JPS61265503A - ひずみ測定方法 - Google Patents
ひずみ測定方法Info
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- JPS61265503A JPS61265503A JP10878085A JP10878085A JPS61265503A JP S61265503 A JPS61265503 A JP S61265503A JP 10878085 A JP10878085 A JP 10878085A JP 10878085 A JP10878085 A JP 10878085A JP S61265503 A JPS61265503 A JP S61265503A
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- resistors
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 8
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 abstract description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 206010070834 Sensitisation Diseases 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000008313 sensitization Effects 0.000 description 1
- 238000005491 wire drawing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、物体に外力が作用したときに現れるひずみ
を電気的に取り出すひずみ測定方法に関する。
を電気的に取り出すひずみ測定方法に関する。
（ロ）従来の技術
一般には、被測定物にひずみゲージを貼付し、このひず
みゲージを一辺とするブリッジ回路を構成して、被測定
物のひずみに伴うひずみゲージの抵抗値変化を電気的に
取り出して測定する。
みゲージを一辺とするブリッジ回路を構成して、被測定
物のひずみに伴うひずみゲージの抵抗値変化を電気的に
取り出して測定する。
ここで使用されるひずみゲージは、箔ゲージと呼ばれ樹
脂フィルムのベース上に方向性を有する所定のパターン
をなす線状抵抗箔を接着し、両端末からリード線を取り
出したものが多い。さらに、感度を高めたり、温度補償
したり、被測定物のひずみを平均的に測定したい場合に
おいては、複数枚のひずみゲージを貼付することが通常
である。
脂フィルムのベース上に方向性を有する所定のパターン
をなす線状抵抗箔を接着し、両端末からリード線を取り
出したものが多い。さらに、感度を高めたり、温度補償
したり、被測定物のひずみを平均的に測定したい場合に
おいては、複数枚のひずみゲージを貼付することが通常
である。
そして、このような用途に応じるために複数のひずみゲ
ージを一体化した、すなわち、複数個の電気抵抗体を組
合せた多軸型のものも市販されている。また、コンクリ
ート等の内部ひずみの測定を行なうにはひずみ計がある
が、多軸的ひずみを測定する場合には、複数個のひずみ
針を使用しているのが常である。
ージを一体化した、すなわち、複数個の電気抵抗体を組
合せた多軸型のものも市販されている。また、コンクリ
ート等の内部ひずみの測定を行なうにはひずみ計がある
が、多軸的ひずみを測定する場合には、複数個のひずみ
針を使用しているのが常である。
（ハ）発明が解決しようとする問題点
（ロ）に述べたひずみゲージは抵抗箔を精密細線状のパ
ターンに構成するため、表面に物体がわずかに触れただ
けで破損するという不具合があった。さらに、多軸型の
ひずみゲージにおいては、より複雑なパターンを構成し
ていることから、上記問題を促進することになる。この
多軸型のひずみゲージは、複数のひずみゲージをあらが
しめ組み合わせた形状となっているため、測定方向線が
°限られていることは勿論、温度補償等諸条件が不安定
なものとなりがちであった。これに加え、抵抗箔のパタ
ーンが細線状に形成されているため、ジュール熱の発生
による出力電圧の変動原因となり、入力電圧を高め、出
力を大きくすることはすこぶる困難であった。また、埋
込み用ひずみ計では、内蔵するひずみセンサーが単軸素
子であるため、多軸ひずみの測定時には複数個の使用が
余儀なくされコスト高になる要因であった。
ターンに構成するため、表面に物体がわずかに触れただ
けで破損するという不具合があった。さらに、多軸型の
ひずみゲージにおいては、より複雑なパターンを構成し
ていることから、上記問題を促進することになる。この
多軸型のひずみゲージは、複数のひずみゲージをあらが
しめ組み合わせた形状となっているため、測定方向線が
°限られていることは勿論、温度補償等諸条件が不安定
なものとなりがちであった。これに加え、抵抗箔のパタ
ーンが細線状に形成されているため、ジュール熱の発生
による出力電圧の変動原因となり、入力電圧を高め、出
力を大きくすることはすこぶる困難であった。また、埋
込み用ひずみ計では、内蔵するひずみセンサーが単軸素
子であるため、多軸ひずみの測定時には複数個の使用が
余儀なくされコスト高になる要因であった。
（ニ）問題を解決するための手段
複数組のリード線引出し用端子を所定部位に有する単一
の電気抵抗組織体を被測定物の所定位置に形成するとと
もに、上記各端子間で成りかつ電気抵抗組織体を共用す
る各端子間抵抗により検出回路を構成し、被測定物のひ
ずみに伴う上記各端子間抵抗の抵抗値変化によって検出
回路の電圧出力を得るようにした。
の電気抵抗組織体を被測定物の所定位置に形成するとと
もに、上記各端子間で成りかつ電気抵抗組織体を共用す
る各端子間抵抗により検出回路を構成し、被測定物のひ
ずみに伴う上記各端子間抵抗の抵抗値変化によって検出
回路の電圧出力を得るようにした。
（ホ）作用
被測定物にひずみが生じると、これに伴って電気抵抗組
織体が伸縮するため、複数の端子間抵抗の値が各々変化
をし、これらによって構成されるブリッジ回路等検出回
路に電圧を印加すると、出力端子間から電圧出力を得ら
れる。
織体が伸縮するため、複数の端子間抵抗の値が各々変化
をし、これらによって構成されるブリッジ回路等検出回
路に電圧を印加すると、出力端子間から電圧出力を得ら
れる。
（へ）実施例
以下、この発明の一実施例を第１図から第３図に従って
説明する。図中１は、フェステル等の角型絶縁性樹脂フ
ィルムからなるベースであり、このベース１を被測定物
２表面に接着剤で貼付する。ベース１表面に、導電性樹
脂材を成分とする角形シート形状の電気抵抗組織体３を
接着剤で貼付する。この電気抵抗組織体３の各コーナ近
傍に、リード線引出し用端子４，５，６．７を設ける。
説明する。図中１は、フェステル等の角型絶縁性樹脂フ
ィルムからなるベースであり、このベース１を被測定物
２表面に接着剤で貼付する。ベース１表面に、導電性樹
脂材を成分とする角形シート形状の電気抵抗組織体３を
接着剤で貼付する。この電気抵抗組織体３の各コーナ近
傍に、リード線引出し用端子４，５，６．７を設ける。
ここで電気抵抗組織体３は、リード線引出し用端子４−
５．５−６．６−７．７−４間で端子間抵抗８，９，１
０．１１を成している。これにより第３図に示す検出回
路たとえばブリッジ回路１６が構成されていることとな
る。すなわち、ブリッジの各辺に端子間抵抗８，９，１
０．１１が挿入される。リード線引出し用端子４−６間
には、リード線１２．１３を介して所定の電圧を印加す
るとともに、リード線引出し用端子５−７間にはリード
線１４．１５を介して図示しない指示計が接続されてい
る。そして、被測定物２が第２図矢印にて示す方向にひ
ずみが発生すると、これに伴ってベース１と電気抵抗組
織体３が伸縮する。
５．５−６．６−７．７−４間で端子間抵抗８，９，１
０．１１を成している。これにより第３図に示す検出回
路たとえばブリッジ回路１６が構成されていることとな
る。すなわち、ブリッジの各辺に端子間抵抗８，９，１
０．１１が挿入される。リード線引出し用端子４−６間
には、リード線１２．１３を介して所定の電圧を印加す
るとともに、リード線引出し用端子５−７間にはリード
線１４．１５を介して図示しない指示計が接続されてい
る。そして、被測定物２が第２図矢印にて示す方向にひ
ずみが発生すると、これに伴ってベース１と電気抵抗組
織体３が伸縮する。
これにより、端子間抵抗８，９，１０．１１の抵抗値が
増減し、ブリッジ回路１６の出力端子を成すリード線引
出し用端子５−７間に電圧出力が生じる。そして、リー
ド線１４．１５を介して、被測定物２のひずみ量に係わ
る、すなわち縦方向ひずみと横方向ひずみの差分に係わ
る電圧出力が指示計に供給される。
増減し、ブリッジ回路１６の出力端子を成すリード線引
出し用端子５−７間に電圧出力が生じる。そして、リー
ド線１４．１５を介して、被測定物２のひずみ量に係わ
る、すなわち縦方向ひずみと横方向ひずみの差分に係わ
る電圧出力が指示計に供給される。
なお、上記実施例では電気抵抗組織体をシート形状とし
たが、この電気抵抗組織体は、ブロック形状として、端
子間抵抗を立体的に配置（リード線引出し用端子を立体
的に配置）することもできる。この場合には、コンクリ
ート等被測定物に埋設可能なひずみ計となり、また電気
抵抗組織体のヤング率を適当な一定値とすれば単体とし
て即ロードセルとなる。さらに、上記実施例では、電気
抵抗組織体の端子間抵抗を４箇所設けて４ブリツジ法と
したが、この発明では電気抵抗組織体を共用する端子間
抵抗を複数段ければよく、２箇所また４箇所以上設けて
ブリッジ回路等検出回路を構成するようにしても同等差
支えない。また、電気抵抗組織体の材質は、導電性樹脂
材に限定されず、他に、金属や、半導体材料等でもよい
ことは勿論である。
たが、この電気抵抗組織体は、ブロック形状として、端
子間抵抗を立体的に配置（リード線引出し用端子を立体
的に配置）することもできる。この場合には、コンクリ
ート等被測定物に埋設可能なひずみ計となり、また電気
抵抗組織体のヤング率を適当な一定値とすれば単体とし
て即ロードセルとなる。さらに、上記実施例では、電気
抵抗組織体の端子間抵抗を４箇所設けて４ブリツジ法と
したが、この発明では電気抵抗組織体を共用する端子間
抵抗を複数段ければよく、２箇所また４箇所以上設けて
ブリッジ回路等検出回路を構成するようにしても同等差
支えない。また、電気抵抗組織体の材質は、導電性樹脂
材に限定されず、他に、金属や、半導体材料等でもよい
ことは勿論である。
（ト）効果
従来における多軸型ゲージの構成や、複数枚のゲージを
貼付した構成が、この発明では複数の端子間抵抗を１個
の電気抵抗組織体で共用するため、端子間抵抗の位置設
定（リード線引出し用端子の配置）だけで容易に得るこ
とができる。
貼付した構成が、この発明では複数の端子間抵抗を１個
の電気抵抗組織体で共用するため、端子間抵抗の位置設
定（リード線引出し用端子の配置）だけで容易に得るこ
とができる。
これにより２ゲージ法、４ゲージ法等として増感、温度
補償等が低コストでできるとともに、表面の損傷にも強
く、温度補償等の諸条件も安定する。
補償等が低コストでできるとともに、表面の損傷にも強
く、温度補償等の諸条件も安定する。
さらに、電気抵抗組織体は、従来のように線状抵抗箔で
はな（、シート形状やブロック形状の電気抵抗組織体を
使用するため、多くのリード線引出し用端子さえ設けて
おけば測定方向は任意に選べ、しかも、放熱作用が増長
されるため、電気抵抗組織体の抵抗値如何によっては高
電圧の印加による高出力が得られる。そして、複雑なパ
ターンを必要とせず、小型化も容易となる。また、電気
抵抗組織体をブロック形状としてリード線引出し用端子
の配置を立体的にすると、他軸的、立体的ひずみの測定
が行えるなど実用上の効果を奏する。
はな（、シート形状やブロック形状の電気抵抗組織体を
使用するため、多くのリード線引出し用端子さえ設けて
おけば測定方向は任意に選べ、しかも、放熱作用が増長
されるため、電気抵抗組織体の抵抗値如何によっては高
電圧の印加による高出力が得られる。そして、複雑なパ
ターンを必要とせず、小型化も容易となる。また、電気
抵抗組織体をブロック形状としてリード線引出し用端子
の配置を立体的にすると、他軸的、立体的ひずみの測定
が行えるなど実用上の効果を奏する。
図面はこの発明の一実施例を示すものであり、第１図は
斜視図、第２図は取付状態を示す断面図、第３図はブリ
ッジ回路図である。 ２・・・被測定物 ３・・・電気抵抗組織体
斜視図、第２図は取付状態を示す断面図、第３図はブリ
ッジ回路図である。 ２・・・被測定物 ３・・・電気抵抗組織体
Claims (1)
- 複数組のリード線引出し用端子を所定部位に有する単一
の電気抵抗組織体を被測定物の所定位置に形成するとと
もに、上記各端子間で成りかつ電気抵抗組織体を共用す
る各端子間抵抗により検出回路を構成し、被測定物のひ
ずみに伴う上記各端子間抵抗の抵抗値変化によつて検出
回路の電圧出力を得るようにしたことを特徴とするひず
み測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60108780A JPH0785006B2 (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | ひずみ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60108780A JPH0785006B2 (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | ひずみ測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61265503A true JPS61265503A (ja) | 1986-11-25 |
| JPH0785006B2 JPH0785006B2 (ja) | 1995-09-13 |
Family
ID=14493288
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60108780A Expired - Lifetime JPH0785006B2 (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | ひずみ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0785006B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013065153A1 (ja) * | 2011-11-02 | 2013-05-10 | パイオニア株式会社 | 検出装置、検出装置が取り付けられたクランク及び検出装置がクランクに取り付けられた自転車 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5692805U (ja) * | 1979-12-17 | 1981-07-23 |
-
1985
- 1985-05-20 JP JP60108780A patent/JPH0785006B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5692805U (ja) * | 1979-12-17 | 1981-07-23 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013065153A1 (ja) * | 2011-11-02 | 2013-05-10 | パイオニア株式会社 | 検出装置、検出装置が取り付けられたクランク及び検出装置がクランクに取り付けられた自転車 |
| JPWO2013065153A1 (ja) * | 2011-11-02 | 2015-04-02 | パイオニア株式会社 | 検出装置、検出装置が取り付けられたクランク及び検出装置がクランクに取り付けられた自転車 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0785006B2 (ja) | 1995-09-13 |
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