JPS61179093A - Manufacture of thin film el panel - Google Patents

Manufacture of thin film el panel

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JPS61179093A
JPS61179093A JP60018258A JP1825885A JPS61179093A JP S61179093 A JPS61179093 A JP S61179093A JP 60018258 A JP60018258 A JP 60018258A JP 1825885 A JP1825885 A JP 1825885A JP S61179093 A JPS61179093 A JP S61179093A
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JP
Japan
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thin film
film layer
phosphor
phosphor thin
layer
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JP60018258A
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洋介 藤田
純 桑田
雅博 西川
任田 隆夫
富造 松岡
阿部 惇
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はキャラクタ−やグラフィック表示に用いる多色
の薄膜EL素子の製造方法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION FIELD OF INDUSTRIAL APPLICATION The present invention relates to a method for manufacturing multicolored thin film EL elements used for character and graphic displays.

従来の技術 最近薄膜EL素子の螢光体薄膜層として、ZnS:Mn
以外の材料でも高輝度のものが開発されるようになった
。例えばZnS :TbF は緑、 ZnS:SmF3
は赤、 SrS:Coは青に明るく発光する。これらの
材料を用いて多色表示の薄膜EL素子が提案されている
。多色表示の薄膜EL素子を作製する場合、複数の螢光
体薄膜層を所定のパターンに配置する必要がある。パタ
ーンが大きければ、メタルマスクを用いて各螢光体薄膜
層を形成する事が可能である。パターンが細かいとメタ
ルマスクでは実際上形成不可能なので、別の方法をとる
必要がある。
Prior Art Recently, ZnS:Mn has been used as a phosphor thin film layer for thin film EL devices.
Other materials with high brightness have also been developed. For example, ZnS:TbF is green, ZnS:SmF3
SrS:Co emits bright red light, and SrS:Co emits blue light. Thin film EL devices with multicolor display using these materials have been proposed. When producing a thin film EL device with multicolor display, it is necessary to arrange a plurality of phosphor thin film layers in a predetermined pattern. If the pattern is large, a metal mask can be used to form each phosphor thin film layer. If the pattern is too fine, it is practically impossible to form it using a metal mask, so another method must be used.

各螢光体層の間に電極層と必要に応じて誘電体薄膜層を
はさむ方法だと各螢光体薄膜層は全面に−様に形成すれ
ば良いが、素子構造が非常に複雑になってしまうし特性
も不安定である。各螢光体薄膜層を同一平面上に形成し
た構成の素子が構造の単純さや、特性の安定性から見て
現実的なものである。
If an electrode layer and, if necessary, a dielectric thin film layer are sandwiched between each phosphor layer, each phosphor thin film layer can be formed uniformly over the entire surface, but the device structure becomes very complicated. The characteristics are unstable. An element having a structure in which each phosphor thin film layer is formed on the same plane is practical from the viewpoint of structural simplicity and stability of characteristics.

1つの薄膜層を微細なパターンに形成するには全面に一
様に薄膜を形成した後フォトレジストのパターンを形成
し、化学的あるいは物理的に薄膜の不要な部分を除去す
る方法が一般的である。ところが複数の螢光体薄膜層を
同一平面上に形成する場合次の様な困難が生ずる。第1
の螢光体薄膜層と第2の螢光体薄膜層の性質が近いと、
第1の螢光体薄膜層の上に乗った第2の螢光体薄膜層の
みを素子全面にわたり均一に除去する事は事実上不可能
である。部分的に第1の螢光体薄膜層が削除されたり、
第2の螢光体薄膜層が残ったりする。
To form a single thin film layer into a fine pattern, a common method is to form a thin film uniformly over the entire surface, then form a photoresist pattern, and then chemically or physically remove unnecessary parts of the thin film. be. However, when forming a plurality of phosphor thin film layers on the same plane, the following difficulties arise. 1st
When the properties of the phosphor thin film layer and the second phosphor thin film layer are similar,
It is virtually impossible to uniformly remove only the second phosphor thin film layer placed on the first phosphor thin film layer over the entire surface of the device. The first phosphor thin film layer is partially removed,
A second phosphor thin film layer remains.

この問題を回避する方法として、たとえば特開昭69−
123193の方法がある。すなわち、ZnS等の発光
母体薄膜層を一様に形成した後、フォトレジストをマス
ク材料として用い、複数種の希土類金属イオンをイオン
注入により注入し、所定のパターンを得る方法である。
As a way to avoid this problem, for example,
There are 123,193 methods. That is, after uniformly forming a light emitting matrix thin film layer such as ZnS, a plurality of types of rare earth metal ions are implanted by ion implantation using a photoresist as a mask material to obtain a predetermined pattern.

発明が解決しようとする問題点 このような従来の方法では、発光母体材料の薄膜形成後
、発光不純物が添加されるため、両者を同時に形成した
本来の螢光体薄膜層に比べて、発光効率が低いという欠
点がある。さらには、イオン注入の装置が大がかシで高
価なものである。
Problems to be Solved by the Invention In such conventional methods, luminescent impurities are added after forming a thin film of a luminescent matrix material, so the luminous efficiency is lower than that of an original phosphor thin film layer in which both are formed at the same time. It has the disadvantage of being low. Furthermore, the ion implantation equipment is bulky and expensive.

そこで、本発明は高価な装置を必要とせず、発光効率が
本来の値を持った複数の螢光体薄膜層を、同一平面上に
形成する方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a method for forming a plurality of phosphor thin film layers having original luminous efficiency values on the same plane without requiring expensive equipment.

問題点を解決するだめの手段 第1の螢光体薄膜層の上に金属薄膜層を積層して両層を
所定のパターンに形成したが、第2の螢光体薄膜層を全
面に形成し、前記金属薄膜層を溶解することにより第1
の螢光体薄膜パターン上の第2の螢光体薄膜層をリフト
オフ法で除去し、所定のパターンに複数種の螢光体薄膜
層を形成する。
Means to Solve the Problem A metal thin film layer was laminated on the first phosphor thin film layer and both layers were formed in a predetermined pattern. , by dissolving the metal thin film layer.
The second phosphor thin film layer on the phosphor thin film pattern is removed by a lift-off method to form a plurality of types of phosphor thin film layers in a predetermined pattern.

作  用 リフトオフ法を用いて螢光体薄膜層を所定のノ(ターン
に形成するため、発光不純物を頭初から発光母体成膜中
に添加できるので螢光体薄膜の発光効率が高い。しかも
、金属薄膜層の除去は、第1の螢光体薄膜層に影響を与
えずに、容易に行うことができる。
Function: Since the phosphor thin film layer is formed in a predetermined turn using the lift-off method, the luminescent impurity can be added from the beginning during the formation of the luminescent matrix film, so the luminous efficiency of the phosphor thin film is high.Moreover, The metal thin film layer can be easily removed without affecting the first phosphor thin film layer.

実施例 第1図〜第6図゛は、本発明の薄膜EL素子の製造方法
を示す。
Embodiment FIGS. 1 to 6 show a method for manufacturing a thin film EL device of the present invention.

まず第1図に示すように、ガラス基板1の上に、IT○
膜2をDCスパッタリングにより形成し、その上に誘電
体膜2として5rTi○3膜をRFスパッタリングによ
シ形成する。基板温度は400℃である。第1の螢光体
薄膜層としてZnS:Tb、 P膜4をRFスパッタリ
ングにより全体に一様に形成する。基板温度は200℃
である。次いでイツトリウム騰5をEB蒸着によりZn
S :Tb 、 P膜4の上に形成する基板加熱は行な
わない。各々の膜厚はITO膜2が300 nm 、誘
電体膜3が500 nm 。
First, as shown in FIG. 1, an IT○
A film 2 is formed by DC sputtering, and a 5rTi*3 film is formed thereon as a dielectric film 2 by RF sputtering. The substrate temperature was 400°C. As a first phosphor thin film layer, a ZnS:Tb, P film 4 is uniformly formed over the entire surface by RF sputtering. Substrate temperature is 200℃
It is. Next, Zn
The substrate formed on the S:Tb,P film 4 is not heated. The thickness of each film is 300 nm for the ITO film 2 and 500 nm for the dielectric film 3.

ZnS:Tb、P膜が400 nm 、イツトリウム膜
6が1μmである。第2図に示す様に1フォトレジスト
層6を形成しこれをフォトリソグラフィーの手法により
所定のパターンに形成する。パターンのピッチは400
μmである。次いでリン酸、酢酸、硝酸の混酸でイツト
リウム膜6及びZnS:Tb。
The ZnS:Tb, P film has a thickness of 400 nm, and the yttrium film 6 has a thickness of 1 μm. As shown in FIG. 2, one photoresist layer 6 is formed and formed into a predetermined pattern by photolithography. The pattern pitch is 400
It is μm. Next, the yttrium film 6 and ZnS:Tb were formed using a mixed acid of phosphoric acid, acetic acid, and nitric acid.

P膜4をエツチングする。フォトレジスト層6を取り除
いた状態が第3図である。この上に第4図に示すように
、第2の螢光体薄膜層を構成するZnS:am、 P膜
7をRFスパッタリングにより厚さ400nmに形成す
る。基板温度は230℃であるこれを希塩酸中にひたし
、イツトリウム膜5を溶かすとともにその上のZnS:
Sm、 P膜7もり7トオフ法で除去する。この様にし
て、第5図に示す様に、S r T 103膜3の上に
ZnS:Tb、 P膜4とZnS:Sm、 P膜7を所
定のパターンに形成した。
The P film 4 is etched. FIG. 3 shows the state with the photoresist layer 6 removed. As shown in FIG. 4, a ZnS:am,P film 7 constituting the second phosphor thin film layer is formed thereon by RF sputtering to a thickness of 400 nm. The substrate temperature is 230°C. The substrate is immersed in dilute hydrochloric acid to dissolve the yttrium film 5 and the ZnS on it:
The Sm and P films are removed by the 7-off method. In this way, as shown in FIG. 5, a ZnS:Tb, P film 4 and a ZnS:Sm, P film 7 were formed in a predetermined pattern on the SrT 103 film 3.

次に第6図に示すように、真空中でアニール後、Y2o
3膜8及びBaTa 20s膜9をそれぞれEB蒸着と
RFスパッタリングにより形成した。膜厚はそれぞれ2
5nm及び50 nmである。最後にAt電極10を形
成し、薄膜EL素子を完成した。この素子を駆動したと
ころ各螢光体単独でEL素子を形成したものと同じ発光
効率が得られた。ここで7オトレジストを用いず金属薄
膜層をリフトオフに用いた理由は、金属薄膜層が第2の
螢光体薄膜層を形成する際必要な基板加熱に対し安定な
ためである。リフトオフの時、第1及び第2の螢光体薄
膜層よシ金属薄膜層の溶解速度がずっと大きなエッチャ
ントを用いる必要がある。アルミニウム、亜鉛、インジ
ウム、イツトリウム、錫、アンチモン、希土類金属元素
は希塩酸等の酸への溶解速度が非常に速い。そしてこれ
らの金属はZnS等のELに用いられる螢光体材料の発
光特性に殆ど悪影響がなく好ましいものである。又、本
発明によれば、異種の発光母体材料を用いた複数種の螢
光体薄膜層を同一平面上に形成する事も可能である。
Next, as shown in FIG. 6, after annealing in vacuum, Y2o
3 film 8 and BaTa 20s film 9 were formed by EB evaporation and RF sputtering, respectively. Each film thickness is 2
5 nm and 50 nm. Finally, an At electrode 10 was formed to complete a thin film EL device. When this device was driven, the same luminous efficiency as an EL device formed using each phosphor alone was obtained. The reason why the metal thin film layer was used for lift-off without using the 7-photoresist is that the metal thin film layer is stable against the substrate heating required when forming the second phosphor thin film layer. During lift-off, it is necessary to use an etchant that has a much higher rate of dissolution of the first and second phosphor thin film layers and the metal thin film layer. Aluminum, zinc, indium, yttrium, tin, antimony, and rare earth metal elements dissolve very quickly in acids such as dilute hydrochloric acid. These metals are preferable because they have almost no adverse effect on the luminescent properties of phosphor materials used in EL, such as ZnS. Further, according to the present invention, it is also possible to form a plurality of types of phosphor thin film layers using different types of luminescent host materials on the same plane.

さらには3種以上の螢光体薄膜層を形成する場合も本発
明が有効であることはいうまでもない。
Furthermore, it goes without saying that the present invention is also effective when three or more types of phosphor thin film layers are formed.

発明の効果 本発明によれば、本来の発光効率を持った複数の螢光体
薄膜層を同一平面上に形成でき、明るい多色の薄膜EL
素子を提供できるものである。
Effects of the Invention According to the present invention, a plurality of phosphor thin film layers with original luminous efficiency can be formed on the same plane, and a bright multicolored thin film EL can be produced.
It is possible to provide an element.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図〜第6図は本発明の一実施例における薄膜EL素
子の製造方法を示す断面図である。 1・・・・・・ガラス基板、2・・・・・・透明電極、
3・・・・・・誘電体薄膜層、4・・・・・・第1の螢
光体薄膜層、6・・・・・・金属薄膜層、6・・・・・
・7オトレジスト層、7・・・・・・第2の螢光体薄膜
層、8,9・・・・・・誘電体薄膜層、1゜・・・・・
・At電極。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 第 3 図 第4図 第5図
1 to 6 are cross-sectional views showing a method of manufacturing a thin film EL device according to an embodiment of the present invention. 1...Glass substrate, 2...Transparent electrode,
3... Dielectric thin film layer, 4... First phosphor thin film layer, 6... Metal thin film layer, 6...
・7 Otoresist layer, 7... Second phosphor thin film layer, 8, 9... Dielectric thin film layer, 1°...
・At electrode. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao and 1 other person No. 1
Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 5

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims]  (1)基板上に形成した発光層及び、それをはさむ電
極層よりなる薄膜EL素子の製造方法において、第1の
螢光体薄膜層を表示部全体に形成する工程と、金属薄膜
層を第1の螢光体薄膜層上に形成する工程と、前記第1
の螢光体薄膜層及び前記金属薄膜層の一部を除去し所定
のパターンに形成する工程と、その後第2の螢光体薄膜
層を表示部全体に形成する工程と、前記金属薄膜層を溶
解することにより前記金属薄膜層上の前記第2の螢光体
薄膜層をリフトオフ法で除去し、第2の螢光体薄膜層を
所定のパターンに形成する工程とを含むことを特徴とす
る薄膜EL素子の製造方法。
(1) A method for manufacturing a thin film EL device comprising a light emitting layer formed on a substrate and electrode layers sandwiching the light emitting layer, which includes a step of forming a first phosphor thin film layer over the entire display area, and a step of forming a metal thin film layer over the entire display area. a step of forming the first phosphor thin film layer on the first phosphor thin film layer;
a step of removing a part of the phosphor thin film layer and the metal thin film layer to form a predetermined pattern; a step of forming a second phosphor thin film layer over the entire display area; The second phosphor thin film layer on the metal thin film layer is removed by a lift-off method by melting, and the second phosphor thin film layer is formed into a predetermined pattern. A method for manufacturing a thin film EL element.
 (2)金属薄膜層がアルミニウム,亜鉛,インジウム
,イットリウム,錫,アンチモン,及び希土類金属元素
の中から選ばれた少なくとも1種よりなる事を特徴とす
る特許請求の範囲第(1)項記載の薄膜EL素子の製造
方法。
(2) The metal thin film layer is made of at least one selected from aluminum, zinc, indium, yttrium, tin, antimony, and rare earth metal elements. A method for manufacturing a thin film EL element.
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JPH0580797B2 JPH0580797B2 (en) 1993-11-10

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6366896A (en) * 1986-09-09 1988-03-25 日本電信電話株式会社 Display device and manufacture of the same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6366896A (en) * 1986-09-09 1988-03-25 日本電信電話株式会社 Display device and manufacture of the same

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