JPS6120807A - シ−ト状物体の幅方向特性測定方法 - Google Patents
シ−ト状物体の幅方向特性測定方法Info
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- JPS6120807A JPS6120807A JP14178584A JP14178584A JPS6120807A JP S6120807 A JPS6120807 A JP S6120807A JP 14178584 A JP14178584 A JP 14178584A JP 14178584 A JP14178584 A JP 14178584A JP S6120807 A JPS6120807 A JP S6120807A
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- Japan
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- averaging
- coefficient
- processing
- signal
- measurement point
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
均化して前記物体の幅方向特性を求める方法に関し、更
に詳しくは、平均化係数を可変とし、効果的に係数を変
えることによって、平均化効果を落すことなく、応答性
を高めるようにしたシート状物体の幅方向特性測定方法
に関する。
に詳しくは、平均化係数を可変とし、効果的に係数を変
えることによって、平均化効果を落すことなく、応答性
を高めるようにしたシート状物体の幅方向特性測定方法
に関する。
周知のように、抄造紙、フィルム等のシート状物体の厚
さ等を測定する装置としてβ線厚さ計がある。β線厚さ
計は、所定方向に走行する抄造紙の幅方向で検出部ヘッ
ドを往復走行させながら検出する信号を信号処理部に入
力し、予め定める測定点毎にデータ処理をして厚さ信号
を求め、表示部に表示するようになっている。
さ等を測定する装置としてβ線厚さ計がある。β線厚さ
計は、所定方向に走行する抄造紙の幅方向で検出部ヘッ
ドを往復走行させながら検出する信号を信号処理部に入
力し、予め定める測定点毎にデータ処理をして厚さ信号
を求め、表示部に表示するようになっている。
従来、この種の装置におけるデータ処理方法は、例えば
、特公昭50−36177号公報や月刊誌1オ一トメー
シヨン1第26巻第2号(第104頁)に開示されてい
るように′、厚さ信号は、測定点毎に(1)式に奉づく
処理(移動平均化処理)によって求められ、測定位置信
号(測定点を示す信号)と共に表示部に出力される。
、特公昭50−36177号公報や月刊誌1オ一トメー
シヨン1第26巻第2号(第104頁)に開示されてい
るように′、厚さ信号は、測定点毎に(1)式に奉づく
処理(移動平均化処理)によって求められ、測定位置信
号(測定点を示す信号)と共に表示部に出力される。
yn=αX!1+(1−α)Yn−1’ (1)但し、
Yn・・・今回の出力信号(処理後のデータ)X11・
・・今回の検出信号 Yn−1・・・前回の出力信号(処理後のデータ) α・・・平均化係数(0〜1) 上記のデータ処理によ)、厚さ信号は、抄造紙の走行方
向の変動及び検出部ヘッド自身のノイズ的変動の影響を
キャンセルしたものとして得られる。
Yn・・・今回の出力信号(処理後のデータ)X11・
・・今回の検出信号 Yn−1・・・前回の出力信号(処理後のデータ) α・・・平均化係数(0〜1) 上記のデータ処理によ)、厚さ信号は、抄造紙の走行方
向の変動及び検出部ヘッド自身のノイズ的変動の影響を
キャンセルしたものとして得られる。
ところで、(1)式は以下のように展開される。
Yn=αXn+(1−α)(α−−4+(1−α)Yn
−2)=αXn十α(1−α)Xn−1+α(1−α)
2Xn−2” ”・=Σα(1−α” xn−、(2) i=旧 (2)式から明らかなように1(1)式の移動平均処理
式は等比較数で示される。従って、平均化効果を高める
Kは、等比項(1−α)を1に近づけ、即ち、平均化係
数αを小さくして、過去のデータを有効に利用すればよ
いことが分る。
−2)=αXn十α(1−α)Xn−1+α(1−α)
2Xn−2” ”・=Σα(1−α” xn−、(2) i=旧 (2)式から明らかなように1(1)式の移動平均処理
式は等比較数で示される。従って、平均化効果を高める
Kは、等比項(1−α)を1に近づけ、即ち、平均化係
数αを小さくして、過去のデータを有効に利用すればよ
いことが分る。
一方、平均化係数αと演算回数N(データが〇饅から1
00チまで変化したとき、今回の出方信号値Ynが、(
1−α)X100−まで変化するのに必要なデータ処理
回数)は、表・1に示す関係となシ、平均化係数αを小
さくすると応答性が悪くなる。
00チまで変化したとき、今回の出方信号値Ynが、(
1−α)X100−まで変化するのに必要なデータ処理
回数)は、表・1に示す関係となシ、平均化係数αを小
さくすると応答性が悪くなる。
表・1
※ データ処理回数Nの求め方。
(1−α)≧ Σ α(1−α)ト1
1==1
戸
=1−」ユコリー
1−(1−α)
=1−(1−α)N
、・、N≧−11ヱー
Log(1−α)
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来のシート状物体の幅方向特性測定方法にあって
は、通常、平均化効果を高めんとして、平均化係数αを
小さく、即ち、(2)式の等比項(1−α)を1に近似
させているため、初期状態やデータが大きく変化する過
渡状11における応答性が悪いという問題がある。
は、通常、平均化効果を高めんとして、平均化係数αを
小さく、即ち、(2)式の等比項(1−α)を1に近似
させているため、初期状態やデータが大きく変化する過
渡状11における応答性が悪いという問題がある。
そこで、本発明は、平均化効果を落すことなく応答性の
良いシート状物体の幅方向特性測定方法を提供するにあ
る。
良いシート状物体の幅方向特性測定方法を提供するにあ
る。
上記問題点を解決する本発明のシート状物体の幅方向特
性測定方法は、シート状物体の走行方向に略直交する方
向で検出部ヘッドを往復走行させ、予め定めた測定点毎
に検出する信号Xnを用い、下記演算式、即ち、 Yn=αXn十(1−α)Yn−1 但し、Yn・・・今回の出力信号(処理後のデータ)X
・・・今回の検出信号 Yn−1・・・前回の出力信号(処理後のデータ) α・・・平均化係数(予め設定する係数)に基づく移動
平均処理をして前記シート状物体の幅方向における特性
信号Yを求める方法において、前記各測定点におけるデ
ータ処理回数mが、αく1/mの関係にあるとき、前記
演算式の平均化係数αを1/mにし単純平均処理をする
ことを特徴としている。
性測定方法は、シート状物体の走行方向に略直交する方
向で検出部ヘッドを往復走行させ、予め定めた測定点毎
に検出する信号Xnを用い、下記演算式、即ち、 Yn=αXn十(1−α)Yn−1 但し、Yn・・・今回の出力信号(処理後のデータ)X
・・・今回の検出信号 Yn−1・・・前回の出力信号(処理後のデータ) α・・・平均化係数(予め設定する係数)に基づく移動
平均処理をして前記シート状物体の幅方向における特性
信号Yを求める方法において、前記各測定点におけるデ
ータ処理回数mが、αく1/mの関係にあるとき、前記
演算式の平均化係数αを1/mにし単純平均処理をする
ことを特徴としている。
本発明は、シート状物体の幅方向で予め定める測定点に
おける測定回数mが、α<1/mの関係にあるとき、(
1)式の平均化係数を1/mKしてデータ処理をし、α
≧17mのとき、(1)式に基づくデータ処理をする。
おける測定回数mが、α<1/mの関係にあるとき、(
1)式の平均化係数を1/mKしてデータ処理をし、α
≧17mのとき、(1)式に基づくデータ処理をする。
以下、図面を参照し本発明について説明する。
第1図は、本発明に係るβ線厚さ計を示す構成図である
。β線厚さ計は、0形フレーム上K、所定間隔で対峙し
て設置する線源2及び検出器3から成る検出部ヘッド4
と、検出部へ、ド4を所定方向で走行する抄造紙50幅
方向で予め定めた区間、往復走行させ、各測定点(走行
区間を一定間隔で区分する各点)に対応する測定点信号
を出力すると共に、検出部へ、ド4による検出信号を入
力し、所定の処理をして厚さ信号を出力するコンピュー
タから成る制御・演算部6と、制御・演算部6からの厚
さ信号を縦軸に、又、検出部ヘッド4による測定点信号
を横軸にして表示するCRT等による表示部7とを有す
る。制御・演算部6のROM Kは、初期状態からのデ
ータ処理回数mを平均化係数αとの比較において可変し
、平均化処理をするプログラムが格納されている。
。β線厚さ計は、0形フレーム上K、所定間隔で対峙し
て設置する線源2及び検出器3から成る検出部ヘッド4
と、検出部へ、ド4を所定方向で走行する抄造紙50幅
方向で予め定めた区間、往復走行させ、各測定点(走行
区間を一定間隔で区分する各点)に対応する測定点信号
を出力すると共に、検出部へ、ド4による検出信号を入
力し、所定の処理をして厚さ信号を出力するコンピュー
タから成る制御・演算部6と、制御・演算部6からの厚
さ信号を縦軸に、又、検出部ヘッド4による測定点信号
を横軸にして表示するCRT等による表示部7とを有す
る。制御・演算部6のROM Kは、初期状態からのデ
ータ処理回数mを平均化係数αとの比較において可変し
、平均化処理をするプログラムが格納されている。
以上の構成において、制御・演算部6は、検出部ヘッド
4を走行させ、検出信号を用いてデータ処理をすると共
に、各測定点毎にデータ処理回数mを゛カウトする。デ
ータ処理は、第2図に示すように、データ処理回数mが
α<17mの関係にあるとき(測定開始直後は、全てこ
の関係が成り立つX測定点毎に、(3)式に基づくデー
タ処理を繰シ返ず(第2図の11乃至13)。
4を走行させ、検出信号を用いてデータ処理をすると共
に、各測定点毎にデータ処理回数mを゛カウトする。デ
ータ処理は、第2図に示すように、データ処理回数mが
α<17mの関係にあるとき(測定開始直後は、全てこ
の関係が成り立つX測定点毎に、(3)式に基づくデー
タ処理を繰シ返ず(第2図の11乃至13)。
!、 =MXn+ (1−M)Yn−1(3)上記(3
)式は、下記の通り、展開し整理した結果からも明らか
なように単純平均を示す。
)式は、下記の通り、展開し整理した結果からも明らか
なように単純平均を示す。
”= ”+(1−m”m−lXn−1+(1−i)y
n−2) =百Xn+ ]−−;□Xn−1 +1−・m−t ’ m−2xn−2+(’ −m−2
)Yn4 )=−;x11+習X。−1十習X。−2+
・・・・・・=−ΣXn−1 一方、データ処理回数mがα217mの関係にあする(
第2図の14及び15)。
n−2) =百Xn+ ]−−;□Xn−1 +1−・m−t ’ m−2xn−2+(’ −m−2
)Yn4 )=−;x11+習X。−1十習X。−2+
・・・・・・=−ΣXn−1 一方、データ処理回数mがα217mの関係にあする(
第2図の14及び15)。
本発明の方法における平均化係数αと演算回数N(デー
タがローから100チまで変化したとき、今回の出力信
号値Ynが、(1−α)x1oo%tで変化するのに必
要なデータ処理回数)は、表・2に示す関係となシ、表
・1の従来の方法に比べて応答性が改善されていること
が分る。
タがローから100チまで変化したとき、今回の出力信
号値Ynが、(1−α)x1oo%tで変化するのに必
要なデータ処理回数)は、表・2に示す関係となシ、表
・1の従来の方法に比べて応答性が改善されていること
が分る。
表・2
尚、本発明は、上記抄造紙の厚さ測定に限定するもので
はなく、水分、灰分、坪量、色彩等の測定であってもよ
い。
はなく、水分、灰分、坪量、色彩等の測定であってもよ
い。
以上、説明の通シ、本発明のシート状物体の幅方向特性
測定方法によれば、測定点におけるデータ処理回数に応
じて平均化係数を変えるようKしたため、平均化効果を
落すことなく応答性を高めることができる。
測定方法によれば、測定点におけるデータ処理回数に応
じて平均化係数を変えるようKしたため、平均化効果を
落すことなく応答性を高めることができる。
第1図は、本発明に係るβ線厚さ計を示す構成図、第2
図は、本発明の一実施例を示すフローチャートである。 1・・・O形フレーム、2・・・線源、3・・・検出器
、4・・・検出部ヘッド、5・・・抄造紙。 荒1図 爪2因
図は、本発明の一実施例を示すフローチャートである。 1・・・O形フレーム、2・・・線源、3・・・検出器
、4・・・検出部ヘッド、5・・・抄造紙。 荒1図 爪2因
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 シート状物体の走行方向に略直交する方向で検出部ヘッ
ドを往復走行させ、予め定めた測定点毎に検出する信号
X_nを用い、下記演算式、即ち、Y_n=αX_n+
(1−α)Y_n_−_1但し、Y_n・・・今回の出
力信号(処理後のデータ)X_n・・・今回の検出信号 Y_n_−_1・・・前回の出力信号(処理後のデータ
) α・・・平均化係数(予め設定する係数) に基づく移動平均処理をして前記シート状物体の幅方向
における特性信号Y_nを求める方法において、前記各
測定点におけるデータ処理回数mが、α<1/mの関係
にあるとき、前記演算式の平均化係数αを1/mにし単
純平均処理をすることを特徴とするシート状物体の幅方
向特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14178584A JPS6120807A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | シ−ト状物体の幅方向特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14178584A JPS6120807A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | シ−ト状物体の幅方向特性測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6120807A true JPS6120807A (ja) | 1986-01-29 |
| JPH0418248B2 JPH0418248B2 (ja) | 1992-03-27 |
Family
ID=15300101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14178584A Granted JPS6120807A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | シ−ト状物体の幅方向特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6120807A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH034439U (ja) * | 1989-05-31 | 1991-01-17 | ||
| JPH0382536U (ja) * | 1988-10-25 | 1991-08-22 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57173710A (en) * | 1981-04-17 | 1982-10-26 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Profile display device |
| JPS5930010A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-02-17 | Kawasaki Steel Corp | 鋼帯プロフイールのハイスポット検出方法 |
-
1984
- 1984-07-09 JP JP14178584A patent/JPS6120807A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57173710A (en) * | 1981-04-17 | 1982-10-26 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Profile display device |
| JPS5930010A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-02-17 | Kawasaki Steel Corp | 鋼帯プロフイールのハイスポット検出方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0382536U (ja) * | 1988-10-25 | 1991-08-22 | ||
| JPH034439U (ja) * | 1989-05-31 | 1991-01-17 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0418248B2 (ja) | 1992-03-27 |
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