JPS61260496A - 事前充電回路 - Google Patents
事前充電回路Info
- Publication number
- JPS61260496A JPS61260496A JP61107823A JP10782386A JPS61260496A JP S61260496 A JPS61260496 A JP S61260496A JP 61107823 A JP61107823 A JP 61107823A JP 10782386 A JP10782386 A JP 10782386A JP S61260496 A JPS61260496 A JP S61260496A
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- precharging
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- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 2
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- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/08—Word line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, for word lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/08—Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、特にプログラム可能なセルを有する、メモリ
システムのワードラインのための事前充電回路に関する
。
システムのワードラインのための事前充電回路に関する
。
周知のように、高密度プログラム可能メモリにおいては
、読出しに必要な時間の大部分は、選択されたワードラ
インを、関連するメモリセルが十分な電流を導いて読出
し増幅器をトリップさせることができるようになるレベ
ルまで持ってゆくのに利用される。
、読出しに必要な時間の大部分は、選択されたワードラ
インを、関連するメモリセルが十分な電流を導いて読出
し増幅器をトリップさせることができるようになるレベ
ルまで持ってゆくのに利用される。
これは主として、特にワードラインとして利用された材
料がポリシリコンである場合、関連する抵抗および容量
が高いものであることを特徴とする、ワードライン沿い
の信号伝搬時間が長いためである。
料がポリシリコンである場合、関連する抵抗および容量
が高いものであることを特徴とする、ワードライン沿い
の信号伝搬時間が長いためである。
特に、メモリシステムを該システムの全回路が不動作に
なっている予備条件から、データを読出すために作動で
きる条件へ導くチップ作動信号によってもたらされるア
クセスタイムは長くなっている。
なっている予備条件から、データを読出すために作動で
きる条件へ導くチップ作動信号によってもたらされるア
クセスタイムは長くなっている。
特に、予備条件からの出力において、メモリセルへのア
クセスタイムを低減するために予備位相の間、メモリの
電源電圧(V cc)ですべてのワードラインを事前に
充電し、一方、読出し位相では、高い動作電圧を保持す
る指示されたちの以外のすべてのワードラインがアース
されることが考えられていた。この場合、正しい読出し
を得る前に、選択されたちの以外のすべてのワードライ
ンが、未使用のセルの閾値より低い電圧値以下に低下し
なければならない。
クセスタイムを低減するために予備位相の間、メモリの
電源電圧(V cc)ですべてのワードラインを事前に
充電し、一方、読出し位相では、高い動作電圧を保持す
る指示されたちの以外のすべてのワードラインがアース
されることが考えられていた。この場合、正しい読出し
を得る前に、選択されたちの以外のすべてのワードライ
ンが、未使用のセルの閾値より低い電圧値以下に低下し
なければならない。
この解決法は、多くの点で許容され得るが、特に高密度
メモリに適用される場合に、下記の事項を含む幾つかの
欠点を有している。それはすなわち、(1)すべてのワ
ードラインの整流に関連する電流過度によってアースし
た電源ラインに雑音をもたらすことがある。(2)メモ
リシステムの基板とワードラインを結合する容量によっ
て整流中、基板電圧を降下させ、その結果、該基板に結
合された全接続点が多少重大な妨害を受けやすい、(3
)ワードラインがすべて一度に転流する場合、基板の抵
抗はワードラインの放電時間に対してかなりの寄与をし
、実際前記ワードラインは回路RCとして配列されるこ
とができ、該回路においてはRは、ワードラインを構成
するポリシリコン製ストリップの抵抗プラス基板ならび
に基板アース接点の抵抗の並列に等しくなっており、そ
してCは基板へのすべてのワードラインの容量の和とな
っており、かつ、関連する容量値(0,5nF)を与え
られると、基板の抵抗は明らかに無視することはできな
い、さらに(4)すべてのワードラインと、ビットライ
ンを構成するドーピングストリップNとの容量性結合に
よって、予備位相の出力中、前記ビットラインを、アー
スに関して負の電位に押しやる。従って、接合N−P
(基板)は直接に分極されることができ、基板における
少数キャリヤの注入を生じさせ、それと共に、ビットラ
イン(N)、基板(P)およびいずれの近くの接合Nに
よって形成された二極パラサイトを導通させるという危
険が生ずる。
メモリに適用される場合に、下記の事項を含む幾つかの
欠点を有している。それはすなわち、(1)すべてのワ
ードラインの整流に関連する電流過度によってアースし
た電源ラインに雑音をもたらすことがある。(2)メモ
リシステムの基板とワードラインを結合する容量によっ
て整流中、基板電圧を降下させ、その結果、該基板に結
合された全接続点が多少重大な妨害を受けやすい、(3
)ワードラインがすべて一度に転流する場合、基板の抵
抗はワードラインの放電時間に対してかなりの寄与をし
、実際前記ワードラインは回路RCとして配列されるこ
とができ、該回路においてはRは、ワードラインを構成
するポリシリコン製ストリップの抵抗プラス基板ならび
に基板アース接点の抵抗の並列に等しくなっており、そ
してCは基板へのすべてのワードラインの容量の和とな
っており、かつ、関連する容量値(0,5nF)を与え
られると、基板の抵抗は明らかに無視することはできな
い、さらに(4)すべてのワードラインと、ビットライ
ンを構成するドーピングストリップNとの容量性結合に
よって、予備位相の出力中、前記ビットラインを、アー
スに関して負の電位に押しやる。従って、接合N−P
(基板)は直接に分極されることができ、基板における
少数キャリヤの注入を生じさせ、それと共に、ビットラ
イン(N)、基板(P)およびいずれの近くの接合Nに
よって形成された二極パラサイトを導通させるという危
険が生ずる。
これらの欠点のために、若干の製造業者はアクセスタイ
ムで得られる関連利益を捨てて、ワードラインを事前に
充電することを回避して来た。
ムで得られる関連利益を捨てて、ワードラインを事前に
充電することを回避して来た。
本発明の目的は、事前充電システムを、プログラム可能
なセルメモリのワードラインのための、さらにアクセス
速度に関する事前充電の利益を保証し、前述の負の効果
を最低に低減するような他の型式のメモリにまで拡張し
得る、事前充電システムを完成することである。
なセルメモリのワードラインのための、さらにアクセス
速度に関する事前充電の利益を保証し、前述の負の効果
を最低に低減するような他の型式のメモリにまで拡張し
得る、事前充電システムを完成することである。
本発明によれば、前記目的は、メモリの各ワードライン
に対して、メモリセルの電源端子とアースとの間に置か
れ、前記ワードラインに中間接続点が接続されかつ前記
中間接続点とアースの間にメモリセルのそれと同様な電
気的、幾何学的特性を有する事前充電トランジスタを含
む、分圧器を備えていることを特徴とする事前充電回路
によって達成される。
に対して、メモリセルの電源端子とアースとの間に置か
れ、前記ワードラインに中間接続点が接続されかつ前記
中間接続点とアースの間にメモリセルのそれと同様な電
気的、幾何学的特性を有する事前充電トランジスタを含
む、分圧器を備えていることを特徴とする事前充電回路
によって達成される。
換言すれば、本発明はメモリのワードラインへの供給の
ために、事前充電システムに現在指摘されている欠点を
回避しながら、信号のアクセスタイムを制限するような
、低減した値の事前充電電圧を与えるのである。
ために、事前充電システムに現在指摘されている欠点を
回避しながら、信号のアクセスタイムを制限するような
、低減した値の事前充電電圧を与えるのである。
同時に、メモリセルのそれと同様な特性を有する事前充
電トランジスタを有する分圧器を利用することによって
、そうでなければ広範囲のセル特性の変化によるであろ
うが、最適の事前充電電圧の判定主起り得る不正確、不
確定さを回避している。
電トランジスタを有する分圧器を利用することによって
、そうでなければ広範囲のセル特性の変化によるであろ
うが、最適の事前充電電圧の判定主起り得る不正確、不
確定さを回避している。
次に図面を参照すると、CI−Cnは所定のワードライ
ンWLに関連するメモリセルを示し、各ワードラインは
、それぞれのビットラインBLl−BLnを介して、電
圧■を供給されることができる。
ンWLに関連するメモリセルを示し、各ワードラインは
、それぞれのビットラインBLl−BLnを介して、電
圧■を供給されることができる。
ワードラインWLは、充電トランジスタTlおよび事前
充電トランジスタT3から成る分圧器の中間接続点を構
成するのであるが、前者(T1)は電圧Vccを有する
電源端子とワードラインとの間に位置し、後者(T3)
は前記ワードラインとアースとの間に位置している。ト
ランジスタT3は、メモリのセルC1−Cnのそれと同
様な電気的及び幾何学的特性を有するように選択される
。
充電トランジスタT3から成る分圧器の中間接続点を構
成するのであるが、前者(T1)は電圧Vccを有する
電源端子とワードラインとの間に位置し、後者(T3)
は前記ワードラインとアースとの間に位置している。ト
ランジスタT3は、メモリのセルC1−Cnのそれと同
様な電気的及び幾何学的特性を有するように選択される
。
使用可能信号Sで示される転送トランジスタT2は、ワ
ードラインWLに関連して、メモリの活動サイクル中、
トランジスタT3を排除する。
ードラインWLに関連して、メモリの活動サイクル中、
トランジスタT3を排除する。
予備条件にあるメモリシステムにおいてこのように、V
ccとOの間の中間の電圧で、ワードラインWLは事前
充電されるが、該中間の電圧は、事前充電電圧が高い場
合にみられる欠点を生ずることなく、信号の高アクセス
速度を保証する。該事前充電電圧は、未使用のセルに十
分な電流を伝導させるに不可欠の最低のものであるよう
に選択される。
ccとOの間の中間の電圧で、ワードラインWLは事前
充電されるが、該中間の電圧は、事前充電電圧が高い場
合にみられる欠点を生ずることなく、信号の高アクセス
速度を保証する。該事前充電電圧は、未使用のセルに十
分な電流を伝導させるに不可欠の最低のものであるよう
に選択される。
トランジスタT3はメモリセルと同じ特性を有しており
、セルの相互コンダクタンスに影響を与えるパラメータ
によって事前充電電圧を変化させる。相互インダクタン
スが増加する場合、トランジスタT3のそれも増加し、
従って事前充電電圧は低減し、その逆もまた成り立つ。
、セルの相互コンダクタンスに影響を与えるパラメータ
によって事前充電電圧を変化させる。相互インダクタン
スが増加する場合、トランジスタT3のそれも増加し、
従って事前充電電圧は低減し、その逆もまた成り立つ。
分圧器TI、T3を介する、電源電圧変化への事前光1
!圧の依存状態もまた低減される。
!圧の依存状態もまた低減される。
トランジスタT2は、活動サイクル中、事前充電システ
ムからワードラインを分離する。それはすでに述べたよ
うに、メモリチップの使用可能信号Sによって゛制御さ
れる。
ムからワードラインを分離する。それはすでに述べたよ
うに、メモリチップの使用可能信号Sによって゛制御さ
れる。
ワードラインの抵抗が事前充電電圧を全ライン沿いに不
揃いにしていることに注目されたい。
揃いにしていることに注目されたい。
しかし、関連する低電流を与えられているので、該差は
問題とならない。
問題とならない。
最後に、本発明による事前充電システムは、記憶された
データの読出しに利用されるあらゆる型式の読出し増幅
器に適応できるが、メモリセル電流が基準セル電流と同
程度であるような差動タイプのものに特に好適である。
データの読出しに利用されるあらゆる型式の読出し増幅
器に適応できるが、メモリセル電流が基準セル電流と同
程度であるような差動タイプのものに特に好適である。
一般に、2つのセルのゲートは、対称にするために、同
じワードラインによって供給されているので、この回路
によって、2つのセルは正確に同じ電圧で事前充電され
、従って読出し増幅器の応答を改良するのである。
じワードラインによって供給されているので、この回路
によって、2つのセルは正確に同じ電圧で事前充電され
、従って読出し増幅器の応答を改良するのである。
添付図面は、本発明による事前充電回路の実施例を示す
ものであり、プログラム可能セルマトリックスを有する
メモリのワードラインに組合わせた事前充電回路の詳細
図である。 WL・・・メモリのワードライ・ン、T1・・・充電ト
ランジスタ、T2・・・転送トランジスタ、T3・・・
事前充電トランジスタ、CI−Cn・・・メモリセル。
ものであり、プログラム可能セルマトリックスを有する
メモリのワードラインに組合わせた事前充電回路の詳細
図である。 WL・・・メモリのワードライ・ン、T1・・・充電ト
ランジスタ、T2・・・転送トランジスタ、T3・・・
事前充電トランジスタ、CI−Cn・・・メモリセル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、特にプログラム可能メモリセルを有する、メモリシ
ステムのワードラインのための事前充電回路であって、
メモリの各ワードライン(WL)に対して、メモリセル
(C1−Cn)の電源端子とアースの間に配され、前記
ワードラインに中間接続点が接続されかつ前記中間接続
点とアースとの間に、メモリセル(C1−Cn)のそれ
と同様な電気的、幾何学的特性を有する事前充電トラン
ジスタ(T3)を含む分圧器(T1、T3)を備えてい
ることを特徴とする事前充電回路。 2、前記分圧器(T1、T3)はまた前記電源端子と前
記中間接続点の間に配した充電トランジスタ(T1)を
有していることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の事前充電回路。 3、前記ワードライン(WL)と組合わされメモリの使
用可能信号によって制御されて、メモリの活動サイクル
中、前記事前充電トランジスタ(T3)を不動作にする
転送トランジスタ(T2)を備えていることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の事前充電回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT8520688A IT1214607B (it) | 1985-05-14 | 1985-05-14 | Circuito di precarica per linee di riga di un sistema di memoria, in particolare a celle programmabili. |
| IT20688A/85 | 1985-05-14 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61260496A true JPS61260496A (ja) | 1986-11-18 |
| JPH0766673B2 JPH0766673B2 (ja) | 1995-07-19 |
Family
ID=11170590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10782386A Expired - Fee Related JPH0766673B2 (ja) | 1985-05-14 | 1986-05-13 | 事前充電回路 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4847811A (ja) |
| JP (1) | JPH0766673B2 (ja) |
| DE (1) | DE3615310C2 (ja) |
| FR (1) | FR2582135B1 (ja) |
| GB (1) | GB2175168B (ja) |
| IT (1) | IT1214607B (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR910007647B1 (ko) * | 1987-05-01 | 1991-09-28 | 디지탈 이큅먼트 코오포레이숀 | 백플레인 버스용 노드장치 |
| US5003467A (en) * | 1987-05-01 | 1991-03-26 | Digital Equipment Corporation | Node adapted for backplane bus with default control |
| WO1988008580A1 (en) * | 1987-05-01 | 1988-11-03 | Digital Equipment Corporation | Backplane bus |
| KR930000869B1 (ko) * | 1989-11-30 | 1993-02-08 | 삼성전자 주식회사 | 페이지 소거 가능한 플래쉬형 이이피롬 장치 |
| KR940005688B1 (ko) * | 1991-09-05 | 1994-06-22 | 삼성전자 주식회사 | 메모리 소자에 있어서 데이터 라인의 프리챠아지 자동 검사 장치 |
| KR100725980B1 (ko) | 2005-07-23 | 2007-06-08 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리에 저장된 데이터를 독출하는 속도를개선할 수 있는 반도체 장치와 그 개선방법 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5778695A (en) * | 1980-10-29 | 1982-05-17 | Toshiba Corp | Semiconductor storage device |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5399736A (en) * | 1977-02-10 | 1978-08-31 | Toshiba Corp | Semiconductor memory unit |
| US4208730A (en) * | 1978-08-07 | 1980-06-17 | Rca Corporation | Precharge circuit for memory array |
| US4289982A (en) * | 1979-06-28 | 1981-09-15 | Motorola, Inc. | Apparatus for programming a dynamic EPROM |
| JPS57100686A (en) * | 1980-12-12 | 1982-06-22 | Toshiba Corp | Nonvolatile semiconductor memory |
| JPH0746515B2 (ja) * | 1984-12-28 | 1995-05-17 | 日本電気株式会社 | デコ−ダ回路 |
| US4638459A (en) * | 1985-01-31 | 1987-01-20 | Standard Microsystems Corp. | Virtual ground read only memory |
-
1985
- 1985-05-14 IT IT8520688A patent/IT1214607B/it active
-
1986
- 1986-05-06 DE DE3615310A patent/DE3615310C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-05-08 GB GB8611204A patent/GB2175168B/en not_active Expired
- 1986-05-13 JP JP10782386A patent/JPH0766673B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1986-05-14 FR FR868606928A patent/FR2582135B1/fr not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-01-13 US US07/144,696 patent/US4847811A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5778695A (en) * | 1980-10-29 | 1982-05-17 | Toshiba Corp | Semiconductor storage device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2582135A1 (fr) | 1986-11-21 |
| GB2175168B (en) | 1989-07-05 |
| FR2582135B1 (fr) | 1992-08-14 |
| DE3615310C2 (de) | 1995-11-30 |
| JPH0766673B2 (ja) | 1995-07-19 |
| IT1214607B (it) | 1990-01-18 |
| US4847811A (en) | 1989-07-11 |
| GB2175168A (en) | 1986-11-19 |
| GB8611204D0 (en) | 1986-06-18 |
| IT8520688A0 (it) | 1985-05-14 |
| DE3615310A1 (de) | 1986-11-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |