JPS6120833A - 取引処理装置のセンサチェック装置 - Google Patents
取引処理装置のセンサチェック装置Info
- Publication number
- JPS6120833A JPS6120833A JP59144044A JP14404484A JPS6120833A JP S6120833 A JPS6120833 A JP S6120833A JP 59144044 A JP59144044 A JP 59144044A JP 14404484 A JP14404484 A JP 14404484A JP S6120833 A JPS6120833 A JP S6120833A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- check
- sensor
- main control
- optical sensor
- processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Financial Or Insurance-Related Operations Such As Payment And Settlement (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ）技術分野
この発明は現金自動預金支払機（以下、ＡＴＭという。
）等の動作を監視する光学センサのチェック装置に関す
る。
る。
ｆｂ）従来技術とその欠点
現在のＡＴＶ等の構成はカードを搬送したり、紙幣を搬
送、放出したりする機械的処理装置（以下「メカニカル
コンポーネント」と言う。）を組合せ、それらを主制御
部が制御するというシステムを採用している。それぞれ
のメカニカルコンポーネントは各所に光学センサを配置
し、それによってその機械的処理を監視している。従っ
て、ＡＴＭ等の保守においてこれらの光学センサの不良
をチェックすることは非常に重要である。光学センサの
不良には受光部、投光部の劣化、光軸上の埃の堆積等が
あるが、ＡＴＭ内には相当数の光学センサが使用されて
いるため人手でその全てをチェックすることは非常に労
力を要するという欠点があった。
送、放出したりする機械的処理装置（以下「メカニカル
コンポーネント」と言う。）を組合せ、それらを主制御
部が制御するというシステムを採用している。それぞれ
のメカニカルコンポーネントは各所に光学センサを配置
し、それによってその機械的処理を監視している。従っ
て、ＡＴＭ等の保守においてこれらの光学センサの不良
をチェックすることは非常に重要である。光学センサの
不良には受光部、投光部の劣化、光軸上の埃の堆積等が
あるが、ＡＴＭ内には相当数の光学センサが使用されて
いるため人手でその全てをチェックすることは非常に労
力を要するという欠点があった。
（Ｃ１発明の目的
この発明は上記の現状に鑑み、主制御部ですべてのメカ
ニカルコンポーネントの光学センサをチェックできる光
学センサチェック装置を提供することを目的とする。
ニカルコンポーネントの光学センサをチェックできる光
学センサチェック装置を提供することを目的とする。
（ｄ１発明の構成
この発明は要約すると、ＡＴＭ等の主制御部に、そのア
イドル時間中に各メカニカルコンポーネントに対してそ
のメカニカルコンポーネントの動作を監視する光学セン
サのチェックコマンドを送るチェックコマンド送出手段
を設け、前記各制御部に前記コマンドが入力された時光
学センサの投光部を減光するハーフダーク装置と、投光
部を減光した状態での受光部の遮蔽有無から光学センサ
が異常であるか否かを判断するセンサチェック手段と、
この判断結果を前記主制御部に通知するチェックレスポ
ンス手段を設け、更に前記主制御部に、各処理部から前
記チェックレスポンス手段によって光学センサの異常が
通知された場合その旨を表示する表示手段を設けたこと
を特徴とする。
イドル時間中に各メカニカルコンポーネントに対してそ
のメカニカルコンポーネントの動作を監視する光学セン
サのチェックコマンドを送るチェックコマンド送出手段
を設け、前記各制御部に前記コマンドが入力された時光
学センサの投光部を減光するハーフダーク装置と、投光
部を減光した状態での受光部の遮蔽有無から光学センサ
が異常であるか否かを判断するセンサチェック手段と、
この判断結果を前記主制御部に通知するチェックレスポ
ンス手段を設け、更に前記主制御部に、各処理部から前
記チェックレスポンス手段によって光学センサの異常が
通知された場合その旨を表示する表示手段を設けたこと
を特徴とする。
（ｅ）実施例
第１図はこの発明の実施例である。ＡＴＭのブロック図
である。このＡＴＭはマスク・スレイブシステムで構成
されている。マスタＭとスレイブであるメカニカルコン
ポーネントが複数接続されている（この図では２個のメ
カニカルコンポーネントＭＣＩ、ＭＣ，２を示す。）。
である。このＡＴＭはマスク・スレイブシステムで構成
されている。マスタＭとスレイブであるメカニカルコン
ポーネントが複数接続されている（この図では２個のメ
カニカルコンポーネントＭＣＩ、ＭＣ，２を示す。）。
マスタＭはＣＰＵ１、ＲＡＭ２．ＲＯＭ３． インタ
ーフェイス４゜モニタ５．６で構成されている。メカニ
カルコンポーネントは（ここではメカニカルコンポーネ
ントＭＣＩの構成を示すが他も同様である。）ＣＰＵ７
．ＲＡＭ８．ＲＯＭ９． インターフェイス１０とこ
のインターフェイス１０に接続された光学センサＳ等で
構成されている。マスタＭのｃＰＵｌはＲＡ、Ｍ２．Ｒ
ＯＭ３に記憶されているデータ、プログラム及び図示し
ない入力装置からの入力によって各メカニカルコンポー
ネントに制御命令を出力する。メカニカルコンポーネン
トはマスタＭからの命令に基づきＲＡＭ８．ＲＯＭ９か
らデータ、プログラム等を読み出し、インターフェイス
１０を介して光学センサＳ２図示しない駆動装置等を制
御する。
ーフェイス４゜モニタ５．６で構成されている。メカニ
カルコンポーネントは（ここではメカニカルコンポーネ
ントＭＣＩの構成を示すが他も同様である。）ＣＰＵ７
．ＲＡＭ８．ＲＯＭ９． インターフェイス１０とこ
のインターフェイス１０に接続された光学センサＳ等で
構成されている。マスタＭのｃＰＵｌはＲＡ、Ｍ２．Ｒ
ＯＭ３に記憶されているデータ、プログラム及び図示し
ない入力装置からの入力によって各メカニカルコンポー
ネントに制御命令を出力する。メカニカルコンポーネン
トはマスタＭからの命令に基づきＲＡＭ８．ＲＯＭ９か
らデータ、プログラム等を読み出し、インターフェイス
１０を介して光学センサＳ２図示しない駆動装置等を制
御する。
第２図は上記実施例の光学センサのブロック図である。
発光体りはトランジスタＴＲ１及びトランジスタＴＲ２
のコレクタに接続されている。トランジスタＴＲＩのベ
ースはインターフェイス１０に接続され、エミッタは抵
抗Ｒを介して接地さている。トランジスタＴＲ２のベー
スにはインバータＴＮＶで反転されたインターフェイス
１０の出力が供給され、エミッタは抵抗ｒを介して接地
されている。これらトランジスタＴＲＩ、ＴＲ２はＮＰ
Ｎトランジスタである。そのためベースの入力が“Ｈ″
の時このトランジスタのコレクタ。
のコレクタに接続されている。トランジスタＴＲＩのベ
ースはインターフェイス１０に接続され、エミッタは抵
抗Ｒを介して接地さている。トランジスタＴＲ２のベー
スにはインバータＴＮＶで反転されたインターフェイス
１０の出力が供給され、エミッタは抵抗ｒを介して接地
されている。これらトランジスタＴＲＩ、ＴＲ２はＮＰ
Ｎトランジスタである。そのためベースの入力が“Ｈ″
の時このトランジスタのコレクタ。
エミッタ間は導通し、“Ｌ”の時遮断する。ここで、イ
ンターフェイスの出力は通常は“Ｌ”であるため、発光
体りは通常はトランジスタＴＲ２゜抵抗ｒを通して電源
に接続され、インターフェイス１０から“Ｈ”が出力さ
たときトランジスタＴＲ１，抵抗Ｒを通して電源に接続
される。このインターフェイス１０からの” Ｈ″の出
力はマスクＭのＣＰＵＩが、メカニカルコンポーネント
のＣＦ’Ｕ７に対して後述するチェックコマンドを出力
したとき出力されるものである。抵抗Ｒの抵抗値Ｒは抵
抗ｒの抵抗値をｒ１発光体りの抵抗値をＲ１とすると、 Ｒ＝ｆｆｒ＋（ルー１）Ｒり どなるように設定されている。これによって、チェック
コマンドが出力されたとき、つまりトランジスタＴＲＩ
、抵抗Ｒを通じて発光体りが電源に接続されたときの発
光体りの消費電力は、トランジスタＴＲ２，抵抗ｒを通
じて電源に接続されたときの消費電力の１／２になる。
ンターフェイスの出力は通常は“Ｌ”であるため、発光
体りは通常はトランジスタＴＲ２゜抵抗ｒを通して電源
に接続され、インターフェイス１０から“Ｈ”が出力さ
たときトランジスタＴＲ１，抵抗Ｒを通して電源に接続
される。このインターフェイス１０からの” Ｈ″の出
力はマスクＭのＣＰＵＩが、メカニカルコンポーネント
のＣＦ’Ｕ７に対して後述するチェックコマンドを出力
したとき出力されるものである。抵抗Ｒの抵抗値Ｒは抵
抗ｒの抵抗値をｒ１発光体りの抵抗値をＲ１とすると、 Ｒ＝ｆｆｒ＋（ルー１）Ｒり どなるように設定されている。これによって、チェック
コマンドが出力されたとき、つまりトランジスタＴＲＩ
、抵抗Ｒを通じて発光体りが電源に接続されたときの発
光体りの消費電力は、トランジスタＴＲ２，抵抗ｒを通
じて電源に接続されたときの消費電力の１／２になる。
このように消費電力を小さくしてチェックするのは、光
学センサが正常であればこのように減光しても十分作動
するものであるが、発光部又は受光部の劣化、埃の堆積
等の異常があれば作動しない場合があるためそれをチェ
ックするためである。なお、受光部Ｐもインターフェイ
ス１０に接続されている。
学センサが正常であればこのように減光しても十分作動
するものであるが、発光部又は受光部の劣化、埃の堆積
等の異常があれば作動しない場合があるためそれをチェ
ックするためである。なお、受光部Ｐもインターフェイ
ス１０に接続されている。
第３図は上記実施例のＣＰＵＩ、ＣＰＵ７の動作を示す
フローチャートである。ステップｎｌ（以下ステップｎ
ｉを単にｎｉと呼ぶ。）ではＣＰＵ１がセンサのチェッ
クコマンドをＣＰＵ７に出力する。ｎ２ではＣＰＵ７か
らの応答を判断し「センサ異常あり。」の応答であれば
ｎ３に進む。
フローチャートである。ステップｎｌ（以下ステップｎ
ｉを単にｎｉと呼ぶ。）ではＣＰＵ１がセンサのチェッ
クコマンドをＣＰＵ７に出力する。ｎ２ではＣＰＵ７か
らの応答を判断し「センサ異常あり。」の応答であれば
ｎ３に進む。
ｎ３ではモニタ５．６にセンサに異常がある旨の表示を
マ〒う。’ｎ ３の動作が終了すれば、又ｎ２で判断し
たＣＰＵ７からの応答が「センサに異常なし。」であれ
ば次の動作に進む。これらｎ１〜ｎ３はアイドル処理中
に行われる。次にＣＰＵ７の動作は、ＣＰＵＩからセン
サのチェックコマンドを受信すると、インターフェイス
１０を介して“Ｈ”を出力しトランジスタＴＲ２を閉じ
、トランジスタＴＲＩをオンする。これによって、発光
体りは通常の半分の電力で点灯されることになる。
マ〒う。’ｎ ３の動作が終了すれば、又ｎ２で判断し
たＣＰＵ７からの応答が「センサに異常なし。」であれ
ば次の動作に進む。これらｎ１〜ｎ３はアイドル処理中
に行われる。次にＣＰＵ７の動作は、ＣＰＵＩからセン
サのチェックコマンドを受信すると、インターフェイス
１０を介して“Ｈ”を出力しトランジスタＴＲ２を閉じ
、トランジスタＴＲＩをオンする。これによって、発光
体りは通常の半分の電力で点灯されることになる。
そのときの光学センサの受光部のレベルをチェックしく
ｎ５）、遮断状態になっていればこの光学センサは精度
が低下しているとして、「センサ異常あり。」の応答を
ＣＰＵ！に対して送信し、発光体りが通常の電力で点灯
しているときと同様に受光状態であれば「センサに異常
なし。」の応答をＣＰＵＩに対して送信する（ｎ６）
。ｎｌ、ｎ５、ｎ６がそれぞれこの発明のチェックコマ
ンド送出手段、センサチェック手段、チェックレスポン
ス手段に対応し、前記インバータＩＮＶ、、）ランジス
タＴＲＩ、抵抗Ｒがこの発明のハーフダーク装置に対応
する。また、モニタ５，６及びｎ３がこの発明の表示手
段に対応する。
ｎ５）、遮断状態になっていればこの光学センサは精度
が低下しているとして、「センサ異常あり。」の応答を
ＣＰＵ！に対して送信し、発光体りが通常の電力で点灯
しているときと同様に受光状態であれば「センサに異常
なし。」の応答をＣＰＵＩに対して送信する（ｎ６）
。ｎｌ、ｎ５、ｎ６がそれぞれこの発明のチェックコマ
ンド送出手段、センサチェック手段、チェックレスポン
ス手段に対応し、前記インバータＩＮＶ、、）ランジス
タＴＲＩ、抵抗Ｒがこの発明のハーフダーク装置に対応
する。また、モニタ５，６及びｎ３がこの発明の表示手
段に対応する。
以上の構成の光学センサチェック装置をＡＴＭ等に装置
するとアイドル時間を利用し、最小限の回路の増加でマ
スクＣＰｔＪにそのＡＴＭに使用されているすべての光
学センサをチェックさせることができる。
するとアイドル時間を利用し、最小限の回路の増加でマ
スクＣＰｔＪにそのＡＴＭに使用されているすべての光
学センサをチェックさせることができる。
（ｆ１発明の効果
このようにこの発明によると、ＡＴＭのマスク制御部が
アイドル時間中にそのＡＴＭに使用されているすべての
光学センサをチェックし異常のある光学センサがあれば
モニタに表示させることができるため、係員等の手間を
省けるという利点が生じる。
アイドル時間中にそのＡＴＭに使用されているすべての
光学センサをチェックし異常のある光学センサがあれば
モニタに表示させることができるため、係員等の手間を
省けるという利点が生じる。
第１図はこの発明の実施例であるＡＴＭのブロック図、
第２図は上記実施例の光学センサのブロック図、第３図
は上記実施例のＣＰＵの動作を示すフローチャートであ
る。 Ｍ−マスク、 ＭＣ４，ＭＣ２−メカニカルコンポーネント、１．７−
ＣＰＵ、５．６−モニタ、 Ｓ−光学センサ、 Ｌ−発光部、ＴＲＩ、ＴＲ２−１−ランジスタ、Ｒ，ｒ
−抵抗
第２図は上記実施例の光学センサのブロック図、第３図
は上記実施例のＣＰＵの動作を示すフローチャートであ
る。 Ｍ−マスク、 ＭＣ４，ＭＣ２−メカニカルコンポーネント、１．７−
ＣＰＵ、５．６−モニタ、 Ｓ−光学センサ、 Ｌ−発光部、ＴＲＩ、ＴＲ２−１−ランジスタ、Ｒ，ｒ
−抵抗
Claims (1)
- （１）カードの搬送、紙幣の放出等の機械的処理を行い
その動作状態を光学センサによって監視する複数の処理
部と、この複数の処理部を総括的に制御する主制御部と
で構成される取引処理装置において、 前記主制御部に、そのアイドル時間中に各処理部に対し
て前記光学センサのチェックコマンドを送るチェックコ
マンド送出手段を設け、前記各制御部に前記コマンドが
入力された時光学センサの投光部を減光するハーフダー
ク装置と、投光部を減光した状態での受光部の遮蔽有無
から光学センサが異常であるか否かを判断するセンサチ
ェック手段と、この判断結果を前記主制御部に通知する
チェックレスポンス手段を設け、更に前記主制御部に、
各処理部から前記チェックレスポンス手段によって光学
センサの異常が通知された場合その旨を表示する表示手
段を設けたことを特徴とする取引処理装置のセンサチェ
ック装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59144044A JPS6120833A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | 取引処理装置のセンサチェック装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59144044A JPS6120833A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | 取引処理装置のセンサチェック装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6120833A true JPS6120833A (ja) | 1986-01-29 |
| JPH0377940B2 JPH0377940B2 (ja) | 1991-12-12 |
Family
ID=15353012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59144044A Granted JPS6120833A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | 取引処理装置のセンサチェック装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6120833A (ja) |
-
1984
- 1984-07-09 JP JP59144044A patent/JPS6120833A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0377940B2 (ja) | 1991-12-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |