JPS61180331A - 集積回路装置 - Google Patents

集積回路装置

Info

Publication number
JPS61180331A
JPS61180331A JP60221271A JP22127185A JPS61180331A JP S61180331 A JPS61180331 A JP S61180331A JP 60221271 A JP60221271 A JP 60221271A JP 22127185 A JP22127185 A JP 22127185A JP S61180331 A JPS61180331 A JP S61180331A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
output
terminal
flip
terminals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP60221271A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6215890B2 (ja
Inventor
Hiroshi Mayumi
真弓 宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60221271A priority Critical patent/JPS61180331A/ja
Publication of JPS61180331A publication Critical patent/JPS61180331A/ja
Publication of JPS6215890B2 publication Critical patent/JPS6215890B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、集積回路装置に関し、特にモノリシ、り集積
回路化に好適なデジタル論理同時に関するものである。
デジタル論理集積回路のLSI化に伴ない、内部節点の
数が張線的に増大し、特にこれが記憶素子(状態フリ、
グ・フロ、1等)を含む場合、かかるLSI全体のテス
ト方法が極めて複雑化している事は周知のとお秒である
。これに対して有効な方法として、フリップ・フロップ
を論理回路内の要所要所に整理していくつか、の群にわ
けて設け、通常の動作モードと異なるテスト動作毎−ド
時において各ツリ、プ・フロ。
グ群を独立にシフトレジスタとして動作させ、そのクロ
ック入力及びデータ人・出力等を外部へ出す事により、
任意の時点で任意のフリップ・フロップの状態を続出し
たり書きかえたりする方法(所謂スキャンパス方式) により、一般の順序論理を組合せ論理化してテストを簡
単にする方法が知られている。この方法は確かにLSI
のテスト方法を簡明にするので極めて有効であるが、欠
点は、そのだめのテスト人・出力端子が著増する事であ
る。この事は、大規模な論理回路が、集積回路としては
低集積規模のものを搭載した、多数のコネクタ端子を有
する印刷基板を基本単位とする従来の方式で構成されて
いる場合は目立たなかったが、集積回路の集積度の増加
に伴ない、その端子数に余裕がなくなっている現状では
、極めて不利である。
本発明の目的は、端子数を増大させることなく検査等の
多機能を可能彦らしめた集積回路装置を提供する事にあ
る。
本発明の他の目的は、本来の使用目的である通常の動作
モードにおいて最大限の入・出力端子をわりちてる事の
出来る集積回路装置を提供する事にちる。
本発明による集積回路装置、特にモノリシック集積回路
装置は複数の7リツプ・フロップと論理部とを有し、フ
リップ・フロップは各々が論理部に接続されるとともに
、互いに直列に接続されるように形成されており、論理
部へのデータを入力する端子とクリップ・フロップへシ
フトインデーだことを特徴とする。
本発明は、物理的にはn本の入(出)力端子でも、別個
の1本の制御端子の論理状態、たとえば1゜0好何によ
り、各端子毎に別々の機能を割当てるならば、2n本の
端子として機能する事に着目する。勿論、その20個の
機能中、前のn個と後のn個は同時に使われる事のない
よう割当てに配慮がなされねばならない。この議論は容
易にm本の制御人助の場合に拡張出来る。又、本発明は
通常(7) 論理、tJFEj値域(タ(!: L I
d T T L テIti −0,5v〜5.5.v)
以外の領域所謂第3値を使い(たとえば値+8■で動作
するインバータ入力端子を通常のTTL入力端子を並別
接続する。)これをモード制御入力として使うならさら
に端子効率を向上出来る事に着目する。
本発明によれば複数の入力端子、複数の出方端子および
少なくとも1つの制御端子(モード制御入力端子)を有
し、少なくとも一部の入力端子及び出力端子が、異なる
動作モードにおいて異なる機能を果たすよう上記モード
制御入力端子により制御されるデジタル集積回路が得ら
れる。さらにここで少なくとも一部の入(出)力端子が
制御端子を物理的に兼ね、通常の論理電圧値域では−の
動作モードの入(出)力端子として機能し、通常の論理
電圧値域よシ高い又は低い一定の電圧値域(以下これを
第3値と称す)では−の動作モードを禁止すると同時に
他の動作モードを活性化する事により制御端子として機
能するようなデジタル集積回路を得ることもできる。ま
たかかるデジタル集積回路においては動作モードとして
通常の動作モードの他少なくとも一つのテスト動作モー
ドを含み、後六匝1フリップ・フロップをシフトレジス
タとして扱い論理デバッグ又は故障診断に使われうるよ
うにした事を特徴とする。すなわち、各フリップ・70
ツブは通常動作モードの時−又は複数のクロック入力に
よシ通常のフリップ・フロップとして動作し、論理部と
の間でデータの入出力釜石ない、テスト動作モード時に
は入力データをシフトデータとしてクロックによるタイ
ミング制御のもとてシフトレジスタ動作するように機能
する。
また同様にして論理部として−又は複数の、プログラマ
ブルなAND論理の集合(’ANDアレイ・)又はOR
論理の集合(°ORアレイ゛)もしくは−又は複数のA
NDアレイにより駆動されるORアレイを含む、所謂P
LA(プログラマブル論理アレイ)を含有するデジタル
集積回路において、あるテスト動作モード一時に上記A
NDアレイ又はORアレイに対し、各アレイ内のAND
項(OR項)の冨擲輸一部を選択的に活性化 〔ここで「活性化」とは次の(1)、又は(2)又は(
1)と(2)の双方を指す: (1)選択されたAND(OR)項以外の全AND(O
R)項な不活性にし、全体の論理が選択されたAND(
OR)項のみで動作するようにする(可制御)(2)選
択されたAND(OR)項のみの状態を別に設けたデー
タ出力端子に伝える(可観測)」するような並列出力を
有するシフトレジスタからなる、もしくはシフトレジス
タを含む選択回路を含み、該選択回路の該テスト動作モ
ードにおける諸入力、すなわち全活性化入力、シフト動
作クロック入力、シフト・イン・データ及びデータ出力
の少なくとも一部が1.その他の動作モードにおける入
(出)力と端子を共通にした(モノリシック)デジタル
集積回路も得ることができる。
次に本発明の第1の実施例を第1図を参照して説明する
。本実施例では一連のフリップ・フロップ群の一部又は
全部をシフトレジスタとして動作しうるように直列に接
続する。勿論、各7リツプ・フロップF/F 1 、 
F/F 2は論理部30とも接続され、これと協動して
動作するようにもなされている。組合せ論理を含む論理
部30は入力端子工、1゜L2 + 工21 に接続さ
れた入力I、、 I2. I、および出力端子Kr−、
O+□にそれぞれ接続された出力0、 、02な゛らび
にANDゲートA、およびORゲートRを介して出力端
子02、に接続された出力03  を有する。また論理
部30とフリップ・フロップF/F1とは書込み出力N
11および読み出し入力N、2とによって接続され、同
様にフリップ・フロップF/F 2とも書き込み出力N
21および読み出し入力N2□によって接続されている
通常の動作モードにおいてはこれらのフリップ・フロッ
プF/F 1. F’/F 2は入出力N4.〜N22
  によって論理部30との間でデータ転送が行なわれ
、論理部30の状態を規定する如く動作している。
ここでこれらのフリップ・フロップF/F ]およびF
/F 2にはクロック入力端子工2.に一人力が接続さ
れ、個入力がイネーブル信号端子Cに接続されたアンド
ゲートA2  の出力CLK、がフリップ・フロップの
各ピット毎のパラレル動作のクロック(CLK、)とし
て与え得る如くなされている。またイネーブル端子Cに
接続したインバータ1 tへ出力でおよびクロック端子
1,2からのクロス二V)を入力とするアンドゲートの
出力CLK2がシフト動作のだめのクロック信号として
与え得る如くなされる。このクロックCLK2がイネー
ブルでの高レベル対応して与えられているとき、アンド
ゲートA3が−開き、入力端子I21に与えられデータ
はシフト・イン・データエ。とじてフリップ・フロップ
F/F1に与えられる。このフリップ・フロップの中間
シフト出力M4はF/F 2に入力され、シフト・アウ
ト・データ04  としてイネーブル信号Cが入力され
たアンドゲートA6およびオアゲートRを介して出力端
子021に導出される。いまイネーブル端子が低レベル
であり、このとき、端子I2□にF/F 1 、 F/
F 2  をシフトさせるだめのクロックCLK2が入
力され、入力端子I21にシフトデータが与えられてい
ると、ゲートA、およびA、が開き、出力部のゲートA
、も開くことにより、2つのクリップ・フロップF/F
 1 。
F/F2はシフトレジスタ動作をする。このように本実
施例では入出力端子としては各々系の別の適当な入・出
力I3. O,を、クロックCLK2の端子としてはク
リップ・フロップの各ビット毎のパラレル動作のための
クロックCLKIを夫々入出力端子と兼用し、モード制
御人力Cにより切替える事で端子数の節減を計っている
次に第2図を参照して本発明の第2の実施例を説明する
。本実施例では組合せ論理としては最も一般的なAND
−ORアレイを有する所謂PLA(プログラマブルロジ
ックアレイ)を考え、さらにこれを順序論理化する場合
の好適例として、ORアレイ出力の一部をANDアレイ
入力へのフリップ・フロップを介してフィートノ(ツク
する場合を考える。
入カバッファエには入力端子■1〜II6およびフリッ
プ・70ツブ部5の出力Q1〜Q8が入力され、その出
力はアンドアレイ部2に入力されている。
このアンドアレイ部はアンド項出力A、〜A、28  
を有し、このアンド項出力A1〜A、2.はオアアレイ
部3に入力され、オアアレイ部の出力の一部はクリップ
・70ツブ部5に入力され、他の出力は出力バッファ4
を介して出力端子01〜08に出力されている。また上
述のアンドアレイ部2の各出力項AI〜A、2.はシフ
トレジスタ部6の選択出力によって各々選択しうる。ア
ンドアレイ及びオアアレイ中、任意の交点が黒丸で図示
したようにプログラム可能である。交点の黒丸は実際に
はトランジスタ又はダイオード等の素子により具現され
る。
シフトレジスタ部6には端子DIからデータ入力DIA
が与えられ、シフトレジスタ部6の出力DOAはアンド
ゲートA、、およびオアゲートR2゜を介して出力端子
DOに導出されている。ここで端子DIおよびDoはフ
リップ・フロップ部5のデータ入力および出力端子とし
て兼用されている。
ブロック61てはブロックイネーブルADEおよびシロ
ツクCLK3が与え得る如くされている。イネーブル入
力端子ENはインバータ51およびアンドゲートA、、
に入力され、このアンドゲートAI+の他入力はインバ
ータ51の出力ADEが入力されており、出力はブロッ
ク4にそのイネーブルCEとして与え得る如くなされる
。ADEは一人力がクロック本端子CLKに接続された
アントゲ−1−A、。に接続されゲートAI(1の出力
はラッチクロックCLKOとしてブロック4に与え得る
如くなされる。一方インパータ52の出力はブロック6
ヘブロツクイネーブルADEとして与えられると共にク
ロック端子CLKに一人力が接続されたアンドゲートA
12にも印加される。ゲート12の出力はブロック6ヘ
クロツクCLK3として与え得る如くなされる。ここで
インバータ5.1はブロック4へのイネーブル入力CE
に対し、その第3レベルをADHとし、イネーブル入力
端子ENが通常レベルか第3レベルかで、通常動作モー
ドか、ブロック6のAND項選択回路が活性化されてい
るモードか、の切換えを行なう。前モードではADHは
低レベルでCLK3は庶断されるためブロック6は不活
性でブロック4がイネーブルであり、後モードでは、シ
フトレジスタ部6はすべてイネーブル状態である。この
ようにしてブロックイネーブルADEKより、出力ラッ
チクロックCLKOと、ブロック6のシフトクロックC
LK3の切替えを行なう。かくして第1図の如く構成へ
れた論理集積回路4■いて、そのテスト・デバッグ時に
フリップ・フロップ部5の状態の可制御・可観測性と並
んで問題となるのはアンドアレイ2及びオアアレイ3の
各項、特に各AND項(Al−Al28)  の可制御
性・可観測性である。しかし前者は上述のように周知の
シフトレジスタ接続で実現出来、後者についてはブロッ
ク6によるAND項選択回路を動作させるモードが必要
であり、ここでは端子CLK、BNの制御によってこの
場合128ビツトのシフトレジスタ部6を各AND項中
任意の(複数)項を選択せしめることが可能となる。
このように、本発明は独立又は第3レベルによるモード
制御人力ENを適当に利用して各動作モードでの入出力
信号の使用・不使用忙応じて複数の入・出力信号の端子
を兼用にする事により、極めて広範囲のモノリシック論
理集積回路の端子の数を削減し、その有効利用が計れる
ので、本発明の効果は甚大である。
なお本発明は上述のマ寒施例に限定されることなく、ス
リップ・フロップを含む集積回路において広範な応用が
可能であることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図はそれぞれ本発明の第1および第2
の実施例による集積回路の構成を示すブロック図である
。 30・・・・・・論理部、1・・・・・・入力バッファ
、2・・・・・・アンドアレイ、3・・・・・・オアア
レイ、4・・・・・・出力バッファ、5・・・・・・フ
リップ・70ツブ部、6・・・・・・シフトレジスタ部
。 図面の汀!書(内容に変更なし) 羊 2 日 手続補正書(刃側

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 信号を入力する入力端子と、該入力端子に接続された論
    理部と、該論理部の出力を取り出す出力端子と、複数の
    フリップ・フロップと、クロック信号入力端子と、制御
    信号入力端子と、前記複数のフリップ・フロップを直列
    に接続する信号線およびフリップ・フロップと前記論理
    部とを接続する信号線と、直列接続されたフリップ・フ
    ロップと前記入力端子とを接続するゲート回路とを有し
    、前記制御信号が第1の状態の時には前記ゲート回路を
    閉じるとともに前記論理部とフリップ・フロップとの間
    で信号転送を行なうように前記クロック信号を与え、前
    記制御信号が第2の状態の時には前記ゲート回路を開く
    とともに直列接続されたフリップ・フロップをシフトレ
    ジスタとして働かせるように前記クロック信号を与える
    ようにしたことを特徴とする集積回路装置。
JP60221271A 1985-10-04 1985-10-04 集積回路装置 Granted JPS61180331A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60221271A JPS61180331A (ja) 1985-10-04 1985-10-04 集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60221271A JPS61180331A (ja) 1985-10-04 1985-10-04 集積回路装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15130777A Division JPS5483341A (en) 1977-12-15 1977-12-15 Digital integrated circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61180331A true JPS61180331A (ja) 1986-08-13
JPS6215890B2 JPS6215890B2 (ja) 1987-04-09

Family

ID=16764159

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60221271A Granted JPS61180331A (ja) 1985-10-04 1985-10-04 集積回路装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61180331A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5061161A (ja) * 1973-09-24 1975-05-26
JPS5230337A (en) * 1975-09-03 1977-03-08 Siemens Ag Regenerative amplifier for charge transfer device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5061161A (ja) * 1973-09-24 1975-05-26
JPS5230337A (en) * 1975-09-03 1977-03-08 Siemens Ag Regenerative amplifier for charge transfer device

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6215890B2 (ja) 1987-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5463338A (en) Dual latch clocked LSSD and method
US4267463A (en) Digital integrated circuit
US4493077A (en) Scan testable integrated circuit
KR0156547B1 (ko) 집적 회로용 검사셀
KR0167591B1 (ko) 경계주사 테스트 회로를 가진 반도체 장치
US8352815B2 (en) Circuit and method operable in functional and diagnostic modes
EP0224004A2 (en) Interconnected multiport flip-flop logic circuit
EP1034479B1 (en) TEST CIRCUITRY FOR ASICs
US7426670B2 (en) Connecting multiple test access port controllers on a single test access port
JPS63182585A (ja) テスト容易化機能を備えた論理回路
GB2391358A (en) Method of testing and/or debugging a system on chip (SOC)
US4566104A (en) Testing digital electronic circuits
US6611932B2 (en) Method and apparatus for controlling and observing data in a logic block-based ASIC
US11199580B2 (en) Test access port with address and command capability
JP2632731B2 (ja) 集積回路装置
EP0709688B1 (en) A scan latch and test method therefore
US5491699A (en) Register stage having at least two memory stages for coordinating disparate clock signals for use in boundary scan
JPS6134174B2 (ja)
US5894213A (en) Semiconductor integrated circuit having a plurality of flip-flops
US5378934A (en) Circuit having a master-and-slave and a by-pass
US4802133A (en) Logic circuit
JPS61180331A (ja) 集積回路装置
US4894800A (en) Reconfigurable register bit-slice for self-test
US20020075058A1 (en) Apparatus for low-power, high performance, and cycle accurate test simulation
JPH06160489A (ja) バウンダリスキャン内部テスト方式