JPS61277014A - リング干渉計装置 - Google Patents
リング干渉計装置Info
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- JPS61277014A JPS61277014A JP61112443A JP11244386A JPS61277014A JP S61277014 A JPS61277014 A JP S61277014A JP 61112443 A JP61112443 A JP 61112443A JP 11244386 A JP11244386 A JP 11244386A JP S61277014 A JPS61277014 A JP S61277014A
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-
- G—PHYSICS
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- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/58—Turn-sensitive devices without moving masses
- G01C19/64—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
- G01C19/72—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、単一モード光ファイバリング干渉計装置に関
するものである。
するものである。
(従来の技術)
リング干渉計、またはサグナック(Sat)naC)干
渉計においては、2本のビームが同じ光路を互いに逆向
きに伝わって、その光路の出口において互いに干渉する
。その光路の擾乱が光の両方向の伝播に対して同じ特性
を有し、干渉針内での光の進む、時間中に変化しない限
りは、2本の光ビームは同じ影響を受け、それらのビー
ムの間の相対的な位相は不変である。この種の擾乱は[
相反的(reciproca l ) Jと呼ばれる。
渉計においては、2本のビームが同じ光路を互いに逆向
きに伝わって、その光路の出口において互いに干渉する
。その光路の擾乱が光の両方向の伝播に対して同じ特性
を有し、干渉針内での光の進む、時間中に変化しない限
りは、2本の光ビームは同じ影響を受け、それらのビー
ムの間の相対的な位相は不変である。この種の擾乱は[
相反的(reciproca l ) Jと呼ばれる。
干渉計内での光の進む時間は一般に非常に短いから、そ
の時間中の擾乱の変化は、それが随意に導入されたもの
でなければ、一般に無視できる。
の時間中の擾乱の変化は、それが随意に導入されたもの
でなければ、一般に無視できる。
しかし、2つの伝播方内における振幅が異なる「非相反
的」な擾乱が存在するが、それは、それの完全な向きを
定めることにより空間または媒質の対称性を損う物理的
効果の問題である。
的」な擾乱が存在するが、それは、それの完全な向きを
定めることにより空間または媒質の対称性を損う物理的
効果の問題である。
2つの知られている物理的効果がこの特性を有する。
即ら、ファラデー効果または共直線磁気−光学効果、つ
ま、り光学的物質の電子のスピンの向きが磁界により定
められる効果と、サグナック効果または相対慣性効果、
つまりガリレイ基準(Galilean refenc
e)に関する干渉計の回転が伝播時間の対称性を損う効
果である。
ま、り光学的物質の電子のスピンの向きが磁界により定
められる効果と、サグナック効果または相対慣性効果、
つまりガリレイ基準(Galilean refenc
e)に関する干渉計の回転が伝播時間の対称性を損う効
果である。
慣性空間に関する回転を使用することにより光ファイバ
・ジャイロメータすなわちレートメータが構成されるこ
とになり、磁界を使用することにより電流センナすなわ
ち磁力計が構成されることになる。
・ジャイロメータすなわちレートメータが構成されるこ
とになり、磁界を使用することにより電流センナすなわ
ち磁力計が構成されることになる。
いわゆる相反的椛造を使用することにより、非相反的効
果によりひき起される位相のずれ以外の位相のずれを完
全に打消すことができることが示されている。
果によりひき起される位相のずれ以外の位相のずれを完
全に打消すことができることが示されている。
(発明が解決しようどする問題点)
しかし、このやり方では、干渉計の単−七−ド入口ゲー
トを戻る光を検出する必要がある。そのためには、出力
光の一部を光検出器へ送り、入口において光を結合させ
る分+mzを使用する必要がある。分離器が50〜50
型である時に、光検出器に戻ってくる光は最適であるが
、系統的な損失(systematic 1oss)が
6dB生じ、装置に部品を付加する必要がある。光源に
より光が放射された時に第1のスイッチング状態に置か
れて、その光を装置の入口へ送り、光が戻ってきた時に
別のスイッチング状態に置かれてその光を光検出器へ送
るような高速スイッチを分1lIl器の代りに使用する
ことが提案されている。それらの装置において使用され
る光ファイバの長さは200m〜2KIiのオーダーで
あるから、光の伝播による遅れは1〜10μ秒に達する
。
トを戻る光を検出する必要がある。そのためには、出力
光の一部を光検出器へ送り、入口において光を結合させ
る分+mzを使用する必要がある。分離器が50〜50
型である時に、光検出器に戻ってくる光は最適であるが
、系統的な損失(systematic 1oss)が
6dB生じ、装置に部品を付加する必要がある。光源に
より光が放射された時に第1のスイッチング状態に置か
れて、その光を装置の入口へ送り、光が戻ってきた時に
別のスイッチング状態に置かれてその光を光検出器へ送
るような高速スイッチを分1lIl器の代りに使用する
ことが提案されている。それらの装置において使用され
る光ファイバの長さは200m〜2KIiのオーダーで
あるから、光の伝播による遅れは1〜10μ秒に達する
。
そのような装置がフランス特許FR−8−2,409,
518号明細書に開示されている。
518号明細書に開示されている。
その装置によりエネルギーの平衡が改善されるが、本発
明はその装置の構造を一層簡単にすることを目的とする
。
明はその装置の構造を一層簡単にすることを目的とする
。
(問題点を解決するための手段)
その目的を達成するために、本発明は分離器または高速
スイッチを無くした装置を提供Jるものである。
スイッチを無くした装置を提供Jるものである。
本発明に従って、リングを形成する単一モード光ファイ
バと、コヒーレントな光エネルギーを放射し、かつ受け
る手段と、単一モード光ファイバの両端部から出た放射
を再び組合けるために、放射されたコヒーレントな光エ
ネルギーの等しい部分を同時に単一モード光ファイバの
2つの端部へ向けるためにその放射を分mおよび混合す
る手段と、この分離および混合手段と光エネルギー放射
および受光手段の間に配置されるモードフィルタ手段と
を備え、前記光エネルギー放射および受光手段は、正方
向に分極された時に所定の波長の光を放出し、逆方向に
分極された時にそれと同じ波長の光を検出する半導体ダ
イオードにより形成されるリング干渉計装置において、
前記ダイオードの光放出を制御するために前記ダイオー
ドを順方向にバイアスする手段と、電気信号処理器と、
スイッチング手段と、前記半導体ダイオードと順方向バ
イアス手段または電気信号処理器との間で電気的接続を
交互に行うように前記スイッチング手段を制御する手段
とを更に備えるリング干渉計装置が得られる。
バと、コヒーレントな光エネルギーを放射し、かつ受け
る手段と、単一モード光ファイバの両端部から出た放射
を再び組合けるために、放射されたコヒーレントな光エ
ネルギーの等しい部分を同時に単一モード光ファイバの
2つの端部へ向けるためにその放射を分mおよび混合す
る手段と、この分離および混合手段と光エネルギー放射
および受光手段の間に配置されるモードフィルタ手段と
を備え、前記光エネルギー放射および受光手段は、正方
向に分極された時に所定の波長の光を放出し、逆方向に
分極された時にそれと同じ波長の光を検出する半導体ダ
イオードにより形成されるリング干渉計装置において、
前記ダイオードの光放出を制御するために前記ダイオー
ドを順方向にバイアスする手段と、電気信号処理器と、
スイッチング手段と、前記半導体ダイオードと順方向バ
イアス手段または電気信号処理器との間で電気的接続を
交互に行うように前記スイッチング手段を制御する手段
とを更に備えるリング干渉計装置が得られる。
また、本発明に従って、リングを形成する単一モード光
ファイバと、コヒーレントな光エネルギーを放射し、か
つ受ける手段と、単一モード光ファイバの両端部から出
た放射を再び組合けるために、放射されたコヒーレント
な光エネルギーの等しい部分を同時に単一モード光ファ
イバの2つの端部へ向けるためその放射を分離および混
合する手段と、この分離および混合手段と光エネルギー
放射および受光手段の間に配置されるモードフィルタ手
段とを備え、前記光エネルギー放射および受光手段は、
コヒーレントな光を放出する半導体ダイオードを備え、
この半導体ダイオードの第1の而は前記モードフィルタ
に光学的に結合され、前記半導体ダイオードの第2の面
はオプトエレクトロニック検出器に光学的に結合され、
前記半導体ダイオードは、前記光エネルギー放射および
受光手段へ再び送られた光を検出の前に増幅するリング
干渉計装置が得られる。
ファイバと、コヒーレントな光エネルギーを放射し、か
つ受ける手段と、単一モード光ファイバの両端部から出
た放射を再び組合けるために、放射されたコヒーレント
な光エネルギーの等しい部分を同時に単一モード光ファ
イバの2つの端部へ向けるためその放射を分離および混
合する手段と、この分離および混合手段と光エネルギー
放射および受光手段の間に配置されるモードフィルタ手
段とを備え、前記光エネルギー放射および受光手段は、
コヒーレントな光を放出する半導体ダイオードを備え、
この半導体ダイオードの第1の而は前記モードフィルタ
に光学的に結合され、前記半導体ダイオードの第2の面
はオプトエレクトロニック検出器に光学的に結合され、
前記半導体ダイオードは、前記光エネルギー放射および
受光手段へ再び送られた光を検出の前に増幅するリング
干渉計装置が得られる。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図にはリング干渉4が示されている。このリング干
渉計のリングは単一モード光ファイバ5により形成され
るが、それのコアは従来の光素子から形成される。モー
ドフィルタ3を付加することにより、その干渉計を厳密
に相反的とすることができる。
渉計のリングは単一モード光ファイバ5により形成され
るが、それのコアは従来の光素子から形成される。モー
ドフィルタ3を付加することにより、その干渉計を厳密
に相反的とすることができる。
レーデ光源により発生された入射ビーム11がモードフ
ィルタ3を通り、半透明鏡4により2本のビームに分離
される。そのビームの一部12がレンズ41を通じて光
ファイバに送りこまれる。
ィルタ3を通り、半透明鏡4により2本のビームに分離
される。そのビームの一部12がレンズ41を通じて光
ファイバに送りこまれる。
そのレンズ41はそのビームを光ファイバ5の入力部5
0上に集束する。光ビームの他の部分13はレンズ42
を通じて同じ光ファイバ5に送られる。そのレンズ42
はその光ビーム13を光ファイバ5の入力部51上に集
束する。両方の光ビームは光ファイバに沿って互いに逆
向きに進み、半透明114により干渉計のアーム内にと
られる。それらの光ビームはモードフィルタ3を再び通
り、半透明鏡2により入射ビームから分離される。その
半透明R2は戻りビームの一部を出力アーム6へ送る。
0上に集束する。光ビームの他の部分13はレンズ42
を通じて同じ光ファイバ5に送られる。そのレンズ42
はその光ビーム13を光ファイバ5の入力部51上に集
束する。両方の光ビームは光ファイバに沿って互いに逆
向きに進み、半透明114により干渉計のアーム内にと
られる。それらの光ビームはモードフィルタ3を再び通
り、半透明鏡2により入射ビームから分離される。その
半透明R2は戻りビームの一部を出力アーム6へ送る。
その出力アームにおいては干渉信号が光検出器60によ
り検出される。
り検出される。
光路として単一モード光ファイバ5を使用することによ
り、この光路の長さを十分に長くできる。
り、この光路の長さを十分に長くできる。
実際には光ファイバは通常は多数巻コイルを構成するよ
うに巻かれる。したがって、たとえば非常に高感度のジ
レイロスコープを構成できる。
うに巻かれる。したがって、たとえば非常に高感度のジ
レイロスコープを構成できる。
しかし、前記したように分離器のために損失が生ずる。
したがって、個々の分離素子の代りに集積化した光学素
子を用いることが提案されている。そうすることにより
光エネルギーの平衡が改善される。
子を用いることが提案されている。そうすることにより
光エネルギーの平衡が改善される。
第2図はこの種の装置を示すものである。
この装置はレーザ光源10を有する。このレーザ光源は
なるべく半導体レー11で構成する。第2図に示す装置
は電気光学的な物質で作られた基板20も有する。この
基板20の上に導光器200と201が形成される。そ
うすると、基板20上に集積化された光接続部は、レー
デ光源10により放出された光を受ける第1の導光器2
00と、この第1の導光器200とともに光結合器を構
成する第2の導光器201とである。導光器201の端
部に光検出器60が結合される。導光器200と201
の隣接する部分で構成された結合器203は、導光器2
00の内部を通って、その導光器から出るようにする平
行状態と、導光器200の中を導かれる光を導光器20
1に結合させる交差状態とに置くことがぐきる。そのた
めに、電界発生用の2個の電極202と204が、導光
器200.201の2つの隣接する部分により形成され
た平行な光路をカバーする。電界が存在しない時は、結
合器203は平行状態にあり、電界が存在する時は、結
合器は交差状態にある。電界は光が戻ってくる間に加え
られる。
なるべく半導体レー11で構成する。第2図に示す装置
は電気光学的な物質で作られた基板20も有する。この
基板20の上に導光器200と201が形成される。そ
うすると、基板20上に集積化された光接続部は、レー
デ光源10により放出された光を受ける第1の導光器2
00と、この第1の導光器200とともに光結合器を構
成する第2の導光器201とである。導光器201の端
部に光検出器60が結合される。導光器200と201
の隣接する部分で構成された結合器203は、導光器2
00の内部を通って、その導光器から出るようにする平
行状態と、導光器200の中を導かれる光を導光器20
1に結合させる交差状態とに置くことがぐきる。そのた
めに、電界発生用の2個の電極202と204が、導光
器200.201の2つの隣接する部分により形成され
た平行な光路をカバーする。電界が存在しない時は、結
合器203は平行状態にあり、電界が存在する時は、結
合器は交差状態にある。電界は光が戻ってくる間に加え
られる。
この装置は電気光学的な物質により構成された第2の基
板4も有する。この第2の基板4の上には、2つの導光
器40と41により形成された対称的なフォーク状導光
器が形成される。導光器41は導光器40により導かれ
る光の半分を導く。
板4も有する。この第2の基板4の上には、2つの導光
器40と41により形成された対称的なフォーク状導光
器が形成される。導光器41は導光器40により導かれ
る光の半分を導く。
干渉計のリングを構成する単一モード光ファイバ5の2
つの端部50と51は、中間の光学素子を用いることな
しに、導光器41と42の2つの端部に直結される。
つの端部50と51は、中間の光学素子を用いることな
しに、導光器41と42の2つの端部に直結される。
導光器200の基板20上の1つの端部は中間の単一モ
ード光ファイバ30の一端に結合される。
ード光ファイバ30の一端に結合される。
光ファイバ30の他方の端部はモードフィルタ3に結合
される。
される。
同様に、導光器40の一端が第2の中間の単一モード光
ファイバ31の一端に結合される。その光ファイバ30
の他端はモードフィルタ3に結合される。このモードフ
ィルタ3は集積先導波器により形成できる。
ファイバ31の一端に結合される。その光ファイバ30
の他端はモードフィルタ3に結合される。このモードフ
ィルタ3は集積先導波器により形成できる。
もちろん、モードフィルタ3と、導光器40または導光
器200との間で他の結合モードを採用することらでき
る。
器200との間で他の結合モードを採用することらでき
る。
この装置の主な要素がフランス特許FR−B−2,40
9,518号明細占に記載されている。
9,518号明細占に記載されている。
この装置は次のように動作する。光フアイバ中の光の伝
播時間より短い持続時間を有する光パルスを放出するよ
うにレーザ光源は変調される。レーザ光源により放射さ
れた光が導光器200の中を導かれるように、光パルス
の放出中は結合器は平行状態にある。光エネルギーは2
つの導光器の間で等しく分番プられて光ファイバ5へ送
られる。
播時間より短い持続時間を有する光パルスを放出するよ
うにレーザ光源は変調される。レーザ光源により放射さ
れた光が導光器200の中を導かれるように、光パルス
の放出中は結合器は平行状態にある。光エネルギーは2
つの導光器の間で等しく分番プられて光ファイバ5へ送
られる。
その光ファイバ5においては、その光パルスは互いに逆
の向きに同時に伝わる。この装置が角速度ωで回転して
いるとすると、2つの戻り光パルスが位相差△φで導光
器42と41へ送られる。それから、電界を加えること
により光結合器は交差状態に置かれ、導光器200によ
り送られる光は導光器201へ送られて光検出器60に
より検出される。
の向きに同時に伝わる。この装置が角速度ωで回転して
いるとすると、2つの戻り光パルスが位相差△φで導光
器42と41へ送られる。それから、電界を加えること
により光結合器は交差状態に置かれ、導光器200によ
り送られる光は導光器201へ送られて光検出器60に
より検出される。
光エネルギーの平衡に関する限りは改良された装置が得
られるが、この装置は最適なものではなく、構造を簡単
にすることが実際に可能ぐある。
られるが、この装置は最適なものではなく、構造を簡単
にすることが実際に可能ぐある。
第3図は本発明の装置の一実施例である。
第3図に示す装置においても、リングは単一モード光フ
ァイバ5と、2ア一ム集積分配器4と、中間の単一モー
ド光ファイバ30.31およびモードフィルタ3とで構
成される。
ァイバ5と、2ア一ム集積分配器4と、中間の単一モー
ド光ファイバ30.31およびモードフィルタ3とで構
成される。
本発明の一実施例の主な特徴に従って、光源100は半
導体ダイオードであり、この半導体ダイオードは、それ
に印加される電源の極性に応じて光を放出し、または光
を受けるように動作する。
導体ダイオードであり、この半導体ダイオードは、それ
に印加される電源の極性に応じて光を放出し、または光
を受けるように動作する。
いくつかの種類の半導体ダイオード、とくにrGaAI
As/GaAsJ (ガリウム−アルミニウム−ひ素
/ガリウム−ひ素)」ダイオード、rGaAIAs(ガ
リウム−アルミニウム−ひ素)」ダイオード、rGa
InAsP/InP(ガリウム−インジウム−ひ素−り
ん/インジウム−りん)」ダイオードをこの目的に使用
Cきる。
As/GaAsJ (ガリウム−アルミニウム−ひ素
/ガリウム−ひ素)」ダイオード、rGaAIAs(ガ
リウム−アルミニウム−ひ素)」ダイオード、rGa
InAsP/InP(ガリウム−インジウム−ひ素−り
ん/インジウム−りん)」ダイオードをこの目的に使用
Cきる。
更に詳しくいえば、この後者の場合には、rTJS(横
方向接合)」という略語で知られている構造のレーザダ
イA−ドが好適rある。
方向接合)」という略語で知られている構造のレーザダ
イA−ドが好適rある。
−例として、そのような部品がフランス特許1R−B−
2,387,519号明細書に記載されている。
2,387,519号明細書に記載されている。
光放出状態においては、ダイA−ド100は順方向にバ
イアスされる。そのために、2つの位置Iと■を有する
スイッチ102がダイオード100を電m103に接続
する(位置l)。第3図に示す実施例においては、ダイ
オード100のカソードに、特定の用途に必要な光エネ
ルギーを放出するために十分な撮幅の負電圧−■(順方
向)が印加される。放出時間は光が通る光路の長さに依
存する。すなわち、まず光ファイバ5の長さに依存する
。先に述べたように、その長さは200m〜2触である
。放射された光は、光ファイバの長さに応じて1〜10
μ秒のi間が経過した後で、光源のダイオード100へ
戻ってくる。
イアスされる。そのために、2つの位置Iと■を有する
スイッチ102がダイオード100を電m103に接続
する(位置l)。第3図に示す実施例においては、ダイ
オード100のカソードに、特定の用途に必要な光エネ
ルギーを放出するために十分な撮幅の負電圧−■(順方
向)が印加される。放出時間は光が通る光路の長さに依
存する。すなわち、まず光ファイバ5の長さに依存する
。先に述べたように、その長さは200m〜2触である
。放射された光は、光ファイバの長さに応じて1〜10
μ秒のi間が経過した後で、光源のダイオード100へ
戻ってくる。
ダイオード100と信号処理器104を接続するように
、スイッチ102は制御回路101により位置■に置か
れる。その信号処理器104は増幅器で構成できる。
、スイッチ102は制御回路101により位置■に置か
れる。その信号処理器104は増幅器で構成できる。
実際には、スイッチ102は電子スイッチであって、そ
のスイッチング速度は用途に適するものである。
のスイッチング速度は用途に適するものである。
光検出器として用いられる時のダイオードの通過帯域は
非常に広いが、光放出モードから光検出モードへ切換え
られる時に励起される電子の緩和時間に問題が起きる。
非常に広いが、光放出モードから光検出モードへ切換え
られる時に励起される電子の緩和時間に問題が起きる。
それから、リング干渉計内での光の進行時間の2倍に等
しい周期を有する方形波で変調させねばならない。
しい周期を有する方形波で変調させねばならない。
リング干渉計におする位相のずれに関連する信号は位相
変調法により検波される。この場合には検波される周波
数は1/2τに等しい。τは光フアイバ中の光の伝播時
間である。
変調法により検波される。この場合には検波される周波
数は1/2τに等しい。τは光フアイバ中の光の伝播時
間である。
そのために、信号処理回路は直角型同期検波器を含む。
制御器101により発生された周波数が1/2τの信号
Vcが、信号処理回路104に含まれている同期検波器
に与えられる。
Vcが、信号処理回路104に含まれている同期検波器
に与えられる。
更に、少なくとも1つの相反的効果の位相変調器7が変
調リング5に挿入される。この変調リング5は前記信号
VCも受ける。
調リング5に挿入される。この変調リング5は前記信号
VCも受ける。
そのような構成がフランス特許出願トr(−B−2,4
71,583号明細書に記載されている。
71,583号明細書に記載されている。
位相変調器7は相反的効果、たとえば光弾性効果または
゛電気光学効果、を行う。そのような位相変調器の例が
前記フランス特許明@書に記載されている。その位相変
調器を周期的に通る光の位相を変化させるように位相変
調器は助成される。その周期は2τに等しい。
゛電気光学効果、を行う。そのような位相変調器の例が
前記フランス特許明@書に記載されている。その位相変
調器を周期的に通る光の位相を変化させるように位相変
調器は助成される。その周期は2τに等しい。
そのlia期性のために、次式で定められる関係が成立
する。
する。
Φ(t)=Φ(t+2τ)(1)
の(1>は時間の関数として位相の変化を記述する関数
である。
である。
リング内を互いに逆向きに進む2つの光ビームは、位相
変調器を通る時に移相される。この位相変調器がない時
の位相差ΔΦは次式で表される。
変調器を通る時に移相される。この位相変調器がない時
の位相差ΔΦは次式で表される。
へ〇=ΔΦ十Φ(1)−Φ(1)
一Φ(を十τ)(2)
ψ(τ)を用いると次式が得られる。
ψ(t)=ψ(τ)−ψ(t+τ)(3)Φ(τ)の周
期性のために、関数φ(τ)は対称的Cある。これは ψ(t)−一Φ(を十τ)(4) であることを意味づ゛る。これから、各分岐において検
出された光のパワーは、周波数の関数として検出された
光のパワーの成分を表す周波数スペクトルを有する。
期性のために、関数φ(τ)は対称的Cある。これは ψ(t)−一Φ(を十τ)(4) であることを意味づ゛る。これから、各分岐において検
出された光のパワーは、周波数の関数として検出された
光のパワーの成分を表す周波数スペクトルを有する。
このスペクトルは次の成分に分けることができる。
一連続成分、
一5in(ΔΦ)に比例する周波数1/2τの成分すな
わち有用な成分、 −COS(ΔΦ)に比例する周波数1〜τの成分、−関
数の(τ)の正確な形に依存する高調波の種々の成分。
わち有用な成分、 −COS(ΔΦ)に比例する周波数1〜τの成分、−関
数の(τ)の正確な形に依存する高調波の種々の成分。
リング5を互いに逆向きに進む光の位相変調を表すこの
後者の関数は任意の形とすることができる。しかし、た
とえば方形波信号または正弦波信号を表す関数はいくつ
かの利点を有する。それらの利点は、そのような関数を
発生し、既知のスペクトルに従う高調波に分けることが
容易であること、またはそれらの信号に同期さぼること
が容易なことである。
後者の関数は任意の形とすることができる。しかし、た
とえば方形波信号または正弦波信号を表す関数はいくつ
かの利点を有する。それらの利点は、そのような関数を
発生し、既知のスペクトルに従う高調波に分けることが
容易であること、またはそれらの信号に同期さぼること
が容易なことである。
変更例(図示せず)においては、干渉計のリング5の各
端部に相反的効果の位相変調器を設けることができる。
端部に相反的効果の位相変調器を設けることができる。
各変調器は、1/2τの周波数において、
Φ (t)−一Φ2 (t) (5)と
いう関係が得られるように、周期的な移相を(Jう。、
ここに、Φ1 (t)は第1の位相変調器により与えら
れる移相量、Φ2 (t)は第2の位相変調器により与
えられる移相量である。tの値とは無関係に(5)式が
ほぼ成立するものとづると、対称性のためにこの特定の
装置により安定度が一層高くなる。
いう関係が得られるように、周期的な移相を(Jう。、
ここに、Φ1 (t)は第1の位相変調器により与えら
れる移相量、Φ2 (t)は第2の位相変調器により与
えられる移相量である。tの値とは無関係に(5)式が
ほぼ成立するものとづると、対称性のためにこの特定の
装置により安定度が一層高くなる。
検出モードにおいて光源のスイッチングに用いられる変
調周波数は1/2τ′ Cある。ここに、τ′は光路全
体を光が伝わるのに要する時間である。すなわち、干渉
計のリング5にお番プる光路と、光1I2100と分離
器4の間の入射−戻り光路とを光が伝わるのに要する時
間である。リング5中の伝播時間がその入射−戻り光路
を光が伝播する時間よりはるかに長いとすると、それら
2つの周波数は互いに非常に接近し、検出帯におい′C
寄生うなりを生ずることがある。これの理想的な解決法
は、スイッチング周波数を検出周波数の2倍に等しくす
ることである。光の総伝播時間がコイル中の光の伝播時
間の1.5倍に等しければ、上記解決法は可能である。
調周波数は1/2τ′ Cある。ここに、τ′は光路全
体を光が伝わるのに要する時間である。すなわち、干渉
計のリング5にお番プる光路と、光1I2100と分離
器4の間の入射−戻り光路とを光が伝わるのに要する時
間である。リング5中の伝播時間がその入射−戻り光路
を光が伝播する時間よりはるかに長いとすると、それら
2つの周波数は互いに非常に接近し、検出帯におい′C
寄生うなりを生ずることがある。これの理想的な解決法
は、スイッチング周波数を検出周波数の2倍に等しくす
ることである。光の総伝播時間がコイル中の光の伝播時
間の1.5倍に等しければ、上記解決法は可能である。
このことは、光源と分離器の間に遅延線を使用すること
を意味り°る。そのために、伝播遅延を行う別の光ファ
イバを用いる。そのために必要な光ファイバの長さは、
リングを構成する光ファイバ5の長さの4分の1である
。
を意味り°る。そのために、伝播遅延を行う別の光ファ
イバを用いる。そのために必要な光ファイバの長さは、
リングを構成する光ファイバ5の長さの4分の1である
。
第4図は付加光ファイバを用いたこの変更例を示すもの
である。この図に示す装置は、第3図に示す装置に加え
て、光ファイバ30の代りに「紙用の光ファイバ32を
用いる。他の全ての構成も採用でき、光ファイバ31の
代りに光ファイバ32を使用できる。
である。この図に示す装置は、第3図に示す装置に加え
て、光ファイバ30の代りに「紙用の光ファイバ32を
用いる。他の全ての構成も採用でき、光ファイバ31の
代りに光ファイバ32を使用できる。
本発明の第2の実施例においては、光源を、光ファイバ
を除く他のあらゆる光学素子を介することなしに、モー
ドフィルタ3に直結できる。その光源は光発生器および
光増幅器として用いられる。
を除く他のあらゆる光学素子を介することなしに、モー
ドフィルタ3に直結できる。その光源は光発生器および
光増幅器として用いられる。
第4図はこの第2の実施例を示す。光源1000は半導
体レーザダイオードであって、なるべくrGaAs (
ガリウム−ひ素)」型またはいわゆる「スーパールミネ
ッセント」型のダイオードを用いるようにする。このダ
イオードの前面すなわち光放出面は、図示の実施例にお
いては、中間光ファイバ30に光学的に結合される。レ
ーザダイオード1000の後面1002は、たとえばP
IN型ダイオード、のような通常の光検出素子600に
結合される。
体レーザダイオードであって、なるべくrGaAs (
ガリウム−ひ素)」型またはいわゆる「スーパールミネ
ッセント」型のダイオードを用いるようにする。このダ
イオードの前面すなわち光放出面は、図示の実施例にお
いては、中間光ファイバ30に光学的に結合される。レ
ーザダイオード1000の後面1002は、たとえばP
IN型ダイオード、のような通常の光検出素子600に
結合される。
光源に戻ってきた光はレーザダイオード1000により
増幅されてから、光検出器600により通常のやり方で
検出される。
増幅されてから、光検出器600により通常のやり方で
検出される。
両方の実施例においては、高速スイッチ(第2図の20
)または分離器(第1図の2)は省かれる。
)または分離器(第1図の2)は省かれる。
第1図は従来の干渉51の一例の概略図、第2図は従来
の干渉計の別の実施例の概略図、第3図は本発明の干渉
計の第1の実施例の概略図、第4図は第3図に承り実施
例の変更例の概略図、第5図は本発明の干渉a1の別の
実施例の概略図である・3・・・−E−ドフィルタ、4
・・・半透明鏡、5.30.31・・・光ファイバ(リ
ング)、40.41.42・・・導光器、60.600
・・・光検出器、100.1000・・・光源。
の干渉計の別の実施例の概略図、第3図は本発明の干渉
計の第1の実施例の概略図、第4図は第3図に承り実施
例の変更例の概略図、第5図は本発明の干渉a1の別の
実施例の概略図である・3・・・−E−ドフィルタ、4
・・・半透明鏡、5.30.31・・・光ファイバ(リ
ング)、40.41.42・・・導光器、60.600
・・・光検出器、100.1000・・・光源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、リングを形成する単一モード光ファイバと、コヒー
レントな光エネルギーを放射し、かつ受ける手段と、単
一モード光ファイバの両端部から出た放射を再び組合わ
せるために、放射されたコヒーレントな光エネルギーの
等しい部分を同時に単一モード光ファイバの2つの端部
へ向けるためにその放射を分離および混合する手段と、
この分離および混合手段と光エネルギー放射および受光
手段の間に配置されるモードフィルタ手段とを備え、前
記光エネルギー放射および受光手段は、正方向に分極さ
れた時に所定波長の光を放出し、逆方向に分極された時
にそれと同じ波長の光を検出する半導体ダイオードによ
り形成されるリング干渉計装置において、前記ダイオー
ドの光放出を制御するために前記ダイオードを順方向に
バイアスする手段と、電気信号処理器と、スイッチング
手段と、前記半導体ダイオードと順方向バイアス手段ま
たは電気信号処理器との間で電気的接続を交互に行うよ
うに前記スイッチング手段を制御する手段とを更に備え
ることを特徴とするリング干渉計装置。 2、特許請求の範囲1項記載の装置であっ て、τをリングにより形成された光路を波が伝わるのに
要する時間として、1/2τの周波数の周期的な信号に
より制御される少なくとも1つの正逆効果位相変調器を
備え、前記電気信号処理器は同じ周波数で同期する検波
器を備えることを特徴とする装置。 3、特許請求の範囲第2項記載の装置であって、半導体
ダイオードと、リングを形成する単一モード光ファイバ
の長さの4分の1に等しい長さの前記分離および混合手
段の間に配置される付加単一モード光ファイバを更に備
え、この付加単一モード光ファイバは遅延線を形成する
ことを特徴とする装置。 4、特許請求の範囲第1項記載の装置であって、前記半
導体ダイオードは「ガリウム−アルミニウム−ひ素/ガ
リウム−ひ素」型であることを特徴とする装置。 5、特許請求の範囲第1項記載の装置であって、前記半
導体ダイオードは「ガリウム−インジウム−ひ素−りん
/インジウム−りん」型であることを特徴とする装置。 6、特許請求の範囲第1項記載の装置であって、前記半
導体ダイオードは「ガリウム−アルミニウム−ひ素」型
の横方向接合構造であることを特徴とする装置。 7、リングを形成する単一モード光ファイバと、コヒー
レントな光エネルギーを放射し、かつ受ける手段と、単
一モード光ファイバの両端部から出た放射を再び組合せ
るために、放射されたコヒーレントな光エネルギーの等
しい部分を同時に単一モード光ファイバの2つの端部へ
向けるためにその放射を分離および混合する手段と、こ
の分離および混合手段と光エネルギー放射および受光手
段の間に配置されるモードフィルタ手段とを備え、前記
光エネルギー放射および受光手段は、コヒーレントな光
を放出する半導体ダイオードを備え、この半導体ダイオ
ードの第1の面は前記モードフィルタに光学的に結合さ
れ、前記半導体ダイオードの第2の面はオプトエレクト
ロニック検出器に光学的に結合され、前記半導体ダイオ
ードは、前記光エネルギー放射および受光手段へ再び送
られた光を検出の前に増幅することを特徴とするリング
干渉計装置。 8、特許請求の範囲第7項記載の装置であって、前記オ
プトエレクトロニック検出器は「PIN」型ダイオード
により形成されることを特徴とする装置。 9、特許請求の範囲第7項記載の装置であって、前記半
導体ダイオードは「ガリウム−ひ素」型のレーザダイオ
ードであることを特徴とする装置。 10、特許請求の範囲第7項記載の装置であって、前記
半導体ダイオードはスーパールミネッセントダイオード
であることを特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8508163 | 1985-05-30 | ||
| FR8508163A FR2582800B1 (fr) | 1985-05-30 | 1985-05-30 | Dispositif interferometrique en anneau a fibre optique monomode |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61277014A true JPS61277014A (ja) | 1986-12-08 |
| JP2569009B2 JP2569009B2 (ja) | 1997-01-08 |
Family
ID=9319703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61112443A Expired - Fee Related JP2569009B2 (ja) | 1985-05-30 | 1986-05-16 | リング干渉計装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US4842409A (ja) |
| EP (1) | EP0206866B1 (ja) |
| JP (1) | JP2569009B2 (ja) |
| CA (1) | CA1261448A (ja) |
| DE (1) | DE3662311D1 (ja) |
| FR (1) | FR2582800B1 (ja) |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0206866B1 (fr) | 1989-03-08 |
| EP0206866A1 (fr) | 1986-12-30 |
| FR2582800B1 (fr) | 1987-07-17 |
| US4842409A (en) | 1989-06-27 |
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