JPS61281984A - 磁束計 - Google Patents

磁束計

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JPS61281984A
JPS61281984A JP60122526A JP12252685A JPS61281984A JP S61281984 A JPS61281984 A JP S61281984A JP 60122526 A JP60122526 A JP 60122526A JP 12252685 A JP12252685 A JP 12252685A JP S61281984 A JPS61281984 A JP S61281984A
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circuit
dcfp
magnetic flux
signal
magnetometer
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豊 原田
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英一 後藤
Ushio Kawabe
川辺 潮
Nobuo Miyamoto
信雄 宮本
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RIKEN
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RIKEN
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はジョセフソンデバイスを用いた高感度の磁束計
に関する。
〔発明の背景〕
ジョセフソンデバイスを使った磁束計は当技術分野では
公知であり、 5QUID磁束計として知られている。
従来技術による磁束計はDC−3QUID磁束計、AC
−5QUID磁束計に代表される。DC−8QUID磁
束計は2個のジョセフソン接合とインダクタからなる超
電導ループに鎖交する磁束を該超電導ループに流れる最
大超電導電流の変化として直流で観測する装置である。
r f −S Q U I D磁束計は1個のジョセフ
ソン接合とインダクタからなる超電導ループに鎖交する
磁束を該超電導ループに流れる最大超電導電流の変化と
して交流で観測する装置である。従来技術による何れの
5QUID磁束計も、その要となる5QUIDは超電導
ループに鎖交する磁束を検知する受動素子であって、ジ
ョセフソン接合を使う5QUIDは液体ヘリウム中に浸
漬され、出力信号は配線ケーブルを介して室温中の測定
回路、データ処理回路に送られる構成である。5QIU
Dは非常に微弱な磁束を測定するものであって、しかも
ジョセフソン素子の出力信号もそれ自体微弱な信号であ
る。そのため5QUIDから室温にある測定回路に送ら
れる信号は例えば1μV程度の極めて微弱な信号である
。このため従来の5QUID磁束計の感度は室温の熱雑
音によって制限されていた。
ジョセフソン接合を用い、直流磁束を信号媒体として直
流磁束バラメトロン(DCFlux Parama−t
ron :以下DCFPと呼ぶ)回路は液体ヘリウム中
で動作し、高い回路利得を得られる能動スイッチングデ
バイスである。このDCFP回路については昭和59年
度理研シンポジウム予稿集、第1−3頁および第48−
78頁、昭和60年度理研シンポジウム予稿集、第1−
13頁に詳しく記載されている。このDCFP回路は磁
束に対し高い感度を持ち、極低温(液体ヘリウム温度)
で動作する増幅素子なので熱雑音は極めて小さい。ただ
しDCFP回路はスイッチング回路であるため。
磁束計のようなアナログ計測に使用するには2値(ON
−OFF)サーボ機構を必要とする。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、DCFP回路を用し、外界の雑音に強
い高感度の磁束計を提供することにある。
〔発明の概要〕
この目的を達成するために本発明ではDCFP回路を高
感度の磁束の比較回路として使い、このDCFP回路を
使って入力磁束と他に設けた参照信号発生回路の参照信
号と比較を行い、該参照信号を出力信号とする回路制御
方式を採用した。
〔発明の実施例〕
以下本発明を実施例を使って説明する。第1図は本発明
に使用するDCFP回路の回路図である。このDCFP
回路は2個のジョセフソン接合101.102と2個の
励振インダクタ103゜104からなる超電導ループ1
08がら構成されている。入力信号電流は入力線107
を介して該超電導ループ108に注入される。この人力
電流は励振線106に流れる励振電流により増幅され出
力電流となって負荷インダクタ105に流れる。
この場合出力電流の流れる方向は人力電流の方向により
決められ、正の方向が、負の方向かに流れる。すなわち
、このDCFP回路は入力信号の正。
又は負の極性を種信号として励振電流(励振電力)によ
り入力信号を増幅する動作を行うが、その出方法を示し
ている。第2図に示す比較回路は第1図に示したDCF
P回路の入力線107に参照信号変成器110と入力信
号変成器112を直列に接続した構成である。入力信号
線113を介して入力された入力磁束と参照信号線11
1を介して入力された参照磁束は加算されDCFP回路
の入力磁束となり、この磁束が種信号となり励振電流に
より増幅される。第3図はDCFP回路を比較回路とし
て使う他の方法を示している。第3図の回路は第1図に
示すDCFP回路に参照信号変成器110と入力信号変
成器112を並列に入力線107a、107bを介して
接続した構成である。
第4図は本発明による磁束計のブロック図である。
磁束計はDCFP回路から構成された比較回路201と
参照信号発生回路202から構成される。
比較回路201には入力磁束が入力信号線113を介し
て、また参照信号が参照信号線111を介して印加され
る。比較回路201は該DCFP回路を使った比較回路
から構成されており、入力信号と参照信号の差が励振に
より増幅され出力信号として配線203を介して参照信
号発生回路202に入力される。参照信号発生回路20
2は入力信号を増幅した信号を出力信号として出力信号
線204を介して外部に出力する。次に本発明による磁
束計の構成をより具体的に説明する。
第5図は比較回路201の構成例である。第5図に示す
回路は第1図に示すDCFP回路に入力線107a、入
力信号変成器112を介して磁束アンテナ501で感知
した入力磁束を入力する。
入力信号変成器112には磁束感度を校正するための校
正線503が設置されている。DCFP回路に導入され
た入力磁束は入力線107bから入力された参照信号と
比較され、入力信号と参照信号の差が増幅される。DC
FP回路の負荷には磁束結合形量子干渉素子506とバ
イアス線507からなる電流検出回路が設置されている
。この磁束結合形量子干渉素子506とDCFP回路は
配線505介して結合している。磁束結合形量子干渉素
子506には配線508を介してゲート電流が給電され
る。ここでDCFP回路の負荷インダクタの一部が検出
回路の配線505のインダクタとなっている。この回路
の動作原理は特願昭58.4222110号公報に詳し
く記載されている。
第6図は第5図に示す比較回路を用いた磁束計の制御系
の第一の実施例である。この系はフィードバックループ
を構成する代表的な例である。第6図に示す実施例では
参照信号発生回路202は参照信号の値を示すレジスタ
301、 レジスタ301の値を増加、減少させるレジ
スタ制御回路302、 レジスタのディジタル信号をア
ナログ信号に変換するD/A変換回路303.減衰器3
04から構成されている。第6図に示す磁束計では該参
照電流発生回路と第5図に示す比較回路でフィードバッ
クループを構成している。すなわち比較回路201の出
力信号によりレジスタの参照信号値が更新され、その値
がD/A変換回路303、減衰器304を介して比較回
路201にフィードバックされている。第7図は第6図
に示す磁束計の動作のタイムチャートである。DCFP
回路は波形600に示す様に周期的に励振される。比較
回路201の出力は波形601に示される。この波形で
入力信号が参照信号より太きけれ↓f正の極性が、小さ
ければの負の極性が出力される。 レジスタ制御回路3
02はこの比較回路201の出力信号の極性によりレジ
スタ301の値を波形602に示す様なタイミングで更
新する。
ここで例えば比較回路201の出力波形が正の極性の場
合はレジスタ301の値を増加(カウントアツプ)シ、
負の極性の場合はレジスタ301の値を減少(カウント
ダウン)させれば、この第7図に示す構成では入力信号
と比較回路に入力される参照信号が等しい時に安定な状
態になることは明らか。この制御系で減衰器の減衰率を
大きくすると出力信号と入力信号の比、すなわち回路利
得を大きくする事が出来るが、その反面フィードバック
ループの利得が小さく1回路の応答が遅くなる。第8図
は第5図に示す比較回路を用いた磁束計の制御系の第二
の実施例である。この系はフィードフォワード系を構成
する代表的な例である。
参照信号発生回路202は信号スイープ回路401、D
/A変換回路303、減衰器304、ホールド回路40
4から構成されている。第9図は第8図に示す磁束計の
動作のタイムチャートである。信号スイープ回路401
の出力信号は参照信号の値を示しており、各周動期毎に
その値は一単位だけ増加する。D/A変換回路303は
この信号スイープ回路 401の出力信号を入力信号と
しているため、出力信号は波形701に示す階段状のス
イープ波形となる。この階段状のスイープ波形は減衰器
304を介して比較回路201に参照信号として入力さ
れる。比較回路201のDCFP回路は波形700に示
す様に信号スイープ回路401の周期に同期して励振さ
れる。比較回路201の出力波形は波形702に示され
る。
この波形で入力信号が参照信号より大きければ正の極性
が、小さければ負の極性が出力される。比較回路201
の出力波形の極性が正から負に切り換わる時の参照信号
値が入力信号に等しい、このN・ ためこの時点で4−ルド回路404は波形703に示す
ホールド信号を発生し参照信号の値を保持する。この制
御系で減衰器304の減衰率を大きくすると出力信号と
入力信号の比、すなわち回路利得を大きくする事が出来
るが、その反面測定精度が低下する。以上の二つの制御
系では参照信号の発生源はディジタル信号源であったが
、他にアナログ信号源でも構成出来る事は明らか。
第10図は本発明による第三の実施例である。
第10図に示す比較回路800は第2図に示すDCFP
回路を使った比較回路と等価であるが増幅率を増すため
DCFP回路を直列に接続した構成となっている。即ち
DCFP回路による増幅器はDCFP回路801a、D
CFP回路801b。
DCFP回路8010の3段をインダクタ802a、8
02bで直列に接続した構成となっている。
ここで例えばDCFP回路801aのジョセフソン接合
の最大超電導電流は10μA、DCFP回路801bの
ジョセフソン接合の最大超電導電流は100uA、DC
FP回路801cのジョセフソン接合の最大超電導電流
は10oOμAに設定しておけば、1μA程度の入力磁
束による微弱な信号電流でも出力には1000倍の大き
な出力電流を得ることが出来る。ここで信号が一方のみ
に伝搬される様にDCFP回路は3層の励振電流により
駆動される。即ちDCFP回路801aには励振線10
6a、DCFP回路801bには励振M106b、  
DCFP回路801cには励振線106cを介して位相
が120度ずれた励振電流により駆動される。第10図
の例ではDCFP回路を3段接続した増幅回路の例を示
したが、DCFP回路を任意の段数だけ直列に接続して
増幅回路を構成できることは明らか。第11図は第10
図に示した比較回路を使った磁束計の例である。
この回路では第10図に示した比較回路800とアップ
ダウンカウンタ回路810.D/A変換回路303で閉
ループを構成している。アップダウンカウンタ回路81
0は制御装置820によりデータの更新が行われる。こ
こでデータの更新は第7図の実施例と同様に行えること
は明らかである。
〔発明の効果〕
本発明によれば、微弱な入力磁束信号を液体ヘリウム中
で増幅した形で室温中の測定機、処理装置に取りだせる
。このため本発明は熱雑音に強い。
感度の高い磁束計を構成するのに効果がある。この磁束
計を使えば微弱な磁場測定2例えば人体の発生する磁場
などの測定に有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に使用するDCFP回路の構成図、第2
図、第3図、第5図及び第10図は本発明に用いるDC
FP回路を使った比較回路を示す図、第4図は本発明に
よる磁束計を示すブロック図、第6図は本発明の磁束計
の実施例を示す図、第7図は第6図の磁束計の動作タイ
ムチャートを示す図、第8図及び第11図は本発明の磁
束計の他の実施例を示す図、第9図は第8図の磁束計の
動作タイムチャートを示す図である。 101.102・・・ジョセフソン接合、 103゜1
04・・・励振インダクタ、105・・・負荷インダク
タ、106・・・励振線、107・・・入力線、108
・・・超電導ループ、110・・・参照信号変成器、1
12・・・入力信号変成器、201・・・比較回路、2
02・・・参照信号発生回路、113・・・入力信号線
、204・・・出力信号線、501・・・磁束アンテナ
、503・・・校正線、 506・・・磁束結合形量子
干渉素子、507・・・バイアス線、301・・・レジ
スタ、302・・・レジスタ制御回路、303・・・D
/A変換回路、304・・・減衰器、 401・・・信
号スイープ回路、404・・・ホールド回路、 800
・・・比較回路、801・・・DCFP回路、 802
・・・インダクタ、810・・・アップダウンカウンタ
回路、820・・・制御装置 /ρr 第 4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、入力磁束と参照電流による磁束とをDCFP回路に
    導入し、該DCFP回路の出力信号で該参照電流を制御
    することを特徴とする磁束計。 2、特許請求の範囲第1項において、該DCFP回路の
    出力信号により参照電流の増減を制御し、該参照電流の
    全部または一部を該DCFP回路にフィードバックする
    ことを特徴とする磁束計。 3、特許請求の範囲第1項において、該参照電流は独立
    にその値をスイープし、該参照電流の全部または一部が
    該DCFP回路に導入され、該DCFP回路の出力信号
    により該入力磁束と該参照電流による磁束が一致する場
    合を見つけだして、その時の該参照電流による磁束の値
    を出力とすることを特徴とする磁束計。 4、特許請求の範囲第1項において、該DCFP回路を
    2段以上直列に接続したことを特徴とする磁束計。 5、特許請求の範囲第1項において、該DCFP回路に
    は磁束アンテナが接続されたことを特徴とする磁束計。 6、特許請求の範囲第5項において、該磁束アンテナは
    変成器を介して該DCFP回路に接続されたことを特徴
    とする磁束計。
JP60122526A 1985-06-07 1985-06-07 磁束計 Expired - Lifetime JPH0654347B2 (ja)

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DE3650062T DE3650062T2 (de) 1985-06-07 1986-06-05 Supraleitende Stromfühlerschaltung.
EP86107693A EP0205120B1 (en) 1985-06-07 1986-06-05 Superconducting current detecting circuit employing DC flux parametron circuit
CA000510927A CA1268815A (en) 1985-06-07 1986-06-05 Superconducting current detecting circuit employing dc flux parametron circuit
US07/291,338 US4866373A (en) 1985-06-07 1988-12-28 Superconducting current detecting circuit employing DC flux parametron circuit

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63191070A (ja) * 1987-02-04 1988-08-08 Hitachi Ltd 信号検出方法
JPS63290979A (ja) * 1987-05-22 1988-11-28 Fujitsu Ltd 超伝導量子干渉素子

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63191070A (ja) * 1987-02-04 1988-08-08 Hitachi Ltd 信号検出方法
JPS63290979A (ja) * 1987-05-22 1988-11-28 Fujitsu Ltd 超伝導量子干渉素子

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