JPS6122673A - アバランシエホトダイオ−ド用バイアス電圧印加装置 - Google Patents

アバランシエホトダイオ−ド用バイアス電圧印加装置

Info

Publication number
JPS6122673A
JPS6122673A JP59142804A JP14280484A JPS6122673A JP S6122673 A JPS6122673 A JP S6122673A JP 59142804 A JP59142804 A JP 59142804A JP 14280484 A JP14280484 A JP 14280484A JP S6122673 A JPS6122673 A JP S6122673A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bias
light
apd
voltage
bias voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59142804A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Furukawa
裕之 古川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP59142804A priority Critical patent/JPS6122673A/ja
Publication of JPS6122673A publication Critical patent/JPS6122673A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F77/00Constructional details of devices covered by this subclass
    • H10F77/95Circuit arrangements
    • H10F77/953Circuit arrangements for devices having potential barriers
    • H10F77/959Circuit arrangements for devices having potential barriers for devices working in avalanche mode

Landscapes

  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「発明の技術分野〕 この発明は、!境温度変化にかかわらず、常に一定の感
度でアバランシェホトダイオード(以下APDという)
を動作させるバイアス電圧印加装置に関するものである
〔従来技術〕
APDの感度R8は、印加するバイアス電圧VBの増大
とともに、第1図に示すように増大し、温度T1では、
バイアス電圧VBが ブレークダウン電圧vBD1の直
前で感度R8はきわめて大となるが。
バイアス電圧VBがブレークダウン電圧vBD1以上で
はAPDはブレークダウンをおこし、著しい雑音を発生
する。
環境温度がT1より大きい値T2になると、ブレークダ
ウンが生じるバイアス電圧はブレークダウン電圧VBp
1より大きい値VBD2となり、また、環境温度がT1
より小さい値T3になると、ブレークダウンが生じるバ
イアス電圧は、vBDlより小さい値vBD3となる。
従って、一定の高感度を得るためには、温度T2におい
ては、温度T1の場合に比し、バイアス電圧を増大させ
ることが必要であり、また温度T3  では、バイアス
電圧を減少させることが必要となる。
このため、従来は、(4APDを等温度に加熱維持し、
その温度におけるブレークダウン直前のバイアス電圧を
印加する。←)ブレークダウンが生じるときにAPDが
発生する雑音を検出し、バイアス電圧をブレークダウン
が生じる直前の値に設定しなおす。等の方法がとられて
いた。
しかるに(へ)の方法では、ヒータ等のAPD加熱機構
や温度検出機構が必要であり、(すでは雑音検出機構や
バイアス電圧再設定機構が必要となるなど、装置の小型
化の障害となる欠点があった。
〔発明の概要〕
この発明は、かかる欠点を改善する目的でなされたもの
で、簡単な構成による自己バイアス法により、温度の変
化にかかわらず常に一定の高感度でAPDを動作させる
APD用バイアス電圧印加装置を提供するものである。
〔発明の実施例〕
第2図はこの発明の一実施例を示す図であり。
(1)は信号光、(2)はAPD、+31はAPD受光
面、(4)は発光ダイオード、(5)は差動増巾器、(
6)はバイアス光、(7)はバイアス用抵抗、(8)は
出力用抵抗、(9)はバイアス電源、 +1(lは結合
コンデンサ、aIlは出力信号である。
信号光+11は光学系でA P D +21の受光面(
3)に集光されている。一方、APD(2)が十分な分
光感度を有する波長帯に発光スペクトルをもつ発光ダイ
オード(4)が信号光(11をさえぎらない位置に置か
れており、これはバイアス用抵抗(7)の両端の電位差
を増巾する差動増巾器(5)の出力で点灯され、バイア
ス光(6)をAPD受光面(3)に与えている。
A P D +21には、バイアス用抵抗(7)および
出力用抵抗(8)を介して、使用環境温度範囲における
ブレークダウン電圧の最大値よりも大きい端子間電圧を
もつバイアス電源(9)からバイアス電圧が印加されて
おり、結合コンデンサ(L(Iを通して光電変換された
出力信号(111がとりだされる。
A P D +21で受光されるバイアス光電力をPB
(6)。
APD感度をR8(A/W〕とすると、バイアス光によ
る光電流IB(A)は。
IB=FB−R8・・・・・・・・・・川・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・ +11となる。バイア
ス用抵抗(7)の抵抗値をr〔Ω〕、バイアス光電力P
Bと差動アンプ(5)の差動入力電圧Vn (V)との
比をK [w/v]とすレバ。
FB ” K ” VD −に′r′殉 =l(Hr−PB −TLB   ・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・ (2)よって、   Rs
”77F  ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・(31すなわち、APDの感度R8は、第1
図に示すような感度曲線に全く無関係に一定値1/(K
−r)になる。
〔発明の効果〕
上記のように、この発明によれば、差動増巾器と発光ダ
イオードのみを用いて容易にAPDを環境温度にかかわ
りなく一定の高感度で使用することができるので、装置
の性能向上と小型化に大きく寄与することになる。
なお上記実施例ではバイアス用抵抗(7)と出力用抵抗
(8)を別々に設けであるが、場合により、ノ(イアス
用抵抗(7)を削除し、出力用抵抗(8)をノくイアス
用と出力用に共用することも可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図はAPDの感度とバイアス電圧の関係を示す図、
第2図はこの発明の一実施例を示す図であって、(1)
は信号光、(21はAPD、+31はAPD受光面、(
4)は発光ダイオード、(5)は差動増巾器、(6)は
バイアス光、(7)はバイアス用抵抗、(9)はバイア
ス電源である。 なお9図中同一あるいは相当部分には同一符号を付して
示しである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  アバランシエホトダイオードにバイアス電圧をバイア
    ス用抵抗を介して印加する手段と、上記バイアス用抵抗
    の端子間電圧に比例した光電力を上記アバランシエホト
    ダイオードに照射する発光手段とを備えたことを特徴と
    するアバランシエホトダイオード用バイアス電圧印加装
    置。
JP59142804A 1984-07-10 1984-07-10 アバランシエホトダイオ−ド用バイアス電圧印加装置 Pending JPS6122673A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59142804A JPS6122673A (ja) 1984-07-10 1984-07-10 アバランシエホトダイオ−ド用バイアス電圧印加装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59142804A JPS6122673A (ja) 1984-07-10 1984-07-10 アバランシエホトダイオ−ド用バイアス電圧印加装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6122673A true JPS6122673A (ja) 1986-01-31

Family

ID=15324021

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59142804A Pending JPS6122673A (ja) 1984-07-10 1984-07-10 アバランシエホトダイオ−ド用バイアス電圧印加装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6122673A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0219435U (ja) * 1988-07-26 1990-02-08

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0219435U (ja) * 1988-07-26 1990-02-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7282692B2 (en) Light receiving method of an avalanche photodiode and a bias control circuit of the same
SE420130B (sv) Optiskt metdon for metning av kraft eller tryck
JPH0548964B2 (ja)
JP2574780B2 (ja) 反射型光電スイッチ
JPH0518822A (ja) 拡張したダイナミツクレンジを有する光電気変換装置
JP4276119B2 (ja) 低ノイズ光受信機
US7939790B1 (en) Method and apparatus for controlling the gain of an avalanche photodiode with fluctuations in temperature
WO2019047923A1 (zh) 光功率检测装置和设备
US6168419B1 (en) Flame monitor
JPS6122673A (ja) アバランシエホトダイオ−ド用バイアス電圧印加装置
GB2244175A (en) Radiation sensor
JP2694803B2 (ja) 光半導体レーザ装置の波長安定化方式
JPS5928389A (ja) 光受信回路
JPS6365325A (ja) 光量検出回路
JPS58176713A (ja) アバランシエホトダイオ−ド用バイアス電圧印加装置
JPS62282474A (ja) 半導体レ−ザ装置
JP2841743B2 (ja) 光センサ用発受光回路
JP2646827B2 (ja) 光出力安定化回路
JPS6365326A (ja) 光量検出回路
JPH06129917A (ja) 光学式温度測定装置
JPH0326331B2 (ja)
JPS61206303A (ja) 光検出回路
KR20240131158A (ko) 적외선 감지기
JP2003133564A (ja) 受光装置及び受光方法
JPS61161040A (ja) 光増幅装置