JPS61156536A

JPS61156536A - 光学ヘツド

Info

Publication number: JPS61156536A
Application number: JP27472484A
Authority: JP
Inventors: Akihiko Doi; 土肥　昭彦
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd
Current assignee: Toshiba Corp; Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Priority date: 1984-12-28
Filing date: 1984-12-28
Publication date: 1986-07-16

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の技術分野〕本発明は集束光を用いて情報記録媒体に対し、少なくと
も情報の記録および再生を行なうことができる光学ヘッ
ドの改良に関する０〔発明の技術的背景とその問題点〕集束光を用いて少なくとも情報の記録および再生を行な
うことができる光学ヘッドにおいては、情報記録媒体の
記録層ないしは光反射層に光ビームのビームクエスト（
最も絞られた部分）が来ていないとき、すなわち、フォ
ーカス誤差が生じているときＫＦｉ、正常な情報の記録
および再生を行なうことができない。そのため、このよ
うな光学ヘッドにおいては、正常な情報の記録および再
生を行なうために、７オーカス誤差を検知することが必
要である。

ところで、従来のフォーカス誤差を検知する手段として
代表的なものとしては、非点収差法とナイフウェッジ法
とが知られている。

第１４図に非点収差法の従来例を示し、その手段をこの
図を参照しながら説明する。

半導体レーザー５ｏから発生した光ビームは、コリメー
タレンズ５２で平行光束となシ、偏光ビームスプリンタ
５４を通過した後、１／４波長板５６にて円偏光にな＃
）、対物レンズ５８により情報記録媒体６０（以下「記
録媒体」と略称する。）にスポットを結ぶ。そして記録
媒体６０から反射された光ビームは、記録媒体６゜に入
射した光ビームとは逆回転の円偏光となるために、１／
４波長板５６を通過した後は、入射した光ビームの振動
方向とは垂直な振動方向の直線偏光となる。よって、偏
光ビームスグリツタ５４により反射され、さらに球面レ
ンズ６２と円筒レンズ６４を通過した後、光検出器６６
に照射される。

光検出器６６は例えば８１５図に示したように、４つの
光検知領域６６ａ、６６ｂ、６６ｃ。

６６ｄを具備するように４分割されている。そしてこの
非点収差法では、それぞれ対角線上に向い合う光感知領
域の２つの和信号を差し引く（（６６ａ＋６６ｄ）　　
（６６ｂ＋６６ｃ））ことによって得られる信号量を処
理することにより、フォーカス誤差の検知を行なってい
る。

しかしながら、この非点収差法罠よれば、記録媒体６０
上のグループ若しくは情報ピットを横切った際の回折に
よる光の輝度分布によって、この回折光のパターンがそ
のまま光検出器６６上に照射されてしまい、対物レンズ
５８と記録媒体６０とが合焦点状態にある時でも、光検
出器６６に検出される照射光量は、通常の合焦点時と比
較して変化してしまう。そのため、７オーカス誤差を検
知するための光検出器６６に検出される照射光量の変化
は、非合焦点状態の時だけ生じていをとは限らないこと
から、正確なフォーカス誤差を検知することはできない
という欠点があった。

次に、第１６図にナイフウェッジ法の従来例を示し、そ
の手段をこの図を参照しながら説明する。

半導体レーザー７０から発生した光ビームは、先に述べ
た非点収差法と同様にして、コリメータレンズ７２、偏
光ビームスグリツタ７４゜１／４波長板７６、対物レン
ズ７８を順忙通過した後に、記録媒体８０へ導かれる。

また、記録媒体８０から反射された光ビームは、対物レ
ンズ７８，１／４波長板７６を通過した後に１偏光ビー
ムスグリツタ７４によって反射される。

この反射された光ビームは１次にハーフプリズム８２に
より振幅分割される。ナしてハーフプリズム８２で反射
した光ビームは、ナイフ１７エクジ８４により波面の半
分をカットされた後罠、焦光レンズ８６を通過して光検
出器８８に照射する◇ 光検出器８８は例えば第１７図に示したように２つの光
感知領域８８ａ、８８ｂを具備するように２分割されて
いる。このティウェッジ法では、スポットが・光感知領
域８８ａ、８８ｂのいずれか一万に照射されると非合焦
点状態を検知し、第１７図に示すように８８ａと８８ｂ
との間ＫＭ射されると合焦点状態であると検知してフォ
ーカシングを行なっている。

一方、ハーフプリズム８２を透過した光ビームは、集光
レンズ９０でいくぶんか集光された位置で、光検出器９
２に照射する。この光検出器９２に入射した光ビームの
光量を用いて、トラッキング誤差の検知及び情報再生信
号の検出を行なっている。

しかしながら、このナイフウェッジ法では、フォーカス
誤差の検知を行なう光検出器８８は。

光ビームの焦点若しくはその近傍に設けなければならな
い。そのため、温度や衝撃などの外部環境の変化によっ
て光軸ずれが生じた場合や光検出器８８がずれた場合に
、スポットが光感知領域８８ａ、８８ｂのいずれか一方
に照射されてしまうことから、７オーカス誤差の誤検知
を行なってしまうという欠点があった。また、ハーフプ
リズム８２によって振幅分割された一方の元ビームを用
いて、フォーカス誤差の検知を行なっているので、Ｓｌ
Ｎ比が悪くなるという欠点もあった。

〔発明の目的〕

本発明は上記事情にもとづいてなされたもので、フォー
カス誤差の検知を行なう際に、記録媒体上のグループや
情報ピットによる回折の影響や、外部環境の変化によっ
てフォーカス誤差の誤検知をしてしまうことなく、いつ
でも正確なフォーカス誤差の検知を行々うて、安定した
フォーカス状態を保持することができる光学ヘッドを提
供する。

〔発明の概要〕

本発明は上記目的を達成するために、集束光を用いて少
なくとも情報の記録および再生を行なうことができる光
学ヘッドにおいて、情報記録媒体から反射された光ビー
ムを複数本に分離し、この分離された少なくとも１本の
光ビームの焦点より薯寥分離手段に近い位置に設けられ
、かつ少なくとも第１の光感知領域と第２の光感知領域
とを有している第１の光検出器と、１狙分離手段で分離
された他の少なくとも１本の光ビームの焦点より遠方で
、この光ビームの光電が８光学手段と年ε情報記録媒体
とが合焦点時に、前記第１の光検出器面上に照射される
光ビームの光量と等しくなる位置に設けられ、かつ少な
くとも前記第１の光検出器と同様の形状の第１の光感知
領域と第２の光感知領域とを有している第２の光検出器
とを具備し、前記第１の光検出器のｔａｌの光感知領域
と前記第２の光検出器の第２の光感知領域との照射光量
の和と、前記第１の光検出器の第２の光感知領域と前記
第２の光検出器の第１の光感知領域との照射光量の和と
の差を検出して、フォーカス誤差信号を得るようにする
ことによって、２つの光検出器に照射される光ビームの
光量を両方とも用いてフォーカス誤差の検知を行なって
いることを特徴とする光学ヘッドを提供する。

〔発明の実施例〕

以下、本発明を第１図に示した一実施例を参照しながら
説明する。

第１図において、集束光を用いて少なくとも情報の記録
および再生を行なうことができる光学ヘッド１０け、リ
ニアアクチェータ１１によって、記録媒体１２０半径方
向１３に移動可能に設けられている。この光学ヘッド１
０内ＫＨ１光ビームＬを発生する半導体レーザー１４が
設けられており、情報を記録媒体１２に書き込むに際し
ては、書き込むべき情報に応じてその光強度が変調され
た牽ビームＬが半導体レーザー１４から発生され、情報
を記録媒体１２から読み出す際には、一定の光強度を有
する光ビーム小りが半導体レーザー１４から発生させる。

半導体レーザー１４から発生された光ビームＬは、コリ
メータレンズ１６によって平行光束に変換され、偏光ビ
ームスプリンタ１８に向けられる。偏光ビームスブリフ
タ１８を通過しな光ビームＬは、１／４波長板２０を通
過して対物レンズ２２に入射され、この対物レンズ２２
によって記録媒体１２に向けて集束される。対物レンズ
２２はボイスコイル２４によってその光軸２５方向に移
動可能に支持され、対物レンズ２２が所定位置罠位置さ
れると、この対物レンズ２２かも発せられた集束性光ビ
ームＬのビームウェストが記録媒体１２上に投射され、
最小ビームスポットが記録媒体１２の光反射層の表面上
に形成される。この状態において、対物レンズ２２は合
焦点状態（以下この状態のときを「合焦点時」と称する
０）に保たれ、情報の書き込みおよび読み出しが可能と
なる。情報を書き込む際には、光強度変調された光ビー
ムＬによって、記録媒体１２の光反射層上のトラッキン
グガイド内にビットが形成され、情報を読み出す際には
、一定の光強度を有する光ビームＬはトラッキングガイ
ド内に形成されたビットによって光強度ｆ稠されて反射
される。

記録媒体１２から反射された発散性の光ビームＬは、合
焦点時には対物レンズ２２によって平行光束に変換され
、再び１／４波長板２０を通過して偏光ビームスプリッ
タ１８に戻される０光ビームＬが１／４波長板２０を往
復することによって光ビームＬは偏光ビームスプリッタ
１８を通過した際に比べて偏波面が９０度回転し、この
９０度だけ偏波面が回転した光ビームＬは、偏光ビーム
スプリッタ１８を通過せず、この偏光ビームスグリツタ
１８で反射されることとなる。

この偏光ビームスグリツタ１８で反射された光ビームＬ
ば、ハーフプリズム２６によって光ビームＬの形状を変
えずに振幅分割される。そしてこのハーフプリズム２６
で透過した光ビームＬ′は、集光レンズ２８を通過した
後、この光ビームＬ′の焦点よりノーーフプリズム２６
に近い位置に設けられた第１の光検出器３０に照射され
る。−万、ノ１−フグリズム２６で反射した光ビームＬ
＃は、集光レンズ３２を通過した後、この光ビームＬ”
の焦点よりも遠方に設けられている第２の光検出器３４
に照射される０ここで、第１の光検出器３０と第２の光
検出器３４とは、それぞれ少なくとも同様の形状に２分
割されており、かつ合焦点時に第１．第２の光検出器３
０．３４に照射される光ビームＬ／。

Ｌ＃の光量が互いに等しくなる位置に設置されている０また、第１．第２の光検出器３０．３４は、光ビームＬ
’　、Ｌ’の焦点から十分能れた位置に設置することが
必要である０そこで本実施例では、光ビームＬ／、Ｌ＃
の焦点から焦点深度２以上能れた位置で、しかも光ビー
ムＬ’、Ｌ’のビーム径Ｗ／　、Ｗ−が１光ビームＬ′
・Ｌ＃の焦点でのスポットの直径Ｗの５倍より大きい径
となる位置に、２つの光検出器３０．３４を設置する０
ここで焦点深度２および光ビームＬ′。

Ｌ’の焦点でのスポットの直径Ｗは以下のようにして求
められる。

ｚ　＝＝　１　（１）２λ π　　　　ａ但し　ａ：集光レンズ入射光半径ｆ：集光レンズ焦点距離 λ：入射光波長この光学ヘッド１０においては、２つの光検出器３０．
３４に照射する光ビームＬ／、ＬＮの光量によってフォ
ーカス誤差を検知する０そこで第２図〜第１１図に示し
た図を参照しながら、この光学ヘッド１０におけるフォ
ーカス誤差を検知する手段を詳細に説明する。

第２図は、第１の光検出器３０の光感知領域（Ａ図）と
、第２の光検出器３４の光感知領域（Ｂ図）とを示した
図である。第１．第２の光領域３０８＠　　３４ａと第
２の光感知領域３０ｂ。

３４ｂとを有している。

第３図は、合焦点時に第１の光検出器３０に照射された
光ビームＬ′のスポットの形状３０１：８（Ａ図）と、第２の光検出器３４’Ｎ照射された光ビ
ームＬ′のスポットの形状３４８とを示した図である。

合焦点時、第１．第２の光検出器３０．３４に照射され
る光ビームＬ’、Ｌ’の光量が互いに等しくなる位置に
、第１．第２の光検出器３０．３４は設けられているの
で、この図に示すように第１．第２の光検出器３０゜３
４に照射された光ビームＬ’　、Ｌ’のスグットの形状
３０８．３４８は互いに等しくなっている。また、第１
．第２の光検出器３０．３４を、第２図に示したように
同心円状に２分割した場合には、合焦点時、第１．第２
の光検出器３０．３４に照射される光ビームＬ’　、Ｌ
’のスポットのサイズが、それぞれ第１の光感知領域３
０ａ、３４ａの面積より大きく、かつ第１゜第２の光検
出器３０．３４の光感知領域３０ａ＋３０ｂ、３４ａ＋
３４ｂの面積より小さくなる位置に、第１の光検出器３
０と第２の光検出器３４とを設置する０次に第４図は、合焦点時に比べて光学ヘッド１００対物
レンズ２２が記録媒体１２に近すぎている状態の時に、
第１の光検出器３０に照射された光ビームＬ′のスポッ
トの形状３０８′（Ａ図）と、第２の光検出器３４に照
射された光ビームＬ′のスポットの形状３４Ｓ’（Ｂ図
）とを示した図である０そこでこの光ビームＬ’　、Ｌ’のスポットの形状がこ
のように変化するのを第５図に示した図を参照して詳細
に説明する０第５図（Ａ）は合焦点時を示し、第５図（
Ｂ）は対物レンズ２２′が合焦点時と比較して記録媒体
１２′、に近すぎている状態を示す。すなわち、記録媒
体１２′から反射された光ビームＬ″′　は１．対物レ
ンズ２２′を通過後も平行光束にならずに発散光束とな
る。そのため、集光レンズ２９を通過した光ビームＩ、
　／／／は、合焦点時と比較して集光レンズ２９から遠
い位置に焦点を結ぶ０従って第４図（Ａ）　Ｋ示すよう
に、第１の光検出器３０では、光ビームＬ′のスポット
の形状３０８′は合焦点時のスポットの形状３０８より
大きくなる。

また、第４図（Ｂ）に示すように、第２の光検出器３４
では、光ビームＬ＃のスポットの形状３４８′は合焦点
時のスポットの形状３４Ｓより小さくなる。

逆罠第６図は、合焦点時に比べて光学ヘッド１０の対物
レンズ２２が記録媒体１２から離れすぎている状態の時
に、第１の光検出器３０に照射された光ビームＬ′のス
ポットの形状３０Ｓ’　（Ａ図）と、第２の光検出器３
４に照射された光ビームＬ’のスポットの形状３４８“
（Ｂ図）とを示した図である　。

そこでこの光ビームＬ’　、Ｌ’のスポットの形状が、
このように変化するのを第７図に示した図を参照して詳
細に説明する。第７図（Ａ）は合焦点時を示し、第７図
（Ｂ）は対物レンズ２２′が合焦点時と比較して記録媒
体１２′から離れすぎている状態を示す。すなわち、記
録媒体１２′から反射された光ビームＬ’“は、対物レ
ンズ２２′を通過後も平行光束にならずに収束光束とな
る。そのため、集光レンズ２９を通過した光ビームＬ　
／ＩＩは、合焦点時と比較して集光レンズに近い位置に
焦点を結ぶ０従って第６図（Ａ）に示すように、第１の
光検出器３０では。

光ビームＬ′のスポットの形状３０８’は合焦点時のス
ポットの形状３０８より小さくなる。

また、第６図（Ｂ）に示すように、第２の光検出器３４
では、光ビームＬ’のスポットの形状３４８’は合焦点
時のスポットの形状３４８より大きくなる。

上述したように、光学ヘッドＩＯにおいてフォーカス誤
差が生じている時には、第１．第２の光検出器３０．３
４上でのスポットのサイズ、すなわち、第１．第２の光
検出器３０．３４に検出される照射光量は、合焦点時と
比較して変化している。

そこでフォーカス誤差を検知する手段としては、第１の
光検出器３０の第１の光感知領域３０ａと第２の光検出
器３４の第２の光感知領域３４ｂとの照射光量の和と、
第１の光検出器３０の第２の光感知領域３０ｂと第２の
光検出器３４と第１の光感知領域３４ａとの照射光量の
和との差を検出することで行なうことができる。すなわ
ち、それぞれの光感知領域の照射光量を３０ａ’、３０
ｂ’　、３４ａ’　、３４ｂ’。

とすれば、この照射光量をそれぞれ電気信号に変換させ
て、Ｆ　＝　（３０ａ’＋３４ｂ’　）　−（３０ｂ’＋３
４ａ’　）　　（１）を演算することにより、フォーカ
ス誤差信号下を得ることができる。これを詳しく説明す
ると、第１の光検出器３０と第２の光検出器３４とは。

合焦点時に照射光量がそれぞれ等しくなる位置に設けら
れているので、この演算結果は０となる。また、対物レ
ンズ２２が記録媒体１２に近すぎている状態の時には、
先に説明した各検出器３０．３４でのスポットのサイズ
の変化により、３０ａ’＋３４ｂ’（７）値’）７ｊ；
６Ｅ３０ｂ’−１−３４３′の値より大きくなるので、
口）式の結果Ｆは正の値が得られる。逆に対物レンズ２
２が記録媒体１２から離れすぎている状態の時には、３
０ｂ’＋３４ａ’の値の万が３０　ａ’＋３４　ｂ’の
値より大きくなるので、（１）式の結果Ｆは負の値が得
られる。そして（１）式の演算結果より得られた正の値
若しくは負の値のフォーカス誤差信号Ｆを処理して、こ
の処理された信号を駆動コイル２４に送り、この駆動コ
イル２４によって対物レンズ２２を所定の位置に移動さ
せることにより合焦点状態に維持させている。

以上説明したよう罠、本実施例においては、記録媒体１
２上のグループや情報ビットによる回折の影響が生じて
も、第８図に示したように、このような回折による影３
０（）、３４Ｇは、第１、第２の光検出器３０．３４上
に、これらの各検出器の同心円の中心に対しては、ぼ点
対称となって現われてくる。そのため、（１）式の演算
を行なうことＫより、この回折による影響は互いに打消
し合うことができるので、記録媒体１２上のグループや
情報ピットの回折による影の影響を受けずに、正確なフ
ォーカス誤差の検知を行なうことができる。

また、記録媒体１２上のグループに傷やゴミがあったり
その他何らかの原因で光ビームｌ、　／。

Ｌ′の形状が円でなくなっている場合には、第９図に示
したように第１．第２の光検出器３０゜３４には、それ
ぞれ同心円の中心に対して点対称なスポットの形状とな
って現われる。そのため（１）式の演算を行なえば、こ
の影響も互いに打消し合うことができるので、この影響
罠よりフォーカス誤差の誤検知を行なうことはないとい
う効果がある。

また、温度や衝撃などの外部環境の変化による光軸ずれ
が生じた場合には、第１０図に示したように１第１．第
２の光検出器３０．３４の各光感知領域３０　ａ、３０
ｂ、３４ａ、３４ｂの照射光量の変化率は、それぞれほ
ぼ等しくなっている。そのため、この光軸ずれによる影
響も、（１）式の演算を行なうことによって互いに打消
し合い、光軸ずれによる影響でフォーカス誤差の誤検知
は起こりにくい。ま走、この外部環境の変化による光軸
ずれや第１．第２の光検出器３０．３４の位置ずれによ
る影響を避けるために％　この第１．第２の光検出器３
０．３４は、光ビームＬ’　、Ｌ“の焦点より焦点深度
Ｚ以上離れた位置で、かつ光ビームＬ’　、Ｌ”のビー
ム径ｗ’　、ｗ’が、焦点でのスポットの直径Ｗの５倍
より大きくなる位置に設けられている。

そのため、この外部環境の変化による影響はさらに排除
され、より一層正確なフォーカス誤差の検知を行なうこ
とができるという効果がある。

また、本実施例においては、記録媒体１２から反射され
た光ビームＬをすべて利用して、フォーカス誤差信号を
検出しているので、ナイフウェッジ法に比べて信号量が
多くなり、　　Ｓ／Ｎ比が改善されて安定したフォーカ
ス誤差の検知が行なえるという効果がある。

ざらに、本実施例においては、第１１図の例えば第１の
光検出器３０に照射される光ビームＬ′の断面の様子を
合焦点時３０ｄ（Ｂ図）および対物レンズ２２が記録媒
体１２に近すぎている時３０４’（Ａ図）、対物レンズ
２２が記録媒体１２から離れすぎている時３０ｄ’（Ｃ
図）に示したように、第１の光検出器３０の２分割され
た光感知領域の境界３０Ｃの位置が、合焦点時と非合焦
点時とで、光ビームＬ′の断面の変化が激しいところに
１第１の光検出器３０を設定することにより、光ビーム
Ｌ′のスポットの形状の変化をとって７オーカス誤差を
検知する手段でありながら、光ビームＬ′のスポットの
形状の変化を第１の光感知領域３０ａと第２の光感知領
域３０ｂとに２分割されていることにより感知しやすく
、感度の良いフォーカス誤差の検知を行なうことができ
る。上述したことは＠２の光検出器３４でも同様に言え
ることであるので、第１の光検出器３０と第２の光検出
器に照射される光ビームＬ’　、Ｌ’のスポットのサイ
ズの変化による照射光量の変化を（１）式のように計算
してフォーカス誤差を検知する本実施例においては、１
′）の光検出器を用いて検知する手段より、一層感度の
良いフォーカス誤差の検知を行なうことができるという
効果がある。

さらに１本実施例における構成においては、複合レンズ
やシリンドリカルレンズなどを用いる必要がないので構
成が比較的簡単である。また、２つの光検出器３０．３
４の位置にアパーチャーを設け、その後に光検出器を設
けることも考えられるが、本実施例における構成の方が
、アバ−チャーを設ける構成よりもシングルであるとい
う効果がある。

尚、上記実施例においては、集光レンズ２８゜３２はハ
ーフプリズム２６の後に設けられているが、この集光レ
ンズ２８．３２は、ハーフプリズム２６の前に設けても
よい。また、第１゜ｔａ２の光検出器３０．３４は、同
心円２分割光検出器で説明を行なったが、本実施例にお
ける光学ヘッド１０においては、第１２図に示した同心
円３分割光検出器３６．３８などの他の同心円光検出器
を用いても同様の効果が得られる。

さらに１第１３図に示した光感知領域のそれぞれ面積の
違う２分割光検出器４０．４２などを用いて、合焦点時
、第１．第２の光検出器４０゜４２の２：）＋７）光感
知領域４０ａ、４０ｂ、４２ａ。

４２ｂそれぞれに光ビームのスポットの形状４０８．４
２８の断面が来るようにすればフォーカス誤差を検知す
る際には、本実施例とほぼ同様の効果が得られる。

その他１本発明の構成においては、本発明の要旨を変え
ない範囲で、種々変形実施可能なことは勿論である。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、比較的簡単な構成
の光学ヘッドであって、記録媒体に形成されたグループ
や情報ピッ）Ｋよる回折の影響や、温度や衝撃などの外
部環境の変化による光軸ずれなどの影響に対して、十分
く許容量をもった第１．第２の光検出器を有することで
、これら外部条件くよる影響を受けることなく、正確な
フォーカス誤差の検知を行なうことができる。また、第
１．第２の光検出器はそれぞれ同様の形状に少なくとも
２分割されていることから、分割され九それぞれの光感
知領域によって、合焦点時と、非合焦点時との光ビーム
のスポットのサイズの変化を感度良く検出することがで
きるので、さらに安定したフォーカス誤差の検知を行な
うことができるという効果を奏する０

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例における光学ヘッドの構成図
、第２図は第１図に示した光学ヘッドに設けられた光検
出器の光感知領域の構成を示した図、第３図は合焦点時
に第２図に示した光検出器上く形成される光ビームのス
ポットの形状を示した図、第４図、第６図は非合焦点時
に第２図に示した光検出器上に形成される光ビームのス
ポットの形状を示した図、第５図、第７図は合焦点時と
非合焦点時との投光レンズの焦点位置の関係を示した図
、第８図〜第１０図は外部条件により第２図に示した光
検出器上に形成される光ビームのスポットの形状が変化
した状態を示した図、第１１図は第２図に示した光検出
器上での光ビームの断面を概略的に示し意図、＠１２図
、第１３図は本発明の光学ヘッドに設けられた光検出器
の他の実施例を示した図、第１４図は従来のフォーカス
誤差の検知の手段である非点収差法の一例を示した光学
ヘッドの構成図、第１５図は第１４図に示した光学ヘッ
ドに設けられた光検出器の光感知領域の構成を示した図
、第１６図は従来の７オーカス誤差の検知の手段である
ナイフウェッジ法の一例を示し九光学ヘッドの構成図、
第１７図は第１６図に示した光学ヘッドに設けられた光
検出器の光感知領域の構成を示した図である０１０・・
・光学ヘッド、１２・・・情報記録媒体。１４・・・半導体レーザー、１６・・・コリメータレン
ズ、１８・・・偏、光ビームスプリッタ、２０・・・１
／４波長板、２２・・・対物レンズ、２４・・・駆動コ
イル、２６・・・ハーフプリズム、２８．３２・・・集
光レンズ、３０・・・第１の光検出器、３４・・・第２
の光検出器ｓ　　３Ｑａ、３ｏｂ・・・第１の光検出器
の第１の光感知領域（ａ）および第２の光感知領域（ｂ
）、３４ａ、３４．ｂ・・・第２の光検出器の第１の光
感知領域（ａ）および第２の光感知領域（ｂ）　。代理人　弁理士　　則　近　憲　佑（ほか１名）第１図第２図第４図ｔ／Ｑノ　　　　　　　　　　　　　　　ｔｆ３）第５
図ＣＢ）第６図＜Ａ）　　　　　（８）（Ａ）第８図（７’ｌ）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　（Ｂ）ｔｌＤ　　　　　　　、Ｂ。第１θ図第１１図（／４）　　　　　　　　　　　　　　（８Ｊ　　　　
　　　　　　　　　　　　（Ｃ）第１２図（，４）＜Ｂ）第１３図（Ａ）（Ｂ）第１４図ａ第１６図第１７図〃

Claims

【特許請求の範囲】光ビームを発生する光源部と、この光源部からの光ビームを情報記録媒体へ導く光学手
段と、前記情報記録媒体から反射された光ビームを複数本に分
離する分離手段と、この分離手段で分離された少なくとも１本の光ビームの
焦点より前記分離手段に近い位置に設けられ、かつ少な
くとも第１の光感知領域と第２の光感知領域とを有して
いる第１の光検出器と、前記分離手段で分離された他の少なくとも１本の光ビー
ムの焦点より遠方で、この光ビームの光量が前記光学手
段と前記情報記録媒体とが合焦点時に前記第１の光検出
器面上に照射される光ビームの光量と等しくなる位置に
設けられ、かつ少なくとも前記第１の光検出器と同様の
形状の第１の光感知領域と第２の光感知領域とを有して
いる第２の光検出器とを具備し、前記第１の光検出器の
第１の光感知領域と前記第２の光検出器の第２の光感知
領域との照射光量の和と、前記第１の光検出器の第２の
光感知領域と前記第２の光検出器の第１の光感知領域と
の照射光量の和との差を検出して、フォーカス誤差信号
を得るようにしたことを特徴とする光学ヘッド。