JPS61226675A - 放射線測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ この発明は、放射線量を広い範囲にわたって高精度に測
定し得る放射線測定装置に関する。

［発明の技術的背景および問題点］ 放射線の測定は、放射線に反応したシンチレータからの
光子を光電子増倍管（ＰＭＴ）で増倍して出力し、更に
この出力を増幅器で増幅した後、この増幅出力を計数器
を用いてカウントして測定するカウント法と光電子増倍
管の出力を積分して測定する積分法とが従来ある。

カウント法は、放射線個数を計数するものであるため、
放射線個数が少ない場合には制度よく測定できるが、放
射線入射が毎秒１０５個越えるように多くなると、計数
器の不感時間による誤差が増加し、また更に放射線入射
が多くなると、検出器の出力パルスが重なり合い、測定
ができなくなるという問題がある。第３図は放射線の増
加具合を示している検出器の出力波形図であるが、第３
図（ａ　）のように放射線個数が少ない場合は計数器で
精度よくカウントできる。しかしながら、第３図（ｂ　
）のように放射線個数が増加すると、計数器の不感時間
、すなわち計数器の最大計数速度により規定される不感
時間のために短い間隔で連続して発生する放射線を計数
することができず、このため誤差が発生する。また更に
、第３図＜Ｃ＞のように放射線入射が多くなって重なり
合うと、パルスとして分離できないため計数器ではカウ
ントできなくなるという問題が発生する。このため、こ
のカウント法で測定できる放射線範囲は放射線個数が毎
秒１０５個程度までである。

他方、積分法は、検出器出力を積分するものであるため
、放射線が重なって発生しても測定することができるの
で、放射線強度が強い場合に有効に使用される。しかも
、測定装置は比較的簡単なものでも放射線強度が強い場
合には精度よく測定できる。しかしながら、放射線強度
が弱い場合、例えば放射線個数が毎秒１０５個以下の場
合には、検出器のオフセット出力の温度変化等によるド
リフトに影響されて誤差が大きくなるという問題がある
。このため、積分法で測定するのに好ましい範囲は放射
線個数が毎秒１０５個以上の場合である。

ところで、放射線測定装置は産業用ＣＴ等にも応用され
るが、この産業用ＣＴにおいては金属等の放射線吸収の
大きな物を検査するために放射線強度をできるだけ上げ
て弱い信号まで測定することが必要である。このため、
放射線測定装置としては例えば毎秒１０８光子乃至１０
３光子程度のダイナミックレンジやリニアリティを有す
るものが必要とされているが、上述したカウント法や積
分法を使用した従来の放射線測定装置ではこの条件を十
分に満足することができないという問題がある。

［発明の目的］ この発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、放射線量を広い範囲にわたって高精度に
測定することができ、広い、ダイナミックレンジを有す
る放射線測定装置を提供することにある。

［発明の概要］ 上記目的を達成するため、この発明は、放射線を検出す
る放射線検出器と、前記放射線検出器の出力信号を計数
する計数手段と、前記放射線検出器の出力信号を積分す
る積分手段と、前記計数手段の出力信号または前記積分
手段の出力信号のいずれかを選択して出力する選択手段
とを有することを要旨とする。

［発明の実施例］ 以下、図面を用いてこの発明の詳細な説明する。

第１図はこの発明の一実施例を示す放射線測定装置のブ
ロック図である。同図において、シンチレータ１は光電
子増倍管３に接続され、シンチレータ１が放射線に反応
して放出する光子を光電子増倍管３が増倍して増幅器５
に供給している。増幅器５の出力信号はブレーク接点７
ａおよびメーク接点７ｂを介してそれぞ収集ユニット９
ａおよび９ｂに供給されている。収集ユニット９ａおよ
び９ｂは同じ構成のものであり、後述するようにブレー
ク接点７ａおよびメーク接点７ｂを介して交互に作ｖＪ
するようになっている。

ブレーク接点７ａまたはメータ接点７ｂを介した増幅器
５の出力信号は収集ユニット９ａ　、　９ｂを構成する
パルスカウンタ１１および積分器１３に供給されている
。積分器１３の出力信号はＡＤ変換器１５および切替器
１７に供給されている。

また、パルスカウンタ１１の出力信号は切替スイッチ１
９のブレーク接点側を介してマルチプレクサ２１に供給
され、ＡＤ変換器１５の出力信号は切替スイッチ１９の
メーク接点側を介してマルチプレクサ２１に供給されて
いる。切替スイッチ１９は切替器１７により切替制御さ
れ、その切替接点をブレーク接点側またはメータ接点側
に接続してパルスカウンタ１１またはＡＤ変換器１５の
いずれをマルチプレクサ２１に接続するかを制御する。

また、上記ブレーク接点７ａ、メータ接点７ｂ。

収集ユニット９ａ、９ｂおよびマルチプレクサ２１の動
作を全体的に制御するためにシーケンサ２３が設けられ
、このシーケンサ２３に外部から収集パルスが供給され
ることによりシーケンサ２３が起動され、本放射線測定
装置が作動するようになっている。

なお、第１図の放射線測定装置においてシンチレータ１
および光電子増倍管３からなる部分は放射線検出部を構
成し、増幅器５以降の部分がデータ収集部（ＤＡＳ）を
構成している。

以上のようにこの発明の一実施例の放射線測定装置は構
成されている。次に、その作用を説明する。

まず、全体の作用を簡単に説明すると、収集ユニット９
ａ、９ｂは第２図に示すように収集パルスが外部からシ
ーケンサ２３に供給される毎に制御されて、交互に積分
・計数動作およびＡＤ変換・転送動作を繰り返す。すな
わち、収集ユニット９ａが積分・計数動作を行なってい
る間は収集ユニット９ｂはＡＤ変換・転送動作を行ない
、逆に収集ユニット９ｂＳ積分・ｉｉ数動作を行なって
いる間は収集ユニット９ａがＡＤ変換・転送動作を行な
うことにより連続的に放射線を測定できるようにしてい
る。積分・計数動作とは、積分器１３が増幅器５の出力
信号を積分するとともに、パルスカウンタ１１が増幅器
５の出力信号を計数する動作である。ＡＤ変換・転送動
作とは、積分・計数動作において積分器１３が積分した
アナログ信号をＡＤ変換器１５によりディジタル信号に
変換するととにも、このＡＤ変換された信号またはパル
スカウンタ１１で計数した計数信号をマルチプレクサ２
１を介して外部に転送する動作である。

次に、第１図において順を追って説明する。まず、シー
ケンサ２３に外部から収集パルスが供給されることによ
り本放射線測定装置は測定動作を開始する。最初の収集
パルスがシーケンサ２３に供給されると、シーケンサ２
３はブレーク接点７ａを閉じ、メータ接点７ｂを開いた
状態にし、シンチレータ１および光電子増倍管３からな
る放射線検出器から出力される第３図に示すような検出
放射線の出力信号を増幅器５およびブレーク接点７ａを
介して収集ユニット９ａのパルスカウンタ１１および積
分器１３に供給する。その結果、パルスカウンタ１１は
該出力信号をパルス計数し、積分器１３は該出力信号を
積分する。この計数動作および積分動作は次の収集パル
スがシーケンサ２３に供給されるまで行なわれる。

次の収集パルスがシーケンサ２３に供給されると、シー
ケンサ２３はブレーク接点７ａは開き、メータ接点７ｂ
を閑じた状態にする。この結果、収集ユニット９ａのパ
ルスカウンタ１１および積分器１３はそれぞれ今までの
計数値および積分値をラッチした状態で計数動作および
積分動作を停止する。

一方メーク接点７ｂが閉じたことにより増幅器５からの
出力信号は収集ユニット９ｂに供給され、該収集ユニッ
ト９ｂのパルスカウンタ１１および積分器１３により計
数動作および積分動作がそれぞれ行なわれる。この動作
は前記収集ユニット９ａにおける場合と同様に次の収集
パルスがシーケンサ２３に供給されるまで継続する。

また、上述したように、積分動作を停止した収集ユニッ
ト９ａの積分器１３の積分出力信号はＡＤ変換器１５に
供給されてディジタル信号に変換されるとともに、切替
器１７に供給される。切替器１７においては、この積分
器１３がら供給された積分出力信号を所定の基準値と比
較する。この基ｔ￥値は、例えば前述した放射線強度が
毎秒１０５個に相当する電圧値である。そして切替器１
７は積分器１３の積分出力信号をこの基準値と比較し、
積分出力信号が基準値以下の場合には切替スイッチ１９
の切替接点がブレーク接点側に接続され、パルスカウン
タ１１の計数結果がマルチプレクサ２１に供給されるよ
うに制御するとともに、積分出力信号が基準値より大き
い場合には切替スイッチ１９の切替接点がメータ接点側
に接続され、ＡＤ変換器１５で変換された積分器１３の
出力値がマルチプレクサ２１に供給されるように制御す
る。この結果、放射線強度が基準値、例えば毎秒１０５
個以下のように低い場合には精度のよいパルスカウンタ
１１からの計数値が切替スイッチ１９およびマルチプレ
クサ２１を介して外部に転送され、また基準値より大き
く放ｒＩ４線強度が強い場合には積分器１３からの積分
値が切替スイッチ１９およびマルチプレクサ２１を介し
て外部に転送されるように制御され、広範囲にわたって
精度の高い測定が可能になっている。

更に、次の収集パルスがシーケンサ２３に供給されると
、シーケンサ２３によりブレーク接点７ａが閉じ、メー
ク接点７ｂが開いた状態に制御されるとともに、シーケ
ンサ２３からのリセット信号により収集ユニット９ａの
パルスカウンタ１１、積分器１３、ＡＤ変換器１５はリ
セットされ、次の計数および積分動作を再び開始する。

また、収集ユニット９ｂは収集ユニット９ａと同様に今
まで計数した信号または積分しＡＤ変換した信号を切替
器１７の制御のもとにマルチプレクサ２１を介して外部
に転送する。

なお、上記実施例においては、収集ユニット９ａ、９ｂ
を有する１チヤンネルの測定装置のみが示されているが
、同様な測定装置を複数チャンネル設け、これをシーケ
ンサ２３で制御するとともに、マルチプレクサ２１を介
して転送するものである。

第４図はこの発明の他の実施例を示す放射線測定装置の
要部のブロック図である。

この実施例は、第１図に示ず実施例の収集ユニット９ａ
　、９ｂにおいてパルスカウンタ１１をＡＤ変換器１５
用のパルスカウンタとしても兼用している所が異なるの
みでその他の構成および作用は第１の実施例と同じであ
り、収集ユニット９ａの回路構成が詳細に示されている
。

第４図において、パルスカウンタ１１は、ブレーク接点
７ａを介した増幅器５の出力信号を増幅する増幅器２５
と、この増幅器２５の出力信号をパルスに整形するパル
ス整形器２７と、このパルス整形器２７の出力に接続さ
れた切替スイッチ２９と、この切替スイッチ２９にクロ
ック入力端子が接続され、切替スイッチ２９を介してパ
ルス整形器２７の出力パルスを計数するカウンタ３１と
、カウンタ３１のカウントイネーブル端子に切替接点が
接続された切替スイッチ３３とから構成されている。カ
ウンタ３１の出力端子はマルチプレクサ２１に接続され
、カウンタ３１の計数結果がマルチプレクサ２１を介し
て外部のパスラインに出力信号として転送されるように
なっている。

積分器１３はブレーム接点７ａを介した増幅器５の出力
信号を抵抗３５を介して反転入力端子に供給される演算
増幅器３７と、該演算増幅器３７の出力端子と反転入力
端子間に接続され、演算増幅器３７とともに積分回路を
構成するコンデンサ３９と、演算増幅器３７の反転入力
端子に一端が接続され、他端がスイッチ４３を介して−
Ｖの電圧に接続されている抵抗４１とから構成されてい
る。なお、演算増幅器３７の非反転入力はアースに接続
されている。

ＡＤ変換器１５は、演算増幅器３７の出力信号を一方の
入力に供給され、他方の入力に供給されている基準電圧
■＋ξと比較するコンパレータ４５と、コンパレータ４
５の出力にメータ接点側が接続された切替スイッチ３３
と、切替スイッチ３３の切替接点がカウントイネーブル
端子に接続されたカウンタ３１と、カウンタ３１のクロ
ック入力に切替スイッチ２９のメーク接点を介して出力
側が接続されたクロックパルス発生器４７とで構成され
、これらのうち、カウンタ３１と、切替スイッチ２９．
３３とはパルスカウンタ１１と共用されている。なお、
切替スイッチ３３のブレーク接点側は＋■の電圧に接続
されている。

切替器１７は、演算増幅器３７の出力信号が一方の入力
に供給され、他方の入力に供給されている基準電圧Ｖ＋
αと比較するコンパレータ４９と、このコンパレータ４
９の出力に接続された切替ロジック５１とから構成され
る。切替ロジック５１はコンパレータ４９の比較出力に
基づき、すなわち演算増幅器３７の出力電圧が基準電圧
Ｖ＋αより大きい場合には切替スイッチ２９．３３の切
替接点をメーク接点側に接続し、また演算増幅器３７の
出力電圧が基準電圧■＋α以下の場合に切替スイッチ２
９．３３の切替接点をブレーク接点側に接続するように
制御するとともに、カウンタ３１にリセット信号を供給
してカウンタ３１をリセットしたり、マルチプレクサ２
１にステータス信号を供給して転送動作を制御する。ま
た、切替ロジック５１にはシーケンサ２３からリセット
信号やスイッチ切替信号等が供給されている。また、シ
ーケンサ２３は、イニシャライズ信号が供給されるとと
もに、ＤＡＳヒジー信号を出力し、更にマルチプレクサ
２１にストローブ信号を供給している。

なお、第４図においては収集ユニット９ａのみが示され
ているが、第１図の場合と同様に収集ユニット９ｂも接
続されており、シーケンサ２３の制御のもとに収集ユニ
ット９ａおよび９ｂが交互に作動するようになっている
。

次に、第４図の作用を第５図を参照して説明する。

まず、最初の収集パルス１がシーケンサ２３に供給され
ると、シーケンサ２３の制御によりカウンタリセット信
号が切替゛ロジック５１を介してカウンタ３１に供給さ
れてカウンタ３１はリセットされ、またシーケンサ２３
からの各スイッチ切替信号によりブレーク接点７ａが閉
じ、メーク接点７ｂが開き、またスイッチ４３が開くと
ともに、切替スイッチ２９．３３はその切替接点がブレ
ーク接点側に切替わる。この結果、カウンタ３１のカウ
ントイネーブル端子には＋Ｖが供給され、カウンタ３１
は切替スイッチ２９を介してパルス整形器２７からの出
力パルスを計数開始する。また、演算増幅器３７はスイ
ッチ４３が開いたことにより積分回路を構成し、ブレー
ク接点７ａを介した増幅器５からの出力信号を積分開始
する。演算増幅器３７の出力電圧は第５図に示ずように
上昇する。

そして、次の収集パルス２が供給されると、シーケンサ
２３の制御によりブレーク接点７ａが開き、メーク接点
７ｂが閉じて、パルスカウンタ１１における計数動作お
よび積分器１３における積分動作は停止し、収集ユニッ
ト９ｂが計数および積分動作を開始するとともに、積分
器１３の演算増幅器３７の出力電圧は切替器１７のコン
パレータ４９で基準電圧■＋αと比較される。

この比較結果、演算増幅器３７の出力電圧が基準電圧■
＋αより大きい場合には、コンパレータ４９の出力信号
により切替ロジック５１が制御されて切替スイッチ２９
．３３の切替スイッチがブレーク接点側からメーク接点
側に切替わるとともに、カウンタ３１には切替ロジック
５１からリセット信号が供給されてカウンタ３１はリセ
ットされる。そして、切替スイッチ２９．３３がメーク
接点側に切替わることによりカウンタ３１のクロック入
力にはクロックパルス発生器４７からのクロックパルス
が供給されるとともに、カウンタ３１のカウントイネー
ブル端子にはコンパレータ４５の出力電圧が供給される
。また、この動作と同時にスイッチ４３が閉じて積分器
１３のコンデンサ３９に充電された積分電圧を抵抗４１
を介して＋Ｖ主電圧放電し始める。この結果、カウンタ
３１は、積分器１３のコンデンサ３９に充電された積分
電圧がコンパレータ４５に供給されている基準電圧■＋
ξ以下に低下するまでカウントイネーブル端子にコンパ
レータ４５からの高レベル出力電圧が供給されているた
め、クロックパルス発生器４７のクロックパルスを計数
し、この計数動作によりカウンタ３１は積分器１３に積
分された電圧をディジタル信号に変換しているのである
。このようにしてカウンタ３１に計数された信号はシー
ケンサ２３の制御により収集パルスの入力から一定時間
後にストローブ信号がろシーケンサ２３からマルチプレ
クサ２１に供給され、切替ロジック５１のステータス信
号とともにマルチプレクサ２１を介して転送される。転
送が完了すると、シーケンサ２３の制御によりカウンタ
３１はリセットされるとともに、スイッチ４３は開き、
切替スイッチ２９．３３はその切替接点がブレーク接点
側に切替えられ、次の計数および積分動作に備える。

また、前記切替器１７のコンパレータ４９における積分
器１３の積分出力電圧と基準電圧Ｖ＋αとの比較の結果
、積分器１３の積分電圧が基準電圧Ｖ＋α以下の場合に
は、例えば第５図において収集パルス３が供給された後
のように、切替ロジック５１は切替スイッチ２９．３３
を切替制御せず、カウンタ３１に計数された計数結果を
シーケンサ２３の制御によりマルチプレクサ２１を介し
て転送し、転送後にカウンタ３１をリセットし、更にス
イッチ４３を間き、切替スイッチ２９．３３はその切替
接点がブレーク接点側に切替えられ、次の計数および積
分動作に備える。

なお、シーケンサ２３は、収集パルスを受信すると、Ｄ
ＡＳビジー信号を出力し、上述した一連の動作を完了す
るまで収集パルスを受は付けなくなり、計数・積分動作
または転送動作を完了した時点でＤＡＳビジー信号の出
力を停止し、次の収集パルスを受は付けるように制御し
ている。

第６図は第１図または第４図に示した放射線測定装置を
適用した産業用ＣＴの構成図である。同図において、放
射線測定装置６１は回転テーブル５５の上に配設された
被検体５７にＸ線管５９からのＸ線を照射し、被検体５
７を貫通したＸ線を放射線測定装置６１で測定するよう
になっている。

被検体５７を載置した回転テーブル５５は一対のレール
６９ａ、６．９ｂの上を矢印７５で示す方向に並進駆動
機構７１で駆動されるボールねじ７３により移動し得る
ようになっているとともに、回転テーブル５５がその移
動の両端に到達した時には矢印７７で示す反時計方向に
所定角度回転させらるようになっている。Ｘ線管５９お
よび放射線測定装置６１はそれぞれ支持フレーム６７．
９４の上に取付けられ、これらの全体は基板９３の上に
配設されている。また、並進駆動機構７１にはエンコー
ダ７９が取付けられ、このエンコーダ７９からの信号は
機構制御部８１に供給され、これによって回転テーブル
５５の移動位置および回転位置がわかるようになってい
る。

放射線測定装置６１は、第１図および第４図のシンチレ
ータ１および光電子増倍管３からなる検出器６３と増幅
器５以降の部分からなるデータ収集部６５　（ＤＡＳ）
とから構成され、放射線測定装置６１で測定した放射線
データはＣＰＵ８３に供給され、ＣＰＵ８３から画像再
構成回路８９に供給されて被検体５７の断層像が再構成
されるとともに、ＣＲ７表示器９１に供給されて表示さ
れるようになっている。また、ＣＰＵ８３には制御コン
ソール８５が接続され、このコンソールを操作すること
によりＸ線制御器８７および機構制御部８１が制御され
、Ｘ線制ｍ器８７からＸ線管５９を駆動してＸ線を放射
し、機構制御部８１を介して放射線測定装置６１に収集
パルスを供給するようになっている。

以上のように構成されたＣＴにより被検体５７の断層像
を測定するには、被検体５７を載置した回転テーブル５
５をレール６９ａ　、６９ｂの右端まで移動して初期状
態に設定した後、制御コンソー／Ｌ、８５を操作シ、ｘ
ＩｉｌｔＩＩＪＩＩｌ器８７ヲ介シテＸＩＩＡ管５９を
駆動してＸ線を放射するとともに、機構制御部８１から
並進駆動機構７１を駆動して回転テーブル５５を回転さ
せることなく右側から左側へ向けて移動させる。この動
作に伴ってエンコーダ７９からパルス信号が収集パルス
として機構制御部８１を介して放射線測定装置６１のデ
ータ収集部（ＤＡＳ）に供給され、放射線測定装置！６
１は第１図および第４図で説明したように被検体５７を
貫通したＸ線管５９からのＸ線を測定してデータ収集を
行ない、この出力データはＣＰＵ８３に供給される。

回転テーブル５５は左端まで移動すると、Ｘ線ビームの
ファン角度に相当する角度矢印７７で示す方向に回転さ
せられ、再び右側に向かって移動しながらデータ収集さ
れる。このような動作を繰返して回転テーブル５５がほ
ぼ１８０°回転するまで繰返して行なうことにより被検
体５７のすべてのデータ収集が完了し、Ｘ線の照射も終
了し、放射線測定装置６１からＣＰＬＩ８３に供給され
た収集データは再編成回路８９に供給されて、被検体５
７の断層像が再編成され、この断層像がＣＲ７表示器９
１に表示される。

このように本発明の放射線測定装置を産業用０丁に適用
することにより広範囲の測定が可能となり、非常に有効
である。例えば、産業用ＣＴにおいては、４００ｋ　Ｖ
のＸ線管を用いて８００Ｉｌφの鉄の棒材を検査する場
合、Ｘ線強度は空気を通る場合と鉄を通る場合とで約４
桁もの強度差があるが、このように広い範囲に変化する
Ｘ線も本発明の放射線測定装置を用いることにより高精
度で測定することができる。

なお、上記ＣＴは第２世代方式のＣＴを示したが、これ
に限定されず、どのような形式のＣＴにも適用可能であ
るし、またＣＴに限らず、ラインセンサ等の装置、また
はパルス計数が可能などのような放射線測定装置にも適
用可能である。

上記実施例において、例えば増幅器５または積分器１３
の利得の切替えを併用して更にダイナミックレンジを広
げることもできる。

また、上記実施例においては、１チヤンネルの検出器に
対して収集ユニットを２つ設けているが、収集ユニット
を１個にして１つの収集パルスの間で計数・積分動作、
ＡＤ変換動作、転送動作を順次または並行に行なうよう
にしてもよく、この場合にはパルスＸ線管のＸ線を検出
する場合に有効である。

更に、上記実施例においては、積分器１３の出力信号を
基準電圧と比較してパルスカウンタ１１の計数値を出力
するか積分器１３の積分値を出力するかの選択を行なっ
ているが、パルスカウンタ１１の計数値を基準値と比較
して選択制御を行なってもよい。

また更に、パルスカウンタ１１の出力を使用づ゛るかま
た積分器１３の出力を使用するかの選択はＣＰＵで行な
い、ＣＰＵに画情報を転送するようにしてもよいこと勿
論である。

［発明の効果］ 以上説明したように、この発明によれば、放射線検出器
の出力信号を計数手段で計数するとともに、積分手段で
積分し、選択手段により計数手段の出力信号または積分
手段の出力信号を選択して出力しているので、放射線ｍ
が少ない場合には計数手段からの出力信号を使用し、放
射線Ｍが多い　　２場合には積分手段の出力信号を使用
することにより広範囲にわたって粘度よく測定すること
ができ、ダイナミックレンジを極めて大きくすることが
できるとともに、リニアリティもよくなり、温度変化に
対しても安定に作動し得る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す放射線測定装置のブ
ロック図、第２図は第１図の装置の作用を示す波形図、
第３図は第１図の装置に使用される放射線検出器の出力
信号の波形図、第４図はこの発明の他の実施例を示す放
射線測定装置の要部のブロック図、第５図は第４図の装
置の動作を示す波形図、第６図はこの発明の放射線測定
装置を適用した産業用ＣＴの構成図である。 １・・・シンチレータ、　　３・・・光電子増倍管、９
ａ　、９ｂ・・・収集ユニット、 １１・・・パルスカウンタ、　　１３・・・積分器、１
５・・・ＡＤ変換器、　　１７・・・切替器１９・・・
切替スイッチ、　２１・・・マルチプレクサ、３・・・
シーケンサ、 第１図 ｑ２ 第２図 第３図 第６図 手続補正書く自発） 昭和６０年１０月ｊｒＴ日 特許庁長官　　宇　賀　　道　部　殿 １、事件の表示　　　昭和６０年　特許願第６７１０２
号２、発明の名称　　　放射線測定装置 ３、補正をする者 事件との関係　特許出願人 住所（居所）　神奈川県用崎市幸区堀用町７２番地氏名
（名称＞　　　（３０７）　　株式会社　東　　芝５°
：代表者　佐　波　　正　− ４、代理人 住　所　　　　〒１０５東京都港区虎ノ門１丁目２番３
号虎ノ門第１ビル５階 ７、補正の内容 ０）　明ｌＩＩ書第９頁第１６行目に 「をラッチした・・・・・・・・・」 とあるのを、 ゛　「をホールドした・・・・・・・・・」と補正する
。 （２）明１８書第１３頁第１０行目に （３）明１硼第１４頁＠２行目に、 「・・・・・・・・・基準電圧Ｖ＝−ξと比較する・・
・・・・・・・」とあるのを、 （４）明細書第１４頁第１５行目に ［る基準電圧Ｖ＋αと比較する・・・・・・・・・」と
あるのを、 と補正する。 （５）明細書第１４頁第１９行目に、 「・・・・・・基準電圧Ｖ＋αよ」 とあるのを、 「・・・・・・基準電圧−Ｖ＋αよ」 と補正する。 （６）　　明細書第１５頁第２行目に 「・・・・・・Ｍ準電圧Ｖ＋α以下の・・・・・・」と
あるのを、 と補正する。 とあるのを、 （８）　　明細書第１７頁第５行目に 「・・・・・・基準電圧■＋αと比較される。」とある
のを、 （９）　　明細書第１７頁第７行目に ［準電圧■＋αより・・・・・弓 とあるのを、 「準電圧−Ｖ＋αより・・・・匂 と補正する。 ＜１０）　　明細書第１８頁第１行目にとあるのを、 と補正する。 とあるのを、 ［・・・・・・・・・基準電圧■十α」とあるのを、 「・・・・・・・・・基準電圧−Ｖ十α」と補正する。 ■　明細書第１９頁第４行目に ［圧■＋α以下の・・・・・・・・・」とあるのを、 ［圧−■＋α以下の・・・・・・・・・」と補正する。 とあるのを、 ［次の計数動作に備える。」 と補正する。 （１７）明細書第１４頁第１６行目に ［なり、転送動作を・・・・・・・・・」と補正する。 ■　図面の第４図を別紙のように補正する。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）放射線を検出する放射線検出器と、前記放射線検
   出器の出力信号を計数する計数手段と、前記放射線検出
   器の出力信号を積分する積分手段と、前記計数手段の出
   力信号または前記積分手段の出力信号のいずれかを選択
   して出力する選択手段とを有することを特徴とする放射
   線測定装置。
2. （２）前記選択手段は、前記積分手段の出力信号を選択
   して出力するときには、前記積分手段の出力信号である
   積分値に応じたパルス数を有する所定タイミングのパル
   ス信号を出力するパルス発生手段と、該パルス発生手段
   の出力パルスを前記計数手段で計数させるべく計数手段
   に供給する供給手段とを有することを特徴とする特許請
   求の範囲第１項記載の放射線測定装置。
3. （３）前記選択手段は、前記積分手段の出力信号が所定
   の値以上のとき、積分手段の出力信号を出力し、積分手
   段の出力信号が所定の値未満のとき、前記計数手段の出
   力信号を出力するように選択制御する制御手段を有する
   ことを特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記
   載の放射線測定装置。