JPS61204509A - 物体表面の平滑性評価方法 - Google Patents
物体表面の平滑性評価方法Info
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- JPS61204509A JPS61204509A JP4374585A JP4374585A JPS61204509A JP S61204509 A JPS61204509 A JP S61204509A JP 4374585 A JP4374585 A JP 4374585A JP 4374585 A JP4374585 A JP 4374585A JP S61204509 A JPS61204509 A JP S61204509A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、プレス成型品等の物体表面の粗さ、うねシ或
いは塗装むら等の良否を判別する際に用いられる物体底
面の平滑性評価方法に関する。
いは塗装むら等の良否を判別する際に用いられる物体底
面の平滑性評価方法に関する。
従来、この種の物体表面の平滑性評価方法として、例え
ば特開昭５５−４０９２４号公報で開示されるような技
術が知られている。
ば特開昭５５−４０９２４号公報で開示されるような技
術が知られている。
これは被検体となる平板に、その板幅方向に延び、板長
方向に不等間隔離隔する複数本の細長い光像を非垂直的
に投射形成し、該光像を二次元撮像装置にて一度に撮像
し、この撮像画像の光像と、予め記憶させておいた基準
画像の光像との偏差に基づき、−画像毎に平板の平坦度
を認識するようにしている。
方向に不等間隔離隔する複数本の細長い光像を非垂直的
に投射形成し、該光像を二次元撮像装置にて一度に撮像
し、この撮像画像の光像と、予め記憶させておいた基準
画像の光像との偏差に基づき、−画像毎に平板の平坦度
を認識するようにしている。
上記技術は、熱間圧延工程からの鋼板の平坦度の評価等
を対象としたもので１）、被検体の形状は常に限られた
形状（平板形状）を前提としている。
を対象としたもので１）、被検体の形状は常に限られた
形状（平板形状）を前提としている。
ところで、自動車のように、内装、外装を問わず種々の
部品からなる製品にあっては、その製造過程における部
品検査工程或いは部品受は入れに除して、プレス成型品
等の部品にへこみはないか、或いは塗装むらがないか等
をチェックする必要かめる。そこで、このチェックに際
して従来のような物体底面の平滑性評価方法を適用しよ
うとすると、対象となる部品の形状がまちまちであシ、
対象となる部品が代わる毎にその基準画像を変更しなけ
ればならない。従って、基準画像データの記憶容量に限
度のある実際の検査装置において、従来の物品表面の平
滑性評価方法を実現しようとすると、当該検査装置は汎
用性に欠けるものとなってしまう。
部品からなる製品にあっては、その製造過程における部
品検査工程或いは部品受は入れに除して、プレス成型品
等の部品にへこみはないか、或いは塗装むらがないか等
をチェックする必要かめる。そこで、このチェックに際
して従来のような物体底面の平滑性評価方法を適用しよ
うとすると、対象となる部品の形状がまちまちであシ、
対象となる部品が代わる毎にその基準画像を変更しなけ
ればならない。従って、基準画像データの記憶容量に限
度のある実際の検査装置において、従来の物品表面の平
滑性評価方法を実現しようとすると、当該検査装置は汎
用性に欠けるものとなってしまう。
本発明は上記問題点に着目し、いかなる形状の物体であ
っても、その表面の平滑性を容易に計価し得る物体表面
の平滑性評価方法を提供するものである。
っても、その表面の平滑性を容易に計価し得る物体表面
の平滑性評価方法を提供するものである。
そして、本発明は以下の現象を基礎としたものである。
即ち、例えば第６図に示すように、被検体表面１０ａに
存する凹部１０ｂ及び凸部１０ｃに光線２０ａ 、 ２
０ｂのスリット光が投射されると、そのスリット光像の
縁部が、凹部１０ｂにおいて平坦面を想定した場合のＰ
ｏｌからΔｈｌだけずれたＰｅｄｌに、凸部１０ｃにお
いて平坦面を想定した場合のＰＯ２からΔｈ２だけずれ
たＰｅｄｚになる。
存する凹部１０ｂ及び凸部１０ｃに光線２０ａ 、 ２
０ｂのスリット光が投射されると、そのスリット光像の
縁部が、凹部１０ｂにおいて平坦面を想定した場合のＰ
ｏｌからΔｈｌだけずれたＰｅｄｌに、凸部１０ｃにお
いて平坦面を想定した場合のＰＯ２からΔｈ２だけずれ
たＰｅｄｚになる。
従って、へこみや塗装むら等によって凹凸のあるプレス
成型品等の物体表面にスリット光像を投射した場合、各
スリット光像の縁線がその凹凸部において不規則にゆが
むことになる。
成型品等の物体表面にスリット光像を投射した場合、各
スリット光像の縁線がその凹凸部において不規則にゆが
むことになる。
上記現象に基づいてなされる本発明の構成は、物体表面
にスリット光像を投射し、この投射したスリット光像に
おける縁線形状を定量化した後、この定量化により得ら
れる数値に基づいて当該物体表面の平滑性を評価するも
のである。
にスリット光像を投射し、この投射したスリット光像に
おける縁線形状を定量化した後、この定量化により得ら
れる数値に基づいて当該物体表面の平滑性を評価するも
のである。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明に係る物体表面の平滑性評価方法を実現
する検査系の一例を概略的に示す図である。同図におい
て、１０は自動車部品を例にとればエンジンフード、ド
アパネル等の被検体、２はスリット２ａ、２ｂ、２ｃ、
２ｄ、２ｅを設けたスリット板、３は光源であシ、光源
３からの光各スリッ）２ａ乃至２ｅに対応したスリット
光像１１．１２，１３，１４．１５（明部であり図面中
斜緋部）が投射されるようになっている。４は被検体１
０表面を撮像し、そのビデオ信号を出方する二次元撮像
装置、５は二次元撮像装置４からのビデオ信号を画像情
報として処理し、この画像情報に基づいて種々の数値化
演算処理を行なう画像処理装置にである。この画像処理
製置５は、上記二次元撮像装置４からの一画像分のビデ
オ信号を当該−画像を所定分割して（一般に５１２ Ｘ
５１２分割以上）得られる各画素の濃淡情報（例えば２
５６階調）にデジタル変換する画情報変換部５ａと、画
情報変換部５ａからの画像情報（画素単位の濃淡情報）
を格納する画像メモリ５ｂと、画像メモリ５ｂ内の画像
情報を検索し、その検ここで、被検体１０表面に投射さ
れる各スリット元像１１乃至１５について着目すると、
例えば第２図（ａ）に示すように各スリット光像１１乃
至１５は当該被検体１０の表面形状に対応した形状にな
っている。即ち、各スリット光像１１乃至１５の縁線１
１ａ、ｌｌｂ、１２ａ、１２ｂ、１３ａ、１３ｂ、１４
ａ、１４ｂ、１５ａ、１５ｂが被検体１０表面の凹凸状
態に応じてゆがんだ形状となっている。そして、本実施
例では、各スリット光像１１乃至１５における各縁線の
形状を第２図缶）に示すような当該縁線の始点Ｐａｔと
終点Ｐｅｎとの間の距離ＤＳと縁線自体の道の、１ＤＤ
Ｌとの比ＤＬ／Ｄｓによって数値化するようにしている
。
する検査系の一例を概略的に示す図である。同図におい
て、１０は自動車部品を例にとればエンジンフード、ド
アパネル等の被検体、２はスリット２ａ、２ｂ、２ｃ、
２ｄ、２ｅを設けたスリット板、３は光源であシ、光源
３からの光各スリッ）２ａ乃至２ｅに対応したスリット
光像１１．１２，１３，１４．１５（明部であり図面中
斜緋部）が投射されるようになっている。４は被検体１
０表面を撮像し、そのビデオ信号を出方する二次元撮像
装置、５は二次元撮像装置４からのビデオ信号を画像情
報として処理し、この画像情報に基づいて種々の数値化
演算処理を行なう画像処理装置にである。この画像処理
製置５は、上記二次元撮像装置４からの一画像分のビデ
オ信号を当該−画像を所定分割して（一般に５１２ Ｘ
５１２分割以上）得られる各画素の濃淡情報（例えば２
５６階調）にデジタル変換する画情報変換部５ａと、画
情報変換部５ａからの画像情報（画素単位の濃淡情報）
を格納する画像メモリ５ｂと、画像メモリ５ｂ内の画像
情報を検索し、その検ここで、被検体１０表面に投射さ
れる各スリット元像１１乃至１５について着目すると、
例えば第２図（ａ）に示すように各スリット光像１１乃
至１５は当該被検体１０の表面形状に対応した形状にな
っている。即ち、各スリット光像１１乃至１５の縁線１
１ａ、ｌｌｂ、１２ａ、１２ｂ、１３ａ、１３ｂ、１４
ａ、１４ｂ、１５ａ、１５ｂが被検体１０表面の凹凸状
態に応じてゆがんだ形状となっている。そして、本実施
例では、各スリット光像１１乃至１５における各縁線の
形状を第２図缶）に示すような当該縁線の始点Ｐａｔと
終点Ｐｅｎとの間の距離ＤＳと縁線自体の道の、１ＤＤ
Ｌとの比ＤＬ／Ｄｓによって数値化するようにしている
。
具体的な処理について説明すると、まず、第２図（ａ）
に示すような各スリット光像１１乃至１５が投射された
被検体１０表面を二次元撮像装置４によりて撮像し、そ
の撮像範囲Ｖから得られるビデオ信号に基づいて、当該
撮像範囲Ｖに対応した画像情報が、例えば第３図に示す
ように画像メモリ５ｂ内に展開される。
に示すような各スリット光像１１乃至１５が投射された
被検体１０表面を二次元撮像装置４によりて撮像し、そ
の撮像範囲Ｖから得られるビデオ信号に基づいて、当該
撮像範囲Ｖに対応した画像情報が、例えば第３図に示す
ように画像メモリ５ｂ内に展開される。
この第３図に示す画像メそす５ ｂはｘ ｓ ７方向に
二戸４割されておシ、その分割された各画素の濃淡情報
Ｇ（ｘ、ｙ）が０（黒）乃至２５５（白）の２５６階調
にて格納されている。そして第３図では、スリット光像
に対応した明部は、その濃淡情報が黒、白の閾値となる
スライスレベルＧｔｈ（＝ １７７階調）以上の部分と
して斜線で示している。尚、第３図に示す斜線部は上記
撮像範囲■の左端に存づ−るスリット光像１１に対応し
た画像情報である。
二戸４割されておシ、その分割された各画素の濃淡情報
Ｇ（ｘ、ｙ）が０（黒）乃至２５５（白）の２５６階調
にて格納されている。そして第３図では、スリット光像
に対応した明部は、その濃淡情報が黒、白の閾値となる
スライスレベルＧｔｈ（＝ １７７階調）以上の部分と
して斜線で示している。尚、第３図に示す斜線部は上記
撮像範囲■の左端に存づ−るスリット光像１１に対応し
た画像情報である。
上記のように、画像メモリ５ｂ内に撮像範囲■に対応し
た画像情報が展開されると、この画像メモリ５ｂ内の検
索が第５図に示すフローに従って行なわれる。
た画像情報が展開されると、この画像メモリ５ｂ内の検
索が第５図に示すフローに従って行なわれる。
まず、８ｉ４３図に示すように画像メモリ５ｂ上に展開
した画像情報を画像メモＩＪ Ｓ ｂ上でＸ方向の一次
微分処理を行なう（■）。即ち、画像メ七ＩＪ ５ ｂ
の各ｙ座標についてＸ方向に画素を検索してゆき、その
過程で濃淡情報Ｇ（ｘ、ｙ）がスライスレベルＧｔｈを
下回る値からスライスレベルＧｔｈ以上に変化する位置
の画素及びスライ、；＜ レヘルＧｔｈ 以上ｌＤ値ｉ
ｓ ラスライスレベルＧｔｈを下回る値に変化する位置
の画素全検出する。
した画像情報を画像メモＩＪ Ｓ ｂ上でＸ方向の一次
微分処理を行なう（■）。即ち、画像メ七ＩＪ ５ ｂ
の各ｙ座標についてＸ方向に画素を検索してゆき、その
過程で濃淡情報Ｇ（ｘ、ｙ）がスライスレベルＧｔｈを
下回る値からスライスレベルＧｔｈ以上に変化する位置
の画素及びスライ、；＜ レヘルＧｔｈ 以上ｌＤ値ｉ
ｓ ラスライスレベルＧｔｈを下回る値に変化する位置
の画素全検出する。
このようなＸ方向の一次微分処理の結果、第３図に示す
ような画像メモＩＪ Ｓ ｂ内の画像情報が第４図に示
すように変換される。ここで、第４図に示す画像メモＩ
Ｊ Ｓ ｂ内の明部（斜線部分）はスリット光像１１に
おける縁線１１ａ、ｌｌｂに対応したものとなる。この
ように画像メモリ５ｂ内でスリット光像の縁線抽出が終
了すると、ｎレジスタに′″１゛を設定し、ｙ方向の座
標″′１“についてＸ方向（図面左から右）に各画素を
検索しく■）、初めて濃淡情報Ｇ （ｘ ＋ ｙ ）が
スライスレベルＧｔｈ以上となる画素の位置データｚｓ
ｔ （１］（具体的には第４図に示す場合″’４” ）
、）’＃ｔｌｌ）（具体的には第４図に示す場合”１”
）をそれぞれＸＩレジスタ、ｙｌレジスタに格納する
（■）と共に、ＤＬレジスタに’ｏ” ６設定する（■
）。そして、ｘｓｔ Ｉｌｌ、ｙｓｔｔｔ＋で指定され
ル画素ノ下近傍３画素、具体的には画素（４，１）の下
近傍３画素（３，２）、（４，２）、（５，２）を検索
して（Ｏ）濃淡情報（ｘ、ｙ）がスライスレベルＧｔｈ
以上となる画素（４，２）を検出し、当該画素（４，２
）が上記画素（４，１）に対して真下にあることから、
ＤＬレジスタの値に１″″を加算する（■）。
ような画像メモＩＪ Ｓ ｂ内の画像情報が第４図に示
すように変換される。ここで、第４図に示す画像メモＩ
Ｊ Ｓ ｂ内の明部（斜線部分）はスリット光像１１に
おける縁線１１ａ、ｌｌｂに対応したものとなる。この
ように画像メモリ５ｂ内でスリット光像の縁線抽出が終
了すると、ｎレジスタに′″１゛を設定し、ｙ方向の座
標″′１“についてＸ方向（図面左から右）に各画素を
検索しく■）、初めて濃淡情報Ｇ （ｘ ＋ ｙ ）が
スライスレベルＧｔｈ以上となる画素の位置データｚｓ
ｔ （１］（具体的には第４図に示す場合″’４” ）
、）’＃ｔｌｌ）（具体的には第４図に示す場合”１”
）をそれぞれＸＩレジスタ、ｙｌレジスタに格納する
（■）と共に、ＤＬレジスタに’ｏ” ６設定する（■
）。そして、ｘｓｔ Ｉｌｌ、ｙｓｔｔｔ＋で指定され
ル画素ノ下近傍３画素、具体的には画素（４，１）の下
近傍３画素（３，２）、（４，２）、（５，２）を検索
して（Ｏ）濃淡情報（ｘ、ｙ）がスライスレベルＧｔｈ
以上となる画素（４，２）を検出し、当該画素（４，２
）が上記画素（４，１）に対して真下にあることから、
ＤＬレジスタの値に１″″を加算する（■）。
以後、順次画像メモリ５ｂ上の下端に達したか否かを確
認しつつ、濃淡情報Ｇ（ｘ、ｙ）がスライスレベルＧｔ
ｈ以上となる画素の下近傍３画素を検索して次に裳淡情
報Ｇ （ｘ、ｙ）がスライスレベルＧｔｈ以上となる画
素を検出し、当該次の画素が前の画素の真下にあればＤ
Ｌレジスタに″′１゛全１゛ヲる一方、当該次の画素が
前の画素の斜め下にあればＤＬレジスタにｑＴ゛ を加
算してゆく（■、■、■）。このような検索の過程にお
いて、画像メモリ５ｂ上の下端に達すると、その時点で
検出した濃淡情報Ｇ（Ｘ、７）がスライスレベルＧｔｈ
以上となる画素の位置データｚｏｎｉｆｔ （具体的に
は′４゛）、ｙｅｎ Ｉｌｌ （具体的には“ｊ゛）を
それぞれＸ２レジスタ、Ｘ２レジスタに格納する（■、
■）。そして、上記ＸＩレジスタ、ｙｌレジスタに格納
したｘａｔ １１１、ｙｓｔ ＬｌｌとＸ２レジスタ、
Ｘ２レジスタに格納したｘｅｎ （１１、ｙｅｎ（２）
とに基づいてＤＳｌｌｌ値 を演算する（＠ｌ）と共に、このＤ Ｓ Ｌｌｌ値とそ
の時点でのＤＬレジスタ内の数値に基づいてＲ（１）値
Ｒ（１１＝ ＤＬ／Ｄ ｓ ｔ１＋ を演算する（＠）。そして、このＲ（１）値を形状デー
タメモリ（図示せず）に記憶する。
認しつつ、濃淡情報Ｇ（ｘ、ｙ）がスライスレベルＧｔ
ｈ以上となる画素の下近傍３画素を検索して次に裳淡情
報Ｇ （ｘ、ｙ）がスライスレベルＧｔｈ以上となる画
素を検出し、当該次の画素が前の画素の真下にあればＤ
Ｌレジスタに″′１゛全１゛ヲる一方、当該次の画素が
前の画素の斜め下にあればＤＬレジスタにｑＴ゛ を加
算してゆく（■、■、■）。このような検索の過程にお
いて、画像メモリ５ｂ上の下端に達すると、その時点で
検出した濃淡情報Ｇ（Ｘ、７）がスライスレベルＧｔｈ
以上となる画素の位置データｚｏｎｉｆｔ （具体的に
は′４゛）、ｙｅｎ Ｉｌｌ （具体的には“ｊ゛）を
それぞれＸ２レジスタ、Ｘ２レジスタに格納する（■、
■）。そして、上記ＸＩレジスタ、ｙｌレジスタに格納
したｘａｔ １１１、ｙｓｔ ＬｌｌとＸ２レジスタ、
Ｘ２レジスタに格納したｘｅｎ （１１、ｙｅｎ（２）
とに基づいてＤＳｌｌｌ値 を演算する（＠ｌ）と共に、このＤ Ｓ Ｌｌｌ値とそ
の時点でのＤＬレジスタ内の数値に基づいてＲ（１）値
Ｒ（１１＝ ＤＬ／Ｄ ｓ ｔ１＋ を演算する（＠）。そして、このＲ（１）値を形状デー
タメモリ（図示せず）に記憶する。
ここで、最終的なりＬレジスタ内の数値はスリット光像
１１の縁線１１ａに対応した画素列の画像メモＩＪ Ｓ
ｂ上での道の９を意味し、また、ＤＳｌｌｌは当該縁
線１１ａに対応した画素列の画像メモ１Ｊｓｂ上での始
点と終点との間の距離を意味する。
１１の縁線１１ａに対応した画素列の画像メモＩＪ Ｓ
ｂ上での道の９を意味し、また、ＤＳｌｌｌは当該縁
線１１ａに対応した画素列の画像メモ１Ｊｓｂ上での始
点と終点との間の距離を意味する。
上記のようにＲ（１１が演算され次後は、現在の検索位
置が画像メモリ５ｂ上の右端であるか否かを確認しく０
）、ｎレジスタをインクリメントする毎に（◎）、今ま
で対象とした画素列以外の画素列を対象として、第５図
におけるブロック■乃至ブロフク＠の作動を繰返す。そ
して、撮像範囲■の右端に位置するスリット光像１５の
縁線１５ｂに対応した画素列に対する上記処理が終了し
、画素の検索が画像メモＩＪ Ｓ ｂ上の右端に達した
ことを判別すると（＠）、その時点で形状データメモリ
に記憶されている各Ｒ（ｔ）データ（この場合投射され
るスリット光像が１１乃至１５０５本であることがらｉ
＝１．２，３．・・・、１０である）に基づいてその平
均値Ｒｍ を演算する（ｏ）。
置が画像メモリ５ｂ上の右端であるか否かを確認しく０
）、ｎレジスタをインクリメントする毎に（◎）、今ま
で対象とした画素列以外の画素列を対象として、第５図
におけるブロック■乃至ブロフク＠の作動を繰返す。そ
して、撮像範囲■の右端に位置するスリット光像１５の
縁線１５ｂに対応した画素列に対する上記処理が終了し
、画素の検索が画像メモＩＪ Ｓ ｂ上の右端に達した
ことを判別すると（＠）、その時点で形状データメモリ
に記憶されている各Ｒ（ｔ）データ（この場合投射され
るスリット光像が１１乃至１５０５本であることがらｉ
＝１．２，３．・・・、１０である）に基づいてその平
均値Ｒｍ を演算する（ｏ）。
ここで、上記各Ｒ（ｉ）の平均値Ｒｍ ｖＣついて考察
すると、被検体１０表面にへこみ或いは塗装むら等があ
る場合に、その部分のスリット光像の縁線が不規則にゆ
がみ、そのへこみ等の程度が大きければ当該縁線に対応
したＤＬ値が大きくなり、このＤＬ値に基づいて演算さ
れるＲ（ｉ）値も大きくなる。また、被検体１０衣面全
体についてみると、そのへこみ或いは塗装むらが多くな
ればなるほど各Ｒ（ｉ）の平均値Ｒｍが大きくなシ、こ
のＲｍは当該被検体１０表面の平滑度を指標するものと
なる。例えば、被検体１０辰面が理想的な平坦面であれ
ばＲｍ値が１１゛とな夛、当該表面のへこみ或いは塗装
むら等が多くなるに従ってＲｍ値も大きくなる。従って
、平板表面の平滑性を評価する場合には、Ｒｍ値の大小
判断によって直接行なうことになる。また、被検体１０
が平板でなく、一様のふくらみ、或いはうねりを有する
プレス成屋品である場合、各被検体１０に対するＲｍ値
は相対的な評価値となることから、実際の検査系では、
まず良品に対するＲｍ値を求めて記憶し、以後、各被検
体１０の平滑性の評価は、当該被検体１０のＲｍ値と上
記良品に対するＲｍ値との比較に基づいて行なうことに
なる。
すると、被検体１０表面にへこみ或いは塗装むら等があ
る場合に、その部分のスリット光像の縁線が不規則にゆ
がみ、そのへこみ等の程度が大きければ当該縁線に対応
したＤＬ値が大きくなり、このＤＬ値に基づいて演算さ
れるＲ（ｉ）値も大きくなる。また、被検体１０衣面全
体についてみると、そのへこみ或いは塗装むらが多くな
ればなるほど各Ｒ（ｉ）の平均値Ｒｍが大きくなシ、こ
のＲｍは当該被検体１０表面の平滑度を指標するものと
なる。例えば、被検体１０辰面が理想的な平坦面であれ
ばＲｍ値が１１゛とな夛、当該表面のへこみ或いは塗装
むら等が多くなるに従ってＲｍ値も大きくなる。従って
、平板表面の平滑性を評価する場合には、Ｒｍ値の大小
判断によって直接行なうことになる。また、被検体１０
が平板でなく、一様のふくらみ、或いはうねりを有する
プレス成屋品である場合、各被検体１０に対するＲｍ値
は相対的な評価値となることから、実際の検査系では、
まず良品に対するＲｍ値を求めて記憶し、以後、各被検
体１０の平滑性の評価は、当該被検体１０のＲｍ値と上
記良品に対するＲｍ値との比較に基づいて行なうことに
なる。
尚、上記実施例では被検体１０表面に投射するスリット
光像を５本とした場合を想定しためｒ１１検体１０表面
全体の平滑性評価に対する精度を上げるため、実際には
更に投射するスリット光像を増すものである。また、被
検坏１０表面の局所的な平滑性を評価する場合には、ス
リット光像の数は少なくても当該スリット光像を評価対
象となる部分に集中して投射すれば良く、極端な場合に
はスリット光像１本であってもその平滑性評価１１可能
である。更に投射するスリット光像が１本であっても、
その投射を順次ずらし、この時順次得られる画像情報に
対して同様の処理を行なえば、被検体１０表表面体の平
滑性評価は可能である。
光像を５本とした場合を想定しためｒ１１検体１０表面
全体の平滑性評価に対する精度を上げるため、実際には
更に投射するスリット光像を増すものである。また、被
検坏１０表面の局所的な平滑性を評価する場合には、ス
リット光像の数は少なくても当該スリット光像を評価対
象となる部分に集中して投射すれば良く、極端な場合に
はスリット光像１本であってもその平滑性評価１１可能
である。更に投射するスリット光像が１本であっても、
その投射を順次ずらし、この時順次得られる画像情報に
対して同様の処理を行なえば、被検体１０表表面体の平
滑性評価は可能である。
また尚、実際の検査装置にあっては上記Ｒｍ値を表示す
るようにして、検査員がその表示されたＲｍ値に基づい
て被検体表面の平滑性を評価し得るようにしたもの、当
該Ｒｍ値に基づいて被検体１０の良・否を示すランプの
点灯制御を行なうもの、また、自動化ラインでは、移動
中の被検体１０表面にスリット光像を投射し、そこで得
られるＲｍ値に基づいて被検体１０の良否選択を行なう
アクチュエータの切換制御を行なうもの等が考えられる
。
るようにして、検査員がその表示されたＲｍ値に基づい
て被検体表面の平滑性を評価し得るようにしたもの、当
該Ｒｍ値に基づいて被検体１０の良・否を示すランプの
点灯制御を行なうもの、また、自動化ラインでは、移動
中の被検体１０表面にスリット光像を投射し、そこで得
られるＲｍ値に基づいて被検体１０の良否選択を行なう
アクチュエータの切換制御を行なうもの等が考えられる
。
以上説明してきたように、本発明によれば、物体表面に
投射したスリット光像における縁線形状を定量化し７ｃ
後、この定量化により得られる数値に基づいて春誹当該
物体表面の平滑性を評価するようにしたため、従来のよ
うに形状の異なる物体毎に、基準画像全準備する必要が
なくなシ、いかなる形状であっても、その表面の平滑性
を容易に評価できるようになる。その結果、当該発明を
実現する装置は汎用性のある有用なものとなる。
投射したスリット光像における縁線形状を定量化し７ｃ
後、この定量化により得られる数値に基づいて春誹当該
物体表面の平滑性を評価するようにしたため、従来のよ
うに形状の異なる物体毎に、基準画像全準備する必要が
なくなシ、いかなる形状であっても、その表面の平滑性
を容易に評価できるようになる。その結果、当該発明を
実現する装置は汎用性のある有用なものとなる。
第１図は本発明に係る物体表面の平滑性評価方法を実現
する検査系の一例を概略的に示す図、第２図（ａ）は第
１図に示す検査系において被検体表面と投射されるスリ
ット光像の状態を示す図、第２図６）はスリット光像に
おける縁線の始点、終点間の距離と縁線自体の道の９の
関係を示す図、第３図は第１図における画像メモリ内の
状態を示す一１第４図は第３図に示す画像メモリ内の画
像情報ｔｘ力方向一次微分処理した結果例を示す図、第
５図は第４図に示す画像メモリ内の検索フロー例を示す
７０−チャート、第６図は被検体表面に投射されるスリ
ット光像の縁部の状態例を示す図である。 ２・・・スリット板 ３・・・光源 ４・・・二次元撮像装置 ５・・・画像処理装置５ａ・
・・画情報変換部 ５ｂ・・・画像メモリ５ｃ・・・演
算部 １０・・・被検体１１乃至１５・・・スリッ
ト光像 １１ａ、１１ｂ、１２ａ、１２ｂ、１３ａ、１３ｂ、１
４ａ、１４ｂ、１５ａ、１５ｂ・・・縁線 特許出願人 日産自動車株式会社 −こ 第２図 （ａｌ （ｂ） 第１図 ［＞ 区 −一−１＞
する検査系の一例を概略的に示す図、第２図（ａ）は第
１図に示す検査系において被検体表面と投射されるスリ
ット光像の状態を示す図、第２図６）はスリット光像に
おける縁線の始点、終点間の距離と縁線自体の道の９の
関係を示す図、第３図は第１図における画像メモリ内の
状態を示す一１第４図は第３図に示す画像メモリ内の画
像情報ｔｘ力方向一次微分処理した結果例を示す図、第
５図は第４図に示す画像メモリ内の検索フロー例を示す
７０−チャート、第６図は被検体表面に投射されるスリ
ット光像の縁部の状態例を示す図である。 ２・・・スリット板 ３・・・光源 ４・・・二次元撮像装置 ５・・・画像処理装置５ａ・
・・画情報変換部 ５ｂ・・・画像メモリ５ｃ・・・演
算部 １０・・・被検体１１乃至１５・・・スリッ
ト光像 １１ａ、１１ｂ、１２ａ、１２ｂ、１３ａ、１３ｂ、１
４ａ、１４ｂ、１５ａ、１５ｂ・・・縁線 特許出願人 日産自動車株式会社 −こ 第２図 （ａｌ （ｂ） 第１図 ［＞ 区 −一−１＞
Claims (1)
- 物体の表面にスリット光像を投射し、この投射したスリ
ット光像における縁線形状を定量化した後、この定量化
により得られる数値に基づいて当該物体表面の平滑性を
評価するようにしたことを特徴とする物体表面の平滑性
評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4374585A JPS61204509A (ja) | 1985-03-07 | 1985-03-07 | 物体表面の平滑性評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4374585A JPS61204509A (ja) | 1985-03-07 | 1985-03-07 | 物体表面の平滑性評価方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61204509A true JPS61204509A (ja) | 1986-09-10 |
Family
ID=12672298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4374585A Pending JPS61204509A (ja) | 1985-03-07 | 1985-03-07 | 物体表面の平滑性評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61204509A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01210806A (ja) * | 1988-02-18 | 1989-08-24 | Toyota Motor Corp | 塗膜平滑度自動検査装置 |
-
1985
- 1985-03-07 JP JP4374585A patent/JPS61204509A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01210806A (ja) * | 1988-02-18 | 1989-08-24 | Toyota Motor Corp | 塗膜平滑度自動検査装置 |
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