JPS61162744A - イオン濃度分析装置 - Google Patents
イオン濃度分析装置Info
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- JPS61162744A JPS61162744A JP332185A JP332185A JPS61162744A JP S61162744 A JPS61162744 A JP S61162744A JP 332185 A JP332185 A JP 332185A JP 332185 A JP332185 A JP 332185A JP S61162744 A JPS61162744 A JP S61162744A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/28—Electrolytic cell components
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- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、ハロゲン化銀よりなるイオン選択率を用いた
陰４オン選択性Ｘ極を備えたイオン議度分析ｆｉ ｉｔ
（：、関する。
陰４オン選択性Ｘ極を備えたイオン議度分析ｆｉ ｉｔ
（：、関する。
イオン選択性毫極畔、液中（＝存在する特定イオンを選
択的（一定量するための分析臭であって、被検試料液の
供給・排出−４１１，Ｍ位測定機構などと組合されてイ
オン濃度分析装置を構成している。
択的（一定量するための分析臭であって、被検試料液の
供給・排出−４１１，Ｍ位測定機構などと組合されてイ
オン濃度分析装置を構成している。
このイオン選択性−極の被検試料液中の特定イオンに対
するイオン感応部はイオン選択膜で構成されている。こ
のイオン選択膜は、；検液中ζ二浸漬した場合−該被検
試料液中口存在する分析対象の特定イオン６二対して６
み選択的に作用する膜であって、無儀化合＠′４：焼結
、形成した固体膜臘とイオン選択能を有するニエート−
）１１／キヤリア等を高分子物質中Ｃ；分散して成る液
体誤認の２つの種類域二大きくわけられる。
するイオン感応部はイオン選択膜で構成されている。こ
のイオン選択膜は、；検液中ζ二浸漬した場合−該被検
試料液中口存在する分析対象の特定イオン６二対して６
み選択的に作用する膜であって、無儀化合＠′４：焼結
、形成した固体膜臘とイオン選択能を有するニエート−
）１１／キヤリア等を高分子物質中Ｃ；分散して成る液
体誤認の２つの種類域二大きくわけられる。
例えば固体ｌｆ＆ｍの場合、対象とする特定イオンが７
であればＮａｔＯ、Ａ４０ｓ −Ｓｔｏｗからなるガラ
ス膜；−であればＬａＦｌの結晶；ＣＩ−であればＡＪ
ｂＳとＡＸＣＩ又は）ｄｌｃｌの化合物、等がめげられ
る。また液体膜部の場合、対象とする特定イオンがＮａ
。
であればＮａｔＯ、Ａ４０ｓ −Ｓｔｏｗからなるガラ
ス膜；−であればＬａＦｌの結晶；ＣＩ−であればＡＪ
ｂＳとＡＸＣＩ又は）ｄｌｃｌの化合物、等がめげられ
る。また液体膜部の場合、対象とする特定イオンがＮａ
。
ヒ、旧−であればポリ塩化ビニル中に各々クラウンエー
テル、パリノマイシン、ノナクチン、等を分散したもの
があげられる。
テル、パリノマイシン、ノナクチン、等を分散したもの
があげられる。
このようなイオン選択膜を用いたイオン選択性電極を被
検試料液Ｃ二浸漬した場合、この被検試料液中。、定イ
オ、。活量、そみイオ、ア１．。
検試料液Ｃ二浸漬した場合、この被検試料液中。、定イ
オ、。活量、そみイオ、ア１．。
が示す４位との間にはネルンストの関係式が成立し、系
の颯位測定直から目的とする特定イオンのｔＡｔを簡単
に算出して求めることができる。したがって、イオン選
択性電極を用いれば該磁極の指示する１位を測定するだ
けで広いＩＩｋ度範囲に亘って目的とする特定イオンの
濃度な定量することが可能となる。さらには、鴫極部を
不慮形状にすれば被検液が少量でｂつても測定が可能と
なる。
の颯位測定直から目的とする特定イオンのｔＡｔを簡単
に算出して求めることができる。したがって、イオン選
択性電極を用いれば該磁極の指示する１位を測定するだ
けで広いＩＩｋ度範囲に亘って目的とする特定イオンの
濃度な定量することが可能となる。さらには、鴫極部を
不慮形状にすれば被検液が少量でｂつても測定が可能と
なる。
このようζ：、イオン選択性電極は非常に便利なので、
最近では、これを医療用とくに車液中に存存する各種の
イオン、例えばＮａ” 、 Ｋ” 、 ＣＩ−の定量に
用いる試みが盛ん（＝行われている。実際≦；、上記し
たイオン選択性電極を組込んだイオン濃度測定装置も多
く考案されていて、これらは血液分析等の医療関係でそ
の用途が拡大しつつある。
最近では、これを医療用とくに車液中に存存する各種の
イオン、例えばＮａ” 、 Ｋ” 、 ＣＩ−の定量に
用いる試みが盛ん（＝行われている。実際≦；、上記し
たイオン選択性電極を組込んだイオン濃度測定装置も多
く考案されていて、これらは血液分析等の医療関係でそ
の用途が拡大しつつある。
しかしながらイオン選択性磁極は長期に亘る使用中（＝
そのイオン選択膜の構成成分が被検液中Ｃ二溶出した９
、または、その逆に被検液中の妨害成分をとシ込んだり
してイオン選択膜の膜活性の劣化が進行する。これは例
えば、ハロゲン化銀よりなる固体膜部のイオン選択膜を
用いた陰イオン選択性電極の場合、そのハロゲン化銀が
被検試料中口溶出してイオン感応部が損失しその、結果
禽くネルンスト応答を示さなくなるという現象がめげら
れる。
そのイオン選択膜の構成成分が被検液中Ｃ二溶出した９
、または、その逆に被検液中の妨害成分をとシ込んだり
してイオン選択膜の膜活性の劣化が進行する。これは例
えば、ハロゲン化銀よりなる固体膜部のイオン選択膜を
用いた陰イオン選択性電極の場合、そのハロゲン化銀が
被検試料中口溶出してイオン感応部が損失しその、結果
禽くネルンスト応答を示さなくなるという現象がめげら
れる。
ここでとくに、被検試料が典清、血液の場合菟；はハロ
ゲン化銀が損失して部分的にでも下地の銀等が露出する
とそとに血液や血清中のタンパク質等の成分が吸着して
着しくイオン選択能が低下するという事態も生ずる。こ
のよう′（：従来のイオン論度分析装置では、イオン選
択性′ＩＩＬ極特（：陰イオン選択性電極のイオン選択
膜（＝おける膜活性の劣化が激しくその劣化が進行する
シニ従って測定精度も低下しついＣ＝はネルンスト応答
を示さなくなる。
ゲン化銀が損失して部分的にでも下地の銀等が露出する
とそとに血液や血清中のタンパク質等の成分が吸着して
着しくイオン選択能が低下するという事態も生ずる。こ
のよう′（：従来のイオン論度分析装置では、イオン選
択性′ＩＩＬ極特（：陰イオン選択性電極のイオン選択
膜（＝おける膜活性の劣化が激しくその劣化が進行する
シニ従って測定精度も低下しついＣ＝はネルンスト応答
を示さなくなる。
そして従来はそのたびごとに劣化したイオン選択性４に
極を新しい磁極と交換しなければならないという大きな
問題点を有していた。また、陰イオン遇択性１１Ｌ極と
−のイオン選択性電極及び基準電極とを積層一体化した
小量の多項目イオン選択性４億では七の陰イオン選択性
電極の劣化によりまだ正常な機能を示す他のイオン選択
性４億及び基準砿極をも含めて交換しなければならなか
った。
極を新しい磁極と交換しなければならないという大きな
問題点を有していた。また、陰イオン遇択性１１Ｌ極と
−のイオン選択性電極及び基準電極とを積層一体化した
小量の多項目イオン選択性４億では七の陰イオン選択性
電極の劣化によりまだ正常な機能を示す他のイオン選択
性４億及び基準砿極をも含めて交換しなければならなか
った。
〔４明の目的〕
本発明は、長期間精度良くイオン濃度を一１定す名こと
ができるイオン濃度分析装置を提供することを目的とす
る。
ができるイオン濃度分析装置を提供することを目的とす
る。
本発明は、イオン感応部５二銀のペース金属上ζ二形成
されたハロゲン化銀よりなるイオン選択膜な用いた陰イ
オン選択性電極Ｅ極を備えたイオン濃度分析装置（：お
いて、電気分解艦；よって前記ハロゲン化績よりなるイ
オン選択膜を再生する再生手段を具備したことを特徴と
している。 ゛本発明のイオン濃度分析装置ｉ
ｔ＜＝備えられた陰イオン選択性電極のイオン選択膜を
構成するハロゲン化銀とはＡｇＩ 、 ＡＪｒＢｒ 、
ＡＸＣＩを意味し、紹を基体のベースｗＫ極としてそ
の外側−二形成する。あるいは他の金属例えばＣｕの上
（−Ａｇよりなる層をメッキ等の処理（＝よって形成し
その上（： ＡｘＣｌ等を担持させたものを用いても良
い。特ζ；このハロゲン化績よりなるイオン選択膜を有
したイオン感応部のベース電極と信号を収９出す為のリ
ード線とが直結され内部゛電解液や内部基準べ極を持た
ない陰イオン選択性電極を用いることが本発明のイオン
濃度分析装置ｉ二は好ましい。
されたハロゲン化銀よりなるイオン選択膜な用いた陰イ
オン選択性電極Ｅ極を備えたイオン濃度分析装置（：お
いて、電気分解艦；よって前記ハロゲン化績よりなるイ
オン選択膜を再生する再生手段を具備したことを特徴と
している。 ゛本発明のイオン濃度分析装置ｉ
ｔ＜＝備えられた陰イオン選択性電極のイオン選択膜を
構成するハロゲン化銀とはＡｇＩ 、 ＡＪｒＢｒ 、
ＡＸＣＩを意味し、紹を基体のベースｗＫ極としてそ
の外側−二形成する。あるいは他の金属例えばＣｕの上
（−Ａｇよりなる層をメッキ等の処理（＝よって形成し
その上（： ＡｘＣｌ等を担持させたものを用いても良
い。特ζ；このハロゲン化績よりなるイオン選択膜を有
したイオン感応部のベース電極と信号を収９出す為のリ
ード線とが直結され内部゛電解液や内部基準べ極を持た
ない陰イオン選択性電極を用いることが本発明のイオン
濃度分析装置ｉ二は好ましい。
このような−ロゲン化銀よシなるイオン選択膜。
を用いたイオン濃度分析装置では、被検試料の測定を行
なうＣ：従がりてハロゲン化銀が被検試料中に溶出しつ
いζ；は測定が不可能６二なってしまうＯ′で、それ以
前ζニ一定の回数の測定後あるいは一定の値ま、での分
析信号出力の低下等の生じた際シニハ゛ ロゲン化銀よ
りなるイオン選択膜の再生を行なうととで初期のイオン
分析性能に儂帰させることができる。このイオン選択膜
の再生を行なう手段としては′＠電気分解用いるが、具
体的口は例えばこのハロゲン化銀よりなるイオン選択膜
を用いたイオン選択性４愼と液絡部を介して貴金属よシ
なる陽極とを設置し、この液絡部に砥解液を濡たした上
で前記イオン選択性電極と磁気分解用の陰極との間で４
滝を流すこと６二よりハロゲン化銀よりなるイオン選択
膜の再生を行なう。この陰極を構成する誓金属としては
金ｗｆｊｊｅ白金、ロジウム等があげられるがこの他Ｃ
二も他の金属の上に上述したような貴金属よりなる層を
叔けたものでもよい。
なうＣ：従がりてハロゲン化銀が被検試料中に溶出しつ
いζ；は測定が不可能６二なってしまうＯ′で、それ以
前ζニ一定の回数の測定後あるいは一定の値ま、での分
析信号出力の低下等の生じた際シニハ゛ ロゲン化銀よ
りなるイオン選択膜の再生を行なうととで初期のイオン
分析性能に儂帰させることができる。このイオン選択膜
の再生を行なう手段としては′＠電気分解用いるが、具
体的口は例えばこのハロゲン化銀よりなるイオン選択膜
を用いたイオン選択性４愼と液絡部を介して貴金属よシ
なる陽極とを設置し、この液絡部に砥解液を濡たした上
で前記イオン選択性電極と磁気分解用の陰極との間で４
滝を流すこと６二よりハロゲン化銀よりなるイオン選択
膜の再生を行なう。この陰極を構成する誓金属としては
金ｗｆｊｊｅ白金、ロジウム等があげられるがこの他Ｃ
二も他の金属の上に上述したような貴金属よりなる層を
叔けたものでもよい。
また電気分解を行なう−ζ二前記液絡ｓ幅＝満たす“蝋
屏液は塩化ナトリウム、塩化カリウム、Ｍつ化カリウム
、臭化カリウム等を含有する溶液で６って、再生吟には
イオン感応部の／−ロゲン化銀と同一の陰イオンを含む
峨解液を使用する。峨解液の濃度や はＯ，ｎｏ ｌ ／ｌ特１ニー ０．１ｍｏｌ／Ｊ ８
度であることが安定したハロゲン化銀層を再生する上で
好ましい。
屏液は塩化ナトリウム、塩化カリウム、Ｍつ化カリウム
、臭化カリウム等を含有する溶液で６って、再生吟には
イオン感応部の／−ロゲン化銀と同一の陰イオンを含む
峨解液を使用する。峨解液の濃度や はＯ，ｎｏ ｌ ／ｌ特１ニー ０．１ｍｏｌ／Ｊ ８
度であることが安定したハロゲン化銀層を再生する上で
好ましい。
また電気分解時に嵐源より供給される４流の密度は１Ｏ
−Ｖ−以下であれば良いが好ましくは４ｍｌ・／ｄ程度
が良い。
−Ｖ−以下であれば良いが好ましくは４ｍｌ・／ｄ程度
が良い。
本発明の特徴である再生手段を設置する位置としては、
通常の被検試料のフロー系のと中に設けたシ、または電
磁弁等ζ：よる切換流路を設けて別系統に再生手段を設
置し再生時ごと６−切換えるよう（ニしてもよい。さら
Ｃ二は劣化し九イオン選択膜を有する陰イオン選択性−
極るるいは多項目イオン選択を磁極を電極ごと被検試料
の流れるフローからはずして再生専用の別系統のフロ６
内ベニ設置して再生をはかつても良い。
通常の被検試料のフロー系のと中に設けたシ、または電
磁弁等ζ：よる切換流路を設けて別系統に再生手段を設
置し再生時ごと６−切換えるよう（ニしてもよい。さら
Ｃ二は劣化し九イオン選択膜を有する陰イオン選択性−
極るるいは多項目イオン選択を磁極を電極ごと被検試料
の流れるフローからはずして再生専用の別系統のフロ６
内ベニ設置して再生をはかつても良い。
以下実施例により本発明を更（＝詳細に説明する。
第１図は本実施例弓；用い九血清を被検試料液とするイ
オン？ＩＩＬ度分析装置の各構成要素の位置関係を示す
模式図である。
オン？ＩＩＬ度分析装置の各構成要素の位置関係を示す
模式図である。
第１図に〉いて、血清（１）は血清吸引ポンプ（２）に
よって所定量の父μノがサンプル管（３）へ送られる。
よって所定量の父μノがサンプル管（３）へ送られる。
次−二希釈用のバッファ溶液（４） ４５０μｍをバッ
ファ吸引ポンプ（５） （−よってサンプル管（３）１
二注入し、既（＝注入されている血清と混合、１１押さ
れる。これ６；よって血清中の成分は高濃度（−希釈さ
れたテンプル（６）となる。サンプル（６）はサンプル
吸引ポンプ（７）ζ；よって流通臘の多項目イオン選択
性［極（８）へ送られ、サンプル中のイオン濃度測定を
終えてｉ液タンク（９）へ排出される。その後、次の血
清を測定する為１二サンプル’ｆ （３） に流＃溶液
を兼ねたパンファ溶液（４）のみを注入してサンプルｆ
（３）Ｏ洗浄を行なう。このような一連の操作１サイク
ルが血清ｌ検体を分析するシステムでらる。
ファ吸引ポンプ（５） （−よってサンプル管（３）１
二注入し、既（＝注入されている血清と混合、１１押さ
れる。これ６；よって血清中の成分は高濃度（−希釈さ
れたテンプル（６）となる。サンプル（６）はサンプル
吸引ポンプ（７）ζ；よって流通臘の多項目イオン選択
性［極（８）へ送られ、サンプル中のイオン濃度測定を
終えてｉ液タンク（９）へ排出される。その後、次の血
清を測定する為１二サンプル’ｆ （３） に流＃溶液
を兼ねたパンファ溶液（４）のみを注入してサンプルｆ
（３）Ｏ洗浄を行なう。このような一連の操作１サイク
ルが血清ｌ検体を分析するシステムでらる。
本実施例に用いた流通屋の多項目イオン選択性電極（８
）は、ビスー氏−クラウンー４−エーテルとオルトニト
ロフェニルオクチルエーテルを含むポリ塩化ビニルから
成るナトリウムイオン選択性膜を有するナトリウムイオ
ン選択性ｉｌＥ極（８１１）、ハリノマイシンとアジピ
ン酸ジオクチルを含むポリ塩化ビニルから成るカリウム
イオン選択性屯極（８ｂ）、＾１ ｍＡ／ｃｓｌの磁流
で電気分解して塩化銀層を形成した塩素イオン遣択性砥
ｍ （８ｃ）、及び基準電極（８ｄ）が積層一体化され
た敏のである。
）は、ビスー氏−クラウンー４−エーテルとオルトニト
ロフェニルオクチルエーテルを含むポリ塩化ビニルから
成るナトリウムイオン選択性膜を有するナトリウムイオ
ン選択性ｉｌＥ極（８１１）、ハリノマイシンとアジピ
ン酸ジオクチルを含むポリ塩化ビニルから成るカリウム
イオン選択性屯極（８ｂ）、＾１ ｍＡ／ｃｓｌの磁流
で電気分解して塩化銀層を形成した塩素イオン遣択性砥
ｍ （８ｃ）、及び基準電極（８ｄ）が積層一体化され
た敏のである。
テンプル（６）がイオン選択性電＊ （＆） ４二送ら
れて各々の特定イオンを測定するイオン選択性毫憔（８
ａ。
れて各々の特定イオンを測定するイオン選択性毫憔（８
ａ。
８ｂ、８ｃ）と基準−極（８ｄ）との間嘔；生じた題位
差は増幅・演算器四によって処理され、測定されたナト
リウムイオン、カリウムイオン、塩素イオンの濃度はそ
れぞれ餞示器Ｕ旧＝表わされる。この−位測定時、垣素
イオン選択性屯極（８Ｃ）からの信号な一増幅・演算器
駄１へ伝えるリード線の途中に設けられているスイッチ
昧りは（１２’）の位置に接続されている。
差は増幅・演算器四によって処理され、測定されたナト
リウムイオン、カリウムイオン、塩素イオンの濃度はそ
れぞれ餞示器Ｕ旧＝表わされる。この−位測定時、垣素
イオン選択性屯極（８Ｃ）からの信号な一増幅・演算器
駄１へ伝えるリード線の途中に設けられているスイッチ
昧りは（１２’）の位置に接続されている。
る。
本実施例に用いた再生手段は第１図感＝示す即く被検試
料液を流すフロー系統（＝付設されている。
料液を流すフロー系統（＝付設されている。
塩素イオン選択性Ｊ［極（８Ｃ）の感度が低下した時、
即゛ちイオン感応膜の一化銀ｊ―が損失した時、スイッ
チ四を（１２つの位ｉｉに接続し、塩化カリウムＳｔか
ら成る電解１ｔｔ１３を罐解液吸引ポンプ惧４砿；よっ
てサンプル管（３）へ導き、更Ｃニサンプル吸引ポンプ
（７）１：よって多項目イオン選択性層４ （８）と白
金パイプから成る磁気分解の陰極−との間の液絡部（：
充分な液絡ができるように送液する。この液絡部に電解
液が満たされた状態で多項目イオン選択性電極（８）を
陽極として陰極ａ！９との間Ｃ；定鴫磁流給砥源四によ
って定電流を一定時間供給し、塩素イオン選択性ＩＥ極
（８ｃ）の塩化銀層が損失した銀の上に電気分解によシ
、塩化銀層を形成した。
即゛ちイオン感応膜の一化銀ｊ―が損失した時、スイッ
チ四を（１２つの位ｉｉに接続し、塩化カリウムＳｔか
ら成る電解１ｔｔ１３を罐解液吸引ポンプ惧４砿；よっ
てサンプル管（３）へ導き、更Ｃニサンプル吸引ポンプ
（７）１：よって多項目イオン選択性層４ （８）と白
金パイプから成る磁気分解の陰極−との間の液絡部（：
充分な液絡ができるように送液する。この液絡部に電解
液が満たされた状態で多項目イオン選択性電極（８）を
陽極として陰極ａ！９との間Ｃ；定鴫磁流給砥源四によ
って定電流を一定時間供給し、塩素イオン選択性ＩＥ極
（８ｃ）の塩化銀層が損失した銀の上に電気分解によシ
、塩化銀層を形成した。
再生操作終了後、サンプル吸引ポンプ（７）ｃ二よって
電解液を排出し、バッファ溶液（４）によるフロー系の
洗浄を行なった後、スイッチｕａをＱ２′）へ切り換え
、血清の分析サイクルを開始した。
電解液を排出し、バッファ溶液（４）によるフロー系の
洗浄を行なった後、スイッチｕａをＱ２′）へ切り換え
、血清の分析サイクルを開始した。
上記の様な血清の分析と数回の再生を繰返し行なった実
験結果を第２図の特性図に示す。第２図は本イオン濃度
分析装置６；おいて被検試料液中の塩素イオン＃に度を
測定する塩素イオン選択性−億０４度変化を示したもの
であり、感度のチェックは２５００検体毎に、較正し、
感度低下が認められた時適時イオン感心膜の再生を行な
った。感度は１万検体分析後からイオン感応膜の劣化ζ
；より大きく低下し始めたが電気分解ζ：よる再生操作
を行なうと再び初期感度に復帰した。その後も同様な感
度低下曲線を描くが、再生すれば簡単に復帰することが
確認された。再生−１及び再生−２の操作は液絡部に〇
、１ｍｏｌ／］のａ直のＫＣＡを含有した４解液な満た
しそとに６０分間１ ｍｋ／ｃｔｌｌの一流を供給する
ことζ；より再生した場合であり、再生−３では感度の
低下がひどくならないうちにイオン感応膜の再生を行な
ったため同様の一流を１５分間供給することにより充分
な再生が行なえた。また比較例としてこの再生を行なわ
なかった場合を同様に測定したところイオン選択膜の劣
化がそのまま進行してついには全く反応を示さなくなシ
分析が不可能Ｃ二なった。以上のようＣ二、分析過程Ｃ
二おいて、塩素イオン選択性−億のイオン選択−の膜活
性の劣化が進行しはじめた場合（渦示郡に示される較正
時の感度表示から知ることができる）シ；は、このイオ
ン選択膜と陰極との間の液絡ｓに゛砿解液を満たし定電
流を一定時間供給するだけでイオン選択−１の膜活性を
復元することができる。
験結果を第２図の特性図に示す。第２図は本イオン濃度
分析装置６；おいて被検試料液中の塩素イオン＃に度を
測定する塩素イオン選択性−億０４度変化を示したもの
であり、感度のチェックは２５００検体毎に、較正し、
感度低下が認められた時適時イオン感心膜の再生を行な
った。感度は１万検体分析後からイオン感応膜の劣化ζ
；より大きく低下し始めたが電気分解ζ：よる再生操作
を行なうと再び初期感度に復帰した。その後も同様な感
度低下曲線を描くが、再生すれば簡単に復帰することが
確認された。再生−１及び再生−２の操作は液絡部に〇
、１ｍｏｌ／］のａ直のＫＣＡを含有した４解液な満た
しそとに６０分間１ ｍｋ／ｃｔｌｌの一流を供給する
ことζ；より再生した場合であり、再生−３では感度の
低下がひどくならないうちにイオン感応膜の再生を行な
ったため同様の一流を１５分間供給することにより充分
な再生が行なえた。また比較例としてこの再生を行なわ
なかった場合を同様に測定したところイオン選択膜の劣
化がそのまま進行してついには全く反応を示さなくなシ
分析が不可能Ｃ二なった。以上のようＣ二、分析過程Ｃ
二おいて、塩素イオン選択性−億のイオン選択−の膜活
性の劣化が進行しはじめた場合（渦示郡に示される較正
時の感度表示から知ることができる）シ；は、このイオ
ン選択膜と陰極との間の液絡ｓに゛砿解液を満たし定電
流を一定時間供給するだけでイオン選択−１の膜活性を
復元することができる。
本発明のイオン濃度分析装！ｉによれば、従来短寿命で
ありたー°ゲ′化銀すら成る固体膜讐０陰′析を行うこ
とができるよう龜な？た。更ζ：紘、同一期間内（＝使
用する電極の本数が節減されるということのみならず、
劣化した電極を交換するため（：必要以上装置を休止さ
せる時間も少なく、１ｊＬ４交換のわずられしさも省け
る。
ありたー°ゲ′化銀すら成る固体膜讐０陰′析を行うこ
とができるよう龜な？た。更ζ：紘、同一期間内（＝使
用する電極の本数が節減されるということのみならず、
劣化した電極を交換するため（：必要以上装置を休止さ
せる時間も少なく、１ｊＬ４交換のわずられしさも省け
る。
また、陰イオン選択性°電極と他のイオン選択性電極及
び基準菟億とを積Ｊ＃一体化された小鑞の多項目イオン
選択性電極部；おいては高価な電極を廃−する事なく有
効６：用いる事が可能となった。
び基準菟億とを積Ｊ＃一体化された小鑞の多項目イオン
選択性電極部；おいては高価な電極を廃−する事なく有
効６：用いる事が可能となった。
ＩＪ１図は本発明礪二係るイオン濃度分析装置の一実施
例の各構成要素の位置関係を示す模式図、第２図線第１
図鴫；示したイオン濃度分析装置を用いた測定結果な示
す特性図である。 （１）・・・血清、 ＜２）ｅ （５λ（７λＩ
・・・吸引ポンプ（３）・・・サンプル管、 （４）・
・・バッファ溶液（６）・・・サンプル、 （８）
・・・多項目イオン選択性電極（８ａ）・・・ナトリウ
ムイオン選択性４４（８ｂ）・・・カリクムイオン選択
性ｔＩＬ極（８ｃ）・・・塩素イオン選択性４Ｌ極（８
ｄ）・・・基準磁極、 （９）・・・廃液タンク四・・
・増幅演算器、 ｌ・・・表示器ｕ３・・・スイッチ、
ｌ・・・４ｓ液（Ｌ訃・・磁解用陰憔、 （１１Ｇ
・・・定砥流供給嵯源。
例の各構成要素の位置関係を示す模式図、第２図線第１
図鴫；示したイオン濃度分析装置を用いた測定結果な示
す特性図である。 （１）・・・血清、 ＜２）ｅ （５λ（７λＩ
・・・吸引ポンプ（３）・・・サンプル管、 （４）・
・・バッファ溶液（６）・・・サンプル、 （８）
・・・多項目イオン選択性電極（８ａ）・・・ナトリウ
ムイオン選択性４４（８ｂ）・・・カリクムイオン選択
性ｔＩＬ極（８ｃ）・・・塩素イオン選択性４Ｌ極（８
ｄ）・・・基準磁極、 （９）・・・廃液タンク四・・
・増幅演算器、 ｌ・・・表示器ｕ３・・・スイッチ、
ｌ・・・４ｓ液（Ｌ訃・・磁解用陰憔、 （１１Ｇ
・・・定砥流供給嵯源。
Claims (2)
- （１）イオン感応部に銀のベース金属上に形成されたハ
ロゲン化銀よりなるイオン選択膜を用いた陰イオン選択
性電極を備えたイオン濃度分析装置において、 電気分解によって前記ハロゲン化銀よりなるイオン選択
膜を再生する再生手段を具備したことを特徴とするイオ
ン濃度分析装置。 - （２）陰イオン選択性電極のイオン感応部に設けられた
銀のベース金属上のハロゲン化銀よりなるイオン選択膜
と貴金属よりなる陰極とを結ぶ液絡部と、 前記液絡部に導入される前記ハロゲン化銀と同一の陰イ
オンを含む電解液と、 前記イオン選択膜と前記陰極との間に電流を供給する電
源とからなる再生手段を具備したことを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載のイオン濃度分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP332185A JPS61162744A (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | イオン濃度分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP332185A JPS61162744A (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | イオン濃度分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61162744A true JPS61162744A (ja) | 1986-07-23 |
Family
ID=11554087
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP332185A Pending JPS61162744A (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | イオン濃度分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61162744A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0643300A1 (en) * | 1993-09-09 | 1995-03-15 | Kodak Limited | Method and apparatus for measuring silver ion activity |
| JP2013083488A (ja) * | 2011-10-06 | 2013-05-09 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | Ｂｆ４−計測の後処理方法及びｂｆ４−計測方法 |
-
1985
- 1985-01-14 JP JP332185A patent/JPS61162744A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0643300A1 (en) * | 1993-09-09 | 1995-03-15 | Kodak Limited | Method and apparatus for measuring silver ion activity |
| JP2013083488A (ja) * | 2011-10-06 | 2013-05-09 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | Ｂｆ４−計測の後処理方法及びｂｆ４−計測方法 |
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