JPS61173308A - パラメ−タ設定装置 - Google Patents
パラメ−タ設定装置Info
- Publication number
- JPS61173308A JPS61173308A JP1303885A JP1303885A JPS61173308A JP S61173308 A JPS61173308 A JP S61173308A JP 1303885 A JP1303885 A JP 1303885A JP 1303885 A JP1303885 A JP 1303885A JP S61173308 A JPS61173308 A JP S61173308A
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- JP
- Japan
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- time
- value
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B15/00—Systems controlled by a computer
- G05B15/02—Systems controlled by a computer electric
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Control By Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はマイクロコンピュータにパラメータを設定する
装置に関し、特に可変抵抗の抵抗値の変化量を充電時定
数或は放電時定数の変化量として計測することにより、
少ないハードウェアで且つ少ないボート数でパラメータ
をマイクロコンピュータに設定できるパラメータ設定装
置に関する。
装置に関し、特に可変抵抗の抵抗値の変化量を充電時定
数或は放電時定数の変化量として計測することにより、
少ないハードウェアで且つ少ないボート数でパラメータ
をマイクロコンピュータに設定できるパラメータ設定装
置に関する。
従来の技術
従来、マイクロコンピュータ応用機器のマイクロコンピ
ュータに適宜変更自在なパラメータを設定する場合、パ
ラメータ値入力用の可変抵抗の端子電圧をA/D変換器
によりディジタル量に変換するか、又は複数個のパラメ
ータ入力用のディジタルスイッチを用いてコード化され
たパラメータ値を発生し、複数の入力ポートからマイク
ロコンピユータに取り込む方式が一般に採用されている
。
ュータに適宜変更自在なパラメータを設定する場合、パ
ラメータ値入力用の可変抵抗の端子電圧をA/D変換器
によりディジタル量に変換するか、又は複数個のパラメ
ータ入力用のディジタルスイッチを用いてコード化され
たパラメータ値を発生し、複数の入力ポートからマイク
ロコンピユータに取り込む方式が一般に採用されている
。
発明が解決しようとする問題点
しかし、このような方式では、A/D変換器が必要にな
るなど外部ハードウェアが複雑になると共に、入力ポー
ト数の多いマイクロコンピュータが必要となりコスト高
となる。
るなど外部ハードウェアが複雑になると共に、入力ポー
ト数の多いマイクロコンピュータが必要となりコスト高
となる。
本発明はこのような従来の問題点を解決したもので、そ
の目的は、少ないハードウェアと少ない数のポートを使
用してパラメータをマイクロコンピュータに設定し得る
パラメータ設定装置を提供することにある。
の目的は、少ないハードウェアと少ない数のポートを使
用してパラメータをマイクロコンピュータに設定し得る
パラメータ設定装置を提供することにある。
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するために、第1図に示すよ
うに、可変抵抗1aにより時定数を変更し得る時定数回
路1と、時定数回路1の時定数に応じた時間を計測する
時間計測手段2と、時間計測手段2で計測された各時間
に対応したパラメータ値を記憶する記憶手段3と、時間
計測手段2で計測された時間に対応するパラメータ値を
記憶手¥13から読取るパラメータ決定手段4とで構成
される。本発明の好ましい実施例においては、時間計測
手段2は、時定数回路1の入力に所定レベルの電圧を印
加した時からその出力電圧が所定レベルに上昇するまで
に要する時間を計測する。また他の実施例においては、
時間計測手段2は、時定数回路1に加えておいた所定レ
ベルの電圧の印加を停止した時からその出力電圧が所定
レベルに低下するまでに要する時間を計測する。
うに、可変抵抗1aにより時定数を変更し得る時定数回
路1と、時定数回路1の時定数に応じた時間を計測する
時間計測手段2と、時間計測手段2で計測された各時間
に対応したパラメータ値を記憶する記憶手段3と、時間
計測手段2で計測された時間に対応するパラメータ値を
記憶手¥13から読取るパラメータ決定手段4とで構成
される。本発明の好ましい実施例においては、時間計測
手段2は、時定数回路1の入力に所定レベルの電圧を印
加した時からその出力電圧が所定レベルに上昇するまで
に要する時間を計測する。また他の実施例においては、
時間計測手段2は、時定数回路1に加えておいた所定レ
ベルの電圧の印加を停止した時からその出力電圧が所定
レベルに低下するまでに要する時間を計測する。
作用
可変抵抗1aの抵抗値Rと時定数回路1の時定数τとは
一義的に対応し、時間計測手段2は時定数τに応じた時
間Tを計測するものであるから、この時間Tも可変抵抗
1aの抵抗値Rと一義的に対応する。また、記憶手段3
には時間Tの各値に対応したパラメータ値が予め記憶さ
れているので、結局可変抵抗1aの抵抗値Rとパラメー
タ値どは一義的に対応する。上記関係より例えば可変抵
抗1aのつまみには抵抗値に対応するパラメータ値が目
盛られており、可変抵抗1aの抵抗値を設定しようとす
るパラメータ値に対応した抵抗値に切換え、時間計数手
段2で時定数回路1の時定数τに応じた時間Tを計測さ
せれば、その時間Tより記憶手段3に記憶されたパラメ
ータ値がサーチされ、パラメータ値が設定される。
一義的に対応し、時間計測手段2は時定数τに応じた時
間Tを計測するものであるから、この時間Tも可変抵抗
1aの抵抗値Rと一義的に対応する。また、記憶手段3
には時間Tの各値に対応したパラメータ値が予め記憶さ
れているので、結局可変抵抗1aの抵抗値Rとパラメー
タ値どは一義的に対応する。上記関係より例えば可変抵
抗1aのつまみには抵抗値に対応するパラメータ値が目
盛られており、可変抵抗1aの抵抗値を設定しようとす
るパラメータ値に対応した抵抗値に切換え、時間計数手
段2で時定数回路1の時定数τに応じた時間Tを計測さ
せれば、その時間Tより記憶手段3に記憶されたパラメ
ータ値がサーチされ、パラメータ値が設定される。
実施例
第2図は本発明実施例の要部ブロック図である。
同図において、10は内部にROM、RAM等を有する
所謂ワンチップマイクロコンピュータであり、外付けさ
れた発振子11で規定されるクロック周波数に同期して
動作する。マイクロコンピュータ10の電源端子Vcc
には例えば+5vの直流電圧が印加され、アース端子V
SSは接地される。また、複数の出力ポートの内の一つ
の出カポ−) OUTは抵抗R,を介して+5vに接続
されると共に、可変抵抗RとコンデンサCの直列回路か
ら成る時定数回路12の入力に接続される0時定数回路
12の出力即ち可変抵抗RとコンデンサCの接続点の電
圧は比較器13の十端子に入力され、一端子に加わる基
準電圧vthと比較される。この比較器12の出力はマ
イクロコンピュータ10の複数の入力ポートの内の一つ
の入カポ−)INに接続される。なお、マイクロコンピ
ュータ10には他の各種の入力信号が入力され、また制
御用の各種の信号が出力されるものであるが、これらは
図示を省略しである。
所謂ワンチップマイクロコンピュータであり、外付けさ
れた発振子11で規定されるクロック周波数に同期して
動作する。マイクロコンピュータ10の電源端子Vcc
には例えば+5vの直流電圧が印加され、アース端子V
SSは接地される。また、複数の出力ポートの内の一つ
の出カポ−) OUTは抵抗R,を介して+5vに接続
されると共に、可変抵抗RとコンデンサCの直列回路か
ら成る時定数回路12の入力に接続される0時定数回路
12の出力即ち可変抵抗RとコンデンサCの接続点の電
圧は比較器13の十端子に入力され、一端子に加わる基
準電圧vthと比較される。この比較器12の出力はマ
イクロコンピュータ10の複数の入力ポートの内の一つ
の入カポ−)INに接続される。なお、マイクロコンピ
ュータ10には他の各種の入力信号が入力され、また制
御用の各種の信号が出力されるものであるが、これらは
図示を省略しである。
第3図に示すように、マイクロコンピュータ10の出カ
ポ−) OUTがロウレベル(以下“Llと称す)のと
きコンデンサCの端子電圧はほぼ零である。出力ポート
OUTの電位を時刻t1においてハイレベル(以下“H
”と称す)にすると、時定数回路12の入力には所定レ
ベルの電圧Voが印加され、コンデンサCの端子電圧V
は次式に従って変化する。
ポ−) OUTがロウレベル(以下“Llと称す)のと
きコンデンサCの端子電圧はほぼ零である。出力ポート
OUTの電位を時刻t1においてハイレベル(以下“H
”と称す)にすると、時定数回路12の入力には所定レ
ベルの電圧Voが印加され、コンデンサCの端子電圧V
は次式に従って変化する。
yxvo X (1−e” ) −= (1)そし
て、コンデンサCの端子電圧Vが基準電圧Vthより大
きくなると、比較器13の出力は第3図に示すようにH
″となる。出力ポート0[ITを“H”にした時刻を−
から比較器13の出力がH″となる時刻t2までの時間
Tは、時定数回路12の時定数に応じた時間となり、可
変抵抗Rの値を変更する器と変化する。Vth、R,T
の関係を次式に示す。
て、コンデンサCの端子電圧Vが基準電圧Vthより大
きくなると、比較器13の出力は第3図に示すようにH
″となる。出力ポート0[ITを“H”にした時刻を−
から比較器13の出力がH″となる時刻t2までの時間
Tは、時定数回路12の時定数に応じた時間となり、可
変抵抗Rの値を変更する器と変化する。Vth、R,T
の関係を次式に示す。
第4図は第2図のコンデンサCを10IIF、抵抗R,
を10にΩ、基準電圧vthを1vにしたときの可変抵
抗Rの抵抗値と前記時間Tとの関係を示す実測値である
。第4図に示すように、可変抵抗Rの値を39にΩから
120に’Ωまで変化させれば、時間Tを190m s
から580m5まで変化させることができる。
を10にΩ、基準電圧vthを1vにしたときの可変抵
抗Rの抵抗値と前記時間Tとの関係を示す実測値である
。第4図に示すように、可変抵抗Rの値を39にΩから
120に’Ωまで変化させれば、時間Tを190m s
から580m5まで変化させることができる。
時間Tの範囲として190m sがら580m sの間
を使用する場合、マイクロコンピュータ1oの内部RO
Mには例えば第5図に示すように、190m5から例え
ば10m5間隔で変化するTの各部に対応して例えば1
90m5のときは1秒、 200m5のときは2秒、
580m5のときは40秒の如くパラメータ値が設定さ
れている。
を使用する場合、マイクロコンピュータ1oの内部RO
Mには例えば第5図に示すように、190m5から例え
ば10m5間隔で変化するTの各部に対応して例えば1
90m5のときは1秒、 200m5のときは2秒、
580m5のときは40秒の如くパラメータ値が設定さ
れている。
また、可変抵抗Rのつまみ部分には例えば第6図の平面
図に示すように、抵抗値39にΩの位置に1秒の目盛が
、 120にΩの位置に40秒の目盛が、その間におい
てはそれぞれ各抵抗値に対応したパラメータ値が目盛ら
れている。
図に示すように、抵抗値39にΩの位置に1秒の目盛が
、 120にΩの位置に40秒の目盛が、その間におい
てはそれぞれ各抵抗値に対応したパラメータ値が目盛ら
れている。
次に、本実施例の作用を説明する。例えば、パラメータ
値として1秒を設定したい場合、可変抵抗Rのつまみを
1秒の目盛のところに合せる。電源が投入される前の出
力ポートOUTのレベルは、“L”であり、コンデンサ
Cの電圧はほぼ零である。電源が投入されると、マイク
ロコンピュータ10は第7図に示すような処理を実行す
る。即ち、先ず出力ポートOUTを“L”から“H″に
変化させ(Sl)、そのときから入力ポートINの電圧
が“H”になるまで内部カウンタCNTをカウントアツ
プする(S2.S3)。出力ポートが“H”になること
によりコンデンサCは抵抗R,R,を介して充電され、
その端子電圧が基準電圧vthに達したときに比較器1
3の出力が”H”となり、入力ポートINが“H”とな
るので、マイクロコンピュータ10はカウンタCNTの
計数を停止してステップS4に移行し、出力ポートOU
Tを“H”から“L”にすることによりコンデンサCを
放電さ諧そして、次にカウンタCNTの値(これは時間
Tを示す)に対応するパラメータ値を内部ROMに記憶
した時間Tとパラメータ値との対応表から求める(S5
)。この求められたパラメータ値が今回設定されたパラ
メータ値となる。なお、計測された時間Tが10m5で
割り切れない場合、1の位を四捨五入等してパラメータ
値をサーチするか、或は補間演算によりパラメータ値を
求める。マイクロコンピュータ10はこのようなパラメ
ータ設定処理を終えた後、通常の信号処理又は制御プロ
グラムの実行を行なう(S6)。
値として1秒を設定したい場合、可変抵抗Rのつまみを
1秒の目盛のところに合せる。電源が投入される前の出
力ポートOUTのレベルは、“L”であり、コンデンサ
Cの電圧はほぼ零である。電源が投入されると、マイク
ロコンピュータ10は第7図に示すような処理を実行す
る。即ち、先ず出力ポートOUTを“L”から“H″に
変化させ(Sl)、そのときから入力ポートINの電圧
が“H”になるまで内部カウンタCNTをカウントアツ
プする(S2.S3)。出力ポートが“H”になること
によりコンデンサCは抵抗R,R,を介して充電され、
その端子電圧が基準電圧vthに達したときに比較器1
3の出力が”H”となり、入力ポートINが“H”とな
るので、マイクロコンピュータ10はカウンタCNTの
計数を停止してステップS4に移行し、出力ポートOU
Tを“H”から“L”にすることによりコンデンサCを
放電さ諧そして、次にカウンタCNTの値(これは時間
Tを示す)に対応するパラメータ値を内部ROMに記憶
した時間Tとパラメータ値との対応表から求める(S5
)。この求められたパラメータ値が今回設定されたパラ
メータ値となる。なお、計測された時間Tが10m5で
割り切れない場合、1の位を四捨五入等してパラメータ
値をサーチするか、或は補間演算によりパラメータ値を
求める。マイクロコンピュータ10はこのようなパラメ
ータ設定処理を終えた後、通常の信号処理又は制御プロ
グラムの実行を行なう(S6)。
以上の実施例は、時定数回路12の充電時定数に応じた
時間によりパラメータ値を設定したが、時定数回路12
の放電時定数に応じた時間を用いても良いことは勿論の
ことである。但し、放電時定数を用いる場合、一度コン
デンサCを充電しておく分だけ余計に時間がかかること
になる。
時間によりパラメータ値を設定したが、時定数回路12
の放電時定数に応じた時間を用いても良いことは勿論の
ことである。但し、放電時定数を用いる場合、一度コン
デンサCを充電しておく分だけ余計に時間がかかること
になる。
発明の詳細
な説明したように、本発明では、可変抵抗により時定数
変更可能な時定数回路を設け、可変抵抗の値を時定数回
路の時定数に応じた時間とじて検出し、この検出した時
間と、各時間毎のパラメータ値を記憶する記憶内容とか
ら設定するパラメータ値を決定するものであり、従来の
ようにA/D変換器や複数個のディジタルスイッチが不
要となり、簡単なハードウェアで実現できる効果がある
。また、時間計測手段、記憶手段、パラメータ決定手段
はマイクロコンピュータ内部で実現でき、時定数回路と
の接続は僅かに2本の信号線で済み、少ないポート数で
パラメータの設定ができる効果がある。
変更可能な時定数回路を設け、可変抵抗の値を時定数回
路の時定数に応じた時間とじて検出し、この検出した時
間と、各時間毎のパラメータ値を記憶する記憶内容とか
ら設定するパラメータ値を決定するものであり、従来の
ようにA/D変換器や複数個のディジタルスイッチが不
要となり、簡単なハードウェアで実現できる効果がある
。また、時間計測手段、記憶手段、パラメータ決定手段
はマイクロコンピュータ内部で実現でき、時定数回路と
の接続は僅かに2本の信号線で済み、少ないポート数で
パラメータの設定ができる効果がある。
第1図は本発明の構成説明図、第2図は本発明実施例の
要部ブロック図、第3図は第2図の各部の信号波形の一
例を示すタイミングチャート、第4図は可変抵抗Rの抵
抗値と時間Tとの関係を示す線図、第5図は時間Tとパ
ラメータ値との対応関係を示す線図、第6図は可変抵抗
Rのつまみ部分の平面図、第7図はマイクロコンピュー
タ10のパラメータ設定処理の一例を示すフローチャー
トである。 10はマイクロコンピュータ、12は時定数回路、13
は比較器、Rは可変抵抗、Cはコンデンサ、OUTは出
力ボート、INは入力ポートである。
要部ブロック図、第3図は第2図の各部の信号波形の一
例を示すタイミングチャート、第4図は可変抵抗Rの抵
抗値と時間Tとの関係を示す線図、第5図は時間Tとパ
ラメータ値との対応関係を示す線図、第6図は可変抵抗
Rのつまみ部分の平面図、第7図はマイクロコンピュー
タ10のパラメータ設定処理の一例を示すフローチャー
トである。 10はマイクロコンピュータ、12は時定数回路、13
は比較器、Rは可変抵抗、Cはコンデンサ、OUTは出
力ボート、INは入力ポートである。
Claims (3)
- (1)可変抵抗により時定数を変更し得る時定数回路と
、該時定数回路の時定数に応じた時間を計測する時間計
測手段と、該時間計測手段で計測される各時間に対応し
たパラメータ値を記憶する記憶手段と、前記時間計測手
段で計測された時間に対応するパラメータ値を前記記憶
手段から読取るパラメータ決定手段とを具備したことを
特徴とするパラメータ設定装置。 - (2)特許請求の範囲第1項記載のパラメータ設定装置
において、前記時間計測手段は、前記時定数回路の入力
に所定レベルの電圧を印加した時からその出力電圧が所
定レベルに上昇するまでに要する時間を計測するもので
あることを特徴とするパラメータ設定装置。 - (3)特許請求の範囲第1項記載のパラメータ設定装置
において、前記時間計測手段は、前記時定数回路の入力
に加えておいた所定レベルの電圧の印加を停止した時か
らその出力電圧が所定レベルに低下するまでに要する時
間を計測するものであることを特徴とするパラメータ設
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1303885A JPS61173308A (ja) | 1985-01-26 | 1985-01-26 | パラメ−タ設定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1303885A JPS61173308A (ja) | 1985-01-26 | 1985-01-26 | パラメ−タ設定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61173308A true JPS61173308A (ja) | 1986-08-05 |
Family
ID=11821942
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1303885A Pending JPS61173308A (ja) | 1985-01-26 | 1985-01-26 | パラメ−タ設定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61173308A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012248232A (ja) * | 2012-09-21 | 2012-12-13 | Mitsubishi Electric Corp | 安全監視入力装置 |
-
1985
- 1985-01-26 JP JP1303885A patent/JPS61173308A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012248232A (ja) * | 2012-09-21 | 2012-12-13 | Mitsubishi Electric Corp | 安全監視入力装置 |
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