JPS61246677A - 位相差故障検知器 - Google Patents
位相差故障検知器Info
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- JPS61246677A JPS61246677A JP61056026A JP5602686A JPS61246677A JP S61246677 A JPS61246677 A JP S61246677A JP 61056026 A JP61056026 A JP 61056026A JP 5602686 A JP5602686 A JP 5602686A JP S61246677 A JPS61246677 A JP S61246677A
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- Japan
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- input
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- logic output
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- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 claims abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 3
- XGZVUEUWXADBQD-UHFFFAOYSA-L lithium carbonate Chemical compound [Li+].[Li+].[O-]C([O-])=O XGZVUEUWXADBQD-UHFFFAOYSA-L 0.000 abstract 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- -1 i.e. Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Control Of Resistance Heating (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
本発明は、導電性ポリマーデバイスに関し、詳しくはそ
のようなデバイスにおいて故障状態を検査および検知す
る装置および方法に関する。
のようなデバイスにおいて故障状態を検査および検知す
る装置および方法に関する。
［従来技術］
イ入
導電性ポリマー組成物およびそれを有する子バ△につい
て記載する文献には、例えば、以下のようなものが挙げ
られる。米国特許第２．９５２，７６１．２，９７８，
６６５．３，２４３，７５３．３゜３５１．８８２．３
，５７１，７７７．３，７５７゜０８６．３，７９３，
７１６．３，８２３，２１７．３．８５８，１４４．３
，８６１，０２９．３．９５０．６０４．４，０１７，
７１５．４，０７２，８４８．４，０８５，２８６．４
，１１７，３１２．４゜１７７．３７６．４，１７７．
４４６．４，１８８゜２７６、４，２３７，４４１，４
，２４２，５７３．４．２４６，４６８．４，２５０，
４００．４，２５２．６９２．４，２５５，６９８．４
，２７１，３５０．４，２７２，４７１．４，３０４，
９８７．４．３０９．５９６．４，３０９，５９７．４
，３１４゜２３０．４，３１４，２３１．４，３１５，
２３７．４．３１７，０２７．４，３１８．８８１１４
，３２７．３５ ＋１４，３３０，７０４．４，３３４
，３５１．４，３５２，０８３．４，３６１，７９９．
４゜３８８．６０７．４，３９８，０８４．４，４１３
゜３０１．４，４２５，３９７．４，４２６．３３９．
４．４２６，６３３．４，４２７，８７７．４，４３５
．６３９．４．４−２９，２１６．４，４４２，１３９
．４，４５９，４７３．４，４８１，４９８．４゜４７
６．４５０．４，５０２，９２９．４，５１４゜６２０
．４，５１７，４４９および４，５３４，８８９号：ク
ラソンおよびクーパブト（ＫｌａｓｏｎおよびＫ ｕｂ
ａｔ） 、ジャーナル・才ブ・アプライド・ポリマー・
サイエンス（Ｊ、Ａｐｐｌｉｅｄ Ｐｏｌｙｍｅｒ ５
ｃｉｅｎｃｅ）１９．８１３−８１５（＋ ９７５）；
ナルキス（Ｎａｒｋｉｓ）ら、ポリマー・エンジニアリ
ング・アンド・サイエンス（Ｐｏｌｙｍｅｒ Ｅｎｇｉ
ｎｅｅｒｉｎｇ ａｎｄＳｃｉｅｎｃｅ）１８，６４９
−６５３（１９７８）：西独間特許出願公開第１，６３
４，９９９号に対応する米国特許出願節６０１，４２４
号；西独間特許出願公開第２．７４６，６０２号に対応
する米国特許出願節７３２，７９２号；西独国特許出願
公開第２．８２１，７９９号に対応する米国特許出願節
７９８．１５４号；欧州特許出願公開第３８，７１８号
に対応する米国特許出願節１４１，９８４号、欧州特許
出願公開第３８，７１８号に対応する米国特許出願節１
４１，９８８号、欧州特許出願公開第３８，７１３号に
対応する米国特許出願節１４１．９８９号、欧州特許出
願公開第３８，７１４号に対応する米国特許出願節１４
１，９９１号、英国特許出願公開第２，０７６．１０６
Ａ号に対応する米国特許出願節１５０，９０９号、欧州
特許出願公開第６３，４４０号に対応する米国特許出願
節２５０，４９１号、欧州特許出願第７４，２８１号に
対応する米国特許出願節３００，７０９および４２３，
５８９号、米国特許出願２７４，０１０号、欧州特許出
願第９２，４０６号に対応する米国特許出願節３６９，
３０９号、欧州特許出願第１１９，８０７号に対応する
米国特許出願節６０６．０３３号、米国特許出願節４８
３，６３３号、欧州特許出願第８４，３０４，５０２．
２号に対応する米国特許出願節５９９，０４７号および
第５９８．０４８号、欧州特許出願第８４，３０５，５
８４．７号に対応する米国特許出願節５２４．４．８２
号、米国特許出願節５３４，９１３号、欧州特許出願第
８４，３０７，９８４．９号に対応する米国特許出願節
５Ｅ１２，６４９号、英国特許第１，４７０．５０２お
よび１，４７０，５０３号に対応する米国特許出願節９
０４，７３６号および米国特許出願節５７３，０９９号
、米国特許出願節６５０．９１８号、米国特許出願節６
５０，９２０号、米国特許出願節６６３，０１４号、第
７３５，４０８号、第６５０，９１９号、第６５０．９
２１号、第７１１，７９０号、第６６７．７９９号、第
７１１．９０８号、第６８７，１２０号、第６９１，２
９１号、第７１１，９０７号、第７１１，９０９号、第
７２０，１１８号、第７１１，９１０号、第７１６．７
８０号、第７３５，４０９号、第７４１，６５７号、第
７４４，１７０号、ならびに第７６４゜８９４号。
て記載する文献には、例えば、以下のようなものが挙げ
られる。米国特許第２．９５２，７６１．２，９７８，
６６５．３，２４３，７５３．３゜３５１．８８２．３
，５７１，７７７．３，７５７゜０８６．３，７９３，
７１６．３，８２３，２１７．３．８５８，１４４．３
，８６１，０２９．３．９５０．６０４．４，０１７，
７１５．４，０７２，８４８．４，０８５，２８６．４
，１１７，３１２．４゜１７７．３７６．４，１７７．
４４６．４，１８８゜２７６、４，２３７，４４１，４
，２４２，５７３．４．２４６，４６８．４，２５０，
４００．４，２５２．６９２．４，２５５，６９８．４
，２７１，３５０．４，２７２，４７１．４，３０４，
９８７．４．３０９．５９６．４，３０９，５９７．４
，３１４゜２３０．４，３１４，２３１．４，３１５，
２３７．４．３１７，０２７．４，３１８．８８１１４
，３２７．３５ ＋１４，３３０，７０４．４，３３４
，３５１．４，３５２，０８３．４，３６１，７９９．
４゜３８８．６０７．４，３９８，０８４．４，４１３
゜３０１．４，４２５，３９７．４，４２６．３３９．
４．４２６，６３３．４，４２７，８７７．４，４３５
．６３９．４．４−２９，２１６．４，４４２，１３９
．４，４５９，４７３．４，４８１，４９８．４゜４７
６．４５０．４，５０２，９２９．４，５１４゜６２０
．４，５１７，４４９および４，５３４，８８９号：ク
ラソンおよびクーパブト（ＫｌａｓｏｎおよびＫ ｕｂ
ａｔ） 、ジャーナル・才ブ・アプライド・ポリマー・
サイエンス（Ｊ、Ａｐｐｌｉｅｄ Ｐｏｌｙｍｅｒ ５
ｃｉｅｎｃｅ）１９．８１３−８１５（＋ ９７５）；
ナルキス（Ｎａｒｋｉｓ）ら、ポリマー・エンジニアリ
ング・アンド・サイエンス（Ｐｏｌｙｍｅｒ Ｅｎｇｉ
ｎｅｅｒｉｎｇ ａｎｄＳｃｉｅｎｃｅ）１８，６４９
−６５３（１９７８）：西独間特許出願公開第１，６３
４，９９９号に対応する米国特許出願節６０１，４２４
号；西独間特許出願公開第２．７４６，６０２号に対応
する米国特許出願節７３２，７９２号；西独国特許出願
公開第２．８２１，７９９号に対応する米国特許出願節
７９８．１５４号；欧州特許出願公開第３８，７１８号
に対応する米国特許出願節１４１，９８４号、欧州特許
出願公開第３８，７１８号に対応する米国特許出願節１
４１，９８８号、欧州特許出願公開第３８，７１３号に
対応する米国特許出願節１４１．９８９号、欧州特許出
願公開第３８，７１４号に対応する米国特許出願節１４
１，９９１号、英国特許出願公開第２，０７６．１０６
Ａ号に対応する米国特許出願節１５０，９０９号、欧州
特許出願公開第６３，４４０号に対応する米国特許出願
節２５０，４９１号、欧州特許出願第７４，２８１号に
対応する米国特許出願節３００，７０９および４２３，
５８９号、米国特許出願２７４，０１０号、欧州特許出
願第９２，４０６号に対応する米国特許出願節３６９，
３０９号、欧州特許出願第１１９，８０７号に対応する
米国特許出願節６０６．０３３号、米国特許出願節４８
３，６３３号、欧州特許出願第８４，３０４，５０２．
２号に対応する米国特許出願節５９９，０４７号および
第５９８．０４８号、欧州特許出願第８４，３０５，５
８４．７号に対応する米国特許出願節５２４．４．８２
号、米国特許出願節５３４，９１３号、欧州特許出願第
８４，３０７，９８４．９号に対応する米国特許出願節
５Ｅ１２，６４９号、英国特許第１，４７０．５０２お
よび１，４７０，５０３号に対応する米国特許出願節９
０４，７３６号および米国特許出願節５７３，０９９号
、米国特許出願節６５０．９１８号、米国特許出願節６
５０，９２０号、米国特許出願節６６３，０１４号、第
７３５，４０８号、第６５０，９１９号、第６５０．９
２１号、第７１１，７９０号、第６６７．７９９号、第
７１１．９０８号、第６８７，１２０号、第６９１，２
９１号、第７１１，９０７号、第７１１，９０９号、第
７２０，１１８号、第７１１，９１０号、第７１６．７
８０号、第７３５，４０９号、第７４１，６５７号、第
７４４，１７０号、ならびに第７６４゜８９４号。
導電性ポリマーデバイスにおける故障状態を検知する装
置および方法は米国特許第４，５０６，２５９号に記載
されており、ここにおいてデバイスはそれが発生する高
周波ノイズを求めることにより検査される。
置および方法は米国特許第４，５０６，２５９号に記載
されており、ここにおいてデバイスはそれが発生する高
周波ノイズを求めることにより検査される。
［発明の構成コ
本発明の装置および方法を用いることにより導電性ポリ
マーデバイスの優れた検査結果が得られることがわかっ
た。
マーデバイスの優れた検査結果が得られることがわかっ
た。
１つの要旨によれば、本発明は、
電源信号が供給されている間に導電性ポリマーデバイス
における故障状態を検知する装置であって、（１）装置
を電源に接続する手段、 （２）装置をデバイスに接続する手段、および（３）装
置を電源およびデバイスに接続した場合に、デバイスが
比較器に供給するデバイス信号を発生し、 ａ）所定振幅を有する信号において電源信号とデバイス
信号の位相関係を求め、および ｂ）電源信号とデバイス信号の位相が所定大きさでずれ
ているときを指示する 比較器 を有して成る装置を提供する。
における故障状態を検知する装置であって、（１）装置
を電源に接続する手段、 （２）装置をデバイスに接続する手段、および（３）装
置を電源およびデバイスに接続した場合に、デバイスが
比較器に供給するデバイス信号を発生し、 ａ）所定振幅を有する信号において電源信号とデバイス
信号の位相関係を求め、および ｂ）電源信号とデバイス信号の位相が所定大きさでずれ
ているときを指示する 比較器 を有して成る装置を提供する。
電源信号が電圧信号でありデバイス信号が電流信号であ
ることが好ましいが、電源信号が電流信号であってもよ
くデバイス信号が電圧信号であってもよい。
ることが好ましいが、電源信号が電流信号であってもよ
くデバイス信号が電圧信号であってもよい。
デバイスは、例えばＰＴＣ導電性ポリマーを含んで成る
自己制御導電性ポリマーヒーターであってもよく、熱収
縮性のデバイスの一部分であってもよい。熱は直流また
は交流電源に接続することにより発生する。後者の場合
に、交流電源信号は、周期的であり、例えば正弦状、三
角形状または鋸歯状であってよい。比較器により、３６
０°周期の所定部分、例えばθ〜１８０゛の間で電源信
号とデバイス信号の位相関係が求められる。
自己制御導電性ポリマーヒーターであってもよく、熱収
縮性のデバイスの一部分であってもよい。熱は直流また
は交流電源に接続することにより発生する。後者の場合
に、交流電源信号は、周期的であり、例えば正弦状、三
角形状または鋸歯状であってよい。比較器により、３６
０°周期の所定部分、例えばθ〜１８０゛の間で電源信
号とデバイス信号の位相関係が求められる。
装置は、電源信号とデバイス信号の位相が所定の大きさ
、例えば少なくとも１５度でずれているる場合に装置と
デバイスとの接続を解除するための手段を有することが
好ましい。
、例えば少なくとも１５度でずれているる場合に装置と
デバイスとの接続を解除するための手段を有することが
好ましい。
他の要旨によれば、本発明は、
ａ）電源、
ｂ）導電性ポリマーデバイス、および
Ｃ）装置であって
（１）装置を電源に接続する手段、
（２）装置をデバイスに接続する手段、ならびに（３）
装置を電源およびデバイスに接続した場合に、デバイス
が比較器に供給するデバイス信号を発生し、 ａ）所定振幅を有する信号において電源信号とデバイス
信号の位相関係を求め、および ｂ）電源信号とデバイス信号の位相が所定大きさでずれ
ているときを指示する 比較器 を有して成る装置 を有するアブセンブリを提供する。
装置を電源およびデバイスに接続した場合に、デバイス
が比較器に供給するデバイス信号を発生し、 ａ）所定振幅を有する信号において電源信号とデバイス
信号の位相関係を求め、および ｂ）電源信号とデバイス信号の位相が所定大きさでずれ
ているときを指示する 比較器 を有して成る装置 を有するアブセンブリを提供する。
更に他の要旨によれば、本発明は、
導電性ポリマーデバイスにおいて故障状態が発生したと
きを求めるためにデバイスをモニタリングする方法であ
って、 （１）外部電源からデバイスに電力信号を加え、これに
よりデバイスにデバイス信号を発生させ、および （２）電力信号とデバイス信号の位相関係を求めること
を特徴とする方法を提供する。
きを求めるためにデバイスをモニタリングする方法であ
って、 （１）外部電源からデバイスに電力信号を加え、これに
よりデバイスにデバイス信号を発生させ、および （２）電力信号とデバイス信号の位相関係を求めること
を特徴とする方法を提供する。
別の要旨によれば、本発明は、
ＰＴＣ導電性ポリマーを含んで成る自己制御ヒーターを
モニタリングする方法であって、（＋）外部電源からヒ
ーターに周期的電力信号を加え、ヒーターにヒーター信
号を形成させ、ここで電源信号は電圧信号であり、ヒー
ター信号は電流信号である、 （２）電圧信号および電流信号を濾波し、濾波電圧およ
び電流信号を形成し、 （３）濾波電圧および信号の最小基準の大きさを確定し
、 （４）電力信号の周期の所定部分内において濾波電圧お
よび電流信号を比較して位相差を求め、および （５）電圧および電流信号の位相が所定大きさでずれて
いる場合に警告を発する ことを特徴とする方法を提供する。
モニタリングする方法であって、（＋）外部電源からヒ
ーターに周期的電力信号を加え、ヒーターにヒーター信
号を形成させ、ここで電源信号は電圧信号であり、ヒー
ター信号は電流信号である、 （２）電圧信号および電流信号を濾波し、濾波電圧およ
び電流信号を形成し、 （３）濾波電圧および信号の最小基準の大きさを確定し
、 （４）電力信号の周期の所定部分内において濾波電圧お
よび電流信号を比較して位相差を求め、および （５）電圧および電流信号の位相が所定大きさでずれて
いる場合に警告を発する ことを特徴とする方法を提供する。
以下に添付図面を参照して本発明を説明する。
第１図は、本発明の電気回路１ｏを示す。回路ＩＯは、
ヒーター１２、電源１４、トランスデユーサ−１６およ
び１８、フィルタ２０および２２、ならびに比較器２４
を有する。本発明において従来の要素を用いてよい。
ヒーター１２、電源１４、トランスデユーサ−１６およ
び１８、フィルタ２０および２２、ならびに比較器２４
を有する。本発明において従来の要素を用いてよい。
上記のように、電源信号は電圧信号であることが好まし
く、デバイス信号は電流信号であることが好ましい。第
１図に示すように、これら信号は、（トランスとして示
す）トランスデユーサ−１６および１８の１次回路にお
いて顕出し、トランスデユーサ−１６および１８の２次
回路からフィルタ回路２０および２２に入力される。ト
ランスデユーサ−１６およびＩ８は電源信号、典型的に
は６０Ｈｚの電源信号、および典型的にはｌＯ〜１００
ＫＨｚのスペクトルにあってよい故障信号（即ち、電流
信号）の両方を処理する能力を有することが好ましい。
く、デバイス信号は電流信号であることが好ましい。第
１図に示すように、これら信号は、（トランスとして示
す）トランスデユーサ−１６および１８の１次回路にお
いて顕出し、トランスデユーサ−１６および１８の２次
回路からフィルタ回路２０および２２に入力される。ト
ランスデユーサ−１６およびＩ８は電源信号、典型的に
は６０Ｈｚの電源信号、および典型的にはｌＯ〜１００
ＫＨｚのスペクトルにあってよい故障信号（即ち、電流
信号）の両方を処理する能力を有することが好ましい。
一方、フィルタ回路２０．２２はバイパスフィルタであ
ることが好ましいが、少なくとも１ＯＫＨｚの下限バス
レベルおよび多くとも１００ＫＨｚの上限パスレベルを
有するバンドパスフィルタであってもよい。
ることが好ましいが、少なくとも１ＯＫＨｚの下限バス
レベルおよび多くとも１００ＫＨｚの上限パスレベルを
有するバンドパスフィルタであってもよい。
フィルタ２０および２２により出力される電源信号およ
びデバイス信号は結合キャパシタ、即ち、キャパシタ２
６および２８を介して比較器２４に入力されることが好
ましい。比較器２４は以下のアッセンブリを有する。
びデバイス信号は結合キャパシタ、即ち、キャパシタ２
６および２８を介して比較器２４に入力されることが好
ましい。比較器２４は以下のアッセンブリを有する。
ａ）デバイス信号入力を受け取り、デバイス信号インバ
ーター３２への入力のために第１ディジタル論理出力信
号を供給する第１操作増幅器３０、ｂ）デバイス信号入
力を受け取り、第１ ＮＡＮＤゲートモジュール３６へ
の入力のために第２ディジタル論理出力信号を供給する
第２操作増幅器３４、 Ｃ）電源信号入力を受け取り、電源信号インバーター４
０への入力のために第３ディジタル論理出力信号を供給
する第３操作増幅器３８、およびｄ）電源信号入力を受
け取り、第２ＮＡＮＤゲートモジュール４４への入力の
ために第４ディジタル論理出力信号を供給する第４操作
増幅器４２゜デバイス信号インバーター３２は、第１デ
ィジタル論理出力信号を第１操作増幅器３０から受け取
り、第２ＮＡＮＤゲートモジュール４４への入力のため
にインバーテツド第１デイノタル論理出力信号を供給す
る。
ーター３２への入力のために第１ディジタル論理出力信
号を供給する第１操作増幅器３０、ｂ）デバイス信号入
力を受け取り、第１ ＮＡＮＤゲートモジュール３６へ
の入力のために第２ディジタル論理出力信号を供給する
第２操作増幅器３４、 Ｃ）電源信号入力を受け取り、電源信号インバーター４
０への入力のために第３ディジタル論理出力信号を供給
する第３操作増幅器３８、およびｄ）電源信号入力を受
け取り、第２ＮＡＮＤゲートモジュール４４への入力の
ために第４ディジタル論理出力信号を供給する第４操作
増幅器４２゜デバイス信号インバーター３２は、第１デ
ィジタル論理出力信号を第１操作増幅器３０から受け取
り、第２ＮＡＮＤゲートモジュール４４への入力のため
にインバーテツド第１デイノタル論理出力信号を供給す
る。
電源信号インバーター４０は第３ディジタル論理出力信
号を受け取り、第１ＮＡＮＤゲートモジュール３６への
入力のためにインバーテツド第３ディジタル論理出力信
号を供給する。
号を受け取り、第１ＮＡＮＤゲートモジュール３６への
入力のためにインバーテツド第３ディジタル論理出力信
号を供給する。
第１ＮＡＮＤゲートモジュール３６は第２ディジタル論
理出力信号およびインバーテツド第３ディジタル論理出
力信号を受け取り、第３ＮＡＮＤゲートモジュール４６
への入力のために第１モジュール信号を出力する。更に
、第２ＮＡＮＤゲートモジュール４４は第４ディジタル
論理出力信号およびインバーテツド第１ディジタル論理
出力信号を受け取り、第３ＮＡＮＤゲートモジュール４
６への入力のために第２モジュール信号を出力する。
理出力信号およびインバーテツド第３ディジタル論理出
力信号を受け取り、第３ＮＡＮＤゲートモジュール４６
への入力のために第１モジュール信号を出力する。更に
、第２ＮＡＮＤゲートモジュール４４は第４ディジタル
論理出力信号およびインバーテツド第１ディジタル論理
出力信号を受け取り、第３ＮＡＮＤゲートモジュール４
６への入力のために第２モジュール信号を出力する。
第３ＮＡＮＤゲートモジュール４６は第１および第２モ
ジュール信号を受け取り、電源信号とデバイス信号の間
の位相関係の指標になる第３モジュール指標を出力する
。
ジュール信号を受け取り、電源信号とデバイス信号の間
の位相関係の指標になる第３モジュール指標を出力する
。
上記のように、比較器は、所定振幅を有する信□ 号
において電源信号とデバイス信号の間の位相関係を求め
る。これは、ノイズの「デッドバンド」にあてはまり、
以下のように働く。位相が同じまたはずれている、所定
大きさよりも小さい大きさの全てのデッドバンド信号に
おいて、電源信号の全３６０°周期のいずれかの部分に
おいて、増幅器３０および３８の「高」基準により論理
！出力が行われ、操作増幅器３４および４２の「低」基
準により論理０出力が行われる。即ち、デバイス信号イ
ンバーター３２および電源信号インバーター４０の出力
は、論理０である。また、第１および第２ＮＡＮＤゲー
トモジュール３６および４４への論理入力は全て０であ
り、それらの出力は！である。
において電源信号とデバイス信号の間の位相関係を求め
る。これは、ノイズの「デッドバンド」にあてはまり、
以下のように働く。位相が同じまたはずれている、所定
大きさよりも小さい大きさの全てのデッドバンド信号に
おいて、電源信号の全３６０°周期のいずれかの部分に
おいて、増幅器３０および３８の「高」基準により論理
！出力が行われ、操作増幅器３４および４２の「低」基
準により論理０出力が行われる。即ち、デバイス信号イ
ンバーター３２および電源信号インバーター４０の出力
は、論理０である。また、第１および第２ＮＡＮＤゲー
トモジュール３６および４４への論理入力は全て０であ
り、それらの出力は！である。
最後に、ＮＡＮＤゲートモジュール３６および４４の論
理ｌ出力は、第３ＮＡＮＤゲートモジュール４６に入力
される。ここで、論理１入力は、論理０出力になり、「
非警告」状態を指示する。
理ｌ出力は、第３ＮＡＮＤゲートモジュール４６に入力
される。ここで、論理１入力は、論理０出力になり、「
非警告」状態を指示する。
一方、３６０°周期の所定部分、例えばθ〜１８０°に
おいて、電源信号およびデバイス信号がデッドバンドで
はなく、それらの位相が同じである（即ち、「非警告」
状態）場合について説明する。
おいて、電源信号およびデバイス信号がデッドバンドで
はなく、それらの位相が同じである（即ち、「非警告」
状態）場合について説明する。
増幅器３０および３８の「高」基準により論理０出力が
行われ、操作増幅器３４および４２の「低」基準により
論理Ｏ出力が行われる（図示せず）。即ち、デバイス信
号インバーター３２および電源信号インバーター４０の
出力は論理！である。更に、第１および第２ＮＡＮＤゲ
ートモジュール３６および４４への論理入力はｌとＯの
組み合わせであり、それらの出力は論理ｌである。最後
に、第３ＮＡＮＤゲートモジュール４６への入力は単独
に論理０出力になり、非警告状態を指示する。
行われ、操作増幅器３４および４２の「低」基準により
論理Ｏ出力が行われる（図示せず）。即ち、デバイス信
号インバーター３２および電源信号インバーター４０の
出力は論理！である。更に、第１および第２ＮＡＮＤゲ
ートモジュール３６および４４への論理入力はｌとＯの
組み合わせであり、それらの出力は論理ｌである。最後
に、第３ＮＡＮＤゲートモジュール４６への入力は単独
に論理０出力になり、非警告状態を指示する。
電源信号およびデバイス信号がデッドバンドでなく、そ
れらの位相がずれている場合、第３ＮＡＮＤゲートモジ
ュール４６の出力は論理ｌであることは上記説明から当
然のことである。
れらの位相がずれている場合、第３ＮＡＮＤゲートモジ
ュール４６の出力は論理ｌであることは上記説明から当
然のことである。
本発明において、３つのＮＡＮＤゲートモジュール３６
．４４および４６を用いることが好ましいが、別の等価
な論理を与えることも可能である。
．４４および４６を用いることが好ましいが、別の等価
な論理を与えることも可能である。
例えば、ＮＡＮＤゲートモジュール４４および３６はＡ
ＮＤゲートモジュールに置き換えてもよく、ＮＡＮＤゲ
ートモジュール４６はＯＲゲートモジュールに置き換え
てもよい（図示せず）。回路１０の感度を増加するため
に、ＮＡＮＤゲートモジュール４６（またはＯＲゲート
モジュール）の出力信号はローパスフィルタ４８により
処理されてもよい。
ＮＤゲートモジュールに置き換えてもよく、ＮＡＮＤゲ
ートモジュール４６はＯＲゲートモジュールに置き換え
てもよい（図示せず）。回路１０の感度を増加するため
に、ＮＡＮＤゲートモジュール４６（またはＯＲゲート
モジュール）の出力信号はローパスフィルタ４８により
処理されてもよい。
ローパスフィルタ４８の出力は従来の警告回路５０に入
力されてもよい。
力されてもよい。
第１図は、本発明の電気回路を示す図である。
１０・・・回路、Ｉ２・・・ヒーター、１４・・・電源
、Ｉ６．１８・・・トランスデユーサ−１２０，２２・
・・フィルタ、２４・・・比較器、２６．２８・・・キ
ャパシタ、３０．３４．３８．４２・・・増幅器、３２
．４０・・・インバーター、３６，４４．４６・・・Ｎ
ＡＮＤゲートモジュール、４８・・・ローパスフィルタ
、５０・・・警告回路。
、Ｉ６．１８・・・トランスデユーサ−１２０，２２・
・・フィルタ、２４・・・比較器、２６．２８・・・キ
ャパシタ、３０．３４．３８．４２・・・増幅器、３２
．４０・・・インバーター、３６，４４．４６・・・Ｎ
ＡＮＤゲートモジュール、４８・・・ローパスフィルタ
、５０・・・警告回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、導電性ポリマーデバイスにおいて故障状態が発生し
たときを求めるためにデバイスをモニタリングする方法
であって、 （１）外部電源からデバイスに電力信号を加え、これに
よりデバイスにデバイス信号を発生させ、および （２）電力信号とデバイス信号の位相関係を求めること
を特徴とする方法。 ２、段階（２）において、所定の周波数バンドの周波数
を有する信号のみを検査する特許請求の範囲第１項記載
の方法。 ３、段階（２）において、所定大きさの信号のみを検査
する特許請求の範囲第１項または第２項に記載の方法。 ４、デバイスは、ＰＴＣ導電性ポリマーを含んで成る自
己制御ヒーターである特許請求の範囲第１〜３項のいず
れかに記載の方法。 ５、ａ）電源、 ｂ）導電性ポリマーデバイス、および ｃ）装置であって （１）装置を電源に接続する手段、 （２）装置をデバイスに接続する手段、ならびに（３）
装置を電源およびデバイスに接続した場合に、デバイス
が比較器に供給するデバイス信号を発生し、 ａ）所定振幅を有する信号において電源信号とデバイス
信号の位相関係を求め、および ｂ）電源信号とデバイス信号の位相が所定大きさでずれ
ているときを指示する 比較器 を有して成る装置 を有するアッセンブリ。 ６、電源信号が供給されている間に導電性ポリマーデバ
イスにおける故障状態を検知する装置であって、 （１）装置を電源に接続する手段、 （２）装置をデバイスに接続する手段、および（３）装
置を電源およびデバイスに接続した場合に、デバイスが
比較器に供給するデバイス信号を発生し、 ａ）所定振幅を有する信号において電源信号とデバイス
信号の位相関係を求め、および ｂ）電源信号とデバイス信号の位相が所定大きさでずれ
ているときを指示する 比較器 を有して成る装置。 ７、電源信号の所定部分のみを比較器に到達させる第１
フィルタ、およびデバイス信号の所定部分のみを比較器
に到達させる第２フィルタを有する特許請求の範囲第６
項記載の装置。 ８、電源信号およびデバイス信号は周期的であり、比較
器は周期の所定部分の間で位相関係を求める特許請求の
範囲第６項または第７項に記載の装置。 ９、比較器は、 ａ）デバイス信号入力を受け取り、デバイス信号インバ
ーターへの入力のために第１ディジタル論理出力信号を
供給する第１操作増幅器、 ｂ）デバイス信号入力を受け取り、第１ＮＡＮＤゲート
モジュールへの入力のために第２ディジタル論理出力信
号を供給する第２操作増幅器、 ｃ）電源信号入力を受け取り、電源信号インバーターへ
の入力のために第３ディジタル論理出力信号を供給する
第３操作増幅器、 ｄ）電源信号入力を受け取り、第２ＮＡＮＤゲートモジ
ュールへの入力のために第４ディジタル論理出力信号を
供給する第４操作増幅器、 ｅ）第１ディジタル論理出力信号を第１操作増幅器から
受け取り、第２ＮＡＮＤゲートモジュールへの入力のた
めにインバーテッド第１ディジタル論理出力信号を供給
する信号インバーター、 ｆ）第３ディジタル論理出力信号を受け取り、第１ＮＡ
ＮＤゲートモジュールへの入力のためにインバーテッド
第３ディジタル論理出力信号を供給する電源信号インバ
ーター、 ｇ）第２ディジタル論理出力信号およびインバーテッド
第３ディジタル論理出力信号を受け取り、第３ＮＡＮＤ
ゲートモジュールへの入力のために第１モジュール信号
を出力する第１ＮＡＮＤゲートモジュール、 ｈ）第４ディジタル論理出力信号およびインバーテッド
第１ディジタル論理出力信号を受け取り、第３ＮＡＮＤ
ゲートモジュールへの入力のために第２モジュール信号
を出力する第２ＮＡＮＤゲートモジュール、および ｉ）第１および第２モジュール信号を受け取り、電源信
号とデバイス信号の間の位相関係の指標である第３モジ
ュール信号を出力する第３ＮＡＮＤゲートモジュール を有する特許請求の範囲第６〜８項のいずれかに記載の
装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP87101791A EP0245585B1 (en) | 1986-03-12 | 1987-02-10 | A filtration apparatus |
| US07/013,447 US4786408A (en) | 1986-03-12 | 1987-02-11 | Filtration apparatus with means for preventing peeling off of a pre-coat layer |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/711,710 US4667186A (en) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | Phase difference fault detector |
| US711710 | 1985-03-13 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61246677A true JPS61246677A (ja) | 1986-11-01 |
Family
ID=24859203
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61056026A Pending JPS61246677A (ja) | 1985-03-13 | 1986-03-12 | 位相差故障検知器 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4667186A (ja) |
| EP (1) | EP0200312B1 (ja) |
| JP (1) | JPS61246677A (ja) |
| AT (1) | ATE60841T1 (ja) |
| CA (1) | CA1244883A (ja) |
| DE (1) | DE3677406D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5430606A (en) * | 1990-02-09 | 1995-07-04 | Takeda Chemical Industries, Ltd. | Double layer capacitor with high capacitance carbonaceous material electrodes |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT1223822B (it) * | 1988-09-14 | 1990-09-29 | Marelli Autronica | Circuito elettrico particolarmente circuito elettronico di potenza per impianti di iniezione di autoveicoli con funzione di rilevazione diagnostica del guasto e relativo procedimento |
| AU647894B2 (en) * | 1991-03-27 | 1994-03-31 | Honeywell Inc. | System powered power supply using dual transformer HVAC systems |
| FR2680875B1 (fr) * | 1991-08-27 | 1995-05-05 | Geneve Services Ind | Procede pour identifier des charges consommatrices d'energie electrique d'un circuit sous surveillance. |
| US8094034B2 (en) | 2007-09-18 | 2012-01-10 | Georgia Tech Research Corporation | Detecting actuation of electrical devices using electrical noise over a power line |
| US9766277B2 (en) | 2009-09-25 | 2017-09-19 | Belkin International, Inc. | Self-calibrating contactless power consumption sensing |
| US8930152B2 (en) | 2009-09-25 | 2015-01-06 | University Of Washington | Whole structure contactless power consumption sensing |
| US9291694B2 (en) | 2010-07-02 | 2016-03-22 | Belkin International, Inc. | System and method for monitoring electrical power usage in an electrical power infrastructure of a building |
| MX2013000238A (es) | 2010-07-02 | 2013-12-02 | Belkin International Inc | Sistemas y metodos para medir el uso de energia electrica en una estructura y sistemas y metodos para calibrarlo. |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1072265B (de) * | 1959-12-31 | Stockholm Axel Billström | Elektronisches Anzeige- und Schutzrelais für elektrische Wechselstromanlagen | |
| US2581196A (en) * | 1948-10-14 | 1952-01-01 | Gen Electric | Electronic relay arrangement for protecting power systems |
| US2854631A (en) * | 1956-05-22 | 1958-09-30 | American Brake Shoe Co | Metering systems |
| FR2203080B1 (ja) * | 1972-10-17 | 1977-08-26 | Ice | |
| US3893009A (en) * | 1974-01-16 | 1975-07-01 | Westinghouse Electric Corp | Reverse power flow relay |
| SE385638B (sv) * | 1974-09-19 | 1976-07-12 | Asea Ab | Anordning for att bestemma fasleget mellan minst tva signaler |
| SU650153A1 (ru) * | 1977-10-05 | 1979-02-28 | Специальное Конструкторское Бюро Систем Промышленной Автоматики Министерства Приборостроения Средств Автоматики И Систем Управления | Устройство дл защиты электродвигател от аномальных режимов |
| US4321681A (en) * | 1979-09-21 | 1982-03-23 | Westinghouse Electric Corp. | Protective relay apparatus |
| US4506259A (en) * | 1981-11-24 | 1985-03-19 | Raychem Corporation | Digital fault monitor for conductive heaters |
-
1985
- 1985-03-13 US US06/711,710 patent/US4667186A/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-03-12 JP JP61056026A patent/JPS61246677A/ja active Pending
- 1986-03-12 CA CA000503901A patent/CA1244883A/en not_active Expired
- 1986-03-13 EP EP86301801A patent/EP0200312B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-03-13 DE DE8686301801T patent/DE3677406D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-03-13 AT AT86301801T patent/ATE60841T1/de not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5430606A (en) * | 1990-02-09 | 1995-07-04 | Takeda Chemical Industries, Ltd. | Double layer capacitor with high capacitance carbonaceous material electrodes |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4667186A (en) | 1987-05-19 |
| EP0200312A1 (en) | 1986-11-05 |
| EP0200312B1 (en) | 1991-02-06 |
| DE3677406D1 (de) | 1991-03-14 |
| ATE60841T1 (de) | 1991-02-15 |
| CA1244883A (en) | 1988-11-15 |
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