JPS6120955B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6120955B2
JPS6120955B2 JP13020879A JP13020879A JPS6120955B2 JP S6120955 B2 JPS6120955 B2 JP S6120955B2 JP 13020879 A JP13020879 A JP 13020879A JP 13020879 A JP13020879 A JP 13020879A JP S6120955 B2 JPS6120955 B2 JP S6120955B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bubble
pattern
layer
magnetic
ion implantation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP13020879A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5654688A (en
Inventor
Kazunari Yoneno
Makoto Oohashi
Tsutomu Myashita
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS5654688A publication Critical patent/JPS5654688A/en
Publication of JPS6120955B2 publication Critical patent/JPS6120955B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はイオン注入層をバブル駆動層として用
いるバブルメモリ素子で隣接する各ループ間にイ
オン注入層を除去する溝を設けて各ループ間の相
互作用を減じたバブルメモリ素子に関するもので
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a bubble memory device that uses an ion-implanted layer as a bubble driving layer, in which a groove is provided between adjacent loops to remove the ion-implanted layer, thereby reducing interaction between each loop. It is related to the element.

最近、バブルメモリの高密度化に関連し、イオ
ン注入技術の導入による新しい転送回路パターン
の形成方法が提案された。すなわち、第1図aは
従来多用されている転送回路パターンの1例であ
り、磁気バブル用結晶基板上にパーマロイ等によ
るハーフデイスク形の複数の転送パターンが配列
されている。この場合リソグラフイ技術による最
小制限寸法Wは磁気バブル径dに対しW=2/3dで あり、従つて図示のパターン端部や間隔はこの寸
法Wで制限され、最小の磁気バブル径はこの1.5
倍位である。これに対し同図bはイオン注入法に
よるパターン形成法の1例である。すなわち、円
形を連接した形状のデイスクパターンに金属マス
クを被せてイオン注入を行ないこのパターン以外
の結晶基板面にイオン打込層を形成する。このよ
うな構成でバイアス、回転磁界を与えて磁気バブ
ルを駆動すると、磁気バブルは連接デイスクパタ
ーンの外周に沿つて転送される。この場合のパタ
ーンの最小制限寸法と磁気バブル径dの関係はW
=2dとなり、たとえば図示の連接デイスクパタ
ーン端部の寸法Wにに対し磁気バブルの径を半分
程度まで減少させてもよいから、磁気バブルを微
小化することができ、バブルメモリの高密度化が
可能となる。
Recently, in connection with increasing the density of bubble memories, a new method of forming transfer circuit patterns using ion implantation technology has been proposed. That is, FIG. 1A is an example of a conventionally frequently used transfer circuit pattern, in which a plurality of half-disk-shaped transfer patterns made of permalloy or the like are arranged on a crystal substrate for magnetic bubbles. In this case, the minimum limited dimension W by lithography technology is W = 2/3 d for the magnetic bubble diameter d, and therefore the illustrated pattern ends and intervals are limited by this dimension W, and the minimum magnetic bubble diameter is 1.5
It's double that. On the other hand, FIG. 1B shows an example of a pattern forming method using ion implantation. That is, ion implantation is performed by covering a disk pattern in the form of connected circles with a metal mask, and forming an ion implantation layer on the surface of the crystal substrate other than this pattern. When the magnetic bubbles are driven with such a configuration by applying a bias and a rotating magnetic field, the magnetic bubbles are transferred along the outer periphery of the connected disk pattern. In this case, the relationship between the minimum limit dimension of the pattern and the magnetic bubble diameter d is W
= 2d, and for example, the diameter of the magnetic bubble can be reduced to about half of the dimension W of the end of the connected disk pattern shown in the figure. Therefore, the magnetic bubble can be miniaturized, and the density of the bubble memory can be increased. It becomes possible.

このような連接デイスクパターンで転送ループ
を形成した場合、隣接する各ループ間では、約2
ビツト分の間隔を設けて相互作用をなくしていた
が、この間隔でもバイアスマージンの下限におい
てバブルがループ間でストライブアウトし誤動作
を起すことが往々あつた。
When a transfer loop is formed using such a concatenated disk pattern, the distance between each adjacent loop is approximately 2
Interaction was eliminated by providing a bit interval, but even with this interval, bubbles often streaked out between loops at the lower limit of the bias margin, causing malfunctions.

本発明の目的は前述のループ間の相互作用によ
る誤動作を防止するようにしたバブルメモリ素子
を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a bubble memory device that prevents malfunctions due to the interaction between loops.

前記目的を達成するため、本発明のバブルメモ
リ素子は磁気バブル用結晶基板に対して連接デイ
スクパターン領域を除く該結晶基板の全面にイオ
ン注入層を形成してバブル駆動層として用いるバ
ブルメモリ素子において、前記連接デイスクパタ
ーン領域より成るバブル転送路の相互間に前記イ
オン注入層を除去した溝を設けたことを特徴とす
るものである。
In order to achieve the above object, the bubble memory device of the present invention includes a magnetic bubble crystal substrate, in which an ion implantation layer is formed on the entire surface of the crystal substrate except for the connected disk pattern area, and the bubble memory device is used as a bubble driving layer. , a groove from which the ion implantation layer is removed is provided between the bubble transfer paths formed by the connected disk pattern regions.

以下本発明を実施例につき詳述する。 The present invention will be described in detail below with reference to examples.

第2図は本発明の実施例の構成を示す説明図で
ある。同図において、磁気バブル結晶基板1のた
とえばGGG結晶基板面に形成された液相成長エ
ピタキシヤル(LPE)層上に磁気バブルの転送パ
ターンとして連接デイスクパターンより成るルー
プ2,3が所定の間隔を隔てて並行に形成されて
いるものとする。この連接デイスクパターンは
GGG結晶基板1のLPE層上に金(Au)のような
金属膜でパターンを形成し、このパターンをマス
クとしてこれ以上の結晶基板にイオン注入を行な
い、イオン注入層4を形成する。その後金属パタ
ーンを除去したものである。この連接デイスクパ
ターンのループ2,3に対し回転磁界とバイアス
磁界を与えた磁気バブルの転送を行なう場合、間
隔が小さいと隣接パターンの影響を受けて誤動作
の原因となる。これをなくすためには、2ビツト
分またはそれ以上離さなければならないが、これ
では高密度化ができない。本発明では並行ループ
2,3間の中間にイオン注入層4を除去した溝5
を設けることにより、間隔を2ビツト分以下に小
さくしても十分効果的に相互作用をなくすること
ができた。この溝5を形成するには、イオン注入
層4をレジストによりマスクし溝パターンを作り
イオンミリングまたはたとえばH3PO4を用いたケ
ミカルエツチングで除去する工程を付加する。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. In the figure, loops 2 and 3 consisting of connected disk patterns are formed at a predetermined interval on a liquid phase epitaxial (LPE) layer formed on, for example, a GGG crystal substrate surface of a magnetic bubble crystal substrate 1 as a magnetic bubble transfer pattern. It is assumed that they are separated and formed in parallel. This articulated disk pattern
A pattern is formed using a metal film such as gold (Au) on the LPE layer of the GGG crystal substrate 1, and using this pattern as a mask, ions are implanted into further crystal substrates to form an ion implantation layer 4. The metal pattern was then removed. When transferring magnetic bubbles to which a rotating magnetic field and a bias magnetic field are applied to the loops 2 and 3 of the connected disk pattern, if the interval is small, the adjacent patterns will affect them and cause malfunctions. In order to eliminate this, it is necessary to separate them by 2 bits or more, but this does not allow for high density. In the present invention, a groove 5 in which the ion implantation layer 4 is removed is located between the parallel loops 2 and 3.
By providing , it was possible to effectively eliminate interaction even if the interval was reduced to 2 bits or less. To form this groove 5, a step is added in which the ion implantation layer 4 is masked with a resist to form a groove pattern and removed by ion milling or chemical etching using, for example, H 3 PO 4 .

以上説明したように、本発明によれば、並行ル
ープ間のイオン注入層を除去して溝を形成するこ
とにより、ループ間隔を2ビツト分以下にしても
相互作用の影響を小さくすることができ、誤動作
を防止するのみならず。高密度化が可能となり大
容量バブルメモリの実現に役立つものである。
As explained above, according to the present invention, by removing the ion-implanted layer between parallel loops and forming grooves, the influence of interaction can be reduced even if the loop interval is reduced to 2 bits or less. , not only to prevent malfunctions. This enables higher density and is useful for realizing large-capacity bubble memories.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図a,bはバブルメモリ素子の転送パター
ンの一般説明図、第2図は本発明の実施例の構成
を示す説明図であり、図中、1は磁気バブル用結
晶基板、2,3は連接デイスクパターン、4はイ
オン注入層、5は溝を示す。
1A and 1B are general explanatory diagrams of the transfer pattern of a bubble memory element, and FIG. 2 is an explanatory diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a crystal substrate for magnetic bubbles, 2, 3 4 indicates a connected disk pattern, 4 indicates an ion-implanted layer, and 5 indicates a groove.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 磁気バブル用結晶基板に対して連接デイスク
パターン領域を除く該結晶基板の全面にイオン注
入層を形成してバブル駆動層として用いるバブル
メモリ素子において、前記連接デイスクパターン
領域より成るバブル転送路の相互間に前記イオン
注入層を除去した溝を設けたことを特徴とするバ
ブルメモリ素子。
1. In a bubble memory element that is used as a bubble driving layer by forming an ion implantation layer on the entire surface of a magnetic bubble crystal substrate except for the connected disk pattern area, the bubble transfer path consisting of the connected disk pattern area is A bubble memory element characterized in that a groove is provided between which the ion-implanted layer is removed.
JP13020879A 1979-10-09 1979-10-09 Bubble memory element Granted JPS5654688A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13020879A JPS5654688A (en) 1979-10-09 1979-10-09 Bubble memory element

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JP13020879A JPS5654688A (en) 1979-10-09 1979-10-09 Bubble memory element

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Publication Number Publication Date
JPS5654688A JPS5654688A (en) 1981-05-14
JPS6120955B2 true JPS6120955B2 (en) 1986-05-24

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ID=15028669

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JP13020879A Granted JPS5654688A (en) 1979-10-09 1979-10-09 Bubble memory element

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60251584A (en) * 1984-05-29 1985-12-12 Fujitsu Ltd Magnetic bubble device

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Publication number Publication date
JPS5654688A (en) 1981-05-14

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