JPS61258162A - 超音波顕微鏡 - Google Patents

超音波顕微鏡

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JPS61258162A
JPS61258162A JP61104637A JP10463786A JPS61258162A JP S61258162 A JPS61258162 A JP S61258162A JP 61104637 A JP61104637 A JP 61104637A JP 10463786 A JP10463786 A JP 10463786A JP S61258162 A JPS61258162 A JP S61258162A
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JP
Japan
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sample
sample stage
scanning
compressed air
ultrasonic
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JP61104637A
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Kiyoshi Ishikawa
潔 石川
Hiroshi Kanda
浩 神田
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、超音波顕微鏡、特に所定試料台を非接触で走
査することのできる超音波顕微鏡等に関する。
[従来の技術] 近年IGHzに及ぶ超高周波の音波の発生検品が可能と
なったので、水中で約1μmの音波長が実現できること
になり、その結果、高い分解能の音波撮像装置が得られ
るようになった。即ち、凹面レンズを用いて集束音波ビ
ームを作り、1μmに及ぶ高い分解能を実現するのであ
る。
上記ビーム中に試料をそう人し、試料による反射超音波
を検出して試料の微細領域の弾性的性質を解明したり、
或は試料を機械的に2次元に走査しながら、この信号の
強度をブラウン管の輝度信号として表示すれば、試料の
微細構造を拡大してみることができる。
第1図は、その超音波顕微鏡の主要構成部を示す図であ
る。超音波の集束及び送受は球面レンズ1により行って
いるが、その構造は円柱状の熔融石英等をもちいた物質
の一面を光学研磨し、その上に圧電薄膜(ZnO)2を
上下電極3によりはさむ、このようにサンドウィッチ構
造になっている圧電薄膜2に、パルス発振器4から発生
されたパルス5を印加して、超音波6を発生させる。ま
た、他端部は口径0 、1 mmφ〜1.om11φ程
度の凹面状の半球穴が形成されており、この半球穴と試
料との間には、超音波6を試料7に伝播させるための媒
質(例えば水)8が満されている。
圧電薄膜2によって発生した超音波6は円柱の中を平面
波となって伝播する。この平面波が半球穴に達すると召
人(音速600m/s)と水(音速1500m/s)と
の音速の差により屈折作用が生じ、試料7面上に集束し
た超音波6を照射することができる。逆に試料7から反
射されてくる超音波は球面レンズにより集音整相され、
平面波となって圧電薄膜2に達し、ここでRF信号9に
変換される。このRF信号9を受信器10で受信し、こ
こでダイオード検波してビデオ信号11に変換し、CR
,Tディスプレイ12の入力信号として用いている。
この様に構成された装置において、試料7が試料台駆動
電源13によりx−y平面内で2次元に走査していると
試料の走査にともなう試料面からの反射の強弱が2次元
的にCRT面12に表示される。
而して、一般に超音波は物体の表面で一部分は反射する
が、かなりの部分は物体が光学的に透明かどうかに関係
なく、その中にはいってゆき、物体内部に存在する硬さ
や、密度、粘性の違いや欠陥などを反映したエコーとな
って返ってくる。この性質を利用して試料内部の様相を
検出できるのが超音波顕微鏡である。
上述の超音波顕*mにおいて、高性能を実現するために
は、下記に述べるような技術的課題を解決しなければな
らない6 その第1として、微小凹面部をもつ球面レンズの作成す
ること、これは高分解能を得るために周波数を高めると
、球面レンズと試料間の媒質中で超音波の減衰が大きく
なると云う障害がある。これを防ぐために微小口径レン
ズを作成し、超音波が媒質中を伝播する距離を短かくす
るよう努めなければならない。
その第2は、試料を機械走査している間における上下動
が小さいことが要求される。走査中に試料の上下動が大
きいことは焦点面がたえず移動していることであり、解
明な像が得られない。
第3は、長時間安定に動作する圧電薄膜を実現すること
である。
上記の技術課題のうち、第2の課題に関しては例えば特
開昭50−116058号公報にはスピーカーの駆動コ
イルに試料台を連結して機械走査を行なう構造が提案さ
れているが、機械走査に伴なう上下動を小さくする点で
不充分であった。また、走査系に大きな動力を要すると
の問題点もあった・ [発明が解決しようとする問題点] そこで本発明は、上記した従来技術の欠点を鑑み、機械
走査に伴なう試料の上下動を著るしく小さくし、かつ走
査系に要する動力も小さくできる超音波顕微鏡を提供す
ることを目的とする。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、試料台の両側方に走査方向と平行な溝を設け
、該溝が互いに対向する2本のレール状の軸受に挿入さ
れる構造を有し、かっ該軸受の表面と溝の内面とが非接
触の状態で(空気を介在して)試料台が上記軸受に支持
される構成に特徴を有する。非接触で支持されるために
は溝の内壁とレールとの間に圧縮空気を供給する、もし
くは両者に磁石を投げ、その反発力を利用するなどの手
法をとる。
[作用コ 上記の構成によれば、試料台と軸受とは完全に非接触で
(空気を介して)走査方向に移動可能に安定に支持され
る。しかも試料台は断面がH型となりその上面の広さに
対して全体の形状がシンプルとなるので塔載すべき試料
の大きさに対して試料台を小形軽量に作成することが可
能となる。よって試料の機械走査に伴なう上下物を著る
しく小さくすることができ、かつ走査系の駆動力も小さ
くて良い。
[実施例コ 走査中の試料の上下動をいかにして少なくするかと云う
ことに対して検討を行った結果、これに最も適した構造
の試料台として、試料台を空気静圧、または磁気力によ
って非接触で支持しながら走査する方法を考察した。
その概要を第2図、第3図をもちいて述べる。
試料台の両側面に配置された2個の軸受と試料台との間
に圧縮空気を流し、この静圧力で試料台を支持する。な
お第3図は第2図の矢印部分の拡大図である。
したがって、非接触ガイドであるために、従来一般に用
いられている軸受支持の場合のような摩、擦抵抗がほと
んどなく、各部の摩耗がないことである。さらにテーブ
ルとガイド面の静圧空気層が緩衝材として作用し、ガイ
ド面や試料台の対向面にわずかな凹凸があっても影響さ
れることなく、平滑に移動させることができる特徴があ
る。
図において、100はガイド部である。ガイド部には、
圧縮空気吐出口101が、所定の位置に取りつけられて
おり、この圧縮空気吐出口101から吐出される圧縮空
気により、試料台103を保持する。102は圧縮空気
取入口である。また107は試料台駆動軸である。
上述のような構成の試料台を使用することにより、試料
の上下を0.03μm以下が実測され。
干渉法による超音波顕微鏡像を極めて安定に動作させる
ことができる。
以上の説明では、ガイ1−面と試料台のガイド対向面を
非接触にするため、圧縮空気を用いる場合を述べたが、
磁気の反発力を用いることもできる。
第4図及び第5図は磁気力を利用しての非接触型試料台
の構成を示している。なお、第5図は、第4図の矢印部
分を拡大した断面図である。図においてガイド105の
両端部には磁石のN極105NとS極105Sとが設け
てあり、このガイド105内に試料台106が挿入され
る。この試料台106の端部、すなわちガイド105と
対向する部分には磁石106Nと106sとが取りつけ
られており、その極性はガイド105の磁力と反発し合
うように各々のN極およびS極が互いにむき合うように
配置されている。このため、試料台106は、ガイド1
05内で非接触で保持される。
この様子は、丁度、第2図で記述した圧縮空気を利用し
て、試料台を非接触で保持していることとまったく同様
であり、この状態にある試料台を周期的に往復運動を繰
り返している試料台駆動軸107と連結することにより
、試料台を走査することができる。
上述の如く、空気静圧、磁気力を利用した試料台は走査
中の上下動の極めて小さい試料台を提供できた。
しかしながら、上述のような構造の試料台であると、試
料を載置する場合、試料の大きさが制限される場合があ
る。すなわち、第6図に示すように、載置できる試料7
の大きさは少なくとも軸受部100によって支持されて
いる部分より小さくなくてはならない、どうしても、そ
れより大きい試料7を載置しようとするならば、第7図
に示すように試料台103の中央部に取付台108を設
け、この上面に試料7を載置しなければならない。
このように試料台103上をさらに取付台108を取り
つけることは、試料台103の重量が増加することであ
り、走査を行うための走査系に大きな動力が要求されて
くる。
本発明は、この点を鑑みてなされたものであり、試料台
上に載置できる試料の大きさが軸受部によって制限され
ないようにしたものである。
以下1本発明の実施例の詳細を図をもちいて述べる。
第8図に主要構成部概略構造を、また第9図に試料台の
断面構造を示す。第9図において、H字型の試料台11
0の溝部の両側面より軸受部111が挿入されている。
この軸受部111は詳細構造を第9図に示すように圧縮
空気吐出口が上下および試料台110の側面に設けであ
る。
112は圧縮空気の取入口である。
このような構造の試料台において、軸受部111より所
定の圧力に調整された圧縮空気を吐出すると、試料11
0は空気静圧によって非接触に支持される結果、試料台
110の走査時の動きの滑らかさについては第2図、第
4図で述べた装置の試料台と何等異なるところはない。
その上、試料台110の形状をH字形にしたことにより
。
試料載置部を広く取ることができるために、形状の大き
い試料も取りつけることができる。
以上のように本発明によれば、機械走査型超音波顕微鏡
における試料の機械走査に伴なう上下動を著るしく小さ
くすることができ、焦点面と試料の相対位置を安定に保
つことができるとともに走査系に要する駆動力も小さく
て良いとの効果を達成できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は超音波顕微鏡の概略構成図、第2図。 第3図、第4図及び第5図は本発明の試料台の構造の説
明図、第6図及び第7図は第4図、第5図の試料台の問
題点を示す説明図、第8図及び第9図は本発明の実施例
の一実施例の構造図である。 110・・試料台、111・・・軸受部、112・・・
圧縮空気の取入口。 第 1 目 第 2 目 ′VJ 3 圀 /θθ 冗 6 図 /′I5 茅 7 図 (ti5 ¥ 8 図 tJ q 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、音波伝搬体と、この伝搬体の端部に形成され、かつ
    所定焦点を有する音波レンズとからなり、上記焦点近傍
    に設けられた所定試料からのじよう乱音波により、上記
    試料を撮影する超音波顕微鏡において、上記試料を非接
    触で走査する手段を具備したことを特徴とした超音波顕
    微鏡。
JP61104637A 1986-05-09 1986-05-09 超音波顕微鏡 Granted JPS61258162A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61104637A JPS61258162A (ja) 1986-05-09 1986-05-09 超音波顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

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JP61104637A JPS61258162A (ja) 1986-05-09 1986-05-09 超音波顕微鏡

Publications (2)

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JPS61258162A true JPS61258162A (ja) 1986-11-15
JPH0231345B2 JPH0231345B2 (ja) 1990-07-12

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ID=14385962

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4989454A (en) * 1988-06-20 1991-02-05 Olympus Optical Co., Ltd. Scanning apparatus for a scanning microscope
JPH048824U (ja) * 1990-05-14 1992-01-27
JP2008170000A (ja) * 2006-11-22 2008-07-24 Samsung Techwin Co Ltd 携帯型電子機器用の摺動構造体
CN111894978A (zh) * 2020-07-22 2020-11-06 南通理工学院 平面支承主动磁悬浮装置

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CN111894978B (zh) * 2020-07-22 2022-04-26 南通理工学院 平面支承主动磁悬浮装置

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JPH0231345B2 (ja) 1990-07-12

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