JPS61196170A - スプリングコンタクトプロ−ブ - Google Patents

スプリングコンタクトプロ−ブ

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Publication number
JPS61196170A
JPS61196170A JP3636185A JP3636185A JPS61196170A JP S61196170 A JPS61196170 A JP S61196170A JP 3636185 A JP3636185 A JP 3636185A JP 3636185 A JP3636185 A JP 3636185A JP S61196170 A JPS61196170 A JP S61196170A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
spring
contact probe
housing
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3636185A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideaki Mizuno
秀明 水野
Mitsuru Kobayashi
充 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、プリント基板テスト、ICカード入出力用の
スプリングコンタクトプローブに係り、特に高い接触信
頼性を得るに好適なスプリングコンタクトプローブに関
する。
〔発明の背景〕
従来、この種のスプリングコンタクトプローブには、接
触信頼性を上げる為に、先端形状を工夫し、あるいは、
スプリングによる接触圧力を上げる等により、改善され
た例は多数あった。
しかし、コンタクト形状や接触圧力のみで信頼性を向上
しようとすると、被接触物にキズを付けると云う問題点
がある。
尚、この様なプローグは、例えば特公昭58−4886
0号公報に記載されている。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、被接触物にキズ等を付けることなく、
接触信頼性を上げる為に、コンタクトプローブに接触部
のワイピング効果を持たせて高信頼度の電気的接触を得
られる、スプリングコンタクトプローブを提供すること
にある。
〔発明の概要〕
プリント基板の良否判定(普通検査)、部品搭載後の機
能テスト(インサーキットテスト)あるいは、ICカー
ドの書込み/読み出しに1一般的に使用されるスプリン
グコンタクトプローブに関し、コンタクトプローブにワ
イピング効果を持たせることにより、電気的接触の信頼
性を高め、接触不良による不具合を廃除する。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図〜第3図により説明す
る・ 第1図中、コンタクトプローブ1がスプリング2により
押さげられて、ハウジング3に納められている。しかも
このスプリングの両端は、ハウジング内のコンタクトプ
ローブ端4aとハウジングの底4b点で固定されている
。この場合のスプリングはコイルスプリングあるいは、
タケノコ状板バネ等が適当である。今ハウジングを固定
して、コンタクトプローブの先端に、図示してない被接
触部を押し当てると、スプリング2はちぢみ、ハウジン
グ内に挿入されてくる。この際、4at4b点は固定さ
れているのでスプリングが縮む際の回転応力は、そのま
まフリーとなっているコンタクトプローブに伝わりプロ
ーブが回転する。この回転により、被測定部の接触部が
ワイピングされ、電気的接続を確保できる。
別の一実施例を第2図に示す0図中、コンタクトプロー
ブのハウジング内にある部分の一部に凸状のガイド6が
出張っている。又この出張り部6は、ハウジング3にら
線状に設けられたガイド溝5に案内されている。
今、ハウジングを固定して、コンタクトプローブの先端
に図示されない被接触部を押歯てると、コンタクトプロ
ーブは、ハウジングの中に挿入されてくる。この際、コ
ンタクトプローブに具備されている凸状ガイド6は、ガ
イド溝にそって、ハウジングを、ら線状に案内される為
結果としては、コンタクトプローブは、第2図の矢印方
向に回転しながら被接触部に接触する。
又、さらに別の実施例として、第3図に一例を示す、第
2図の例と逆に凸状ガイド6aをハウジング3側に具備
しており、ガイド溝5aは、コンタクトプローブに設け
られている。他の構造及び動作は第2図と同様である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、スプリングコンタクトプローブが、回
転しながら被接触物に接触する為、接触点の酸化物ある
いは、よごれを取り去る、いわゆる接点のワイピング効
果を持たせられる。
この為、従来のコンタクト先端形状を鋭利にしたり、ヌ
プリングカを上げて、接触圧を増加させる等による対策
に比して、キズが付かないなどの特長に加えて、接触不
良のないより高信頼性の接触構造が得られると云う効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明によるコンタクトプローブの一実施例
の縦断面図。 第2図は、本発明によるプローブの他の実施例の外観図
。 第3図は、さらに他の実施例の部分拡大図である。 1・・・・・・コンタクトプローブ 2・・・・・・スプリング 3・・・・・・ハウジング

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. スプリングとコンタクトプローブと、これを保持するハ
    ウジングより成る、スプリングコンタクトプローブにお
    いて、被接触物に接触する際、コンタクトプローブが回
    転する機構を設けたことを特徴とする、スプリングコン
    タクトプローブ。
JP3636185A 1985-02-27 1985-02-27 スプリングコンタクトプロ−ブ Pending JPS61196170A (ja)

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JP3636185A JPS61196170A (ja) 1985-02-27 1985-02-27 スプリングコンタクトプロ−ブ

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JPS61196170A true JPS61196170A (ja) 1986-08-30

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04102472U (ja) * 1990-08-02 1992-09-03 シヤ−プ株式会社 コンタクトプロ−ブビン
US5366380A (en) * 1989-06-13 1994-11-22 General Datacomm, Inc. Spring biased tapered contact elements for electrical connectors and integrated circuit packages
US5425649A (en) * 1989-06-13 1995-06-20 General Datacomm, Inc. Connector system having switching and testing functions using tapered spring contact elements and actuators therefor
JP2013057677A (ja) * 2012-10-30 2013-03-28 Mitsubishi Electric Corp 電気的接続装置
US9209548B2 (en) 2014-04-01 2015-12-08 Interconnect Devices, Inc. Electrical probe with rotatable plunger

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