JPS61279144A - 電子部品の脚片の不良検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、ＩＣ素子等の電子部品の脚片の不良検出装置
に関し、特に基体とその両側に整列した複数の脚片とか
ら４ｉる電子部品の脚片の、主に整列方向に対して直交
する向きへの曲り或いは欠１（４を検出するための装置
に関する。

〈従来の技術〉 基体とその両側に連結された複数の脚片どからなる電子
部品を、予め回路板等の対応個所に毅りられた複数の細
孔に挿入して、前記電子部品を回路板上に固定するよう
にしているが、近年このような挿入作業を高速の自動挿
入装置により行うようにしている。この場合、回路板上
の複数の細孔の相ｎの位置関係は予め決められているた
め、電子部品の脚片の一部が曲がるなどしていると、電
子部品を回路板上に挿入することかできず、電子部品の
一部か欠損した最終製品か製造されたり、作業を中断し
て不良な製品をラインから除去しイ【ければイ【らない
等の不都合が牛Ｊる。

そこで、電子部品を回路板上、に固定ηる前に、その脚
片の連結状態をチェックし、ぞの脚片の曲がりが大きく
回路板１−の細孔に挿入てきないらのをラインから除去
づる必要がある。従来は、枚数の脚１１のぞれぞれの而
に光線を当てＣ，（の艮６＝１光を検出し、その画像と
正常イＴ電了部品の脚ｊ１の位置関係を比較して、両者
が一致覆るもの及び誤差か僅かで電子部品を回路板上（
こ固定するのに支障が′ｆ、Ｔい’ｔ）のを合格品どし
、仙を不良品どしてラインから除去するようにしていた
。

電子部品の脚片の整列方向に対して直交する向きへの曲
りを検出するためににｌ、脚片の後方から脚片とほぼ直
交づるように光線を照ｑ・１シ、脚１１の前／ｊ或いは
後方から脚片の状態を二次元画像とし゛て検出し、この
画像と正常な脚片の画像とを比較覆ることにより脚片の
責常を検出することか考えられでいる。

〈発明が解決しようどする問題点〉 しかしながら、この方法では、光源或いは検出部が脚Ｈ
の整列１）向に整合する位置になり、電子部品を搬送覆
る際の障害となり、光源、或い１３Ｉ、検出部を可動と
じＩこ場合には、多数の電子部品を検査するＴ程を高ｊ
＊化することが国φηとなる。

しかし１脚片の像を、脚片の整列方向から捕えようとす
るため、脚ｌ−１列か奥行きをｔ１シ、ブ、物ｊＪ）７
麻の大きい光学系、またはレーク９光線による厳密な平
行光線を必要とし、装置か複銘かつ高価どなる不都合が
ある。

〈問題点を解決するための手段〉 このような従来技術の欠点に鑑み、本発明の１−八日的
は、基体の両側に沿って整列した枚数の脚片を有Ｊる電
子部品の前記脚ｌ（の不良を検出部る装置１こ於て、光
線を、前記基体の両側の脚片列の間から前記基体の底面
に対して略平行に、かつ脚片の整列方向に対して斜めに
入口・１させ、前記脚）−１の外側に透過して来る光線
を、前記脚片の長さ方向の異する２つ以上の部分の一次
元画像として検出し、該２つ以上の一次元画像を比較し
、かつ前記脚片の像の間隔が８！［容範囲内であるか否
かを判別して、前配線片の責常を検出するようにしたこ
とを特徴とする電子部品の脚Ｊ）の不良検出装置を提供
することにある。

〈作用〉 このように、入用光線が斜め方向から入用されるため、
光源或いＩＪ、検出部を電子部品の搬送方向から離れた
位置に設けることかでき、しかも検出部として一次元セ
ン１ノを用いるため横進が工ｔ１純で演む。

〈実施例〉 以下に添ト１の図面を参照して本を明を特定の実施例に
ついて詳細に説明する。

第１図は、正常な脚片を有するＩＣ索子１から。

なる電子部品を示しでおり、モールド成形して＜【る基
体２の両側面にぞれぞれ複数の脚片３．４が設けられて
いる。基体２の前端には方向識別用のノツチ５が設Ｃプ
られている。従来は、矢印Ｘにより示すように、脚片３
．４の整列方向から脚片３の、矢印ＹにＪ：り示ず左右
方向への曲りを検出していたが、ＩＣ素子の搬送の都合
、或いは焦点深度の大きい光学系を必要とＪる等の問題
があった。

第２図は、本発明装置の第１実施例を示す概略図である
。

偏平四角形状の断面を有する基体２の左右両端からは複
数の脚片３．４が突出し、それぞれ基端近傍にて下向ぎ
に折曲されている。ＩＣ素子１にｌ、搬送路１０上に跨
ぐにうにして載賄され、左右両側の脚Ｊ１３．４の列の
間に位置ηる搬送路１０の下部に水平り向に対して約４
５°の角度をなずＪ、うに陵側鏡１１が配設されている
。

反側鏡１１の斜め下方には別の反側鏡１２が設置され、
光源１３からの光線は、反則鏡１２．１１により向きを
変更され、第２図に於ｃ）る右方向を向く一つの光線群
とされる。

この光線群は、その一部が脚片４の部分（１）に当って
遮蔽され、残りが脚片４の右方へ直進し、反射１７１１
４　Ｇこより第２図に於ける下向きに進路を変えられ、
レンズ１５により、イメージセン１３−１６上に作を結
ぶ。この像は、脚片４が存在する部分のみが暗いシルエ
ツト像となる。セン１ノ１６の受感部１６ａは線状をな
すもので、脚片４が成る水平面と交差する部分（Ｉ＞の
二次元画像をとらえる。

セン１）１６には、ボールスクリューを内蔵するパルス
モータ１７が連結され、このパルスモータ１７１ＪＪ、
す１７ンリ１（注目第２図に想像線で示Ｊ通り）「石に
移動し、同＋１．’ｌに受感部１６　ａ　’ｂ位置が変
わることｌ、ニアニー＜ろ１．移動しｌＪ受感部１６８
にに１、移動前と１、ｉ、巽イｊ・）！、７経路の光線
か入側して像を結／Ｓ’１ことどイする。この像（，１
２、第２図に於にる脚片４の安イする水平線ど交差−り
る部分（ＴＩ）の一次元像て。

ある。

第３３図及び／−Ｊｓ−４図ＣＩ２、第２図の実施例の
側面図び平面図である１、第一のｒＱ　［ＪＩ鋭１２は
水平向に対し−Ｃ約５ε３１食を４１してｄ３す、第一
、のｆシ側鏡１１の縦口＝１　）Ｓ’、は水平ノ“１向
を向いている。

従ツーＣ１ｕＱ＝Ｊル１．−１光源１３Ｊ：　リノ光Ｉ
Ｊ１、ＩＣ索子１の前方の斜め下方から両脚ｊ１の列の
間に向（）て入口４され、脚Ｊ’７列を通過した光源は
、水平面トを斜め方向に進行覆ることとく２る。

このように、本発明にＪ−れば、脚１１列を斜め方向（
こ透過して来る）１１１線を捕えるため、受感部に結ば
れｌこ像には脚ｊ１の遠近が像の人きざの３ｔＵいどし
て現われる。叩ら、第５図に示したように、各脚片は、
レンズの４：ｔ　ｉｒＹを表ね１Ｐ点から対応する脚片
の張る角度に比例する大きさの像として受感部１６ａに
結像される。従って、脚片を遠いものから順に４１〜４
４とし点Ｐから名脚片の張る角度を８１〜ａ４とすれば
、ａｌ　＜ａ２　＜ａ３　＜ａ４となる。各脚片間の間
隔［）１〜［）３についても同様の関係が成立する。

従って、イメージセンサを１１１間的に走査すると、第
６図に示されたような２つの波形がｊｑられ、各脚片４
１〜４４に対応するパルス幅Ａ１〜Ａ４は、対応する角
度８１〜ａ４に比例している。ぞこで、このＪ−うな遠
近差の影響を、幾何学的関係に基づいて補正することに
より、脚片の曲りの判定精度を高めることができる。

第６図に示された波形図は、正常な脚片から得られたも
ので、上下方向に間隔をおいて設定された脚片４の２つ
の位置（Ｔ）（ＴＩ＞について得られたパルスタイミン
グが一致しており、しかもパルス間隔が所定の許容範囲
内にある。

第７図に於て（ま、脚片４１が、内向きに曲り、（−行
余白） 脚片４３が外向きに曲っていることか、２つの位置から
１ｉＶられたパルスのタイミングの不一致として検出さ
れる。第８図に示された波形に於いては、各脚Ｊ”＋”
１１〜４４に対応する全てのパルスのり、イミングが−
・致しているか、隣接覆るパルス間の間隔が適切でイＴ
いものがあり、脚片４３か上下方向には真直であってｂ
、他の脚ｊキＪ、リム外側に張り出し−Ｃいることが解
る。

本発明によれば、このにうにして脚片の内外方向、即ら
左右方向の曲り或いは欠損を判別できるが、脚片が前後
方向即ち脚Ｈの整列方向に向【ノて曲っていた場合には
その影響も受（−Ｊることとなる。

ぞこで、脚片の前後方向の曲りを別途検出しておいて、
前後方向の曲りかに’ｌ容範囲外の：ｂのを無茶ｆｌ不
合格どしで除去し、或いは幾何学的関係に基づいて前後
方向の曲りの影響を考慮して本発明を実施覆るとＱい。

第９図Ｌ−１１本発明に基づく装置の第２の実施例を示
す概略図で、第１実施例と同一部材には同一符号を６１
して詳しい説明を省略覆る。

−〇　− 反口・１鏡１１により右方向に進路を変えられた光線群
は、前記実施例と同様に反射鏡１８にＪ、りぞの進路を
下向きに変えられ、レンズ１５により、センサ−１６の
受感部１６ａに脚ｊ１１４の土部（’Ｉ）に対応する像
を結ぶ。次に、想像線にＪ−リ示されるように、反射鏡
１８を傾斜さｔ！るど、第１実施例と同じように脚片４
の下部（ＩＴ）に対レト４、ηる像がセンサ１６の受感
部１６ａ上に結ばれる。従って、名作に於ける脚片の間
隔を判別し、二つの像を比較することにより、合格品と
不良品とを識別することができる。

本実施例に於【プる反ｑ１鏡１８は、例えば」−下に一
対の帯線を連結し、ｈつ両側に空間をあ（プて磁極端を
設置し、かつ帯線に電流を通ずことにＪ−り傾動可能な
、所謂ガルバミラーと呼ばれる構造からなるものであっ
て良い。また、十記実施例に於いては、八日ゲンランプ
等の白熱灯を光源としているが、任意形式の光源を用い
ることかでき、必要に応じてレーザ光を用いて−ｂ良い
。

〈発明の効果〉 本発明によれば、透過光を利用するため、脚）１の表面
状態にノ’ｒ右されることなく、脚片の左右方向の４１
′／置を一次元の像として確実に検出することかできる
。しか−ｂ１検出される像が一次元であり、しか−ら焦
点深度の大きな光学系或いは１ノーリ”光線を用いなく
とｂｍいため、装置が復雑化することがなく、高速動作
が可能であるため操作上或いは経演−１−の効果が大ぎ
い。

【図面の簡単な説明】

第１図は脚片の曲りを想像線により示乃電子部品の斜視
・図である。 第２図は本発明に基づく装置の第１の実施例を示Ｊ概略
正面図である 第３図及び第４図は、ぞれぞれ第２図に示した実施例の
の要部゛の側面図及び平面図である。 第５図ｋ１．脚片の遠近差により対応脚片像の大小関係
を示す説明図である。 第６〜８図はイメージレンリから１ｑられる信号の波形
図である。 第９図は本発明に基づく装置の第２の実施例を示′１３
慨略正而図である。 １・・・ＩＣ素子　　　　２・・・基体３．４・・・脚
１４　　　　ｈ・・・ノツチ１０・刊般送路　　　　１
１．１２・・・反０−１鏡１３・・・光源　　　　　１
４・・・反射鏡１５・・・レンズ　　　　１６・・・１
＝ンリ１６ａ・・・受感部　　　１７・・・パルスモー
タ１８・・・反射鏡

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 基体の両側に沿って整列した複数の脚片を有する電子部
   品の前記脚片の不良を検出する装置に於て、 光線を、前記基体の両側の脚片列の間から前記基体の底
   面に対して略平行に、かつ脚片の整列方向に対して斜め
   に入射させ、前記脚片の外側に透過して来る光線を、前
   記脚片の長さ方向の異なる２つ以上の部分の一次元画像
   として検出し、該２つ以上の一次元画像を比較し、かつ
   前記脚片の像の間隔が許容範囲内であるか否かを判別し
   て、前記脚片の異常を検出するようにしたことを特徴と
   する電子部品の脚片の不良検出装置。