JPS61270366A - 三極スパツタリングソ−ス - Google Patents

三極スパツタリングソ−ス

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JPS61270366A
JPS61270366A JP11075085A JP11075085A JPS61270366A JP S61270366 A JPS61270366 A JP S61270366A JP 11075085 A JP11075085 A JP 11075085A JP 11075085 A JP11075085 A JP 11075085A JP S61270366 A JPS61270366 A JP S61270366A
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JP
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target
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JP11075085A
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Kaoru Toki
土岐 薫
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、薄膜作製に用いられるスパッタリング装置の
スパンタンースに関するものである。
(従来技術とその問題点) スパッタリングによる成膜は、金属、合金、絶縁物等種
々の物質の薄膜化が容易であることから電子部品工業界
では、真空蒸着と並んで、汎用薄膜作製技術として広く
用いられている。当初、スパッタリング装置としては、
RF 2極スパツタリング装置が用いられた。近年生産
性の向上と、基板損傷を防ぎ膜質の向上を図るために、
低温高速成膜装置への要求が高まり、かかる観点から、
マグネトロンスパッタリング装置が主流となっている。
しかし、この装置ではターゲットの損傷が著しく局在し
ているため、ターゲット使用効率が低く、又、磁性体タ
ーゲットを用いる場合、その厚みを相当小さくしなけれ
ばならない等の欠点を有している。この様な欠点を解決
できるものとして三極スパッタリングソースを用いたス
パッタリング装置が注目され、各方面への応用が検討さ
れている。
第4図(a)は、真空チャンバ1内に、三極スパッタリ
ンクソーヌ2と基板3が配されて、スパツタリング装置
が構成された様子を模式的に示したものである。二極ス
パッタリングソース2ば、ターゲット5とその両側に、
尋しい距離を隔てて配さ不した熱を子を発生ずるフィラ
メント6と、フィラメント6に対して正電位に、バイア
スされ、熱電子を銹導するγノードt&7及びアノード
近傍に設けたガス導入部12とから成り、さらにこれら
は、ターゲット5の開口部を残して、Atなどの導電体
から成句カバー8でおおわれたガンタイプのソースを形
成している。この図では繁雑さを避けるため、ターケラ
ト冷却機構は省略しである。スパックリンクは、前記ソ
ース2内に導入されたアルコン等のガスが熱電子によっ
てプラズマ化されこれかターゲット5に印加される負の
直流電圧もしくは負にバイアスされた為周波電力により
ターゲット5をボンバードする過程で、行われる。この
方式では、フラスマかソース2内に殆ど閉じ込められる
ので、高いスパッタイールドか効率良く得られる。ざら
に、第4図(b)に示す様に、アノード7とフィラメン
ト間6に発生する電界と直交する磁界を発生する様に、
永久磁石14を、ターゲット5近傍に配すると、プラズ
マのソース2内への閉じ込めかより完全なものとなり、
マグネトロンスパッタリングと同様の原理によって、極
めて優れた低温高速スパッタリングが実現できる。
近年、光磁気記録媒体や磁気記録材料の分野において、
合金ターゲット化が困難な材料への要求から、ターゲッ
トとして、母材の上に、チップ状の別材料を分散配置し
た、複合ターゲットがしばしば用いられる。この場合、
膜組成は主にチップの数及び配置の仕方に依存するため
、細かい組成の調整は困難であり、膜特性の再現性にも
問題があった。
又、この様な複合ターゲット方式の欠点をなくすために
、第5図(a) 、 (b)に示す様に、複数の単体タ
ーゲット33.34から同時にスパッタする方法が提案
されている。しかし、従来のスパッタリンクンースを、
この方式に採用した場合、ターゲット間隔かはなれてい
るために、基板に対して間欠的な成膜が成され、基板ホ
ルダー35上の基板36の回転数が小さいと膜厚方向に
組成むらを生じるという欠点があった。
(発明の目的) 本発明は、かかる観点から成されたものでありターゲッ
ト部を、各々別電源に接続された複数のターゲットで構
成し、各ターケラトへ印加する電力を制御することによ
って、膜組成の調整を、容易に、しかも再現性良く行う
ことができる三極スパッタリングソースを提供すること
にある。
(発明の構成) 本発明の構成は、ターゲット部と、その近傍に配置され
た熱電子を発生するフィラメントと、ターゲット部を介
してフィラメントと対向する位置に設置されフィラメン
トに対して正電位にバイアスされたアノード電極と、ガ
ス導入部と、アノードとフィラメント間に発生する電界
と直交する磁界を発生する永久磁石とを備えた三極スパ
ッタリングソースにおいて、前記ターゲット部が各々別
電源に接続された複数のターゲットから成ることを特徴
とする。
(実施例) 次に本発明の実施例について、図面を用いて詳細に説明
する。
第1図は、本発明の実施例を示したものであり永久磁石
17と、アノード20とフィラメント19との間に、各
々別電源24.25に接続された2つのターゲット15
.16が一列に並んで配されている。18はカバー、2
1はガス導入管である。
第2図は、第1図のx−x’断面の模式図である。
例えば、光磁気記録媒体として知られる’l’b−Fe
合金膜を作製する場合、ターゲットAとして厚さ5Wの
Fe板、ターゲットBとして厚さ5nのTb板を用いる
。膜組成は、各ターゲットに印加する高周波電力によっ
て調整できる。
ガラス基板に対して、次の様な条件でスパッタを行った
背     圧  5×10−テTorr以下Arガス
圧 7X10−sTorr スパッタパワー  ターゲットA(Fe)・・・16W
/mターゲットB(Tb)・・・4.8W/i電極間距
離 15α プラズマ電圧  70V プラズマ電流  5A 基板回転数 1ORPM この様にして作製された膜厚1500Aの膜は組成Tb
26at%で膜面に垂直方向に磁化容易軸を有し、又、
X線的に非晶質であった。又、カーヒステリシスループ
より得られる抗磁力HCはaKOe+カー回転角Okは
0.23°であり、光磁気媒体として良好なる特性を有
する。
この様に、各ターゲットへ印加するスパッタパワーを選
択することによって所望の組成の膜を、容易に得ること
ができる。
又、ターゲット間隔が小さいために、基板回転数が、比
較的小さいIORPM前後においても膜厚方向に組成む
らを生じることはなかった。
第3図は、本発明の他の実施例を示したものであり、各
々別電源に接続された2つのターゲット26、27が、
永久磁石28の間に、−列に並んで配されている。29
はフィラメント、3oはアノード、32はカバー、31
はガス導入管である。
この場合も、各ターゲットへ印加するスパッタパワーを
選択することによって所望の組成の膜を容易に得ること
ができる。
以上述べた実施例では、ターゲット形状が円板状のもの
について述べたが、方形状υツターゲットについても同
様に、本発明の効果が適用される。
又、ターゲット個数は、2個以上でも良い。
(発明の効果) 以上述べた様に、本発明によれば、ターゲット部を各々
別電源に接続された複数のターゲットで構成し、各ター
ゲットへ印加する電力を制御することによって、膜組成
の調整を、容易に、しかも再現性良く行うことができる
三極スパッタリングソースを提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は本発明の実施例を示す図、第4図(a
) 、 (b) 、第5図(a) 、 (b)は従来例
を説明するための図である。 図において、1は真空チャンバ、2は三極スパッタリン
グンース、3.36は基板、4.35は基板ホルダ、5
,15,16,26,27,33.34はターゲット、
6,19.29はフィラメント、7.20.30はアノ
ード、8.18.32はカバー、9はフィラメント電源
、10はアノードバイアス電源、11,24.25はタ
ーゲット電源、12,21.31はガス導入部、13は
ガスボンベ、14,17.28は永久磁石。 C鯉人−0′v士内原  晋 第 1 図 第2図 第 3 図 第4図 (叩 [■二■ト14

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ターゲット部と、その近傍に配置された熱電子を発生す
    るフィラメントと、ターゲット部を介してフィラメント
    と対向する位置に設置されフィラメントに対して正電位
    にバイアスされたアノード電極と、ガス導入部と、アノ
    ードとフィラメント間に発生する電界と直交する磁界を
    発生する永久磁石とを備えた三極スパッタリングソース
    において、前記ターゲット部が、各々別電源に接続され
    た複数のターゲットから成ることを特徴とする三極スパ
    ッタリングソース。
JP11075085A 1985-05-23 1985-05-23 三極スパツタリングソ−ス Expired - Lifetime JPH0610347B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11075085A JPH0610347B2 (ja) 1985-05-23 1985-05-23 三極スパツタリングソ−ス

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Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61270366A true JPS61270366A (ja) 1986-11-29
JPH0610347B2 JPH0610347B2 (ja) 1994-02-09

Family

ID=14543603

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JP11075085A Expired - Lifetime JPH0610347B2 (ja) 1985-05-23 1985-05-23 三極スパツタリングソ−ス

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JP (1) JPH0610347B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5558751A (en) * 1994-04-20 1996-09-24 Leybold Aktiengesellschaft Dual cathode sputter coating apparatus
JP2005290550A (ja) * 2004-03-11 2005-10-20 Ulvac Japan Ltd スパッタリング装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5558751A (en) * 1994-04-20 1996-09-24 Leybold Aktiengesellschaft Dual cathode sputter coating apparatus
JP2005290550A (ja) * 2004-03-11 2005-10-20 Ulvac Japan Ltd スパッタリング装置

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