JPS61192082A - 磁気デイスクヘツドの浮上特性測定装置 - Google Patents
磁気デイスクヘツドの浮上特性測定装置Info
- Publication number
- JPS61192082A JPS61192082A JP3323185A JP3323185A JPS61192082A JP S61192082 A JPS61192082 A JP S61192082A JP 3323185 A JP3323185 A JP 3323185A JP 3323185 A JP3323185 A JP 3323185A JP S61192082 A JPS61192082 A JP S61192082A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- head
- stage
- center
- yaw angle
- pin
- Prior art date
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気ディスク装置の磁気ヘッドに係り、特にシ
ーク時ヨー角のつくスウィングタイプ（回転型）のヨー
角（Ｙａｗ Ａ ｎｇｌｅ）浮上特性測定装置に関する
。
ーク時ヨー角のつくスウィングタイプ（回転型）のヨー
角（Ｙａｗ Ａ ｎｇｌｅ）浮上特性測定装置に関する
。
磁気ディスク装置は、例えば第２図に示すように、モー
タ１を有するスピンドル２により回転する磁気ディスク
３とヘッド駆動用の回転型アクチュエータ４に取り付け
られたアーム５と該アーム５にスペーサ（図示しない）
を介しスプリングアーム６を取り付け、該スプリングア
ーム６に磁気ヘッド７を設けて構成する。なお、８は装
置ペース、９は回転軸で、アームを回転させる。
タ１を有するスピンドル２により回転する磁気ディスク
３とヘッド駆動用の回転型アクチュエータ４に取り付け
られたアーム５と該アーム５にスペーサ（図示しない）
を介しスプリングアーム６を取り付け、該スプリングア
ーム６に磁気ヘッド７を設けて構成する。なお、８は装
置ペース、９は回転軸で、アームを回転させる。
上記磁気ディスク装置は磁気ヘッド７を搭載したアーム
５が第３図に示すように回転軸９を支点として回転し、
磁気へラド７を磁気ディスク３の半径方向に移動させ所
定トラックに位置づける。
５が第３図に示すように回転軸９を支点として回転し、
磁気へラド７を磁気ディスク３の半径方向に移動させ所
定トラックに位置づける。
この時、位置づけされた磁気へラド７はヨー角θ（円周
方向のトラックの接線とヘッドスライダとのなす角）は
磁気ディスク３の半径位置によって異なる０例えば第３
図に示すようにθが中央で０、最アウタで＋θ、最イン
ナで一〇と変動する。このヨー角θにより磁気ヘッド７
のスライダ１０へ入力する空気量が異なり、このためヘ
ッド浮上量はヨー角Ｏで最も高く、ヨー角のずれの大き
い所が低くなる。
方向のトラックの接線とヘッドスライダとのなす角）は
磁気ディスク３の半径位置によって異なる０例えば第３
図に示すようにθが中央で０、最アウタで＋θ、最イン
ナで一〇と変動する。このヨー角θにより磁気ヘッド７
のスライダ１０へ入力する空気量が異なり、このためヘ
ッド浮上量はヨー角Ｏで最も高く、ヨー角のずれの大き
い所が低くなる。
ところが、磁気ヘッド７の浮上量は極く僅か（０，２〜
０．３μｍ）であり、ヨー角による浮上量変動により、
磁気ヘッド７と磁気ディスク３が当たらないようにする
必要がある。その為ヨー角浮上特性を測定し、磁気ヘッ
ド７と磁気ディスク３は当たらないようにすることが要
望されている。
０．３μｍ）であり、ヨー角による浮上量変動により、
磁気ヘッド７と磁気ディスク３が当たらないようにする
必要がある。その為ヨー角浮上特性を測定し、磁気ヘッ
ド７と磁気ディスク３は当たらないようにすることが要
望されている。
第４図（イ）（ロ）は従来のヨー角浮上特性測定装置を
示し、（イ）は平面図、（ロ）は側面図である。
示し、（イ）は平面図、（ロ）は側面図である。
図において、１１は駆動装置により回転するガラス円板
、１２は直進するＸ、Ｙステージ、１３は上下するＺス
テージ、１４はベース、１５はステージで、ベース１４
に固定されたピン１６を支点に回転する。
、１２は直進するＸ、Ｙステージ、１３は上下するＺス
テージ、１４はベース、１５はステージで、ベース１４
に固定されたピン１６を支点に回転する。
また、ステージ１５の外周にヨー角を決める為の角度目
盛１８を設け、さらにガラス円板１１の中心とピン１６
の中心と磁気へラド７の中心を合わせたアーム１４上に
印１７を設ける。なお、スプリングアーム６のスペーサ
１９は、前記ステージ１５のピン１６とネジ２０により
ステージ１５に固定される。
盛１８を設け、さらにガラス円板１１の中心とピン１６
の中心と磁気へラド７の中心を合わせたアーム１４上に
印１７を設ける。なお、スプリングアーム６のスペーサ
１９は、前記ステージ１５のピン１６とネジ２０により
ステージ１５に固定される。
スプリングアーム６のスペーサ１９を固定しベース１４
上のステージ１５に、スプリングアーム６のスペーサ１
９を固定し、その状態でガラス円板１１の半径方向に直
進させ、磁気ヘッド７をガラス円板ｌｌ上に位置させ、
ガラス円板１１を回転して磁気ヘッド７の浮上量を光学
系りにより測定する０次に、その位置における磁気ヘッ
ド７のヨー角θとする為に、ステージ１５を回転させる
。この時ピン１６を中心に回転する為、実際装置の回転
中心と異なることにより、磁気ヘッド７がＸ、Ｙ方向の
ずれを生ずるので、ＸＳＹステージ１２により修正する
。
上のステージ１５に、スプリングアーム６のスペーサ１
９を固定し、その状態でガラス円板１１の半径方向に直
進させ、磁気ヘッド７をガラス円板ｌｌ上に位置させ、
ガラス円板１１を回転して磁気ヘッド７の浮上量を光学
系りにより測定する０次に、その位置における磁気ヘッ
ド７のヨー角θとする為に、ステージ１５を回転させる
。この時ピン１６を中心に回転する為、実際装置の回転
中心と異なることにより、磁気ヘッド７がＸ、Ｙ方向の
ずれを生ずるので、ＸＳＹステージ１２により修正する
。
再びガラス円板１１を回転させ磁気ヘッド７浮上量を測
定する。
定する。
上記のようにして、シーク時のヨー角浮上特性を測定し
、ヨー角による浮上量の低下量を調べ、磁気ヘッドの浮
上量を確保して、磁気へラド７と磁気ディスク３が当た
らないようする。
、ヨー角による浮上量の低下量を調べ、磁気ヘッドの浮
上量を確保して、磁気へラド７と磁気ディスク３が当た
らないようする。
従来のヨー角浮上特性測定装置では、ピン１６を中心に
ステージ１５を回転してヨー角を出しているので、実際
装置の回転中心と異なることにより、磁気ヘッド７がＸ
、Ｙ方向のずれを生ずるので、Ｘ、Ｙステージ１２によ
り修正しており、作業が複雑となり面倒であると云う問
題点がある。
ステージ１５を回転してヨー角を出しているので、実際
装置の回転中心と異なることにより、磁気ヘッド７がＸ
、Ｙ方向のずれを生ずるので、Ｘ、Ｙステージ１２によ
り修正しており、作業が複雑となり面倒であると云う問
題点がある。
又、測定時にヨー角０度で浮上量を測定し、その位置に
おけるヨー角度とする為、ステージ１５の回転した時生
じる磁気ヘッド７のずれをＸ、Ｙステージ１２により修
正する為、測定が断続作業となり、作業性が悪いと云う
問題点がある。
おけるヨー角度とする為、ステージ１５の回転した時生
じる磁気ヘッド７のずれをＸ、Ｙステージ１２により修
正する為、測定が断続作業となり、作業性が悪いと云う
問題点がある。
上記問題点は磁気ディスクヘッド浮上特性試験器のヘッ
ド取り付け用回転治具の回転中心と該ヘッド取り付け用
回転治具に取り付けられたヘッドの浮動中心を合わせる
ように構成した本発明の磁気ディスクヘッドの浮上特性
測定装置により解決される。
ド取り付け用回転治具の回転中心と該ヘッド取り付け用
回転治具に取り付けられたヘッドの浮動中心を合わせる
ように構成した本発明の磁気ディスクヘッドの浮上特性
測定装置により解決される。
即ち、ヘッド取り付け用回転治具のステージとベースを
ピンにより固定し、ピンを中心にステージが回転するよ
うにし、さらに磁気ディスクヘッドの浮動中心をピン中
心と合わせてステージにネジ止めしているので、磁気ヘ
ッドのヨー角はステージを動かすだけでよく、ガラス円
板の半径（ディスク半径）に関係がなく簡単に、連続的
に正確に出すことが出来、作業性よく行えので測定工数
が短縮できる。
ピンにより固定し、ピンを中心にステージが回転するよ
うにし、さらに磁気ディスクヘッドの浮動中心をピン中
心と合わせてステージにネジ止めしているので、磁気ヘ
ッドのヨー角はステージを動かすだけでよく、ガラス円
板の半径（ディスク半径）に関係がなく簡単に、連続的
に正確に出すことが出来、作業性よく行えので測定工数
が短縮できる。
以下、本発明の要旨を図面により具体的に説明する。
第１図は本発明の１実施例を説明する図で、（イ）は平
面図、（ロ）は側面図である。なお、全図を通じ同一符
号は同一対象物を示す。
面図、（ロ）は側面図である。なお、全図を通じ同一符
号は同一対象物を示す。
第１図（イ）（ロ）は本発明のヨー角浮上特性測定装置
の磁気ヘッドの取り付け部分を示し、ベース２１とステ
ージ２２はピン２３で固定され、該ピン２３を中心とし
てステージ２２が回転する。又、磁気ディスクヘッド７
の浮動中心をピン２３の中心と合わせ、ステージ２２の
にネジ２４で止めている。なお、ステージ２２の外周部
にステージ２２の回転角を示す目盛が付けられ、さらに
その目盛を読む為のｖＡ２５（線２５とピン２３の中心
とガラス円板１１の中心は一直線上にある）が設けられ
たブロック２６をベース２１上に固定している。その他
の部分は、第４図（イ）（ロ）に示す従来と同様であり
、説明は省略する。
の磁気ヘッドの取り付け部分を示し、ベース２１とステ
ージ２２はピン２３で固定され、該ピン２３を中心とし
てステージ２２が回転する。又、磁気ディスクヘッド７
の浮動中心をピン２３の中心と合わせ、ステージ２２の
にネジ２４で止めている。なお、ステージ２２の外周部
にステージ２２の回転角を示す目盛が付けられ、さらに
その目盛を読む為のｖＡ２５（線２５とピン２３の中心
とガラス円板１１の中心は一直線上にある）が設けられ
たブロック２６をベース２１上に固定している。その他
の部分は、第４図（イ）（ロ）に示す従来と同様であり
、説明は省略する。
上記ベース２１上のステージ２２に、スプリングアーム
６のスペーサ２０を固定し、その状態でガラス円板１１
の半径方向に直進させ、磁気ヘッド７をガラス円板１１
の或位置に位置させ、ガラス円板１１を回転して磁気ヘ
ッド７の浮上量を光学系りにより測定する。次に、その
位置における磁気ヘッド７のヨー角θとする為に、ステ
ージ２２を目盛により回転する。
６のスペーサ２０を固定し、その状態でガラス円板１１
の半径方向に直進させ、磁気ヘッド７をガラス円板１１
の或位置に位置させ、ガラス円板１１を回転して磁気ヘ
ッド７の浮上量を光学系りにより測定する。次に、その
位置における磁気ヘッド７のヨー角θとする為に、ステ
ージ２２を目盛により回転する。
磁気ヘッド７の浮動中心をピン２３の中心と合わせてお
り、このピン２３を中心にステージ２２のを回転してい
るので、ガラス円板１１半径に関係なく磁気ヘッド７の
ヨー角θとすることが出来る。
り、このピン２３を中心にステージ２２のを回転してい
るので、ガラス円板１１半径に関係なく磁気ヘッド７の
ヨー角θとすることが出来る。
例えば、磁気ヘッド７のヨー角０度で浮上量を測定し、
その位置でステージ２２を回転し測定のヨー角とした時
、従来のような磁気ヘッド７のずれを生じないので、連
続して測定出来、ずれ修正の必要がなく作業性がよい。
その位置でステージ２２を回転し測定のヨー角とした時
、従来のような磁気ヘッド７のずれを生じないので、連
続して測定出来、ずれ修正の必要がなく作業性がよい。
以上説明したように、本発明によれば磁気ヘッドのヨー
角浮上特性の測定において、コアスライダの浮動中心を
中心として、コアスライダのヨー角を簡単に、かつ連続
的に変化させることが出来、作業性のよい測定が行える
。
角浮上特性の測定において、コアスライダの浮動中心を
中心として、コアスライダのヨー角を簡単に、かつ連続
的に変化させることが出来、作業性のよい測定が行える
。
第１図は本発明の１実施例を説明する図で、（イ）は平
面図、（ロ）は側面図、 第２図は磁気ディスク装置を説明する為の図、第３図は
磁気ディスク３０半径位置によってヨー角の異なる状態
を説明する図、 第４図（イ） （ロ）は従来のヨー角浮上特性測定装置
を示し、（イ）は平面図、（ロ）は側面図である。 図において、 ７は磁気ヘッド、 １１はガラス円板、 １２はＸＳＹステージ、 １３はＺステージ、 ２０はスペーサ、 ２１はベース、 ２２はステージ、 ２３はピン、 ２４はネジ、 ２５は線、 ２６はブロックを示す。 ｌ 拳２［ 拳３１！ｒ （ロ）
面図、（ロ）は側面図、 第２図は磁気ディスク装置を説明する為の図、第３図は
磁気ディスク３０半径位置によってヨー角の異なる状態
を説明する図、 第４図（イ） （ロ）は従来のヨー角浮上特性測定装置
を示し、（イ）は平面図、（ロ）は側面図である。 図において、 ７は磁気ヘッド、 １１はガラス円板、 １２はＸＳＹステージ、 １３はＺステージ、 ２０はスペーサ、 ２１はベース、 ２２はステージ、 ２３はピン、 ２４はネジ、 ２５は線、 ２６はブロックを示す。 ｌ 拳２［ 拳３１！ｒ （ロ）
Claims (1)
- 駆動装置により回転するガラス円板とヘッド取り付け用
回転治具とそれを上下方向に移動するＺステージとヘッ
ドの前記ガラス円板上に位置決めする為のＸ、Ｙステー
ジと光学系からなる磁気ディスクヘッド浮上特性試験器
において、前記ヘッド取り付け用回転治具の回転中心と
該ヘッド取り付け用回転治具に取り付けられたヘッドの
浮動中心を合わせるように構成したことを特徴とする磁
気ディスクヘッドの浮上特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3323185A JPS61192082A (ja) | 1985-02-21 | 1985-02-21 | 磁気デイスクヘツドの浮上特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3323185A JPS61192082A (ja) | 1985-02-21 | 1985-02-21 | 磁気デイスクヘツドの浮上特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61192082A true JPS61192082A (ja) | 1986-08-26 |
Family
ID=12380681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3323185A Pending JPS61192082A (ja) | 1985-02-21 | 1985-02-21 | 磁気デイスクヘツドの浮上特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61192082A (ja) |
-
1985
- 1985-02-21 JP JP3323185A patent/JPS61192082A/ja active Pending
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