JPS61235560A - マグネトロンスパツタ装置 - Google Patents
マグネトロンスパツタ装置Info
- Publication number
- JPS61235560A JPS61235560A JP7790785A JP7790785A JPS61235560A JP S61235560 A JPS61235560 A JP S61235560A JP 7790785 A JP7790785 A JP 7790785A JP 7790785 A JP7790785 A JP 7790785A JP S61235560 A JPS61235560 A JP S61235560A
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- Japan
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- target
- substrate
- magnet
- sputtering
- magnetron sputtering
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
反応性マグネトロンスパッタ法により基板上に薄膜を形
成するマグネトロンスパッタ装置において、基板と対向
配置されたにターゲットに対して、そのターゲット支持
体に内蔵されたマグネットを接近した状態で、該ターゲ
ツト面と平行する方向に移動可能に設置して、成膜に際
しては前記マグネットを適当な周期で水平方向に反復移
動させて、該ターゲツト面に対する磁界付与領域を部分
的に変化させ、ターゲットの非スパツタ領域面への膜欠
陥発生の原因になる反応物の堆積を防止し、良品質なI
l膜を得るようにしたものである。
成するマグネトロンスパッタ装置において、基板と対向
配置されたにターゲットに対して、そのターゲット支持
体に内蔵されたマグネットを接近した状態で、該ターゲ
ツト面と平行する方向に移動可能に設置して、成膜に際
しては前記マグネットを適当な周期で水平方向に反復移
動させて、該ターゲツト面に対する磁界付与領域を部分
的に変化させ、ターゲットの非スパツタ領域面への膜欠
陥発生の原因になる反応物の堆積を防止し、良品質なI
l膜を得るようにしたものである。
本発明は各種磁気記録媒体や半導体集積回路素子等の製
造に用いられるマグネトロンスパッタ装置の改良に係り
、特に反応性マグネトロンスバンタ法により基板上に1
t11を形成する際に、ターゲット表面の非スパツタ部
分に付着された反応物である堆積物が、基板上に飛散付
着して膜欠陥が生じることを防止したターゲット支持体
の構造に関するものである。
造に用いられるマグネトロンスパッタ装置の改良に係り
、特に反応性マグネトロンスバンタ法により基板上に1
t11を形成する際に、ターゲット表面の非スパツタ部
分に付着された反応物である堆積物が、基板上に飛散付
着して膜欠陥が生じることを防止したターゲット支持体
の構造に関するものである。
マグネトロンスパッタ装置は、アルゴン(Ar)ガスな
どの不活性ガス及び酸素(02)ガス等からなる反応性
ガス雰囲気中に対向配置された薄膜を形成すべき基板側
電極と、裏面側にマグネ7トを具備した平板状のターゲ
ット間に高電圧を印加して、発生したプラズマ状のスパ
ッタガスイオンを前記マグネットによる磁界で集束して
、密度の高いプラズマにより励起されたAr粒子により
ターゲットをスパッタさせて前記基板上に大きな成膜堆
積速度で!膜形成を行うものである。
どの不活性ガス及び酸素(02)ガス等からなる反応性
ガス雰囲気中に対向配置された薄膜を形成すべき基板側
電極と、裏面側にマグネ7トを具備した平板状のターゲ
ット間に高電圧を印加して、発生したプラズマ状のスパ
ッタガスイオンを前記マグネットによる磁界で集束して
、密度の高いプラズマにより励起されたAr粒子により
ターゲットをスパッタさせて前記基板上に大きな成膜堆
積速度で!膜形成を行うものである。
このようにマグネトロンスパッタ装置での成膜堆積速度
が、従来から用いられている各種蒸着装置や一般的なス
パッタ装置等の堆積速度に比べて速く、基板温度の上昇
が防止されることから、近来、各種磁気記録媒体や半導
体集積回路素子等の製造用の薄膜形成装置として広く採
用されている。
が、従来から用いられている各種蒸着装置や一般的なス
パッタ装置等の堆積速度に比べて速く、基板温度の上昇
が防止されることから、近来、各種磁気記録媒体や半導
体集積回路素子等の製造用の薄膜形成装置として広く採
用されている。
しかし、上記装置によって基板上に反応性スパッタ法に
より薄膜を形成する場合、前記マグネットによるターゲ
ット表面の強磁界領域でスパッタがなされ、それ以外の
領域ではスパッタがなされず、しかも逆に反応スパッタ
物質が堆積され、この堆積物が剥離飛散して基板上に異
物として付着し、これが生成薄膜の欠陥となるといった
問題があり、このような問題を解消することが要望され
ている。
より薄膜を形成する場合、前記マグネットによるターゲ
ット表面の強磁界領域でスパッタがなされ、それ以外の
領域ではスパッタがなされず、しかも逆に反応スパッタ
物質が堆積され、この堆積物が剥離飛散して基板上に異
物として付着し、これが生成薄膜の欠陥となるといった
問題があり、このような問題を解消することが要望され
ている。
第2図は従来のマグネトロンスパッタ装置を示す要部断
面図であり、排気装置2が付設された真空容器1内に、
ターゲット3が支持され、かつヨークによって磁気的に
結合された円環状マグネットと中心円柱状マグネットか
らなるマグネット4が内蔵されたターゲット支持体5と
、これに対向して薄膜を形成すべき基板6を支持した基
板支持体7が回転機構8により回動可能に配置されてい
る。9はシャッタである。
面図であり、排気装置2が付設された真空容器1内に、
ターゲット3が支持され、かつヨークによって磁気的に
結合された円環状マグネットと中心円柱状マグネットか
らなるマグネット4が内蔵されたターゲット支持体5と
、これに対向して薄膜を形成すべき基板6を支持した基
板支持体7が回転機構8により回動可能に配置されてい
る。9はシャッタである。
このような装置を用いて基板支持体7上に支持された基
板6表面に薄膜を形成するには、前記真空容器1内をア
ルゴン(Ar)ガスなどのガス雰囲気にした状態で、基
板支持体7とターゲット3間に高電圧電源10により所
定電圧を印加すると共に、シャッタ9をターゲット3上
より開ける。
板6表面に薄膜を形成するには、前記真空容器1内をア
ルゴン(Ar)ガスなどのガス雰囲気にした状態で、基
板支持体7とターゲット3間に高電圧電源10により所
定電圧を印加すると共に、シャッタ9をターゲット3上
より開ける。
この時、発生したプラズマ状のスパッタガスイオンは、
前記マグネット4によりターゲット3表面に円弧状に発
生される磁界によって集束され、密度の高いプラズマに
より励起されたスパッタガスイオンが該ターゲット3に
衝突することによりその表面よりスパッタ物質がスパッ
タされて前記基板6上に大きな成膜堆積速度で薄膜を形
成している。
前記マグネット4によりターゲット3表面に円弧状に発
生される磁界によって集束され、密度の高いプラズマに
より励起されたスパッタガスイオンが該ターゲット3に
衝突することによりその表面よりスパッタ物質がスパッ
タされて前記基板6上に大きな成膜堆積速度で薄膜を形
成している。
ところでこのようなマグネトロンスパッタ装置において
は、前記マグネット4により第3図に示すようにターゲ
ット3の表面上に発生される円弧状の磁界分布21によ
って集束され、高密度化されたプラズマ状のスパッタガ
スイオンが選択的にターゲット3の強磁界領域22に衝
突してスパッタされることから、その領域22が削られ
た状態に浸食され、その他の領域は殆どスパッタがなさ
れないで不機能領域23となっている。
は、前記マグネット4により第3図に示すようにターゲ
ット3の表面上に発生される円弧状の磁界分布21によ
って集束され、高密度化されたプラズマ状のスパッタガ
スイオンが選択的にターゲット3の強磁界領域22に衝
突してスパッタされることから、その領域22が削られ
た状態に浸食され、その他の領域は殆どスパッタがなさ
れないで不機能領域23となっている。
ところが上記の如きスパッタ装置により基板6上に反応
性スパッタ法によって薄膜を被着形成する場合、スパッ
タされたターゲット物質の大部分は基板6に被着される
が、その一部の反応スパッタ粒子はプラズマ中のガスイ
オンと衝突してターゲット3の前記不機能領域23に被
着し、反応物が堆積する現象がある。
性スパッタ法によって薄膜を被着形成する場合、スパッ
タされたターゲット物質の大部分は基板6に被着される
が、その一部の反応スパッタ粒子はプラズマ中のガスイ
オンと衝突してターゲット3の前記不機能領域23に被
着し、反応物が堆積する現象がある。
そしてこの場合、上記堆積物は付着力が不安定であるの
みならず、一般に高抵抗であるがために次第に帯電して
いって、更には異常放電等を起こして剥離し、第4図に
示すように粗大粒子31となって飛散して基板6の生成
膜32に付着して膜面に突起欠陥を形成する。
みならず、一般に高抵抗であるがために次第に帯電して
いって、更には異常放電等を起こして剥離し、第4図に
示すように粗大粒子31となって飛散して基板6の生成
膜32に付着して膜面に突起欠陥を形成する。
また上記粗大粒子31は生成膜32に対する付着力が弱
く、当該スパッタ工程後の諸工程中に剥離し易く、ピン
ホール欠陥が生じる等の欠点があった。
く、当該スパッタ工程後の諸工程中に剥離し易く、ピン
ホール欠陥が生じる等の欠点があった。
本発明は上記のような問題点に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、ターゲ・7ト3に磁界を付与
するマグネット4を簡単な移動機構により水平に移動操
作しながらスパッタリングを行って、ターゲット3の前
記不機能領域23に堆積物が被着することを防止して、
膜欠陥のない薄膜形成を可能とした新規なマグネトロン
スパッタ装置を提供することにある。
その目的とするところは、ターゲ・7ト3に磁界を付与
するマグネット4を簡単な移動機構により水平に移動操
作しながらスパッタリングを行って、ターゲット3の前
記不機能領域23に堆積物が被着することを防止して、
膜欠陥のない薄膜形成を可能とした新規なマグネトロン
スパッタ装置を提供することにある。
本発明は上記目的を達成するため、第1図に示すように
、真空容器1内の基板6を支持した基板支持体7と対向
するターゲット3に対してターゲ−/ ト支持体5に内
蔵したマグネット4を、水平移動機構41により平行す
る方何に移動可能に設けて、該ターゲット3面に対する
磁界付与領域を可変制御するように構成されている。
、真空容器1内の基板6を支持した基板支持体7と対向
するターゲット3に対してターゲ−/ ト支持体5に内
蔵したマグネット4を、水平移動機構41により平行す
る方何に移動可能に設けて、該ターゲット3面に対する
磁界付与領域を可変制御するように構成されている。
このような装置構成においては、反応性反バ。
り法による成膜時に、ターゲット支持体5に内蔵された
マグネット4を水平移動機構41によりターゲット3面
に平行して例えば左右方向に一定周期で反復移動させる
ことにより、ターゲット3面に対する磁界付与領域を移
動させ、この周期間に形成される不機能領域に被着され
る非常に微量な反゛応堆積物を、微量なうちに順次スパ
ッタさせて膜欠陥のない薄膜を得ることを可能にしてい
る。
マグネット4を水平移動機構41によりターゲット3面
に平行して例えば左右方向に一定周期で反復移動させる
ことにより、ターゲット3面に対する磁界付与領域を移
動させ、この周期間に形成される不機能領域に被着され
る非常に微量な反゛応堆積物を、微量なうちに順次スパ
ッタさせて膜欠陥のない薄膜を得ることを可能にしてい
る。
以下図面を用いて本発明の実施例について詳細に説明す
る。
る。
第1図は本発明に係るマグネトロンスパッタ装置の一実
施例を示す要部断面図である。
施例を示す要部断面図である。
図において、lは排気装置2が付設された真空容器であ
り、該真空容器1内に薄膜を形成すべき基板6を支持し
た基板支持体7が回転機構8により回動可能に配置され
、これに対向してターゲット3が支持され、かつヨーク
により磁気的に結合された円環状マグネットと中心円柱
状マグネットからなるマグネット4が内蔵されたターゲ
ット支持体5が配置されている。
り、該真空容器1内に薄膜を形成すべき基板6を支持し
た基板支持体7が回転機構8により回動可能に配置され
、これに対向してターゲット3が支持され、かつヨーク
により磁気的に結合された円環状マグネットと中心円柱
状マグネットからなるマグネット4が内蔵されたターゲ
ット支持体5が配置されている。
また上記ターゲット支持体5に内蔵された前記マグネッ
ト4は、水平移動機構41によりターゲット3面に対し
て平行する方向に移動可能に設置され、該ターゲット3
面に対する磁界付与領域を可変制御するように構成され
ている。
ト4は、水平移動機構41によりターゲット3面に対し
て平行する方向に移動可能に設置され、該ターゲット3
面に対する磁界付与領域を可変制御するように構成され
ている。
さて、このような装置を用いて基板支持体7上の基板6
表面に反応性スパッタ法により薄膜を形成するには、先
ず前記真空蓉器1内を10−’ torr程度の真空度
に排気装置2により排気した後、その真空容器1内にア
ルゴン(Ar)ガスと酸素(02)ガスを所定容積比で
混合されたスパッタ用ガスを導入する。
表面に反応性スパッタ法により薄膜を形成するには、先
ず前記真空蓉器1内を10−’ torr程度の真空度
に排気装置2により排気した後、その真空容器1内にア
ルゴン(Ar)ガスと酸素(02)ガスを所定容積比で
混合されたスパッタ用ガスを導入する。
次に基板6を支持した基板支持体7を回転機構8により
回転し、ターゲット3に対して前記マグネット4を、図
示のような水平移動機構41(この図例に限定されない
)により矢印Aの方向に一定周期で反復移動させた状態
で、更にシャッタ9を開けて、基板6とターゲット3間
に電源10により所定高電圧を印加する。
回転し、ターゲット3に対して前記マグネット4を、図
示のような水平移動機構41(この図例に限定されない
)により矢印Aの方向に一定周期で反復移動させた状態
で、更にシャッタ9を開けて、基板6とターゲット3間
に電源10により所定高電圧を印加する。
この時、前記一定周期で反復移動するマグネット4によ
りターゲット3面に対する磁界付与領域も移動し、この
磁界によって発生したプラズマ状のスバフタガスイオン
が集束され、密度の高いプラズマにより励起されたスバ
フタガスイオンが該ターゲット3に衝突してスパッタさ
れるが、同時に周期間に移動形成される不機能領域(非
スパツタ領域)に被着される非常に微量な反応堆積物も
順次スパッタされて、従来のような堆積粗大粒子の飛散
現象がなくなる。
りターゲット3面に対する磁界付与領域も移動し、この
磁界によって発生したプラズマ状のスバフタガスイオン
が集束され、密度の高いプラズマにより励起されたスバ
フタガスイオンが該ターゲット3に衝突してスパッタさ
れるが、同時に周期間に移動形成される不機能領域(非
スパツタ領域)に被着される非常に微量な反応堆積物も
順次スパッタされて、従来のような堆積粗大粒子の飛散
現象がなくなる。
その結果、前記基板6上に欠陥のない良品質の薄膜を高
速に形成することが可能となる。
速に形成することが可能となる。
以上の説明から明らかなように、本発明に係るマグネト
ロンスパッタ装置によれば、ターゲット表面の不機能領
域(非スパツタ領域)に被着された不要な反応堆積物が
、厚く堆積されないうちにスパッタにより除去されて基
板上の生成膜に対する堆積粗大粒子の飛散がなくなり、
従来の如き異物突起やピンホール等の膜欠陥のない良品
質の薄膜を容易に得ることが可能となる。
ロンスパッタ装置によれば、ターゲット表面の不機能領
域(非スパツタ領域)に被着された不要な反応堆積物が
、厚く堆積されないうちにスパッタにより除去されて基
板上の生成膜に対する堆積粗大粒子の飛散がなくなり、
従来の如き異物突起やピンホール等の膜欠陥のない良品
質の薄膜を容易に得ることが可能となる。
従って、磁気記録媒体の製造、或いは半導体集積回路素
子等の製造に通用して優れた効果を奏する。
子等の製造に通用して優れた効果を奏する。
第1図は本発明に係るマグネトロンスパッタ装置の一実
施例を示す要部断面図、 第2図は従来のマグネトロンスパッタ装置を説明するた
めの要部断面図、 第3図は従来のマグネトロンスパッタ装置におけるター
ゲットの表面現象を説明する ための斜視図、 第4図は従来のマグネトロンスパッタ装置によって形成
された薄膜の状態を説明する ための要部断面図である。 第1図において、 1は真空容器、3はターゲット、4はマグネット、5は
ターゲット支持体、6は基板、7は基板支持体、41は
水平移動機4糺絶例を計叫わ裟1講戎°訝命図 III 図 eL#PJGN15146Net[1 82図
施例を示す要部断面図、 第2図は従来のマグネトロンスパッタ装置を説明するた
めの要部断面図、 第3図は従来のマグネトロンスパッタ装置におけるター
ゲットの表面現象を説明する ための斜視図、 第4図は従来のマグネトロンスパッタ装置によって形成
された薄膜の状態を説明する ための要部断面図である。 第1図において、 1は真空容器、3はターゲット、4はマグネット、5は
ターゲット支持体、6は基板、7は基板支持体、41は
水平移動機4糺絶例を計叫わ裟1講戎°訝命図 III 図 eL#PJGN15146Net[1 82図
Claims (1)
- 真空容器(1)内に、ターゲット(3)を支持し、かつ
マグネット(4)が内蔵されたターゲット支持体(7)
と、これに対向して薄膜を形成すべき基板(6)を支持
した基板支持体(7)が配置され、該真空容器(1)内
をスパッタ用ガス雰囲気にした状態で該基板(6)上に
ターゲット(3)物質をスパッタリングにより被着形成
する装置構成において、上記マグネット(4)をターゲ
ット(3)に接近した状態で、該ターゲット(3)面と
平行する方向に移動可能に設けてターゲット(3)面に
対する磁界付与領域を部分的に変化させるようにしたこ
とを特徴とするマグネトロンスパッタ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7790785A JPS61235560A (ja) | 1985-04-11 | 1985-04-11 | マグネトロンスパツタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7790785A JPS61235560A (ja) | 1985-04-11 | 1985-04-11 | マグネトロンスパツタ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61235560A true JPS61235560A (ja) | 1986-10-20 |
Family
ID=13647140
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7790785A Pending JPS61235560A (ja) | 1985-04-11 | 1985-04-11 | マグネトロンスパツタ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61235560A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62273733A (ja) * | 1986-05-21 | 1987-11-27 | Anelva Corp | バイアススパツタ装置 |
| US5427665A (en) * | 1990-07-11 | 1995-06-27 | Leybold Aktiengesellschaft | Process and apparatus for reactive coating of a substrate |
| WO2004027740A1 (en) * | 2002-09-20 | 2004-04-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method thereof |
| US7094684B2 (en) | 2002-09-20 | 2006-08-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method of semiconductor device |
| KR100659085B1 (ko) | 2005-01-06 | 2006-12-21 | 삼성에스디아이 주식회사 | 스퍼터링용 타겟 장치, 및 이를 구비한 스퍼터링 장치,상기 스퍼터링 장치를 이용한 스퍼터링 방법, 유기 박막트랜지스터의 제조방법, 및 유기 전계 발광 표시장치의제조방법 |
| US7223322B2 (en) * | 2002-07-22 | 2007-05-29 | Angstrom Sciences, Inc. | Moving magnetic/cathode arrangement and method |
| JP2007138275A (ja) * | 2005-11-22 | 2007-06-07 | Canon Anelva Corp | スパッタリング方法及びスパッタリング装置 |
| KR101053054B1 (ko) * | 2008-12-23 | 2011-08-01 | 주식회사 테스 | 마그네트론 스퍼터링 장치 |
-
1985
- 1985-04-11 JP JP7790785A patent/JPS61235560A/ja active Pending
Cited By (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS62273733A (ja) * | 1986-05-21 | 1987-11-27 | Anelva Corp | バイアススパツタ装置 |
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| US10090373B2 (en) | 2002-09-20 | 2018-10-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method thereof |
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| US9847386B2 (en) | 2002-09-20 | 2017-12-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method thereof |
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| US7781772B2 (en) | 2002-09-20 | 2010-08-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method thereof |
| US7897973B2 (en) | 2002-09-20 | 2011-03-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method thereof |
| US9622345B2 (en) | 2002-09-20 | 2017-04-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method thereof |
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| US8749061B2 (en) | 2002-09-20 | 2014-06-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method thereof |
| US9082768B2 (en) | 2002-09-20 | 2015-07-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method thereof |
| KR100659085B1 (ko) | 2005-01-06 | 2006-12-21 | 삼성에스디아이 주식회사 | 스퍼터링용 타겟 장치, 및 이를 구비한 스퍼터링 장치,상기 스퍼터링 장치를 이용한 스퍼터링 방법, 유기 박막트랜지스터의 제조방법, 및 유기 전계 발광 표시장치의제조방법 |
| JP2007138275A (ja) * | 2005-11-22 | 2007-06-07 | Canon Anelva Corp | スパッタリング方法及びスパッタリング装置 |
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