JPS6115496B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、ビデオデイスク上に記録された情
報を光を用いて検出する光ピツクアツプ装置に関
するものである。

従来この種の装置は光源としてHe―Neレーザ
を用いていたが、今後長寿命、小形化には半導体
レーザを採用することが考えられる。半導体レー
ザを光源とするピツクアツプを従来のHe―Neレ
ーザを光源とするピツクアツプの光源部を置き換
えることによつて設計した例を第１図に示す。半
導体レーザ１よりの出射ビームはコリメートレン
ズ２によつてコリメートされ偏光ビームスプリツ
タ４を透過し集光レンズ６によつてデイスク上に
集光される。

デイスクより反射したビームは1/4波長板５に
よつて半導体レーザの出射ビームと直交する直線
偏波となり偏光ビームスプリツタによつて反射さ
れ２つのシリンドリカルレンズ７，８によつて光
検出器９に集光される。

ここでグレーテイング３およびシリンドリカル
レンズ７，８はピツクアツプのラデイアルトラツ
キングおよびフオーカシングのためのセンサとし
て働くもので従来より用いられているものであ
る。このようなピツクアツプ光学系では、半導体
レーザ１と偏光ビームスプリツタ４および光検出
器と偏光ビームスプリツタの光路が独立な空間を
占めているため小形化に限界があること、半導体
レーザ１と光検出器９の調整を各各独立にする必
要があり繁雑であること等の欠点がある。

この発明は、これらの欠点を除去するため偏光
ビームスプリツタを４端子網として利用すること
によつて半導体レーザと偏光ビームスプリツタお
よび偏光ビームスプリツタと光検出器との光路を
ほぼ完全に空間的に重ね合わせてピツクアツプの
小形、調整の簡素化を実現したもので以下図面に
ついて詳細に説明する。

第２図は、この発明の一実施例であつて、１は
半導体レーザ、２はコリメートレンズ、４は偏光
ビームスプリツタ、６は集光レンズ、９は光検出
器、１１は第１の反射鏡、１２は第２の反射鏡、
５１は第１の1/4波長板、５２は第２の1/4波長
板、５３は第３の1/4波長板である。また２１は
デイスク面である。なおこの実施例では、１１と
１２は互いに直交する面内に有限の曲率をもつシ
リンドリカルミラーでありまた９は４象限検出器
を含む光検出器である。また同図においてピツク
アツプ内の光の進路を矢印付きの実線で示してあ
る。

半導体レーザ１より出射された、光ビームは一
般に直線偏波でありコリメートレンズ２によつて
コリメートされ偏光ビームスプリツタ４に入射す
る。偏光ビームスプリツタ４はこの半導体レーザ
よりの出射ビームの偏波成分に対しては透過特性
を示すよう設置されており、従つて光ビームはこ
の偏光ビームスプリツタ４を透過し第１の1/4波
長板５１へ入射する。第１の1/4波長板５１を通
過した光は円偏波となり集光レンズ６によつてデ
イスク面上に集光される。デイスク面上より反射
された光は、デイスク面上に記録された情報によ
つて変調され、再び集光レンズ６によつてコリメ
ートされ、第１の1/4波長板５１に再入射する。
第１の1/4波長板５１より出射したビームは今度
は偏光ビームスプリツタ４によつて反射されるよ
うな直線偏波となり、偏光ビームスプリツタ４に
よつて反射され、第２の1/4波長板を通つてシリ
ンドリカルミラーである第１の反射鏡１１に入射
する。第１の反射鏡によつて反射された光ビーム
は再び第２の1/4波長板を通過し偏光ビームスプ
リツタ４を透過するような直線偏波となり、偏光
ビームスプリツタ４を透過し、第３の1/4波長板
を経てシリンドリカルミラーである第２の反射鏡
１２へ入射する。この第２の反射鏡１２によつて
反射された光ビームは再び第３の1/4波長板を通
過し偏光ビームスプリツタ４によつて反射される
ような直線偏波となり、偏光ビームスプリツタ４
によつて反射されコリメートレンズ２へ入射す
る。ところで、シリンドリカルミラーである第２
の反射鏡１２はわずかに入射光ビームに対し光軸
を傾むけて設置してありこのため、コリメートレ
ンズ２へ再入射した光ビームはこのコリメートレ
ンズによつて半導体レーザ１とわずかに異なる位
置に集光されそこに設置された光検出器９に入射
する。なお、第１および第２の反射鏡１１，１２
がシリンドリカルミラーであるのはこれによつて
生じる非点収差を光検出器９中の４象限検出器で
検出しフオーカシングのための情報を得るための
もので、この手法は従来より周知のものである。

以上で述べたようにこの実施例による光ピツク
アツプでは、半導体レーザと偏光ビームスプリツ
タ間の光路および、光検出器と偏光ビームスプリ
ツタ間の光路を空間的にほぼ重量させており、小
形化が実現できる。また半導体レーザと光検出器
の距離を近接できる。例えば、半導体レーザと光
検出器を同一の半導体パツケージ内へ設置するこ
とができ、この面でも小形となる。さらにこのよ
うにすれば、従来の半導体実装技術によつてこの
２つの素子は精度よく配設できるので、ピツクア
ツプの調整が容易となる。また1/4波長板と偏光
ビームスプリツタを一体化すればさらに小形化、
調整の簡素化が実現できる。また第２図の実施例
における集光レンズ６をホログラフイツクな効果
を用いるホログラムレンズとすればさらに小形化
が可能であるがこの場合は第１、第２の反射鏡は
通常の平面鏡で構成し光検出器と同心円検出器と
する構成も考えられる。またラデイアルトラツキ
ングのセンサ信号を得るためには光源の位置をわ
ずかに振動させる方法をもちいることができる。

なお、この実施例においては第２の反射鏡１２
を光路に対し傾むけて設置することとしたが、第
１の反射鏡１１を傾むけて設置しても同様の効果
が得られる。

以上のように、この発明によれば、光源と偏光
ビームスプリツタ間および光検出器と偏光ビーム
スプリツタ間の光路を空間的にほとんど重畳でき
また光源と光検出器を一パツケージへの実装が可
能なほど近接できるのでピツクアツプの小形化お
よび調整の簡素化が実現できる利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のHe―Neレーザを用いた光ピツ
クアツプに半導体レーザを適用した場合の光ピツ
クアツプ装置の断面図、第２図はこの発明による
光ピツクアツプの一実施例の断面図である。 図中、１は光源（半導体レーザ）、２はコリメ
ートレンズ、４は偏光ビームスプリツタ、６は集
光レンズ、９は光検出器、１１は第１の反射鏡、
１２は第２の反射鏡、５１は第１の1/4波長板、
５２は第２の1/4波長板、５３は第３の1/4波長板
である。なお、図中、同一あるいは相当部分には
同一符号を付して示してある。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 光をデイスク状記録媒体に照射し、その反射
   光により前記デイスク状記録媒体の情報を読みと
   る光ピツクアツプ装置において、 (a) 光を出射する光源； (b) この光源と前記デイスク状記録媒体との間に
   位置し、前記光源側から前記デイスク状記録媒
   体側に向つて縦続的に配設され、光源からの光
   をコリメートとするコリメートレンズ、偏光ビ
   ームスプリツタ、第１の1/4波長板、および集
   光レンズ； (c) 前記ビームスプリツタの一方の側面側に第２
   の1/4波長板を介して対向して設けられた第１
   の反射鏡； (d) 前記ビームスプリツタの他方の側面側に第３
   の1/4波長板を介して対向して設けられ第２の
   反射鏡； (e) 前記光源に近接して設けられ、前記ビームス
   プリツタを介して、前記デイスク状記録媒体か
   らの反射光が入射されると４象限光検出器とを
   備え、 前記第１の反射鏡および第２の反射鏡のうち一
   方はシリンドリカルミラーであり、かつ前記第１
   の反射鏡および第２の反射鏡のうち一方は光軸が
   傾斜していることを特徴とする光ピツクアツプ装
   置。 ２ 集光レンズがホログラムレンズであり、光検
   出器が同心円検出器である特許請求の範囲第１項
   記載の光ピツクアツプ装置。 ３ 偏光ビームスプリツタとして２つの直角プリ
   ズムの斜辺同志を干渉膜多層フイルタをはさみこ
   んで固定したものを用い、この直角プリズムの各
   面に第１および第２および第３の1/4波長板を固
   定した特許請求の範囲第１項記載の光ピツクアツ
   プ装置。 ４ 光源として半導体レーザを用いた特許請求の
   範囲第１項記載の光ピツクアツプ装置。 ５ 光源の位置を振動子により振動できる構造と
   した特許請求の範囲第１項記載の光ピツクアツプ
   装置。