JPS61208976A - エネルギ−サブトラクシヨン画像の濃度補正方法および装置 - Google Patents
エネルギ−サブトラクシヨン画像の濃度補正方法および装置Info
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- JPS61208976A JPS61208976A JP60049668A JP4966885A JPS61208976A JP S61208976 A JPS61208976 A JP S61208976A JP 60049668 A JP60049668 A JP 60049668A JP 4966885 A JP4966885 A JP 4966885A JP S61208976 A JPS61208976 A JP S61208976A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の分野)
本発明は放射線画像のサブトラクション処理、さらに詳
細には蓄積性蛍光体シートを用いて行なう放射線画像の
デジタルサブトラクション処理において、サブトラクシ
ョン画像の背景部分や被写体の軟部組織等が常に適切な
所定濃度で再現されるように、サブトラクション画像濃
度を補正する方法、およびその方法を実施する装置に関
するものである。
細には蓄積性蛍光体シートを用いて行なう放射線画像の
デジタルサブトラクション処理において、サブトラクシ
ョン画像の背景部分や被写体の軟部組織等が常に適切な
所定濃度で再現されるように、サブトラクション画像濃
度を補正する方法、およびその方法を実施する装置に関
するものである。
(発明の技術的背景および先行技術)
従来より放射線画像のデジタルサブトラクションが公知
となっている。この放射線画像のデジタルサブトラクシ
ョンとは、異なった条件で撮影した2つの放射線画像を
光電的に読み取ってデジタル画像信号を得た後、これら
のデジタル画像信号を両画像の各画素を対応させて減算
処理し、放射線画像中の特定の構造物の画像を形成する
ための差信号を得る方法であり、このようにして得た差
信号を用いて特定構造物のみが抽出された放射線画像を
再生することができる。
となっている。この放射線画像のデジタルサブトラクシ
ョンとは、異なった条件で撮影した2つの放射線画像を
光電的に読み取ってデジタル画像信号を得た後、これら
のデジタル画像信号を両画像の各画素を対応させて減算
処理し、放射線画像中の特定の構造物の画像を形成する
ための差信号を得る方法であり、このようにして得た差
信号を用いて特定構造物のみが抽出された放射線画像を
再生することができる。
このサブトラクション処理には、基本的に次の2つの方
法がある。即ち、造影剤注入により特定の構造物が強調
された放射線画像の画像信号から、造影剤が注入されて
いない放射線画像の画像信号を引き算(サブトラクト)
することによって特定の構造物を抽出するいわゆる時間
サブトラクション処理と、同一の被写体に対して相異な
るエネルギー分布を有する放射線を照射し、それにより
特定の構造物が特有の放射線エネルギー吸収特性を有す
ることを利用して特定構造物が異なる画像を2つの放射
線画像間に存在せしめ、その後この2つの放射線画像の
画像信号間で必要に応じて適当な重み付けをした上で引
き算(サブトラクト)を行ない特定の構造物の画像を抽
出するいわゆるエネルギーサブトラクション処理である
。
法がある。即ち、造影剤注入により特定の構造物が強調
された放射線画像の画像信号から、造影剤が注入されて
いない放射線画像の画像信号を引き算(サブトラクト)
することによって特定の構造物を抽出するいわゆる時間
サブトラクション処理と、同一の被写体に対して相異な
るエネルギー分布を有する放射線を照射し、それにより
特定の構造物が特有の放射線エネルギー吸収特性を有す
ることを利用して特定構造物が異なる画像を2つの放射
線画像間に存在せしめ、その後この2つの放射線画像の
画像信号間で必要に応じて適当な重み付けをした上で引
き算(サブトラクト)を行ない特定の構造物の画像を抽
出するいわゆるエネルギーサブトラクション処理である
。
このサブトラクション処理は特に医療用のX線写真の画
像処理において診断上きわめて有効な方法であるため、
近年大いに注目され、電子工学技術を駆使してその研究
、開発が盛んに進められている。
像処理において診断上きわめて有効な方法であるため、
近年大いに注目され、電子工学技術を駆使してその研究
、開発が盛んに進められている。
さらに最近では例えば特開昭58−163340号公報
に示されるように、きわめて広い放射線露出域を有する
蓄積性蛍光体シートを使用し、これらのシートに前述の
ように異なった条件で同一の被写体を透過した放射線を
照射して、これらのシートに特定構造物の画像情報が異
なる放射線画像を蓄積記録し、これらの蓄積画像を励起
光による走査により読み取ってデジタル信号に変換し、
これらデジタル信号により前記デジタルサブトラクショ
ンを行なうことも提案されている。上記蓄積性蛍光体シ
ートとは、例えば特開昭55−12429号公報に開示
されているように放射線(X線、α線、β線、γ線、電
子線、紫外線等)を照射するとその放射線エネルギーの
一部を蛍光体中に蓄積し、その模可視光等の励起光を照
射すると蓄積されたエネルギーに応じて蛍光体が輝尽発
光を示すもので、きわめて広いラチチュード(露出域)
を有し、かつ著しく高い解像力を有するものである。し
たがって、この蓄積性蛍光体シートに蓄積記録された放
射線画像情報を利用して前記デジタルサブトラクション
を行なえば、tIlljl線化が変動しても常に十分な
画像情報を得ることができ、診断能の高い放射線画像を
得ることができる。
に示されるように、きわめて広い放射線露出域を有する
蓄積性蛍光体シートを使用し、これらのシートに前述の
ように異なった条件で同一の被写体を透過した放射線を
照射して、これらのシートに特定構造物の画像情報が異
なる放射線画像を蓄積記録し、これらの蓄積画像を励起
光による走査により読み取ってデジタル信号に変換し、
これらデジタル信号により前記デジタルサブトラクショ
ンを行なうことも提案されている。上記蓄積性蛍光体シ
ートとは、例えば特開昭55−12429号公報に開示
されているように放射線(X線、α線、β線、γ線、電
子線、紫外線等)を照射するとその放射線エネルギーの
一部を蛍光体中に蓄積し、その模可視光等の励起光を照
射すると蓄積されたエネルギーに応じて蛍光体が輝尽発
光を示すもので、きわめて広いラチチュード(露出域)
を有し、かつ著しく高い解像力を有するものである。し
たがって、この蓄積性蛍光体シートに蓄積記録された放
射線画像情報を利用して前記デジタルサブトラクション
を行なえば、tIlljl線化が変動しても常に十分な
画像情報を得ることができ、診断能の高い放射線画像を
得ることができる。
以上述べたエネルギーサブトラクションにあっては、被
写体を透過した高エネルギーの放射線が照射された蓄積
性蛍光体シートから読み取られた高圧画像信号をSH1
低エネルギーの放射線が照射された蓄積性蛍光体シート
から読み取られた低圧画像信号をSLとすると、両画像
信号の対応する画素間で、 Ssub −a −S)(−b −3L+cなる減算が
行なわれる。ここでa、bは重みづけ係数であり、Cは
上記差信号3 subによって形成されるエネルギーサ
ブトラクション画像の1度を大略一定にするバイアス成
分である。
写体を透過した高エネルギーの放射線が照射された蓄積
性蛍光体シートから読み取られた高圧画像信号をSH1
低エネルギーの放射線が照射された蓄積性蛍光体シート
から読み取られた低圧画像信号をSLとすると、両画像
信号の対応する画素間で、 Ssub −a −S)(−b −3L+cなる減算が
行なわれる。ここでa、bは重みづけ係数であり、Cは
上記差信号3 subによって形成されるエネルギーサ
ブトラクション画像の1度を大略一定にするバイアス成
分である。
従来、上記係数aとbとの比b/aは、撮影方法や、被
写体の撮影部位の放射線吸収特性等をもとに経験的に求
めており、またバイアス成分Cも経験的に求めていた。
写体の撮影部位の放射線吸収特性等をもとに経験的に求
めており、またバイアス成分Cも経験的に求めていた。
ところが撮影条件の変更や被写体によって、最適なバイ
アス成分Cの値が大きく変動するため、サブトラクショ
ン画像の濃度範囲が視覚的に好ましくない濃度範囲にな
ってしまい、適正な診断が妨げられることがあった。
アス成分Cの値が大きく変動するため、サブトラクショ
ン画像の濃度範囲が視覚的に好ましくない濃度範囲にな
ってしまい、適正な診断が妨げられることがあった。
(発明の目的)
そこで本発明は、エネルギーサブトラクション画像の所
望部分の濃度を常に大略一定に揃えることができる、エ
ネルギーサブトラクション画像の濃度補正方法およびそ
の方法を実施する装置を提供することを目的とづるもの
である。
望部分の濃度を常に大略一定に揃えることができる、エ
ネルギーサブトラクション画像の濃度補正方法およびそ
の方法を実施する装置を提供することを目的とづるもの
である。
(発明の構成)
本発明のエネルギーサブトラクション画像の濃度補正方
法は、前述したように Ssub=a・SH −a −88−b −SL +c
なる減算を行なって放射線画像の特定構造物の画像を形
成する差信号S subを得るようにした放射線画像の
エネルギーサブトラクション処理において、上記差信号
3 subによって形成されるサブトラクション画像に
おいて所望される最大濃度、最小濃度を各々担持する最
大濃度信号、最小濃度信号をそれぞれ3max 、 S
m1n 、高圧画像信号SHの最大値および最小値をそ
れぞれSllmax、 St(min、低圧画像信号S
Lの最大値および最小値をそれぞれ3LllaX、SL
a+inとしたとき、前記Cの値を、c=m 会 S
max + n −Smimミロ−(m Φ5hl
aX+ n −S 111n)+b (nn・SLma
x+n・SLn・SL ・fl)[m、nG、toを含
む定数1 と設定することを特徴とするものである。
法は、前述したように Ssub=a・SH −a −88−b −SL +c
なる減算を行なって放射線画像の特定構造物の画像を形
成する差信号S subを得るようにした放射線画像の
エネルギーサブトラクション処理において、上記差信号
3 subによって形成されるサブトラクション画像に
おいて所望される最大濃度、最小濃度を各々担持する最
大濃度信号、最小濃度信号をそれぞれ3max 、 S
m1n 、高圧画像信号SHの最大値および最小値をそ
れぞれSllmax、 St(min、低圧画像信号S
Lの最大値および最小値をそれぞれ3LllaX、SL
a+inとしたとき、前記Cの値を、c=m 会 S
max + n −Smimミロ−(m Φ5hl
aX+ n −S 111n)+b (nn・SLma
x+n・SLn・SL ・fl)[m、nG、toを含
む定数1 と設定することを特徴とするものである。
上記方法において、定数mをOと設定する場合には当然
、最小濃度信号5m1n 、 51m1n、 3L、m
inだけを求めればよく、また定数nを0と設定する場
合には、最大濃度信号Smax 、 3Hmax、 3
Lmaxだけを求めればよい。なお、前記高圧画像信号
SHおよび前記低圧画像信号SLはそれぞれ1枚の蓄積
性蛍光体シートから読み取られた画像信号である必要は
必ずしもなく、例えば2枚の蓄積性蛍光体シートから読
み取られた画像信号を加算平均したものであってもよい
。
、最小濃度信号5m1n 、 51m1n、 3L、m
inだけを求めればよく、また定数nを0と設定する場
合には、最大濃度信号Smax 、 3Hmax、 3
Lmaxだけを求めればよい。なお、前記高圧画像信号
SHおよび前記低圧画像信号SLはそれぞれ1枚の蓄積
性蛍光体シートから読み取られた画像信号である必要は
必ずしもなく、例えば2枚の蓄積性蛍光体シートから読
み取られた画像信号を加算平均したものであってもよい
。
また上記方法を実施する本発明のエネルギーサブトラク
ション画像の濃度補正装置は、同一の被写体を透過した
それぞれ高エネルギー、低エネルギーの放射線が照射さ
れて、該被写体の少なくとも一部の画像情報が互いに異
なる放射線画像が蓄積記録された2組の匍記蓄積性蛍光
体シートそれぞれから、画像読取りを行なって得られた
デジタルの高圧画像信号5t−1、低圧画像信号SLの
対応する画素間で Ssub=a・SH=a−81−b ・SL+cなる減算を行ない、それによって前記被写体
の特定構造物の画像を形成する差信号3 subを得る
サブトラクション演算手段からなるエネルギーサブトラ
クション装置において、上記差信号3 subによって
形成されるサブトラクション画像において所望される最
大濃度および最小濃度をそれぞれ担持する最大濃度信号
Swax、最小濃度信号3m1nの少なくとも一方を生
成する信号生成手段と、 前記高圧画像信号SHの最大値St(waxと低圧画像
信号SLの最大値5VJlaxの組合せと、高圧画像信
号S■の最小値311m1nと低圧画像信号SLの最小
値3Llinの組合せの少なくとも一方を求める特性値
演算手段と、 この特性値演算手段と上記信号生成手段が求めた各最大
、最小濃度信号をもとに、 c =m ・Smax + n −3m1n−a (m
−31max+ n −3Hmin)+ b (
m −SLmax+ n −SLmin)[m、
nG、tOを含む定数] なる演算を行なうバイアス成分演算手段と、このバイア
ス成分演算手段が求めたバイアス成分Cの値を前記サブ
トラクション演算手段に転送して前述の減算に使用させ
るバイアス成分設定手段とが設けられてなるものである
。
ション画像の濃度補正装置は、同一の被写体を透過した
それぞれ高エネルギー、低エネルギーの放射線が照射さ
れて、該被写体の少なくとも一部の画像情報が互いに異
なる放射線画像が蓄積記録された2組の匍記蓄積性蛍光
体シートそれぞれから、画像読取りを行なって得られた
デジタルの高圧画像信号5t−1、低圧画像信号SLの
対応する画素間で Ssub=a・SH=a−81−b ・SL+cなる減算を行ない、それによって前記被写体
の特定構造物の画像を形成する差信号3 subを得る
サブトラクション演算手段からなるエネルギーサブトラ
クション装置において、上記差信号3 subによって
形成されるサブトラクション画像において所望される最
大濃度および最小濃度をそれぞれ担持する最大濃度信号
Swax、最小濃度信号3m1nの少なくとも一方を生
成する信号生成手段と、 前記高圧画像信号SHの最大値St(waxと低圧画像
信号SLの最大値5VJlaxの組合せと、高圧画像信
号S■の最小値311m1nと低圧画像信号SLの最小
値3Llinの組合せの少なくとも一方を求める特性値
演算手段と、 この特性値演算手段と上記信号生成手段が求めた各最大
、最小濃度信号をもとに、 c =m ・Smax + n −3m1n−a (m
−31max+ n −3Hmin)+ b (
m −SLmax+ n −SLmin)[m、
nG、tOを含む定数] なる演算を行なうバイアス成分演算手段と、このバイア
ス成分演算手段が求めたバイアス成分Cの値を前記サブ
トラクション演算手段に転送して前述の減算に使用させ
るバイアス成分設定手段とが設けられてなるものである
。
(実施態様)
以下、図面に示す実施態様に基づいて本発明の詳細な説
明する。
明する。
第1図は2枚の蓄積性蛍光体シートA、Bに同一の被写
体1を透過したX線2を、それぞれエネルギーを変えて
照射する状態を示す。すなわちまず比較的高エネルギー
レベルのX112を使用し、第1の蓄積性蛍光体シート
Aに被写体1のX線透過像(高圧画像)を蓄積記録し、
次いで短時間内で蓄積性蛍光体シートA、Bを素早く取
り替えると同時に、XI!it!3の管電圧を変えてX
I2のエネルギーレベルを比較的低く設定し、このX線
2を用いて被写体1のX線透過像(低圧画像)を蓄積性
蛍光体シート已に蓄積記録する。このとき蓄積性蛍光体
シートAとBとで被写体1の位置関係は同じとする。
体1を透過したX線2を、それぞれエネルギーを変えて
照射する状態を示す。すなわちまず比較的高エネルギー
レベルのX112を使用し、第1の蓄積性蛍光体シート
Aに被写体1のX線透過像(高圧画像)を蓄積記録し、
次いで短時間内で蓄積性蛍光体シートA、Bを素早く取
り替えると同時に、XI!it!3の管電圧を変えてX
I2のエネルギーレベルを比較的低く設定し、このX線
2を用いて被写体1のX線透過像(低圧画像)を蓄積性
蛍光体シート已に蓄積記録する。このとき蓄積性蛍光体
シートAとBとで被写体1の位置関係は同じとする。
このようにして、少なくとも一部の画像情報が異なる2
つの放射線画像を2枚の蓄積性蛍光体シートA、Bに蓄
積記録する。次にこれら2枚の蓄積性蛍光体シートA、
Bから、第2図に示すような画像読取手段によってX1
2画像を読み取り、画像を表わすデジタル画像信号を得
る。先ず、蓄積性蛍光体シートAを矢印Yの方向に副走
査のために移動させながら、レーザ光源10からのレー
ザ光11を走査ミラー12によってX方向に主走査させ
、シートAから蓄積X線エネルギーを、蓄積記録された
X線画像にしたがって輝尽発光光13として発散させる
。輝尽発光光13は透明なアクリル板を成形して作られ
た集光板14の一端面からこの集光板14の内部に入射
し、中を全反射を繰返しつつフォトマル15に至り、輝
尽発光光13の発光量が画像信号Sとして出力される。
つの放射線画像を2枚の蓄積性蛍光体シートA、Bに蓄
積記録する。次にこれら2枚の蓄積性蛍光体シートA、
Bから、第2図に示すような画像読取手段によってX1
2画像を読み取り、画像を表わすデジタル画像信号を得
る。先ず、蓄積性蛍光体シートAを矢印Yの方向に副走
査のために移動させながら、レーザ光源10からのレー
ザ光11を走査ミラー12によってX方向に主走査させ
、シートAから蓄積X線エネルギーを、蓄積記録された
X線画像にしたがって輝尽発光光13として発散させる
。輝尽発光光13は透明なアクリル板を成形して作られ
た集光板14の一端面からこの集光板14の内部に入射
し、中を全反射を繰返しつつフォトマル15に至り、輝
尽発光光13の発光量が画像信号Sとして出力される。
この出力された画像信号Sは増幅器とA/D変換器を含
む対数変換器16により対数値(logs)のデジタル
高圧画像信号St4に変換される。この高圧画像信号S
Hは例えば磁気ディスク等の記憶媒体11に記憶される
。次に、全く同様にして、もう1枚の蓄積性蛍光体シー
トBの記録画像が読み出され、そのデジタル低圧画像信
号SLが同様に記憶媒体17に記憶される。
む対数変換器16により対数値(logs)のデジタル
高圧画像信号St4に変換される。この高圧画像信号S
Hは例えば磁気ディスク等の記憶媒体11に記憶される
。次に、全く同様にして、もう1枚の蓄積性蛍光体シー
トBの記録画像が読み出され、そのデジタル低圧画像信
号SLが同様に記憶媒体17に記憶される。
次に、上述のようにして得られた高圧画像信号SH1低
圧画像信号SLを用いてサブトラクション処理を行なう
。第3図は本発明の一実施態様による濃度補正方法を適
用して行なわれるサブトラクション処理の流れを示して
いる。まず前記記憶媒体17内の画像ファイル17Aと
、画像ファイル11Bからそれぞれ、デジタルの高圧画
像信号5t−1と、低圧画像信号SLが読み出され、こ
れらはサブトラクション演算回路18に入力される。こ
のサブトラクション演算回路18は、上記2つの画像信
号SHとSLを適当な重みづけをした上で対応する画素
毎に減算し、デジタルの差信号 Ssub=a・SH =a −SH−b −SL +c
・12J(a、bは重みづけ係数、Cは概略一定濃度に
するようなバイアス成分である)を求める。この差信号
3 subは−たん画像ファイル19に記憶されてから
、画像処理回路20に入力され、該画像処理回路20に
おいて階調処理等の処理を受ける。
圧画像信号SLを用いてサブトラクション処理を行なう
。第3図は本発明の一実施態様による濃度補正方法を適
用して行なわれるサブトラクション処理の流れを示して
いる。まず前記記憶媒体17内の画像ファイル17Aと
、画像ファイル11Bからそれぞれ、デジタルの高圧画
像信号5t−1と、低圧画像信号SLが読み出され、こ
れらはサブトラクション演算回路18に入力される。こ
のサブトラクション演算回路18は、上記2つの画像信
号SHとSLを適当な重みづけをした上で対応する画素
毎に減算し、デジタルの差信号 Ssub=a・SH =a −SH−b −SL +c
・12J(a、bは重みづけ係数、Cは概略一定濃度に
するようなバイアス成分である)を求める。この差信号
3 subは−たん画像ファイル19に記憶されてから
、画像処理回路20に入力され、該画像処理回路20に
おいて階調処理等の処理を受ける。
階調処理等の処理を受けた差信号Ssub’は、例えば
CRT等のディスプレイ装置や、走査記録装置等の再生
記録装置21に入力され、該差信号Ssub=a・SH
’によってサブトラクション画像が再生記録される。
CRT等のディスプレイ装置や、走査記録装置等の再生
記録装置21に入力され、該差信号Ssub=a・SH
’によってサブトラクション画像が再生記録される。
第4図はサブトラクション画像再生記録システムの一例
としての画像走査記録装置を示すものである。本装置に
おいては、感光フィルム30を矢印Y方向に副走査移動
させるとともに、レーザビーム31をこの感光フィルム
30上において矢印X方向に主走査さけ、レーザビーム
31をA10変調器32により画像信号供給器33から
の画像信号によって変調することにより、感光フィルム
30上に可視像を形成する。この変調用画像信号として
、前記差信号Ssub=a・SH’を使用すれば、デジ
タルサブトラクション処理により所望の特定構造物のみ
が抽出された画像を、感光フィルム30上に再生記録す
ることができる。
としての画像走査記録装置を示すものである。本装置に
おいては、感光フィルム30を矢印Y方向に副走査移動
させるとともに、レーザビーム31をこの感光フィルム
30上において矢印X方向に主走査さけ、レーザビーム
31をA10変調器32により画像信号供給器33から
の画像信号によって変調することにより、感光フィルム
30上に可視像を形成する。この変調用画像信号として
、前記差信号Ssub=a・SH’を使用すれば、デジ
タルサブトラクション処理により所望の特定構造物のみ
が抽出された画像を、感光フィルム30上に再生記録す
ることができる。
このようにして感光フィルム30上に記録再生されるエ
ネルギーサブトラクション画像は、漫影条件や被写体な
どにより、その濃度範囲が視覚的に好ましくない濃度範
囲になってしまうことがある。
ネルギーサブトラクション画像は、漫影条件や被写体な
どにより、その濃度範囲が視覚的に好ましくない濃度範
囲になってしまうことがある。
前述したようにサブトラクション画像の濃度は、(2)
式におけるバイアス成分Cに応じて変化するので、本発
明の濃度補正方法においては、このバイアス成分Cを規
定することによって、サブトラクション画像の濃度が大
よそ適正な濃度になるようにする。以下、この点につい
て詳しく説明する。
式におけるバイアス成分Cに応じて変化するので、本発
明の濃度補正方法においては、このバイアス成分Cを規
定することによって、サブトラクション画像の濃度が大
よそ適正な濃度になるようにする。以下、この点につい
て詳しく説明する。
第3図に示されるように、前記高圧画像信号SHと、低
圧画像信号SLはヒストグラム演算回路22に入力され
、該ヒストグラム演算回路22は上記高圧画像信号3H
の最大値3l−118Xと、低圧画像信号SLの最大値
3 LllaXとを求める。そして信号生成回路23は
、差信号3 subによって形成されるエネルギーサブ
トラクション画像において所望される最大濃度を担持す
る最大濃度信号S laXを生成する。この信号生成回
路23はあらかじめ経験的に求められている最適な5・
axを出力してもよく、また、例えばサブトラクション
画像が前記第4図の装置等によりハードコピーとして得
られるような場合には、ハードコピーの濃度チャートを
用意しておき、該チャートにおいて選択した濃度がチャ
ート番号等によって指定されるようにし、その指定濃度
に対応した画像信号を生成するように形成されていても
よい。
圧画像信号SLはヒストグラム演算回路22に入力され
、該ヒストグラム演算回路22は上記高圧画像信号3H
の最大値3l−118Xと、低圧画像信号SLの最大値
3 LllaXとを求める。そして信号生成回路23は
、差信号3 subによって形成されるエネルギーサブ
トラクション画像において所望される最大濃度を担持す
る最大濃度信号S laXを生成する。この信号生成回
路23はあらかじめ経験的に求められている最適な5・
axを出力してもよく、また、例えばサブトラクション
画像が前記第4図の装置等によりハードコピーとして得
られるような場合には、ハードコピーの濃度チャートを
用意しておき、該チャートにおいて選択した濃度がチャ
ート番号等によって指定されるようにし、その指定濃度
に対応した画像信号を生成するように形成されていても
よい。
以上説明のようにして求められた最大値SH■aX。
S Llaxおよび最大濃度信号S a+axは、バイ
アス成分演算回路24に入力される。このバイアス成分
演算回路24はこれら最大値S Hsax、 S Ls
axおよび最大111信号3 waxを用いて、 c −3ma’x −a −Sl1max+
b −S Lmax・ (3)なる演算を行なう。つ
まりこれは前記(1)式において、m−1、n−0と設
定されたものである。なお重みづけ係数a、bは前述し
たように経験的に求められる。
アス成分演算回路24に入力される。このバイアス成分
演算回路24はこれら最大値S Hsax、 S Ls
axおよび最大111信号3 waxを用いて、 c −3ma’x −a −Sl1max+
b −S Lmax・ (3)なる演算を行なう。つ
まりこれは前記(1)式において、m−1、n−0と設
定されたものである。なお重みづけ係数a、bは前述し
たように経験的に求められる。
次に上記バイアス成分Cの値はバイアス成分設定回路2
5に入力され、該バイアス成分設定回路25はこのCの
値をサブトラクション演算回路18に転送して、前記(
′2J式による減算(サブトラクション)において、バ
イアス成分Cの値を上記(a式で示された値に設定させ
る。
5に入力され、該バイアス成分設定回路25はこのCの
値をサブトラクション演算回路18に転送して、前記(
′2J式による減算(サブトラクション)において、バ
イアス成分Cの値を上記(a式で示された値に設定させ
る。
上記のようにバイアス成分Cを設定すると、(2J式の
減算によって得られた差信号3 subから形成された
サブトラクション画像において、その最大濃度は、前記
最大濃度信号3 iaxが担持する濃度となる。このと
き3 a+axをサブトラクション画像の濃度範囲が視
覚的に好ましい濃度範囲になるように選択してやれば、
画像の診断が正確かつ容易に行なわれるようになる。
減算によって得られた差信号3 subから形成された
サブトラクション画像において、その最大濃度は、前記
最大濃度信号3 iaxが担持する濃度となる。このと
き3 a+axをサブトラクション画像の濃度範囲が視
覚的に好ましい濃度範囲になるように選択してやれば、
画像の診断が正確かつ容易に行なわれるようになる。
ここr、を記のようにバイアス成分Cを設定することに
より、サブトラクション画像の最大m度が規定できる点
について詳しく説明する。第5図に示すように、一般に
エネルギーレベルioの放射線が、軟部組織Sと骨部す
とからなる被写体Pを通過した後の放射線エネルギーレ
ベルIは、軟部組織Sの放射線減弱係数および厚みをそ
れぞれus、tsとし、骨部すの放射線減弱係数および
となる。
より、サブトラクション画像の最大m度が規定できる点
について詳しく説明する。第5図に示すように、一般に
エネルギーレベルioの放射線が、軟部組織Sと骨部す
とからなる被写体Pを通過した後の放射線エネルギーレ
ベルIは、軟部組織Sの放射線減弱係数および厚みをそ
れぞれus、tsとし、骨部すの放射線減弱係数および
となる。
そして上記放射線のエネルギーレベルIが(実際にはそ
れに対応した輝尽発光光のレベルが)、第6図に示すよ
うに対数変換を含む増幅率Sk。
れに対応した輝尽発光光のレベルが)、第6図に示すよ
うに対数変換を含む増幅率Sk。
収録スケールファクタGpの伝達系により電気信号Sに
変換されるとすると、 5−Go ・IOg(1・Sk) ここで上式に(4)式を代入すると、 5−Gl)” log (ro )−Gp ”us−t
s−Gp −ub −tb+GI)−1oQ (Sk)
=KO−KS 旬 ts−Kl)−tb・・・(5)
〈ココrKo =Gp ・l OQ (Io ) −G
p・ 100(Sk’) 、 KS −Gp −us Kb =GO−ub) となる。
変換されるとすると、 5−Go ・IOg(1・Sk) ここで上式に(4)式を代入すると、 5−Gl)” log (ro )−Gp ”us−t
s−Gp −ub −tb+GI)−1oQ (Sk)
=KO−KS 旬 ts−Kl)−tb・・・(5)
〈ココrKo =Gp ・l OQ (Io ) −G
p・ 100(Sk’) 、 KS −Gp −us Kb =GO−ub) となる。
(I) ここでエネルギーサブトラクションに供され
る原画像すなわち高圧画像、低圧画像に、放射線の素抜
は部(被写体がない部分)が有る場合を考える。
る原画像すなわち高圧画像、低圧画像に、放射線の素抜
は部(被写体がない部分)が有る場合を考える。
〈高圧画像〉
前記(51式を用いれば、高圧画像信号SHは、5H−
Kot(−KsH−t 5−Kb14・tb・・・(Q
(ただしKotl、Ks)I、KbHはそれぞれ高圧画
像における前記KO、KS 、 Kbの値。以下同様。
Kot(−KsH−t 5−Kb14・tb・・・(Q
(ただしKotl、Ks)I、KbHはそれぞれ高圧画
像における前記KO、KS 、 Kbの値。以下同様。
)このとぎ画像の一部が放射線素抜は部であるとすると
、当然上記(0式の最大値(つまりKsH−tsおよび
Kb)I−tbが0のときの値)KoHが高圧画像信号
St(の最大値となる。すなわち、最大値S Hmax
−K OH 〈低圧画像〉 上記高圧画像の場合と同様にして低圧画像信号SLは、 SL = KoL−KsL−t 5−KbL−t b−
(7)(ただしKOLSKSL、 KbLはそれぞれ低
圧画像における前記Ko 、KS 、Kbの値。以下同
様。)そして最大値S Lmax= K oL〈エネル
ギーサブトラクション画像〉 まず軟部消去画像について考える。前記(21式に上記
(6)、(7)式を代入すると、 Ssub=a・SH =a −KO・−t) @
KoL+c−(a −KsH−b−K sいts−(a −KbH−b −KbL) t
b ・=(8)エネルギーサブトラクション画像の
うち軟部組織が消去された軟部消去画像にあっては、上
記(8)式%式% 重みづけ係数a、bの値が選択されるから、Ssub=
a・SH = a −KOH−b −KOL+ C(a
−KbHb−KbL) tb トナル。
、当然上記(0式の最大値(つまりKsH−tsおよび
Kb)I−tbが0のときの値)KoHが高圧画像信号
St(の最大値となる。すなわち、最大値S Hmax
−K OH 〈低圧画像〉 上記高圧画像の場合と同様にして低圧画像信号SLは、 SL = KoL−KsL−t 5−KbL−t b−
(7)(ただしKOLSKSL、 KbLはそれぞれ低
圧画像における前記Ko 、KS 、Kbの値。以下同
様。)そして最大値S Lmax= K oL〈エネル
ギーサブトラクション画像〉 まず軟部消去画像について考える。前記(21式に上記
(6)、(7)式を代入すると、 Ssub=a・SH =a −KO・−t) @
KoL+c−(a −KsH−b−K sいts−(a −KbH−b −KbL) t
b ・=(8)エネルギーサブトラクション画像の
うち軟部組織が消去された軟部消去画像にあっては、上
記(8)式%式% 重みづけ係数a、bの値が選択されるから、Ssub=
a・SH = a −KOH−b −KOL+ C(a
−KbHb−KbL) tb トナル。
この差信@ S subの、最大濃度(素抜は部の濃度
ンを担持する最大値はa −KOH−b −KoL+
c Fアリ、該最大値は前述した最大濃度信号3 wa
xであるから、 Smax −a −KoH−b −KoL+ c−19
1ここで前述の通り、 K OH−S HmaxlK oL −S Lmaxで
あるから、これらを上記p)式に代入すると5llaX
−a −5H1aX−b −S Lsax+
にこから前述の(3式が得られ、該(3式で示され
るようにバイアス成分Cの値を設定すれば、エネルギー
サブトラクション画像における最大濃度は、最大濃度信
号31aXが担持する濃度に設定される。
ンを担持する最大値はa −KOH−b −KoL+
c Fアリ、該最大値は前述した最大濃度信号3 wa
xであるから、 Smax −a −KoH−b −KoL+ c−19
1ここで前述の通り、 K OH−S HmaxlK oL −S Lmaxで
あるから、これらを上記p)式に代入すると5llaX
−a −5H1aX−b −S Lsax+
にこから前述の(3式が得られ、該(3式で示され
るようにバイアス成分Cの値を設定すれば、エネルギー
サブトラクション画像における最大濃度は、最大濃度信
号31aXが担持する濃度に設定される。
また骨部が消去された骨消去画像にあっては、(82式
において(a−KbH−b−KbL) −0トナルよう
に重みづけ係数aSbの値が選択される他は、上記軟部
消去画像の場合と同様にして(31式が成立する。
において(a−KbH−b−KbL) −0トナルよう
に重みづけ係数aSbの値が選択される他は、上記軟部
消去画像の場合と同様にして(31式が成立する。
(If) 次に原画像に前記素抜は部が無い場合につ
いて考える。
いて考える。
〈高圧画像〉
素抜は部が有る場合と同様にして
St(=KOH−KSH−t 5−KbH−t b・・
・(6)この場合高圧画像信号Solの最大値3 H+
++axは、高圧画像に素抜は部が無いから、通常は軟
部組織の最大濃度部つまり軟部組織の厚みが一番薄い部
分を表わすものであると考えられる。上記最大値S l
l1llaXが示す軟部組織Sの厚みをtSoとすると
、i Sm 1: So + t S’ −(10)と
表わされる。
・(6)この場合高圧画像信号Solの最大値3 H+
++axは、高圧画像に素抜は部が無いから、通常は軟
部組織の最大濃度部つまり軟部組織の厚みが一番薄い部
分を表わすものであると考えられる。上記最大値S l
l1llaXが示す軟部組織Sの厚みをtSoとすると
、i Sm 1: So + t S’ −(10)と
表わされる。
上記(10)式を(61式に代入すると、5H=KoH
’ −KSH・ts’−Kbll・tb・・・(11)(た
だしKOH’ −Koll−Ksl−t So )した
がって3 I1w+ax −K old’である。
’ −KSH・ts’−Kbll・tb・・・(11)(た
だしKOH’ −Koll−Ksl−t So )した
がって3 I1w+ax −K old’である。
〈低圧画像〉
X線のエネルギーが多少低くなっても高圧画像の場合と
同様に最大濃度部を与えるのは、軟部組織の厚みが一番
薄い部分と考えられるので、(7)式より上記高圧画像
の場合と同様にして、5L=KoL’ −KsL−t s ’ −KbL−t b・・・ (
12)(ただしKoビ =KoL−KsL・t So
)したがッT S Lmax= K oL’である。
同様に最大濃度部を与えるのは、軟部組織の厚みが一番
薄い部分と考えられるので、(7)式より上記高圧画像
の場合と同様にして、5L=KoL’ −KsL−t s ’ −KbL−t b・・・ (
12)(ただしKoビ =KoL−KsL・t So
)したがッT S Lmax= K oL’である。
〈エネルギーサブトラクション画像〉
まず軟部消去画像について考える。前記(2)式に上記
(11)、(12)式を代入すると、Ssub=a・S
H =a −KoH’ −b −KoL’ +c−(a
−KsH−b −KsL> t s’−(a
−KbH−b −KbL) t bここで軟部消去画
像にあっては、(a −KsH−b−KsL> =O1
<a −KbH−b−Kbし)≧0 となるように重みづけ係数a、bの値が選択され、Ss
ub=a・SH −a −Kof(’ −b−KoL’
+c−(a−KbH−b−Kbし)tb となる。
(11)、(12)式を代入すると、Ssub=a・S
H =a −KoH’ −b −KoL’ +c−(a
−KsH−b −KsL> t s’−(a
−KbH−b −KbL) t bここで軟部消去画
像にあっては、(a −KsH−b−KsL> =O1
<a −KbH−b−Kbし)≧0 となるように重みづけ係数a、bの値が選択され、Ss
ub=a・SH −a −Kof(’ −b−KoL’
+c−(a−KbH−b−Kbし)tb となる。
この差信号Ssub=a・SHの最大濃度(骨部の最大
濃度)を担持する最大値はa−KoH’ −b −Ko
L’ +cであり、該最大値は前述した最大濃度信号S
+naxであるから、 Smax −a −Koll’ −b −KoL’
+c・(9)となり、前記(3式が成立する。
濃度)を担持する最大値はa−KoH’ −b −Ko
L’ +cであり、該最大値は前述した最大濃度信号S
+naxであるから、 Smax −a −Koll’ −b −KoL’
+c・(9)となり、前記(3式が成立する。
なお骨消去画像の場合も同様である。
以上、前述の(1)式においてm−i、n−oと設定し
て、高圧画像信号SHの最大値3 Hmaxと、低圧画
像信号SLの最大値S Lmaxとからエネルギーサブ
トラクション画像の最大濃度を所定濃度に設定する実施
態様について説明したが、放射線撮影部位によっては反
対にm−01n=1と設定して、高圧画像信号SHの最
小値31iinと、低圧画像信号SLの最小値3Lsi
nとからエネルギーサブトラクション画像の最小濃度を
規定することも可能である。以下、その点について詳し
く説明する。
て、高圧画像信号SHの最大値3 Hmaxと、低圧画
像信号SLの最大値S Lmaxとからエネルギーサブ
トラクション画像の最大濃度を所定濃度に設定する実施
態様について説明したが、放射線撮影部位によっては反
対にm−01n=1と設定して、高圧画像信号SHの最
小値31iinと、低圧画像信号SLの最小値3Lsi
nとからエネルギーサブトラクション画像の最小濃度を
規定することも可能である。以下、その点について詳し
く説明する。
第7図に示すように、放射線撮影される一般の人体等の
被写体40は、体厚Fの最も大きい部分が、骨部すの最
も厚い部分と一致している(これを[仮定11とする)
。
被写体40は、体厚Fの最も大きい部分が、骨部すの最
も厚い部分と一致している(これを[仮定11とする)
。
〈高圧画像〉
通常の放射線撮影における放射線エネルギー範囲では、
骨部すの放射線減弱係数ubは、軟部組織Sの放射線減
弱係数USより大きいので、上記[仮定1]より、体厚
の最も大きい部分の画像信号が、高圧画像信号St(の
最小値3H+ntnとなる。
骨部すの放射線減弱係数ubは、軟部組織Sの放射線減
弱係数USより大きいので、上記[仮定1]より、体厚
の最も大きい部分の画像信号が、高圧画像信号St(の
最小値3H+ntnとなる。
体厚が最も大きい部分の骨部すおよび軟部組11sの厚
みをそれぞれTsH,TbHとすると、高圧画像信号S
)Iは前記(0式をもとに、 SN −Ko)l−KsH−t 5−Kb)I−t b
−K oH−K sl ・ Tsll+KsH
(Tst(−t s )−K bll・Tt+H+
Kbll (Tb1−1− t b )したがって次
のように書ける SH−KoH’ +KsH−t s’ +KbH,−t
b’・・・・・・・・・・・・・・・(13)ただし
Ko)I’ =Ko)l−KsH−TsH−Kb)l−
Tb1lts’=Tsl−ts tb’=Tb14−tb ここでKSH≧0.Kbll≧Q、ts’≧o、tb’
≧Oより高圧画像の最小値511m1nはK ol’
となる。
みをそれぞれTsH,TbHとすると、高圧画像信号S
)Iは前記(0式をもとに、 SN −Ko)l−KsH−t 5−Kb)I−t b
−K oH−K sl ・ Tsll+KsH
(Tst(−t s )−K bll・Tt+H+
Kbll (Tb1−1− t b )したがって次
のように書ける SH−KoH’ +KsH−t s’ +KbH,−t
b’・・・・・・・・・・・・・・・(13)ただし
Ko)I’ =Ko)l−KsH−TsH−Kb)l−
Tb1lts’=Tsl−ts tb’=Tb14−tb ここでKSH≧0.Kbll≧Q、ts’≧o、tb’
≧Oより高圧画像の最小値511m1nはK ol’
となる。
く低圧画像〉
上記高圧画像の場合と同様にして低圧画像信号SLは、
SL =KoL’ +KS・・ ts’+)(bl
・ tb’・・・・・・・・・・・・ (14)た だしKoL’ =KoL−KsL−TsL−KbL−T
bLt s’ −TsH−t S t b’ =4bl−t b したがって高圧画像の場合と同様にして、低圧画像信号
SLの最小値5L1nはK OL’となる。
・ tb’・・・・・・・・・・・・ (14)た だしKoL’ =KoL−KsL−TsL−KbL−T
bLt s’ −TsH−t S t b’ =4bl−t b したがって高圧画像の場合と同様にして、低圧画像信号
SLの最小値5L1nはK OL’となる。
〈エネルギーサブトラクション画像〉
まず骨消去画像について考える。(13)、(14)式
を(2式に代入すると、 Ssub=a・SH = a −Kol(’
−b −KoL’ + c+ (a −Ksl(
−b −KsL) ts’+ (a −Kb14−b−
KbL) t b’重みづけ係数a、bは (a −Kb)l−b −KbL) =Oとなるように
選択されるから、 Ssub =a−KOH’ −b −KOL’ +C+
(a−KSH−b−KsL) ts’ここテ(a
−KSH −b −KsL)≧0、ts’≧0であるか
ら、 上記差信号S subの最小濃度を担持する最小値は、
a −KO+1’ −b −KoL7 +cテアリ、l
最小ti ハ眞記最小濃度信号5 gainであるか
ら、Sm1n = a 1Ko++’ −b −KoL
+Cすなわち c =Smin −a −KOH’ + b −KoL
’ −(15)となり、所望の最小濃度が得られるバイ
アス成分Cが、高圧画像信号SHの最小値K O)l’
と、低圧画像信号SLの最小値K ol’ とによっ
て規定される。
を(2式に代入すると、 Ssub=a・SH = a −Kol(’
−b −KoL’ + c+ (a −Ksl(
−b −KsL) ts’+ (a −Kb14−b−
KbL) t b’重みづけ係数a、bは (a −Kb)l−b −KbL) =Oとなるように
選択されるから、 Ssub =a−KOH’ −b −KOL’ +C+
(a−KSH−b−KsL) ts’ここテ(a
−KSH −b −KsL)≧0、ts’≧0であるか
ら、 上記差信号S subの最小濃度を担持する最小値は、
a −KO+1’ −b −KoL7 +cテアリ、l
最小ti ハ眞記最小濃度信号5 gainであるか
ら、Sm1n = a 1Ko++’ −b −KoL
+Cすなわち c =Smin −a −KOH’ + b −KoL
’ −(15)となり、所望の最小濃度が得られるバイ
アス成分Cが、高圧画像信号SHの最小値K O)l’
と、低圧画像信号SLの最小値K ol’ とによっ
て規定される。
軟部消去画像の場合も同様にして(15)式が成立し、
この式で示されるバイアス成分Cを用いれば、エネルギ
ーサブトラクション画像において骨部の最小濃度が所望
の濃度に設定される。
この式で示されるバイアス成分Cを用いれば、エネルギ
ーサブトラクション画像において骨部の最小濃度が所望
の濃度に設定される。
前述した[仮定1]が成り立たない場合には、以上説明
のようにしてバイアス成分Cを決めてエネルギーサブト
ラクション画像の最小濃度を規定することはできない。
のようにしてバイアス成分Cを決めてエネルギーサブト
ラクション画像の最小濃度を規定することはできない。
しかし現実の放射線撮影にあっては、上記[仮定1]が
満たされていることが多く、その場合には当然上記最小
濃度が規定されうるし、また上記[仮定1]から多少外
れた条件で放射線撮影がなされている場合にも、以上説
明したようにしてバイアス成分Cを決定して、エネルギ
ーサブトラクション画像における最小濃度を大略一定に
規定することができる。
満たされていることが多く、その場合には当然上記最小
濃度が規定されうるし、また上記[仮定1]から多少外
れた条件で放射線撮影がなされている場合にも、以上説
明したようにしてバイアス成分Cを決定して、エネルギ
ーサブトラクション画像における最小濃度を大略一定に
規定することができる。
また上記[仮定1]が成り立つ場合には、前記(1)式
におけるm、nの値を例えばm=n−1と設定してバイ
アス成分Cを、^圧画像信号S11の最大値5・Ill
axと最小値511m1n、および低圧画像信号SLの
最大値SLmaxと最小値SLminから決定して、エ
ネルギーサブトラクション画像において最大濃度と最小
濃度との間の所望の濃度を一定濃度に設定することも可
能である。
におけるm、nの値を例えばm=n−1と設定してバイ
アス成分Cを、^圧画像信号S11の最大値5・Ill
axと最小値511m1n、および低圧画像信号SLの
最大値SLmaxと最小値SLminから決定して、エ
ネルギーサブトラクション画像において最大濃度と最小
濃度との間の所望の濃度を一定濃度に設定することも可
能である。
なお高圧画像信号SHと低圧画像信号SLの各最大値3
Hmaxと31++ax、あるいは最小値5hinと
3シminを求めるには、第3図に示されるヒストグラ
ム演算回路22に限らず、その仙例えば入力される最初
の高圧画像信号S11 (あるいは低圧画像信号SL)
を最大値(または最小値)として記憶し、次に入力され
る高圧画像信号811(あるいは低圧画像信号SL)と
上記記憶された最大値(または最小値)とを比較し、大
きい方の信号を最大値(または小さい方の信号を最小値
)として記憶し、この演算処理を最後に入力される信号
まで続けて行なう、いわゆる順次比較法による最大ある
いは最小値演算手段が用いられてもよい。
Hmaxと31++ax、あるいは最小値5hinと
3シminを求めるには、第3図に示されるヒストグラ
ム演算回路22に限らず、その仙例えば入力される最初
の高圧画像信号S11 (あるいは低圧画像信号SL)
を最大値(または最小値)として記憶し、次に入力され
る高圧画像信号811(あるいは低圧画像信号SL)と
上記記憶された最大値(または最小値)とを比較し、大
きい方の信号を最大値(または小さい方の信号を最小値
)として記憶し、この演算処理を最後に入力される信号
まで続けて行なう、いわゆる順次比較法による最大ある
いは最小値演算手段が用いられてもよい。
ざらに、高圧画像、低圧画像の読取りに際して、例えば
特開昭58−89245号公報に示されるような先読み
が行なわれ、本読み時にその先読みデータに基づいて予
め濃度信号の最大値あるいは最小値を規定してしまうよ
うな場合には、勿論それらを前述の最大値S HlaX
、3 La1axあるいは最小値5)Illin、 3
Li+inとすればよいので、前記ヒストグラム演算回
路22等の特性値演算手段を設けなくても本発明方法を
実施することができる。また上記最大値SHmax、
SL++axあるいは最小値5lain、 3La+i
nはそれぞれ、高圧画像、低圧画像の全域から求める他
、高圧画像と低圧画像で共通の部分的画像領域から求め
るようにしてもよい。
特開昭58−89245号公報に示されるような先読み
が行なわれ、本読み時にその先読みデータに基づいて予
め濃度信号の最大値あるいは最小値を規定してしまうよ
うな場合には、勿論それらを前述の最大値S HlaX
、3 La1axあるいは最小値5)Illin、 3
Li+inとすればよいので、前記ヒストグラム演算回
路22等の特性値演算手段を設けなくても本発明方法を
実施することができる。また上記最大値SHmax、
SL++axあるいは最小値5lain、 3La+i
nはそれぞれ、高圧画像、低圧画像の全域から求める他
、高圧画像と低圧画像で共通の部分的画像領域から求め
るようにしてもよい。
なお、上述の実施態様においては、高圧画像および低圧
画像の蓄積記録にそれぞれ1枚の蓄積性蛍光体シートが
用いられ、従って高圧画像信号S)Iおよび低圧画像信
号SLはいずれも1枚の蓄積性蛍光体シートから読み取
られた画像信号であるが、高圧画像あるいは低圧画像の
蓄積記録に2枚以上の蓄積性蛍光体シートを用い、これ
ら複数の蓄積性蛍光体シートそれぞれから読み取った画
像信号を加算平均したものを高圧画像信号811あるい
は低圧画像信号SLとしてもよい。この場合、複数の蓄
積性蛍光体シートそれぞれに高圧画像あるいは低圧画像
を蓄積記録するのに用いられる放射線は、必ずしも同一
エネルギーである必要はない。
画像の蓄積記録にそれぞれ1枚の蓄積性蛍光体シートが
用いられ、従って高圧画像信号S)Iおよび低圧画像信
号SLはいずれも1枚の蓄積性蛍光体シートから読み取
られた画像信号であるが、高圧画像あるいは低圧画像の
蓄積記録に2枚以上の蓄積性蛍光体シートを用い、これ
ら複数の蓄積性蛍光体シートそれぞれから読み取った画
像信号を加算平均したものを高圧画像信号811あるい
は低圧画像信号SLとしてもよい。この場合、複数の蓄
積性蛍光体シートそれぞれに高圧画像あるいは低圧画像
を蓄積記録するのに用いられる放射線は、必ずしも同一
エネルギーである必要はない。
また、上述の実施態様においては、2枚のシートAおよ
びBそれぞれへの高圧画像および低圧画像の蓄積記録は
、それぞれのシートの高エネルギー放射線および低エネ
ルギー放射線を別個に照射することによって行なわれる
が、2組のシートへの高圧画像および低圧画像の蓄積記
録の方法はこれに限られるものではなく、特開昭59−
83486号に開示されているように、蓄積性蛍光体シ
ー1〜積層体あるいは蓄積性蛍光体シート−フィルタ積
層体を用いて一回の放射線照射で行なってもよい。すな
わち、2組の蓄積性蛍光体シートそれぞれに、同一の被
写体を透過した高エネルギー放射線および低エネルギー
放射線が照射される限りにおいて、特に撮影方法に制限
はない。
びBそれぞれへの高圧画像および低圧画像の蓄積記録は
、それぞれのシートの高エネルギー放射線および低エネ
ルギー放射線を別個に照射することによって行なわれる
が、2組のシートへの高圧画像および低圧画像の蓄積記
録の方法はこれに限られるものではなく、特開昭59−
83486号に開示されているように、蓄積性蛍光体シ
ー1〜積層体あるいは蓄積性蛍光体シート−フィルタ積
層体を用いて一回の放射線照射で行なってもよい。すな
わち、2組の蓄積性蛍光体シートそれぞれに、同一の被
写体を透過した高エネルギー放射線および低エネルギー
放射線が照射される限りにおいて、特に撮影方法に制限
はない。
(発明の効果)
以上詳細に説明した通り本発明によれば、エネルギーサ
ブトラクション画像の任意の部分の濃度を所望濃度に設
定できるから、エネルギーサブトラクション画像の濃度
範囲を視覚的に最適な濃度範囲に設定可能となり、エネ
ルギーサブトラクション画像の診断能が大いに高められ
る。
ブトラクション画像の任意の部分の濃度を所望濃度に設
定できるから、エネルギーサブトラクション画像の濃度
範囲を視覚的に最適な濃度範囲に設定可能となり、エネ
ルギーサブトラクション画像の診断能が大いに高められ
る。
第1図は本発明方法における放射線画像の蓄積記録ステ
ップを示す説明図、 第2図は上記蓄積記録がなされた蓄積性蛍光体シートか
らの放射線画像情報読取りを説明する概略図、 第3図は本発明の一実施態様方法を適用して濃度補正を
行なうエネルギーサブトラクション処理の概要を説明す
る概略図、 第4図はサブトラクション画像の再生記録システムの一
例を示す概略図、 第5図は本発、明に係る被写体による放射線の減弱特性
を説明するための説明図、 第6図は本発明に係る放射線エネルギーの電気信号への
変換を説明するための説明図、第7図は本発明を適用し
てエネルギーサブトラクション画像が形成される被写体
の一般的形状を示す概略図である。 1.40、P・・・被写体 2・・・X線3・・・X
線源 10・・・レーザ光源11・・・レー
ザ光 12・・・走査ミラー13・・・輝尽発
光光 15・・・フォトマル16・・・対数変換
器 18・・・サブトラクション演算回路 22・・・ヒストグラム演算回路 23・・・信号生成回路 24・・・バイアス成分演算回路 25・・・バイアス成分設定回路 A、B・・・蓄積性蛍光体シート 31−1・・・高圧画像信号 SL・・・低圧画像信
号3 Hmax・・・高圧画像の最大値 3 Lmax・・・低圧画像の最小値 3 wax・・・エネルギーサブトラクション画像の最
大濃度信号 第1図 第3図 (自発)手続?甫正書 特許庁長官 殿 昭和60年4月1
5日特願昭60−49668号 2、発明の名称 エネルギーサブトラクション画像の濃度補正方法および
装置3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 神奈川県南足柄市中沼210番地名 称
富士写真フィルム株式会社4、代理人
ップを示す説明図、 第2図は上記蓄積記録がなされた蓄積性蛍光体シートか
らの放射線画像情報読取りを説明する概略図、 第3図は本発明の一実施態様方法を適用して濃度補正を
行なうエネルギーサブトラクション処理の概要を説明す
る概略図、 第4図はサブトラクション画像の再生記録システムの一
例を示す概略図、 第5図は本発、明に係る被写体による放射線の減弱特性
を説明するための説明図、 第6図は本発明に係る放射線エネルギーの電気信号への
変換を説明するための説明図、第7図は本発明を適用し
てエネルギーサブトラクション画像が形成される被写体
の一般的形状を示す概略図である。 1.40、P・・・被写体 2・・・X線3・・・X
線源 10・・・レーザ光源11・・・レー
ザ光 12・・・走査ミラー13・・・輝尽発
光光 15・・・フォトマル16・・・対数変換
器 18・・・サブトラクション演算回路 22・・・ヒストグラム演算回路 23・・・信号生成回路 24・・・バイアス成分演算回路 25・・・バイアス成分設定回路 A、B・・・蓄積性蛍光体シート 31−1・・・高圧画像信号 SL・・・低圧画像信
号3 Hmax・・・高圧画像の最大値 3 Lmax・・・低圧画像の最小値 3 wax・・・エネルギーサブトラクション画像の最
大濃度信号 第1図 第3図 (自発)手続?甫正書 特許庁長官 殿 昭和60年4月1
5日特願昭60−49668号 2、発明の名称 エネルギーサブトラクション画像の濃度補正方法および
装置3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 神奈川県南足柄市中沼210番地名 称
富士写真フィルム株式会社4、代理人
Claims (3)
- (1)2組の蓄積性蛍光体シートに、同一の被写体を透
過したそれぞれ高エネルギー、低エネルギーの放射線を
照射して、これらの蛍光体シートに前記被写体の少なく
とも一部の画像情報が互いに異なる放射線画像を蓄積記
録し、これらの蛍光体シートに励起光を走査して前記放
射線画像を輝尽発光光に変換し、この輝尽発光光の発光
量を光電的に読み取ってそれぞれデジタルの高圧画像信
号SH、低圧画像信号SLに変換し、両画像の対応する
画素間で Ssub=a・SH−b・SL+c なる減算を行なって放射線画像の特定構造物の画像を形
成する差信号Ssubを得るようにした放射線画像のエ
ネルギーサブトラクション処理において、前記差信号S
subによつて形成されるサブトラクション画像におい
て所望される最大濃度、最小濃度を各々担持する最大濃
度信号、最小濃度信号をそれぞれSmax、Smin、
前記高圧画像信号SHの最大値および最小値をそれぞれ
SHmax、SHmin、前記低圧画像信号SLの最大
値および最小値をそれぞれSLmax、SLminとし
たとき、前記cの値を、 c=m・Smax+n・Smin −a(m・SHmax+n・SHmin) +b(m・SLmax+n・SLmin) [m、nは0を含む定数] と設定することを特徴とするエネルギーサブトラクショ
ン画像の濃度補正方法。 - (2)前記2組の蓄積性蛍光体シートのうち、少なくと
も1組を2枚以上の蓄積性蛍光体シートから構成し、こ
れら2枚以上のシートからの前記輝尽発光光を読み取っ
て得た各デジタル画像信号を加算平均して前記高圧画像
信号SHまたは低圧画像信号SLとすることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載のエネルギーサブトラクシ
ョン画像の濃度補正方法。 - (3)同一の被写体を透過したそれぞれ高エネルギー、
低エネルギーの放射線が照射されて、該被写体の少なく
とも一部の画像情報が互いに異なる放射線画像が蓄積記
録された2組の前記蓄積性蛍光体シートそれぞれから、
画像読取りを行なって得られたデジタルの高圧画像信号
SH、低圧画像信号SLの対応する画素間で Ssub=a・SH−b・SL+c なる減算を行ない、それによって前記被写体の特定構造
物の画像を形成する差信号Ssubを得るサブトラクシ
ョン演算手段からなるエネルギーサブトラクション装置
において、 前記差信号Ssubによつて形成されるサブトラクショ
ン画像において所望される最大および最小濃度をそれぞ
れ担持する最大濃度信号Smax、最小濃度信号Smi
nの少なくとも一方を生成する信号生成手段と、 前記高圧画像信号SHの最大値SHmaxと前記低圧画
像信号SLの最大値SLmaxの組合せと、前記高圧画
像信号SHの最小値SHminと前記低圧画像信号SL
の最小値SLminの組合せの少なくとも一方を求める
特性値演算手段と、 この特性値演算手段と前記信号生成手段が求めた各最大
、最小濃度信号をもとに、 c=m・Smax+n・Smin −a(m・SHmax+n・SHmin) +b(m・SLmax+n・SLmin) [m、nは0を含む定数] なる演算を行なうバイアス成分演算手段と、このバイア
ス成分演算手段が求めたバイアス成分cの値を前記サブ
トラクション演算手段に転送して前記減算に使用させる
バイアス成分設定手段とが設けられてなるエネルギーサ
ブトラクション画像の濃度補正装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60049668A JPS61208976A (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | エネルギ−サブトラクシヨン画像の濃度補正方法および装置 |
| US06/838,862 US4761739A (en) | 1985-03-13 | 1986-03-12 | Density correcting method and apparatus for energy substraction image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60049668A JPS61208976A (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | エネルギ−サブトラクシヨン画像の濃度補正方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61208976A true JPS61208976A (ja) | 1986-09-17 |
| JPH0511464B2 JPH0511464B2 (ja) | 1993-02-15 |
Family
ID=12837548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60049668A Granted JPS61208976A (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | エネルギ−サブトラクシヨン画像の濃度補正方法および装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4761739A (ja) |
| JP (1) | JPS61208976A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7248726B2 (en) | 2001-03-21 | 2007-07-24 | Fujifilm Corporation | Energy subtraction processing method and apparatus |
| JP2009022450A (ja) * | 2007-07-18 | 2009-02-05 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置および画像作成方法 |
| JP2010046287A (ja) * | 2008-08-21 | 2010-03-04 | Toshiba Corp | X線診断装置及びx線画像処理装置 |
| JP2010194261A (ja) * | 2009-02-27 | 2010-09-09 | Toshiba Corp | X線撮影装置及びx線画像処理方法 |
| JP2010240054A (ja) * | 2009-04-02 | 2010-10-28 | Toshiba Corp | X線診断装置及び画像処理装置 |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4845714A (en) * | 1987-06-08 | 1989-07-04 | Exabyte Corporation | Multiple pass error correction process and apparatus for product codes |
| JPH088664B2 (ja) * | 1988-03-14 | 1996-01-29 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線画像のサブトラクション方法 |
| JPH0659280B2 (ja) * | 1989-04-19 | 1994-08-10 | 松下電器産業株式会社 | X線画像処理装置 |
| EP0418921B1 (en) * | 1989-09-22 | 1998-12-16 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Energy subtraction processing method and apparatus, superposition processing method and apparatus, and radiation image read-out apparatus |
| US5485371A (en) * | 1990-02-14 | 1996-01-16 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method for forming energy subtraction radiation images, and method and apparatus for smoothing radiation images |
| US5065763A (en) * | 1990-02-21 | 1991-11-19 | Sri International | Combined reflection and transmssion untrasonic imaging method and apparatus |
| JP2981701B2 (ja) * | 1992-09-08 | 1999-11-22 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線画像形成方法およびそれを用いた骨塩定量分析方法 |
| EP0639819B1 (en) * | 1993-08-16 | 1997-01-22 | Agfa-Gevaert N.V. | Method and apparatus for controlling the effectively applied irradiation amount |
| JP3456032B2 (ja) * | 1994-05-09 | 2003-10-14 | 富士写真フイルム株式会社 | 画像処理方法 |
| JP2002216106A (ja) * | 2001-01-16 | 2002-08-02 | Fuji Photo Film Co Ltd | エネルギーサブトラクション画像生成方法および装置 |
Citations (2)
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| JPS59163953A (ja) * | 1983-03-08 | 1984-09-17 | Canon Inc | 画像処理装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4394737A (en) * | 1979-07-11 | 1983-07-19 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of processing radiographic image |
-
1985
- 1985-03-13 JP JP60049668A patent/JPS61208976A/ja active Granted
-
1986
- 1986-03-12 US US06/838,862 patent/US4761739A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
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| US7483556B2 (en) | 2001-03-21 | 2009-01-27 | Fujifilm Corporation | Energy subtraction processing method and apparatus |
| JP2009022450A (ja) * | 2007-07-18 | 2009-02-05 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置および画像作成方法 |
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| JP2010194261A (ja) * | 2009-02-27 | 2010-09-09 | Toshiba Corp | X線撮影装置及びx線画像処理方法 |
| JP2010240054A (ja) * | 2009-04-02 | 2010-10-28 | Toshiba Corp | X線診断装置及び画像処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4761739A (en) | 1988-08-02 |
| JPH0511464B2 (ja) | 1993-02-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |