JPS6128109B2 - - Google Patents
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- JPS6128109B2 JPS6128109B2 JP11832378A JP11832378A JPS6128109B2 JP S6128109 B2 JPS6128109 B2 JP S6128109B2 JP 11832378 A JP11832378 A JP 11832378A JP 11832378 A JP11832378 A JP 11832378A JP S6128109 B2 JPS6128109 B2 JP S6128109B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放射線の被曝線量を測定する熱ルミネ
ツセンス測定装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a thermoluminescence measuring device for measuring radiation exposure dose.
ある種の物質(CaSO4:Tm,Li2B4O7:Cu,
Agなど)は、放射線の照射を受けた後、光や温
風などで加熱すると、放射線の被曝量に応じた光
を発生することが知られている。この性質を利用
して、発生した光を光電変換装置により、電気信
号に変換し、放射線の被曝量を知るための装置が
熱ルミネツセンス測定装置である。このような熱
ルミネツセンス測定装置は、前記のような物質を
収納した熱ルミネツセンス線量計(以下、TLD
素子と呼ぶ)を加熱するための加熱系、TLD素
子を加熱系まで移動させる駆動系、光電子増倍管
などよりなる光電変換系、加熱系において発生し
た光を充電子増倍管に導くための光学系、光電変
換系の出力を処理するための信号処理系、測定値
を表示あるいは記録するための表示系などを備え
ている。これらの各系のうち、光学系や光電変換
系(特に光電子増倍管)はゴミや汚れなどによる
経時変化が大きいので、同一の発生量に対して、
同一の測定出力が得られるよう、適宜校正を行う
必要がある。 Certain substances (CaSO 4 :Tm, Li 2 B 4 O 7 :Cu,
It is known that when materials (such as Ag) are irradiated with radiation and then heated with light or hot air, they emit light that corresponds to the amount of radiation they were exposed to. A thermoluminescence measurement device is a device that utilizes this property to convert the generated light into an electrical signal using a photoelectric conversion device to determine the amount of radiation exposure. Such a thermoluminescence measurement device is a thermoluminescence dosimeter (hereinafter referred to as TLD) containing the above-mentioned substance.
A heating system for heating the TLD element (called a TLD element), a drive system for moving the TLD element to the heating system, a photoelectric conversion system consisting of photomultiplier tubes, etc., and a system for guiding the light generated in the heating system to the charger multiplier tube. It is equipped with an optical system, a signal processing system for processing the output of the photoelectric conversion system, and a display system for displaying or recording measured values. Among these systems, optical systems and photoelectric conversion systems (especially photomultiplier tubes) are subject to large changes over time due to dust and dirt, so for the same amount of generation,
It is necessary to perform appropriate calibration to obtain the same measurement output.
従来、そのような校正を行なうためには、常に
一定な光を放出する校正光源(例えばCからのβ
線を螢光物質に照射して一定な光を放出するよう
にしたもの)をTLD素子に代えて熱ルミネツセ
ンス測定装置に挿入して光学系、その他を経て得
られる校正光源の発光による出力を記録してお
き、後で、TLD素子からの測定値を補正する
か、校正光源の発光出力を一定の基準値になるよ
うに光電子増倍管の利得等を調整していた。 Conventionally, in order to perform such calibration, a calibration light source that always emits constant light (for example, β from C
Instead of a TLD element, a device (which is made by irradiating a fluorescent material with a ray of light to emit a constant amount of light) is inserted into a thermoluminescence measuring device to record the output from the light emitted by the calibration light source obtained through the optical system and others. Then, later, the measured value from the TLD element was corrected, or the gain of the photomultiplier tube etc. was adjusted so that the light emission output of the calibration light source became a constant reference value.
しかしながら、本装置のように多数のTLD素
子を測定する装置においては、どちらの方法も手
間が大変で、大きな問題点であつた。またこの測
定装置を最初に装置を起動させた時、TLD素子
から発生する光の量とTLD素子の被曝量との対
応をさせる事(値付け)は、TLD素子の発光
量、熱源のバラツキがあつてTLD素子をいくつ
も測定する必要があり、手間のかかる仕事であつ
た。 However, in an apparatus that measures a large number of TLD elements such as the present apparatus, both methods require a lot of effort and are a major problem. In addition, when this measuring device is first started up, the amount of light emitted from the TLD element corresponds to the amount of radiation exposure of the TLD element (value setting), which means that variations in the amount of light emitted by the TLD element and the heat source can be avoided. It was a labor-intensive task, as it required measuring multiple TLD elements.
本発明は、上記のような経時変化を補償するた
めの校正と、値付けを容易に自動的に行なえる熱
ルミネツセンス測定装置を提供するものである。 The present invention provides a thermoluminescence measuring device that can easily and automatically perform calibration to compensate for the above-mentioned changes over time and pricing.
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明
する。第1図は、本発明装置の概略を示してお
り、マガジン4に収納されているTLD素子1
が、取り出され、測定位置へ移動されて、止つて
いる図である。TLD素子1は、4ケあり、エレ
メントプレート2に付着しており、ホルダ3の中
に収納された状態(これをTLバツジという)で
マガジン4の中に通常は収納されている。マガジ
ン4は50ケのTLバツジを収納できる。このTLバ
ツジ押上げ棒(図示せず)で上に押しあげ、ホル
ダ3に付与してある番号孔5を6の番号読取ユニ
ツトで読取る。しかる後に、スライド7でもつ
て、エレメントプレート2を引つぱり出し、光電
子増倍管10と光ガイド11のある測定位置まで
順次TLD素子1を移動させ測定する。その時、
加熱は、12の赤外線ランプにより、パルス的に
行ない、ランプ光の熱線だけをTLD素子1に入
射させるように、13のシリコンフイルターを設
置してある。 Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 schematically shows the device of the present invention, in which the TLD element 1 stored in the magazine 4
is taken out, moved to a measurement position, and stopped. There are four TLD elements 1, which are attached to an element plate 2, and are normally stored in a magazine 4 while being housed in a holder 3 (this is called a TL badge). Magazine 4 can store 50 TL badges. Push up this TL badge with a push-up rod (not shown) and read the number hole 5 provided on the holder 3 with a number reading unit 6. Thereafter, the slide 7 is used to pull out the element plate 2, and the TLD element 1 is sequentially moved to a measurement position where the photomultiplier tube 10 and the light guide 11 are located for measurement. At that time,
Heating is performed in a pulsed manner using 12 infrared lamps, and 13 silicon filters are installed so that only the hot rays of the lamp light are incident on the TLD element 1.
また、スライド7には被曝していないTLD素
子(零点用素子という)8と、校正光源9が付与
されており、TLD素子1を測定する前に前記の
測定系で測定し、装置のチエツクを行なう。 Furthermore, the slide 7 is provided with a TLD element (referred to as a zero point element) 8 which is not exposed to radiation, and a calibration light source 9. Before measuring the TLD element 1, it is necessary to measure the TLD element 1 with the aforementioned measurement system and check the device. Let's do it.
第2図において、20は被測定物であり、前記
のTLD素子1または、零点用素子8、または校
正光源9である。21は被測定物20の発生する
光を電気信号(この場合は、パルス数)に変換す
るための光電変換部であり、例えば、光電子増倍
管が用いられる。22はパルス計数回路であり、
光電変換部21の出力が印加される。パルス計数
回路22の出力は一時記憶であるバツフア23に
印加される。バツフア23の出力は切換スイツチ
36の固定接点37に接続されている。切換スイ
ツチ36は3つの切換接点a,b,cから構成さ
れている。切換接点aは、変換係数発生回路29
に接続され、この変換係数発生回路29の他方の
入力には、照射線量設定部27の出力信号が印加
されている。変換係数発生回路29の出力はメモ
リ()30の入力側に接続されている。メモリ
()30の出力は掛算器31に一つの入力とし
て供給される。このメモリ30としては不揮発性
のものが必要であり、磁気コアメモリ、ワイヤメ
モリ等が考えられるが、一例として、MNOSを用
いた半導体不揮発生メモリは、回路構成が簡単
で、メモリ容量が小さい時には便利である。切換
接点bは掛算器31の1つの入力信号として接続
されている。切換接点Cは、校正係数発生回路3
2に接続され、この校正係数発生回路32の他方
の入力には、校正標準設定部34の出力信号が印
加されている。校正係数発生回路32の出力はメ
モリ()33の入力側に接続されている。メモ
リ()33の出力は掛算器31に1つの入力と
して印加される。このメモリ()33は前記の
メモリ()30と同様に不揮発性である。ま
た、照射線量設定部27、校正標準値設定部34
は、デジタルSWもしくは、上記不揮発性メモリ
から構成される。 In FIG. 2, reference numeral 20 denotes an object to be measured, which is the TLD element 1, the zero point element 8, or the calibration light source 9. 21 is a photoelectric conversion unit for converting light generated by the object to be measured 20 into an electrical signal (in this case, the number of pulses), and for example, a photomultiplier tube is used. 22 is a pulse counting circuit;
The output of the photoelectric conversion section 21 is applied. The output of the pulse counting circuit 22 is applied to a buffer 23 which is a temporary memory. The output of the buffer 23 is connected to a fixed contact 37 of a changeover switch 36. The changeover switch 36 is composed of three changeover contacts a, b, and c. Switching contact a is the conversion coefficient generating circuit 29
The output signal of the irradiation dose setting unit 27 is applied to the other input of the conversion coefficient generation circuit 29. The output of the conversion coefficient generation circuit 29 is connected to the input side of the memory ( ) 30. The output of memory ( ) 30 is supplied as one input to multiplier 31 . This memory 30 needs to be nonvolatile, and magnetic core memory, wire memory, etc. can be considered, but as an example, a semiconductor nonvolatile memory using MNOS has a simple circuit configuration and a small memory capacity. It's convenient. Switching contact b is connected as one input signal of multiplier 31. The switching contact C is the calibration coefficient generating circuit 3.
2, and the output signal of the calibration standard setting section 34 is applied to the other input of the calibration coefficient generating circuit 32. The output of the calibration coefficient generation circuit 32 is connected to the input side of the memory ( ) 33. The output of memory ( ) 33 is applied as one input to multiplier 31 . This memory ( ) 33 is nonvolatile like the memory ( ) 30 described above. In addition, the irradiation dose setting section 27 and the calibration standard value setting section 34
is composed of a digital SW or the above-mentioned nonvolatile memory.
制御部28は操作部26の出力信号と、マガジ
ン検出部38の出力信号によつて、切換スイツチ
37をa,b,cに切換える。マガジン検出部3
8は、マガジンの先頭が、素子押上げ棒の位置に
来たことを検出する装置である。25のメカニカ
ル駆動部は、第1図で説明したように、マガジン
を移動し、TLD素子を引出す駆動部であり、2
8の制御部によつて制御される。24は、被測定
物20を加熱するための加熱装置であり、TLD
素子及び零点素子が、測定位置に来た時のみ加熱
されるように制御される。 The control section 28 switches the changeover switch 37 to a, b, and c based on the output signal of the operation section 26 and the output signal of the magazine detection section 38. Magazine detection section 3
8 is a device for detecting when the head of the magazine has come to the position of the element push-up rod. As explained in FIG. 1, the mechanical drive unit 25 is a drive unit that moves the magazine and pulls out the TLD element.
8 control section. 24 is a heating device for heating the object to be measured 20, and TLD
The element and the zero point element are controlled so that they are heated only when they come to the measurement position.
校正光源の光量は、予め他の計測器で読み取る
ことが出来るので、その読み取り値を校正標準値
設定部34にセツトする。 Since the light intensity of the calibration light source can be read in advance with another measuring device, the read value is set in the calibration standard value setting section 34.
また、切換接点bと、校正標準値設定部34の
出力は、校正標準値比較回路39に印加されてお
り、該比較回路39の出力は、警報出力部40に
印加されている。 Further, the outputs of the switching contact b and the calibration standard value setting section 34 are applied to a calibration standard value comparison circuit 39, and the output of the comparison circuit 39 is applied to the alarm output section 40.
次に、この実施例の全体の動作を説明する。ま
ず、値付けする場合について説明する。一般に照
射線量Dcとパルス計数回路22で得た、パルス
の数Ncとの間には、光学系、光電変換系の変動
がない時は以下の関係となる。 Next, the overall operation of this embodiment will be explained. First, the case of pricing will be explained. Generally, the following relationship exists between the irradiation dose Dc and the number Nc of pulses obtained by the pulse counting circuit 22 when there are no fluctuations in the optical system or photoelectric conversion system.
Dc=Cs・Nc … 但しCsは、変換係数である。 Dc=Cs・Nc... However, Cs is a conversion coefficient.
値付けは、このCsの値をもとめることであ
る。まず、操作部26で制御部28を動作し、切
換接点をaにしておく。約20ケのTLバツジに放
射線を一定値照射し、その値Rsを、照射線量設
定部27にセツトし、前記TLバツジをマガジン
に収納し測定させる。第1図で示したように、
TLバツジからTLD素子は抜取られ加熱装置24
で加熱され、光電変換装置21、パルス計数回路
22を通つて測定値がバツフア23で一次記憶さ
れる。全部のTLD素子(20×4=80個)が測定
され記憶されると、切換接点aを通り変換係数発
生回路29に該測定値が印加される。変換係数発
生回路29は、バツフア23で記憶したデータの
平均値を計算しNa、照射線量設定部27からの
出力値Rsから、Csを計算する。即ち、Rs∝Nsで
あるからRs/Nsを計算し、これをCsとする。メ
モリ()30はこのCsの値を記憶し、メモリ
()30の出力信号は、掛算器31に印加され
る。約20ケのTLバツジを測定し、平均値により
値付けすると、TLD素子のバラツキ、線源のバ
ラツキがなくなり正しい値付けができる。次に、
校正測定する場合を考える。光学系、光電変換系
の変動があるものとすると式は、
Dc=Sr・Cs・Nc …
という関係式になる。但し、Srは、光学系、光
電変換系を校正する校正係数である。 Pricing involves finding the value of Cs. First, the control section 28 is operated using the operation section 26, and the switching contact is set to a. Approximately 20 TL badges are irradiated with a fixed amount of radiation, the value Rs is set in the irradiation dose setting section 27, and the TL badges are stored in a magazine and measured. As shown in Figure 1,
The TLD element is extracted from the TL batch and placed in the heating device 24.
The measured value is temporarily stored in a buffer 23 through a photoelectric conversion device 21 and a pulse counting circuit 22. When all TLD elements (20×4=80) are measured and stored, the measured values are applied to the conversion coefficient generation circuit 29 through the switching contact a. The conversion coefficient generation circuit 29 calculates the average value of the data stored in the buffer 23, Na, and calculates Cs from the output value Rs from the irradiation dose setting section 27. That is, since Rs∝Ns, Rs/Ns is calculated and this is set as Cs. Memory ( ) 30 stores the value of Cs, and the output signal of memory ( ) 30 is applied to multiplier 31 . By measuring approximately 20 TL badges and assigning a price based on the average value, it is possible to determine the correct price since variations in TLD elements and sources are eliminated. next,
Consider the case of calibration measurement. Assuming that there are fluctuations in the optical system and photoelectric conversion system, the equation becomes the following relational expression: Dc=Sr・Cs・Nc... However, Sr is a calibration coefficient for calibrating the optical system and photoelectric conversion system.
校正測定は、マガジン毎に第1図に示した校正
光源9を一定回数(例えば10回)測定することで
ある。即ち、マガジンの先頭を検出するマガジン
検出部38によつて切換接点はcに切換えられ
る。TLバツジが押し上げられ、スライド7がエ
レメニトプレート2を引ぱり、校正光源9が測定
位置にきた時、校正光源9からの光は一定回数測
定され、前記の値付けと同じように、23のバツ
フアに一時記憶される。但し、この場合、加熱装
置24は動作しない。一定回数(例えば10回)測
定され記憶されると、切換接点cを通り、校正係
数発生回路32に印加される。校正係数発生回路
32はバツフア23で記憶したデータの平均値を
計算しNr、校正標準値設定部34からの出力値
RrからSrを計算する。即ちSr=Rr/Nrを発生さ
せ、メモリ33に印加する。メモリは、Sr
の値を記憶し、出力信号を掛算器31に印加す
る。 The calibration measurement involves measuring the calibration light source 9 shown in FIG. 1 a fixed number of times (for example, 10 times) for each magazine. That is, the switching contact is switched to c by the magazine detection section 38 that detects the head of the magazine. When the TL button is pushed up, the slide 7 pulls the element plate 2, and the calibration light source 9 comes to the measurement position, the light from the calibration light source 9 is measured a certain number of times, and the value of 23 is measured in the same way as the above value setting. Temporarily stored in Batsuhua. However, in this case, the heating device 24 does not operate. When measured a certain number of times (for example, 10 times) and stored, it is applied to the calibration coefficient generation circuit 32 through the switching contact c. The calibration coefficient generation circuit 32 calculates the average value of the data stored in the buffer 23 and outputs Nr, the output value from the calibration standard value setting section 34.
Calculate Sr from Rr. That is, Sr=Rr/Nr is generated and applied to the memory 33. Memory is Sr.
The value of is stored and the output signal is applied to the multiplier 31.
次に、TLバツジを測定する場合を考える。こ
の場合、切換接点はbに切換えられる。第1図に
示すように、TLバツジは素子押上棒によつて押
し上げられ、スライド7によつて引き出されたエ
レメントプレート2に付着しているTLD素子1
が測定位置に来ると、ランプ12により加熱され
光電変換部21で受光され、パルス計数回路22
で計数され、バツフア23に一時記憶される。読
取つたデータは、メモリ30、メモリ33の
出力値Cs,Crと各々31で掛け合わされ正しく校
正、値付けされた値(即ち、計数値をNMとする
と被曝量DMはDM=Sr×Cs×NMとなる。)が掛
算器31から出力され、表示出力部35に印加さ
れる。校正光源9はマガジン毎に測定され、その
測定間隔は時間的に短いものなので、マガジン間
の経年変化は無視してよく、その間のTLD素子
は正しく校正されていると考えてよい。 Next, consider the case of measuring TL badges. In this case, the switching contact is switched to b. As shown in FIG. 1, the TL button is pushed up by the element push-up rod, and the TLD element 1 attached to the element plate 2 pulled out by the slide 7.
When it reaches the measurement position, it is heated by the lamp 12 and received by the photoelectric conversion section 21, and the pulse counting circuit 22
It is counted and temporarily stored in the buffer 23. The read data is multiplied by 31 with the output values Cs and Cr of the memory 30 and the memory 33, respectively, to a correctly calibrated and valued value (that is, if the count value is N M , the exposure amount D M is D M = Sr × Cs× NM ) is output from the multiplier 31 and applied to the display output section 35. The calibration light source 9 is measured for each magazine, and the measurement interval is short in terms of time, so aging changes between magazines can be ignored, and it can be considered that the TLD elements during that period are correctly calibrated.
なお、校正光源9は、TLバツジ測定直前にも
1回測定され、その読取値は切換スイツチ36の
接点bを経由して、校正読取値比較回路38に印
加され、校正標準値設定部34の標準値と校正読
取値比較回路38で比較され、該読取値が、一定
範囲内にあるかどうかをチエツクする。一定範囲
外になると、該測定装置を止めて、警報出力部3
9を動作させ、以後、TLD素子を誤つて測定す
ることを防止している。また、校正読取値比較回
路38は、この場合にのみ動作し、校正測定及
び、TLD素子を測定する場合は、動作しないよ
うに制御部28は制御している。 Note that the calibration light source 9 is measured once just before the TL badge measurement, and the reading value is applied to the calibration reading value comparison circuit 38 via the contact b of the changeover switch 36, and is applied to the calibration standard value setting section 34. The standard value is compared with the calibration reading value comparison circuit 38 to check whether the reading value is within a certain range. When the measurement device is out of a certain range, the measuring device is stopped and the alarm output section 3 is activated.
9 to prevent future erroneous measurements of the TLD element. Further, the control unit 28 controls the calibration reading value comparison circuit 38 so that it operates only in this case, and does not operate when performing calibration measurement and measuring the TLD element.
以上の説明から明らかなように経時変化を補償
するための校正は、マガジン毎に自動的に行なわ
れると共にTLバツジ毎に校正光源を測定するの
で、校正作業が簡単になると共に、データの信頼
性が上る。また、値付けが自動的に行なわれるの
で、装置始動時の煩雑な仕事がなくなる等の利点
を有するものである。 As is clear from the above explanation, calibration to compensate for changes over time is automatically performed for each magazine and the calibration light source is measured for each TL badge, which simplifies the calibration work and improves the reliability of the data. rises. Furthermore, since the pricing is done automatically, there is an advantage that there is no need for complicated work at the time of starting the device.
第1図は本発明の一実施例における熱ルミネツ
センス測定装置の概略図、第2図は同装置のブロ
ツク図である。
1……熱ルミネツセンス線量計(TLD素子)、
2……エレメントプレート、3……ホルダ、4…
…マガジン、5……番号孔、6……番号読取ユニ
ツト、7……スライド、8……零点用素子、9…
…校正光源、10……光電子増倍管、11……光
ガイド、12……赤外線ランプ、13……シリコ
ンフイルター、20……被測定物、21……光電
変換部、22……パルス計数回路、23……バツ
フア、24……加熱装置、25……メカニカル駆
動部、26……操作部、27……照射線量設定
部、28……制御部、29……変換係数発生回
路、30……メモリ、31……掛算器、32…
…校正係数発生回路、33……メモリ、34…
…校正標準値設定部、35……表示出力部、36
……切換スイツチ、37……固定接点、38……
マガジン検出部、39……校正標準値比較回路、
40……警報出力部。
FIG. 1 is a schematic diagram of a thermoluminescence measuring device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of the same device. 1...Thermoluminescence dosimeter (TLD element),
2... Element plate, 3... Holder, 4...
... Magazine, 5 ... Number hole, 6 ... Number reading unit, 7 ... Slide, 8 ... Zero point element, 9 ...
... Calibration light source, 10 ... Photomultiplier tube, 11 ... Light guide, 12 ... Infrared lamp, 13 ... Silicon filter, 20 ... Measurement object, 21 ... Photoelectric conversion section, 22 ... Pulse counting circuit , 23... Buffer, 24... Heating device, 25... Mechanical drive section, 26... Operation section, 27... Irradiation dose setting section, 28... Control section, 29... Conversion coefficient generation circuit, 30... Memory, 31... Multiplier, 32...
...Calibration coefficient generation circuit, 33...Memory, 34...
...Calibration standard value setting section, 35...Display output section, 36
...Selector switch, 37...Fixed contact, 38...
Magazine detection unit, 39... Calibration standard value comparison circuit,
40... Alarm output section.
Claims (1)
を有するTLバツジを複数個収納してなるマガジ
ンと、上記熱ルミネツセンス線量計を加熱する手
段と、校正光源と、上記熱ルミネツセンス線量計
及び上記校正光源を測定位置に移動させる手段
と、上記線ルミネツセンス線量計及び上記校正光
源からの光量を測定する手段と、この測定値を記
憶する第1のメモリと、上記熱ルミネツセンス線
量計に、値付けるために照射される線量を記憶す
る照射線量設定部と、光量と線量との変換係数を
演算する手段と、この変換係数を記憶する第2の
メモリと、上記校正光源の校正標準値を設定する
校正標準値設定部と、校正係数を演算する手段
と、この校正係数を記憶する第3のメモリと、掛
算器と、比較器とを備え、値付け時に、複数個の
上記熱ルミネツセンス線量計に所定の線量を照射
し、この熱ルミネツセンス線量計の光量測定値
と、上記所定の線量値とから、変換係数を演算
し、マガジン毎の校正時に、上記校正光源さらの
光量の複数回の測定値と、上記標準値とから校正
係数を演算し、測定時に、上記線量計の光量測定
値、前記変換係数及び、上記校正係数とを乗算
し、この乗算結果を被曝量とするとともに、上記
TLバツジ毎に、上記校正光源からの光量を測定
し、校正標準値と比較し、許容範囲内にあるかど
うかのチエツクを行なうことを特徴とする熱ルミ
ネツセンス測定装置。1. A magazine containing a plurality of TL badges having one or more thermoluminescent dosimeters, means for heating the thermoluminescent dosimeter, a calibration light source, and the thermoluminescent dosimeter and the calibration light source. means for moving the thermoluminescent dosimeter to a measurement position; means for measuring the amount of light from the linear luminescent dosimeter and the calibration light source; a first memory for storing the measured values; an irradiation dose setting unit for storing the dose to be applied, a means for calculating a conversion coefficient between the light amount and the dose, a second memory for storing the conversion coefficient, and a calibration standard value for setting the calibration standard value of the calibration light source. The device includes a setting unit, a means for calculating a calibration coefficient, a third memory for storing the calibration coefficient, a multiplier, and a comparator, and is configured to set a predetermined dose to a plurality of thermoluminescent dosimeters at the time of pricing. A conversion coefficient is calculated from the light intensity measurement value of this thermoluminescence dosimeter and the above-mentioned predetermined dose value, and when calibrating each magazine, the multiple measurement values of the light intensity of the above-mentioned calibration light source and the above-mentioned light intensity are calculated. A calibration coefficient is calculated from the standard value, and at the time of measurement, the light intensity measurement value of the dosimeter, the conversion coefficient, and the calibration coefficient are multiplied, and this multiplication result is used as the exposure dose, and the above
A thermoluminescence measurement device characterized in that for each TL badge, the amount of light from the calibration light source is measured, compared with a calibration standard value, and checked to see if it is within an allowable range.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11832378A JPS5544936A (en) | 1978-09-25 | 1978-09-25 | Thermo-luminescence measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11832378A JPS5544936A (en) | 1978-09-25 | 1978-09-25 | Thermo-luminescence measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5544936A JPS5544936A (en) | 1980-03-29 |
| JPS6128109B2 true JPS6128109B2 (en) | 1986-06-28 |
Family
ID=14733817
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11832378A Granted JPS5544936A (en) | 1978-09-25 | 1978-09-25 | Thermo-luminescence measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5544936A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5887484A (en) * | 1981-11-20 | 1983-05-25 | Kasei Optonix Co Ltd | Thermal fluorescence dose reading device |
| DE69608636D1 (en) * | 1995-10-20 | 2000-07-06 | Agfa Gevaert Nv | Image element and method for producing a lithographic printing plate by the silver salt diffusion transfer method |
-
1978
- 1978-09-25 JP JP11832378A patent/JPS5544936A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5544936A (en) | 1980-03-29 |
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