画素からのラスター(右方向の走
査)処理しか終っていないので、領域拡張回路制御98
は残る3方向(左方向の走査、下方向の走査および上方
向の走査)についても、同様の処理を行なう。
(発明の効果) 以上、詳細に説明したように本発明によれば、入力画像
の複数の画素を1要素として要素内の平均濃度を計算す
るとともに要素内の複数の画素の濃度値の分散を計算し
ているので、各要素が対象物体の領域に属するのか或い
は境界に属するのかを判定し、かつ隣接する要素の連結
性が判定できるようになり、従って濃淡画像を対象物体
の切出しのために領域分割することが可能となる。また
ラスター走査を用いることにより処理が高速で行なえる
ようになる利点がある。更に、入力画像を微分し境界を
精度良く表わす境界要素(エツジ)を抽出し、分割され
た領域を境界要素の(エツジ)まで拡張するようにした
ので、精度良く領域の抽出を行なうことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による画像処理装置の実施例をブロック
図、第2図は平均濃度・分散計算回路のブロック図、第
3図は閾値回路のブロック図、第4図は画素と要素との
対応の説明図、第5図は閾値処理結果の隣接する要素の
説明図、第6図は連結回路のブロック図、第7図(a)
及び(b)は5OBELオペレータのX方向及びY方向
のマスク値を示す図、第8図は3X3の近傍の画素の説
明図、第9図は微分の方向の量子化の説明図、第1θ図
は3×3の近傍の画素のデータを読み出す回路のブロッ
ク図、第11図は微分回路のブロック図、第12図はエ
ツジ抽出回路のブロック図、第13図は領域拡張回路の
ブロック図、第14図は従来の画像処理装置のブロック
図、第15図は4近傍の画素の平均濃度値の説明図、第
16図は画像テーブルを示す図である。 なお1図において、 12・・・画像入力装置。 13・・・画像メモリA。 14・・・平均濃度・分散計算回路、 15・・・画像メモリB、 16・・・画像メモリC1 lフ・・・閾値回路、 18・・・画像メモリD、 19・・・連結回路。 20・・・画像メモリE、 21・・・平均濃度・分散計算制御部、22.23・・
・レジスタ。 24.27,32・・・加算器、 25・・・除算器、 26.28,29.30.31・・・掛算器。 33・・・減算器、 34・・・閾値回路制御部、 35.40.43・・・比較器、 36.44・・・シフトレジスタ。 37.45・・・レジスタ、 38.41・・・減算器、 39.42・・・絶対値回路、 46.47,49・・・ANDゲート、48.50・・
・ORゲート。 51・・・選択回路、 52・・・マイクロプロセッサ、 53・・・ROM。 54・・・RAM。 60・・・微分回路、 61・・・画像メモリF、 62・・・画像メモリG。 63・・・エツジ抽出回路。 64・・・画像メモリH1 65・・・領域拡張回路 67.69,71,72,73,74・・・レジスタ、
68 、70・・・シフトレジスタ、 81.88・・・減算器、 89.90・・・絶対値回路、 旧・・・加算器、 92.95,96・・・比較器。 93 、94・・・選択器、 97・・・ANDゲート、 98・・・領域拡張制御部。 99.100・・・選択器、 101・・・デコーダ、 102・・・インバータ、 103.105・・・ANDゲート、 104・・・レジスタ有効信号、 106・・・レジスタ、 200・・・演算器、 である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 原画像の各画素の濃度を電気信号に変換して第1の画像
    として蓄積する蓄積手段と、該蓄積手段に蓄積されてい
    る第1の画像の複数の画素から構成される要素の平均濃
    度及び濃度値の分散を計算する平均濃度・分散計算手段
    と、該計算手段により計算された分散の値及び隣接する
    要素間の平均濃度の値の差に基づいて前記要素を領域構
    成要素と境界要素とに分類する分類手段と、該分類手段
    により領域構成要素に分類された要素を連結し、連結さ
    れた領域に固有の番号を割当てる連結手段と、前記蓄積
    手段に蓄積されている第1の画像の各画素を微分して微
    分値と微分の方向を計算する微分手段と、該微分手段に
    より計算された微分値と微分の方向とに基づいて領域の
    境界である要素を求める境界要素抽出手段と、該境界要
    素抽出手段により求められた情報に基づいて前記連結手
    段により連結された領域の境界を引き直す境界引き直し
    手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63226785A (ja) * 1987-03-16 1988-09-21 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 画像特徴抽出装置
WO1997040959A1 (en) * 1996-04-30 1997-11-06 Komatsu Ltd. Method and apparatus for detecting tool trouble in machine tool
JP2018098552A (ja) * 2016-12-09 2018-06-21 国立大学法人千葉大学 画像処理装置、画像処理プログラム及び画像処理方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63226785A (ja) * 1987-03-16 1988-09-21 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 画像特徴抽出装置
WO1997040959A1 (en) * 1996-04-30 1997-11-06 Komatsu Ltd. Method and apparatus for detecting tool trouble in machine tool
US6249599B1 (en) 1996-04-30 2001-06-19 Komatsu Ltd. Method and apparatus for detecting tool trouble in machine tool
JP2018098552A (ja) * 2016-12-09 2018-06-21 国立大学法人千葉大学 画像処理装置、画像処理プログラム及び画像処理方法

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