JPS61144079A - 半導体発光素子 - Google Patents
半導体発光素子Info
- Publication number
- JPS61144079A JPS61144079A JP59265772A JP26577284A JPS61144079A JP S61144079 A JPS61144079 A JP S61144079A JP 59265772 A JP59265772 A JP 59265772A JP 26577284 A JP26577284 A JP 26577284A JP S61144079 A JPS61144079 A JP S61144079A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- type
- group compound
- zns
- superlattice
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/81—Bodies
- H10H20/811—Bodies having quantum effect structures or superlattices, e.g. tunnel junctions
- H10H20/812—Bodies having quantum effect structures or superlattices, e.g. tunnel junctions within the light-emitting regions, e.g. having quantum confinement structures
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/81—Bodies
- H10H20/822—Materials of the light-emitting regions
- H10H20/823—Materials of the light-emitting regions comprising only Group II-VI materials, e.g. ZnO
Landscapes
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、青色から紫外にかけての発光を示す。
発光ダイオードやレーザダイオードなどの半導体発光素
子に関する。
子に関する。
光の三原色である赤、緑、青の中で、赤色と緑色に関し
ては■二v族化合物半導体を用いた発光素子が開発され
、既に量産が行われている。残る青色発光素子について
は、開発への要望が強いにも拘らず依然商品化されてい
ない。
ては■二v族化合物半導体を用いた発光素子が開発され
、既に量産が行われている。残る青色発光素子について
は、開発への要望が強いにも拘らず依然商品化されてい
ない。
青色発光素子の半導体材料としては、広い禁制帯幅を有
するm−vi族化合物のzns、znse。
するm−vi族化合物のzns、znse。
m−v族化合物のGaN、IV族化合物のSiCなどが
従来より検討されている。これらの材料のうちZnS、
znseは、■−v族化合物のGaP。
従来より検討されている。これらの材料のうちZnS、
znseは、■−v族化合物のGaP。
GaASと格子定数が近く、これらGaPまたはGaA
S結晶を基板として大面積かつ良質の結晶層が得られる
こと、更に容易に青色発光が得られること等から、特に
有望視されている。ところが、zns、 Zn3eは共
にn型導電性は得られるが、n型導電性が得られない、
という問題を抱えている。このため、pn接合が得られ
ないことが、青色発光素子の実用化を遅らせている主因
となっている。
S結晶を基板として大面積かつ良質の結晶層が得られる
こと、更に容易に青色発光が得られること等から、特に
有望視されている。ところが、zns、 Zn3eは共
にn型導電性は得られるが、n型導電性が得られない、
という問題を抱えている。このため、pn接合が得られ
ないことが、青色発光素子の実用化を遅らせている主因
となっている。
ZnS、Zn5eにおいて何故n型導電性が得られない
か、その原因については未だ確かな説はないが、おおむ
ね次のような理由が考えられる。
か、その原因については未だ確かな説はないが、おおむ
ね次のような理由が考えられる。
第1は、ZnS、znseにおいては、アクセプタ不純
物の中で価電子帯に空孔を生じるに充分浅い不純物準位
を作るものが少ないこと、第2は、たとえ浅い不純物準
位を作るアクセプタ不純物が存在しても、そ札が結晶中
に添加されると、いわゆる自己補償効果によってドナー
型の欠陥生成を誘発してしまうことである。
物の中で価電子帯に空孔を生じるに充分浅い不純物準位
を作るものが少ないこと、第2は、たとえ浅い不純物準
位を作るアクセプタ不純物が存在しても、そ札が結晶中
に添加されると、いわゆる自己補償効果によってドナー
型の欠陥生成を誘発してしまうことである。
本発明は上記した問題を解決して、禁制帯幅の広いII
−VI族化合物半導体を用いて良好なpn接合を構成し
、以て高輝度の青色発光を可能とした半導体発光素子を
提供することを目的とする。
−VI族化合物半導体を用いて良好なpn接合を構成し
、以て高輝度の青色発光を可能とした半導体発光素子を
提供することを目的とする。
本発明は、発光素子のpn接合を構成するp型導電層を
、第1の■−■族化合物半導体と、これと異種でかつア
クセプタ不純物が添加された第2の■−■族化合物半導
体とを交互に積層した超格子構造としたことを特徴とす
る。
、第1の■−■族化合物半導体と、これと異種でかつア
クセプタ不純物が添加された第2の■−■族化合物半導
体とを交互に積層した超格子構造としたことを特徴とす
る。
本発明によれば、超格子構造の導入により、■−VI族
化合物半導体で良好なp型導電層が得られ、これにより
青色から紫外にわたって高輝度の発光を示す発光素子が
得られる。
化合物半導体で良好なp型導電層が得られ、これにより
青色から紫外にわたって高輝度の発光を示す発光素子が
得られる。
以下本発明の詳細な説明する。
第1図は一実施例の素子構造を示す。図において、1は
n型GaP結晶基板であり、2はこの基板1上にエピタ
キシャル成長された。ドナー不純物としてAnが添加さ
れたn型Zn5FIiであって、このn型Zn8層2上
に超格子構造を持つp型導電層3が形成されている。4
は0gl電極、5はn側電極である。
n型GaP結晶基板であり、2はこの基板1上にエピタ
キシャル成長された。ドナー不純物としてAnが添加さ
れたn型Zn5FIiであって、このn型Zn8層2上
に超格子構造を持つp型導電層3が形成されている。4
は0gl電極、5はn側電極である。
第2図はp型導電層3の部分を拡大して示す。
即ちp型導電型層3は、第1のIF−VI族化合物半導
体としてのZn5e層ai t < +−i、2.−
。
体としてのZn5e層ai t < +−i、2.−
。
N)と、アクセプタタネ鈍物としてAgを添加した第2
のII−VI族化合物半導体としてのZnS層a2+
(+−1,2,・・・、N)が交互に積層されて超格
子を構成している。208層32iの厚みLeおよびZ
n5e層311の厚みし2はそれぞれ5〜40人程度程
度る。このような超格子構造は例えば、有機金属化合物
を用いた気相成長法(MOCVD)により得られる。
のII−VI族化合物半導体としてのZnS層a2+
(+−1,2,・・・、N)が交互に積層されて超格
子を構成している。208層32iの厚みLeおよびZ
n5e層311の厚みし2はそれぞれ5〜40人程度程
度る。このような超格子構造は例えば、有機金属化合物
を用いた気相成長法(MOCVD)により得られる。
第3図はこの様な超格子構造をもつp型導電層3のバン
ド構造を示す。Zn8層321の価電子帯の頂上は、Z
n5e131iの価電子帯の頂上から0.6〜o、ae
v程度低いところに位置す、る。一方、Agアクセプタ
の不純物準位は、Zn8層321の価電子帯の頂上から
0.55〜0.70eV高いところに位置する。従って
Zn8層321に添加するAQ不純物の濃度を1011
1/ca3以上と高くしておけば、この超格子構造部の
平均的なフェルミ・レベルEFは、第3図に示すように
znBe層31iの価電子帯の頂上より低い位置、また
はznBe層311の価電子帯の頂上より高くてもその
ごく近傍に位置する。これによりZn5e131iには
、AQ不純物濃度と同程度の空孔が形成される。この空
孔は超格子の積層方向に移動する時ZnS層321が障
壁となるが、ZnS132iの厚さLaを5〜40人の
範囲に選べば、障壁をトンネルで抜けていく確率が充分
高くなり、超格子積層方向に高い伝導度をもつn型導電
性が得られることになる。
ド構造を示す。Zn8層321の価電子帯の頂上は、Z
n5e131iの価電子帯の頂上から0.6〜o、ae
v程度低いところに位置す、る。一方、Agアクセプタ
の不純物準位は、Zn8層321の価電子帯の頂上から
0.55〜0.70eV高いところに位置する。従って
Zn8層321に添加するAQ不純物の濃度を1011
1/ca3以上と高くしておけば、この超格子構造部の
平均的なフェルミ・レベルEFは、第3図に示すように
znBe層31iの価電子帯の頂上より低い位置、また
はznBe層311の価電子帯の頂上より高くてもその
ごく近傍に位置する。これによりZn5e131iには
、AQ不純物濃度と同程度の空孔が形成される。この空
孔は超格子の積層方向に移動する時ZnS層321が障
壁となるが、ZnS132iの厚さLaを5〜40人の
範囲に選べば、障壁をトンネルで抜けていく確率が充分
高くなり、超格子積層方向に高い伝導度をもつn型導電
性が得られることになる。
第4図は、Zn5e層31;の厚みLzを20人とし、
zns層321のAQ添加濃度を1017/ cm ”
として、ZnS層a2tの厚みLaを変えた時の超格子
構造の導電率特性を示している。
zns層321のAQ添加濃度を1017/ cm ”
として、ZnS層a2tの厚みLaを変えた時の超格子
構造の導電率特性を示している。
この様に、ZnSあるいはZn5eバルク結晶では深い
不純物準位を形成してキャリアを生成しない不純物が、
本実施例の超格子構造においては有効的に浅いアクセプ
タ不純物準位として働き、正のキャリアを生成して、バ
ルク結晶では得られないp索導電層が得られる。なお本
実施例において、発光再結合を有効に行なわせるために
は、超格子構造からなるp型理電層3の厚みを0.2〜
3μ乳程度とすることが望ましい。
不純物準位を形成してキャリアを生成しない不純物が、
本実施例の超格子構造においては有効的に浅いアクセプ
タ不純物準位として働き、正のキャリアを生成して、バ
ルク結晶では得られないp索導電層が得られる。なお本
実施例において、発光再結合を有効に行なわせるために
は、超格子構造からなるp型理電層3の厚みを0.2〜
3μ乳程度とすることが望ましい。
この様に構成された第1図の発光素子は、そのpn接合
に順方向バイアスをかけると、主としてn型Zn8層2
からp型理電層3へと電子が注入される。この注入電子
はp型導電層3内の Zn5e層31iにおいて空孔と
発光再結合を起す。
に順方向バイアスをかけると、主としてn型Zn8層2
からp型理電層3へと電子が注入される。この注入電子
はp型導電層3内の Zn5e層31iにおいて空孔と
発光再結合を起す。
その除虫じる発光は、超格子構造を用いたことによる量
子効果のためにZn5eの禁制帯幅で決まる波長より多
少短いものとなる。その発光波長を決めるのは、超格子
の周期(La +Lz )とZn8層321の厚さLs
との比である。ms/(Le +Lz )の値がOから
1へと変化するにつれて、発光色は青色から紫外へと変
化する。またこの発光は直接遷移型であるため再結合確
率が高く、更にnlZns層2が光の反射層として働く
ためp型導電層3側での外部発光効率が1%程度と^い
値を示す。
子効果のためにZn5eの禁制帯幅で決まる波長より多
少短いものとなる。その発光波長を決めるのは、超格子
の周期(La +Lz )とZn8層321の厚さLs
との比である。ms/(Le +Lz )の値がOから
1へと変化するにつれて、発光色は青色から紫外へと変
化する。またこの発光は直接遷移型であるため再結合確
率が高く、更にnlZns層2が光の反射層として働く
ためp型導電層3側での外部発光効率が1%程度と^い
値を示す。
第5図は超格子の横方向にキャリアを流すようにした実
施例の素子構造である。51はノンドープの高抵抗Ga
P基板であり、この基板51上に先の実施例と同様に超
格子構造を持つp型理電層52を形成し、このp型理電
層52の一部にマスクして不純物を高濃度にドープして
n型層53を形成したものである。このn型層53の形
成は例えば、Agおよびznをイオン注入して熱処理す
る方法、またはAgおよびznの雰囲気中での熱処理方
法による。これらの方法で高濃度にn型不純物をドープ
すれば、p索導電層は反転してn型層53が得られる。
施例の素子構造である。51はノンドープの高抵抗Ga
P基板であり、この基板51上に先の実施例と同様に超
格子構造を持つp型理電層52を形成し、このp型理電
層52の一部にマスクして不純物を高濃度にドープして
n型層53を形成したものである。このn型層53の形
成は例えば、Agおよびznをイオン注入して熱処理す
る方法、またはAgおよびznの雰囲気中での熱処理方
法による。これらの方法で高濃度にn型不純物をドープ
すれば、p索導電層は反転してn型層53が得られる。
そしてp型理電層52の一部をメサエッチングしてAU
からなるn側電極54を形成し、n型層53にはIn−
Gaからなるn側電極55を形成している。
からなるn側電極54を形成し、n型層53にはIn−
Gaからなるn側電極55を形成している。
この実施例によれば、p型理電層52でのキャリア走行
が超格子の横方向であるため、先の実施例よりn型層5
2での正孔移動度が高く、優れたpn接合特性が得られ
、強い発光が認められる。
が超格子の横方向であるため、先の実施例よりn型層5
2での正孔移動度が高く、優れたpn接合特性が得られ
、強い発光が認められる。
第5図のGaP基板51は他の高抵抗基板、例えば高抵
抗ZnS基板、高抵抗znSe基板等に置換することが
できる。
抗ZnS基板、高抵抗znSe基板等に置換することが
できる。
第6図は、p型基板を出発基板とした実施例の素子構造
である。即ちp型GaP結晶基板61を用いてこの上に
先の実施例と同様の超格子構造を持つp型理電層62を
形成し、この上にn型Zn8層63を形成したものであ
る。GaP基板61側から光を取出すために、GaP基
板61を裏面からエツチングして光取出し窓を設けてい
る。
である。即ちp型GaP結晶基板61を用いてこの上に
先の実施例と同様の超格子構造を持つp型理電層62を
形成し、この上にn型Zn8層63を形成したものであ
る。GaP基板61側から光を取出すために、GaP基
板61を裏面からエツチングして光取出し窓を設けてい
る。
64はn側電極、65はn側電極である。
この実施例によっても第1図の実施例と同様の優れた発
光特性を示す。
光特性を示す。
第7図は更に別の実施例の素子構造である。この実施例
では、n型ZnS基板71を用いてこの上に先の実施例
と同様に超格子構造を持つp型導電層72を形成してい
る。73はpfM電極、74はnm1i極である。
では、n型ZnS基板71を用いてこの上に先の実施例
と同様に超格子構造を持つp型導電層72を形成してい
る。73はpfM電極、74はnm1i極である。
この実施例によっても同様に良好な青色発光特性を示す
ことができる。
ことができる。
本発明は上記各実施例に限られるものではなく、以下に
列記するように種々変形実施することができる。
列記するように種々変形実施することができる。
■ 超格子構造のp索導電層を構成する第1のm−vr
族化合物半導体物半導体および第2の■−■族化合物半
導体として、それぞれ一般的にZnS Se (
0≦x〈1)およびzns。
族化合物半導体物半導体および第2の■−■族化合物半
導体として、それぞれ一般的にZnS Se (
0≦x〈1)およびzns。
X 1−X
Se (0<Y≦1)、Y>X)を用い得る。
−y
同様に第1のII−VI族化合物半導体および第2のI
I−VI族化合物半導体として、それぞれznXCd、
xS(0≦xく1)およびZn、Cd1−。
I−VI族化合物半導体として、それぞれznXCd、
xS(0≦xく1)およびZn、Cd1−。
S (0<y≦1.V>X)を用いることもできる。
■ 超格子構造の第2のII−VI族化合物半導体層の
アクセプタ不純物として、Agの他、Li。
アクセプタ不純物として、Agの他、Li。
Na、Cuなどの王族元素あるいはP、ASなどのV族
元素を添加することができる。また第1の■−■族化合
物半導体層は必ずしもノンドープである必要はなく、第
2のII−VI族化合物半導体層におけると同様の不純
物を添加してもよい。
元素を添加することができる。また第1の■−■族化合
物半導体層は必ずしもノンドープである必要はなく、第
2のII−VI族化合物半導体層におけると同様の不純
物を添加してもよい。
■ 超格子構造中のアクセプタ不純物準位は、外部から
の不純物元素添加によらず、zn空孔が高濃度に存在す
るように結晶成長させることにより形成することもでき
る。zn空孔が高濃度に形成される結晶成長条件として
は、例えばMOCVD法を例にとれば、■族元素を供給
するガスの。
の不純物元素添加によらず、zn空孔が高濃度に存在す
るように結晶成長させることにより形成することもでき
る。zn空孔が高濃度に形成される結晶成長条件として
は、例えばMOCVD法を例にとれば、■族元素を供給
するガスの。
■族元素を供給するガスに対するモル比を充分大きく(
例えば10倍以上)設定すればよい。
例えば10倍以上)設定すればよい。
するガスに対するモル比を充分大きく(例えば10倍以
上)設定すればよい。
上)設定すればよい。
■ 超格子構造のn型導電層と接合するn型ZnS層と
して、より一般的にZnS Se1.、、z(0≦2≦
1)を用いることができる。この場合、2の値が1より
小さくなるにつれ、順方向バイアスしたとき、n型層か
らp型層への電子注入と同時にp型層からn型層への正
孔注入が生じる。n型層に注入された正孔はn型層中の
電子と発光再結合する。この発光も波長は青色から紫外
であり、また再結合確率も高い。従ってこの構造も特性
の優れた青色から紫外にかけての発光素子として有用で
ある。
して、より一般的にZnS Se1.、、z(0≦2≦
1)を用いることができる。この場合、2の値が1より
小さくなるにつれ、順方向バイアスしたとき、n型層か
らp型層への電子注入と同時にp型層からn型層への正
孔注入が生じる。n型層に注入された正孔はn型層中の
電子と発光再結合する。この発光も波長は青色から紫外
であり、また再結合確率も高い。従ってこの構造も特性
の優れた青色から紫外にかけての発光素子として有用で
ある。
■ 本発明はダブルへテロ接合構造の発光素子に適用す
ることも可能であり、有用である。
ることも可能であり、有用である。
第1図は本発明の一実施例の発光素子構造を示す図、第
2図はそのn型導電層部の拡大図、第3図は同じくn型
導電層部のバンド構造を示す図、第4図は同じくn型導
電層部の導電率特性を示す図、第5図〜第7図は他の実
施例の発光素子構造を示す図である。 1 ・n型GaP結晶基板、2−n W Z n S層
、3・・・n型導電層(超格子構造部)、4・・・p側
電極(Au)、5−n側電極(Au−Ge)、31i・
・・7080層(第1のI−VI族化合物半導体層)、
32i・/’l添加ZnS層(第2のII−VI族化合
物半導体層)、51・・・高抵抗GaP基板、52・・
・n型導電層(超格子構造部)、53・・・n型導電層
、54 ・p側電極(Au)、55・ nil!Ili
極(In−Ga)、61・D型GaP基板、62 ・n
型導電層(超格子構造部)、63・・・n型ZnS層、
64−o側電極(Au−Zn) 、65・n側電極(I
n−Ga) 、71−n型ZnS基板、72 ・・・
n型導電層(超格子構造部)、73・・・p (111
1電極<A(J) 、74−n’tl’R極(In−G
a)。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 ム 第31図 Zn5e ZnS Zn5e ZnS第4図 +0 20 30 40 zns44Ls Cλ〕 第5図 第6図 第7V!I
2図はそのn型導電層部の拡大図、第3図は同じくn型
導電層部のバンド構造を示す図、第4図は同じくn型導
電層部の導電率特性を示す図、第5図〜第7図は他の実
施例の発光素子構造を示す図である。 1 ・n型GaP結晶基板、2−n W Z n S層
、3・・・n型導電層(超格子構造部)、4・・・p側
電極(Au)、5−n側電極(Au−Ge)、31i・
・・7080層(第1のI−VI族化合物半導体層)、
32i・/’l添加ZnS層(第2のII−VI族化合
物半導体層)、51・・・高抵抗GaP基板、52・・
・n型導電層(超格子構造部)、53・・・n型導電層
、54 ・p側電極(Au)、55・ nil!Ili
極(In−Ga)、61・D型GaP基板、62 ・n
型導電層(超格子構造部)、63・・・n型ZnS層、
64−o側電極(Au−Zn) 、65・n側電極(I
n−Ga) 、71−n型ZnS基板、72 ・・・
n型導電層(超格子構造部)、73・・・p (111
1電極<A(J) 、74−n’tl’R極(In−G
a)。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 ム 第31図 Zn5e ZnS Zn5e ZnS第4図 +0 20 30 40 zns44Ls Cλ〕 第5図 第6図 第7V!I
Claims (4)
- (1)化合物半導体を用いてpn接合を構成した半導体
発光素子において、p型導電層を、第1のII−VI族化合
物半導体と、これと異種でかつアクセプタ不純物準位を
持つ第2のII−VI族化合物半導体とを交互に積層した超
格子により構成したことを特徴とする半導体発光素子。 - (2)第2のII−VI族化合物半導体は第1のII−VI族化
合物半導体より禁制帯幅が広いことを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の半導体発光素子。 - (3)第1のII−VI族化合物半導体はZnS_xSe_
1_−_x(0≦x<1)であり、第2のII−VI族化合
物半導体はアクセプタ不純物として I 族またはV族元
素が添加されたZnS_ySe_1_−_y(0<y≦
1、y>x)であることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の半導体発光素子。 - (4)第1のII−VI族化合物半導体はZn_xCd_1
_−_xS(0≦x<1)であり、第2のII−VI族化合
物半導体はアクセプタ不純物として I 族またはV族元
素が添加されたZn_yCd_1_−_yS(0<y≦
1、y>x)であることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の半導体発光素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26577284A JPH077849B2 (ja) | 1984-12-17 | 1984-12-17 | 半導体発光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26577284A JPH077849B2 (ja) | 1984-12-17 | 1984-12-17 | 半導体発光素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61144079A true JPS61144079A (ja) | 1986-07-01 |
| JPH077849B2 JPH077849B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=17421815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26577284A Expired - Lifetime JPH077849B2 (ja) | 1984-12-17 | 1984-12-17 | 半導体発光素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077849B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62296484A (ja) * | 1986-06-17 | 1987-12-23 | Seiko Epson Corp | 青色発光素子 |
| JPH0342881A (ja) * | 1989-07-10 | 1991-02-25 | Sharp Corp | 化合物半導体発光素子 |
| US5045894A (en) * | 1988-06-29 | 1991-09-03 | Hitachi, Ltd. | Compound semiconductor light emitting device |
| US5215929A (en) * | 1990-11-29 | 1993-06-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of manufacturing pn-junction device II-VI compound semiconductor |
| US5311035A (en) * | 1989-09-04 | 1994-05-10 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Thin film electroluminescence element |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6126271A (ja) * | 1984-07-16 | 1986-02-05 | Koito Mfg Co Ltd | 半導体素子 |
-
1984
- 1984-12-17 JP JP26577284A patent/JPH077849B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6126271A (ja) * | 1984-07-16 | 1986-02-05 | Koito Mfg Co Ltd | 半導体素子 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62296484A (ja) * | 1986-06-17 | 1987-12-23 | Seiko Epson Corp | 青色発光素子 |
| US5045894A (en) * | 1988-06-29 | 1991-09-03 | Hitachi, Ltd. | Compound semiconductor light emitting device |
| JPH0342881A (ja) * | 1989-07-10 | 1991-02-25 | Sharp Corp | 化合物半導体発光素子 |
| US5311035A (en) * | 1989-09-04 | 1994-05-10 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Thin film electroluminescence element |
| US5215929A (en) * | 1990-11-29 | 1993-06-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of manufacturing pn-junction device II-VI compound semiconductor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH077849B2 (ja) | 1995-01-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7170097B2 (en) | Inverted light emitting diode on conductive substrate | |
| US8314415B2 (en) | Radiation-emitting semiconductor body | |
| JP3250438B2 (ja) | 窒化物半導体発光素子 | |
| JP2785254B2 (ja) | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子 | |
| US6712478B2 (en) | Light emitting diode | |
| JP3643665B2 (ja) | 半導体発光素子 | |
| US20030197169A1 (en) | Gallium nitride-based semiconductor light emitting device | |
| JP3890930B2 (ja) | 窒化物半導体発光素子 | |
| JPH04321280A (ja) | 発光ダイオード | |
| JPH0897468A (ja) | 半導体発光素子 | |
| EP1142024A4 (en) | QUANTUM NITRIDE III WELL STRUCTURES WITH HIGH INDIUM CONTENT GROUPS AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME | |
| EP1791189B1 (en) | Semiconductor device and method of semiconductor device fabrication | |
| JPS61144078A (ja) | 半導体発光素子 | |
| JPS61144079A (ja) | 半導体発光素子 | |
| US12087877B2 (en) | Light-emitting element | |
| JPH1154796A (ja) | 窒化ガリウム系化合物半導体装置 | |
| JP2007173404A (ja) | 酸化物半導体発光素子 | |
| CN2596556Y (zh) | 一种GaN基多量子阱蓝光发光二极管 | |
| JP4277363B2 (ja) | Iii族窒化物半導体発光素子 | |
| JP2597624B2 (ja) | 半導体発光素子 | |
| JP3057547B2 (ja) | 緑色発光ダイオード | |
| JP3267250B2 (ja) | 窒化物半導体発光素子 | |
| JPH02257677A (ja) | 半導体発光ダイオード | |
| JPH08306957A (ja) | 発光ダイオード及びその製造方法 | |
| JPS6286773A (ja) | 半導体発光素子 |