JPS61206231U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS61206231U JPS61206231U JP8955885U JP8955885U JPS61206231U JP S61206231 U JPS61206231 U JP S61206231U JP 8955885 U JP8955885 U JP 8955885U JP 8955885 U JP8955885 U JP 8955885U JP S61206231 U JPS61206231 U JP S61206231U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass tube
- lead wires
- contact
- flat part
- wires
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Manufacture Of Switches (AREA)
- Switches That Are Operated By Magnetic Or Electric Fields (AREA)
- Contacts (AREA)
Description
第１図は本考案によるリードスイツチの実施例
の外観正面図、第２図は第１図におけるリードの
縦断面図で、ａは素線細部におけるＡ―Ａの断面
図、ｂはばね偏平部におけるＢ―Ｂの断面図、ｃ
は接点偏平部におけるＣ―Ｃの断面図、第３図は
本考案によるリード線の製作工程図であある。 なお、１，１′：リード線、２：ニツケル鉄合
金素地、４：銀鍍金層、５：ガラス管、６：銀鍍
金加工、７：伸線加工、８：成形裁断加工、９：
熱処理、１１，１１′：素細線部（端子線）、１
２，１２′：ばね偏平部、１３，１３′：接点偏
平部。
の外観正面図、第２図は第１図におけるリードの
縦断面図で、ａは素線細部におけるＡ―Ａの断面
図、ｂはばね偏平部におけるＢ―Ｂの断面図、ｃ
は接点偏平部におけるＣ―Ｃの断面図、第３図は
本考案によるリード線の製作工程図であある。 なお、１，１′：リード線、２：ニツケル鉄合
金素地、４：銀鍍金層、５：ガラス管、６：銀鍍
金加工、７：伸線加工、８：成形裁断加工、９：
熱処理、１１，１１′：素細線部（端子線）、１
２，１２′：ばね偏平部、１３，１３′：接点偏
平部。
Claims (1)
- 強磁性体よりなる少くとも一方がばね偏平部で
あるリード線１，１′とその先端を対向させて接
点とする接点偏平部１３，１３′とをガラス管５
内に封入し前記リード線１，１′の接点とは反対
側の端部を夫々ガラス管外に引き出して端子線１
１，１１′としたリードスイツチにおいて、前記
ガラス管内に封入されたリード線１，１′並びに
接点部１３，１３′の外周を銀鍍金してなるリー
ドスイツチ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8955885U JPS61206231U (ja) | 1985-06-15 | 1985-06-15 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8955885U JPS61206231U (ja) | 1985-06-15 | 1985-06-15 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61206231U true JPS61206231U (ja) | 1986-12-26 |
Family
ID=30643746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8955885U Pending JPS61206231U (ja) | 1985-06-15 | 1985-06-15 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61206231U (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5439576A (en) * | 1977-09-02 | 1979-03-27 | Nec Corp | Inspection method for semiconductor device |
-
1985
- 1985-06-15 JP JP8955885U patent/JPS61206231U/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5439576A (en) * | 1977-09-02 | 1979-03-27 | Nec Corp | Inspection method for semiconductor device |