JPS61284702A - 平板マイクロレンズ及びその製造方法 - Google Patents

平板マイクロレンズ及びその製造方法

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JPS61284702A
JPS61284702A JP60125896A JP12589685A JPS61284702A JP S61284702 A JPS61284702 A JP S61284702A JP 60125896 A JP60125896 A JP 60125896A JP 12589685 A JP12589685 A JP 12589685A JP S61284702 A JPS61284702 A JP S61284702A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、透明基板内に屈折率勾配レンズを一体形成し
た平板マイクロレンズに関する。
〔従来技術の説明〕
第9図に示すように、平板マイクロレンズlはガラス・
プラスチック等の表面平担な透明基板2の内部に、屈折
率勾配レンズ3を一体に埋め込み形成したものであり、
レンズ3は一方の屈折面が基板20面と一致する平面で
、基板面の法線方向に光軸をもち、その屈折率分布は、
光軸方向に表面で最大で深部に向けて次第に減少し、且
つ光軸に直交する方向にも中心で最大で側縁に向けて次
第に減少する分布形状になっている。
また平面形状としては第1Offiに示すように円形の
もの、第1/図に示すようにライン状のものなどがある
上記のような平板マイクロレンズをつくる典型的な方法
について説明すると、第12図に示すようにまずガラス
基板2の表面を金属薄膜等から成るイオン透過防止マス
クSで覆うとともに、このマスクjK、得ようとするレ
ンズの平面形状に相似の例えば円形の微小開口6を設け
ておく。そして上記の基板マスク面を、基板ガラスの屈
折率増大に寄与する陽イオン例えばタリウム(Tl)イ
オンを含む溶融塩7に浸漬する。これにより、溶融塩7
中の陽イオンがマスクjの開口6を通して基板内に拡散
し、一定時間のイオン拡散処理の後基板内には、上記開
口近傍で最も濃度が高く深部および周辺に向けて次第に
減少するイオン濃度分布カ形成すレ、このイオン濃度分
布によって前述した屈折率勾配部分すなわちレンズ3が
形成される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の平板マイクロレンズでは、第13図に示すように
基板面上におけるレンズ径を2a、レンズ厚みなdとし
てa/a−1,0すなわち断面形状がほぼ完全な半円形
につくられており、また完全な半円形である場合が最良
の光学特性を発揮すると信じられ、製法の研究もレンズ
断面形状をいかに完全半円形に近づけるかに注力されて
いた。
しかるに本発明者らが実験検討を重ねた結果、イオン拡
散で形成したなだらかな屈折率勾配をもつ平板マイクロ
レンズにおいては、その断面形状を完全な半円形に近づ
けた場合、レンズに入射する光線のうち光軸近傍部入射
光線ざの焦点JAと周縁近傍入射光線9の焦点りAとで
位置ずれを生じる収差が大きくなってレンズとして有効
に使える開口数が小さくなる傾向を示し、レンズ断面形
状を一定の範囲内の偏平度にすると上記収差が極小にな
ってレンズとしての有効開口数を大きくできることを見
い出した。
本発明は上記知見に基づいて完成したものである0 〔問題点を解決する手段〕 透明基板内に、この基板面法線方向に光軸なもち、且つ
光軸方向および光軸に直交する方向に向けてなだらかに
変化する屈折率勾配をもつレンズを一体形成した平板マ
イクロレンズにおいて、前記光軸上でのレンズ厚みなd
とし、基板面上でのレンズ径を2aとしたとき、d/a
をo、tAtないし0.7gの範囲内とする。
〔作 用〕
上記のように屈折率勾配レンズ部分の断面形状を偏平に
すると略半円形の場合に比べて後述具体例に示すように
レンズの収差が小さくなり、それだけレンズの有効開口
数を大きくすることができる。
〔実 施 例〕
以下本発明を図面に示した実施例に基づいて詳細に説明
する。
第1図は本発明に係る平板マイクロレンズ10勾配レン
ズ/2が一体に形成されている。このレンズ/2は基板
面法線方向に光軸/3をもち、この光軸13と基板表面
との交点/II近傍で屈折率が最大で、基板深部および
側方に向けて放射状に次第に屈折率が減少する屈折率分
布をもっている。
上記の屈折率勾配レンズlλは前述したイオン拡散法に
より、ガラス基板面に設けたマスクの開口を通して基板
ガラスの屈折率を増加させる陽イオン、−例としてタリ
ウムイオンを、ガラス中に含有されているナトリウム、
カリウム等のイオンと交換拡散させ、ガラス中に侵入し
たイオンの濃度分布によって形成されている。
上記のようにして得られた平板マイクロレンズの切断面
を観察すると拡散70ン) /JAが見られる。この拡
散フロント/2Aは、ドーパントにより形成されるドー
パントが比較的急峻に変化しているため見られるもので
、ドーパント濃度がガラス基板中の飽和濃度の数%に下
がった部分で観察される。
そ1.てトνの址ItIIrフロント、−鐙的に雷テげ
断面を観察して基板のバルク部分との境界線として認め
られる輪郭曲線/2Aを以後レンズ/2の基板内側外形
面とする。
上記のようにガラス中のドーパント濃度で屈折率勾配が
与えられている平板マイクロレンズの光学的性質は、ド
ーパントが与える屈折率差と屈折率分布の形状によって
きまる。
一般的には、レンズの集光力を示す開口数はドーパント
が与える最大屈折率差が大きいほど大きくなるが、分布
の形状が適当でないと収差が大きくなりレンズとして有
効に使える開口数は大きくとれなくなる。
この最大屈折率差はガラス中のドーパント濃度にほぼ比
例し、イオン交換においては、基板ガラス中に含まれる
アルカリイオンと、ドーパントイオンとがほぼ/対lに
置き換って屈折率分布を形成するため、ガラス基板中で
交換したアルカリイオンの濃度によってきまる。
しかしながら、基板ガラス中に含有させるアルカリイオ
ンの量は、ガラスの化学的安定性や耐候性の面で限界が
ある。
したがって有効開口数の大きなレンズを得るためには屈
折率分布をもつ領域の輪郭形状を適当な形に定めること
が必要となる。そして平板マイクロレンズにおける上記
の屈折率分布をもつ領域の形状、つまりレンズの形状と
有効開口数との関係について実験を重ねた結果、基板面
上におけるレンズ/2の径を2a1光軸上におけるレン
ズ厚みをdとすると、レンズの有効開口数はa/dの値
に依存し、このa/dが/、0以下の特定の値近傍でレ
ンズ有効開口数は極大値となり、d/aが上記特定値か
ら大きい方向および小さい方向に外れるにつれてレンズ
の収差が大となって、有効開口数が小さくなることが判
明した。
すなわち、前述したイオン拡散処理時間を長くする等に
より最終的に得られるレンズの断面形状がほぼ半円形(
d/a中八〇へに近づくと、第3図に示すように、レン
ズの周辺部近くに入射する光線の焦点15A位置が近軸
光線の焦点/jB位置よりも相対的にレンズ面から遠ざ
かる正の球面収差があられれ、レンズの有効開口数が小
さくなる。
そして、上記d/aの値が小さくなるにつれて、つまり
レンズの断面形状の偏平度が大きくなるに従い、上記収
差は小さくなるが偏平度が大きくなりすぎると第4図に
示すように、レンズ中央のレンズ外形面が平担に近い部
分に入射する光線に対して、周辺部の曲率の大きい領域
に入射した光線が大きく曲げられるため、負の球面収差
が大きくなってレンズの有効開口数がやはり小さくなる
そして、基板内側のレンズ外形面が本発明で規定するよ
うにd/aの値でo、tttないし0.7gの範囲内と
なるような偏平度をもった曲面とすることにより、第2
図に示すように近軸光と周辺光の焦点15位置のずれ収
差が小さくなってほぼO,1以上の大きな有効開口数を
得ることができ、特にa/aがOlSないし0.69の
範囲内が好ましい。
次に本発明に係る平板マイクロレンズを製造する好適な
方法について説明する。
第5図に示すようにまず透明ガラス板の基板10の面を
金属薄膜等から成るイオン透過防止マスク/乙で被覆し
、このマスクl乙に周知のバターニング技術を用いてイ
オン拡散用開口17を設ける。この開口/7の平面形状
は得ようとするレンズの平面形状と相似形、例えば円形
レンズであれば開口/7を円形に、またライン状であれ
ば線状とし、レンズの配列パターンに応じて適宜間隔を
おいて配置する。
ここでマスク開口17の大きさは非常に重要であり、こ
の開口17があまり小さいと後のイオン拡散処理によっ
て得られるレンズの断面形状が半円形となって前述した
ようにレンズの有効開口数が小さくなる。またマスク開
口17をあまり大きくすると得られるレンズの断面形状
の偏平度が大きくなって有効開口数が小さくなる。
そしてマスク開口の半径(ライン状開口の場合・半幅)
をrm、得ようとするレンズ半径なaとしてa/rmが
/、7jないしり、jの範囲内に設定することにより、
d/aの値がo、titないし0.71 の範囲内であ
る収差の小さい有効開口数の大きいレンズが得られ、特
にa/rmをパフないし3.3の範囲内とすることによ
り、有効開口数が約0.16以上のレンズを得ることが
できる。
次いで上記のように設定した開口をもつマスクを設けた
基板//にイオン拡散処理を施す。このイオン拡散処理
は従来方法と同じであってよい。
−例として、基板ガラスの屈折率を増加させるタリウム
(Tl)等の陽イオンを含む硫酸塩、硝酸塩等の溶融塩
に基板のマスク面側を浸漬する。イオン拡散処理温度は
低すぎると拡散係数が小さく所望の大きさのレンズを得
るまでに時間がかかりすぎ、処理温度が高すぎると基板
ガラスに熱変形を生じるので、ガラスの転移温度(Tg
)の上下50″C幅の範囲内でイオン拡散処理すること
が望ましい。
以上、基板としてガラスを用いた場合を例にとり説明し
たが、基板材質に制限は無く、石英、セラミクス、プラ
スチック等種々のものが使用可能である。例えばプラス
チックで平板マイクロレンズを成形する場合には、まず
相対的に低い屈折率の重合体を形成する単量体を一部重
合させてゲル状の基板をつくり、このゲル基板の面を所
定の大きさの開口を設けたマスク材で波型し、上記開口
を通して、相対的に高い屈折率の重合体を形成する単量
体を基板内に拡散させた後全体を加熱処理して重合を完
結させる方法をとることができる。
次に本発明の具体例について説明する。
具体例/ % ル% テ5i0260%、B2O34’ < + 
zno / j%。
K2Off%、Na2o 13%の組成を有するガラス
から成る大きさIf lfmm×tIlftntn×、
i+am の基板をt枚用窓した。
これら基板ガラス表面に、イオン透過防止マスクとして
厚さ7μmのT1膜をスパッタリングにより付着させた
後、フォトリングラフィの手法と7ツ酸系のエッチャン
トを用いて、直径を10μm−to。
μmの範囲で10μm間隔で段階的に変えた10種類の
円形開口をそれぞれ設け、これらガラス基板のマスク面
を、’rI!2so、、 60モル%+ ZnSO4’
l O%iし%の混塩をtiqo″Cに加熱溶解した溶
融塩中に浸漬して、イオン交換処理を2時間、グ時間、
g時間、/2.3時間、77時間のj種類行なった。
イオン交換後、基板表面を研磨してTi膜を除去すると
ともに表面を平滑にして、基板中に形成された屈折率勾
配レンズの特性を測定した。
その結果を、イオン交換処理時間別に第1表ないし第3
表に示す。
第  l  表 第  2  表 第  3  表 第  グ  衷 第  j  表 第i−r表において、レンズの焦点距lll1fは、波
長4JJnmのHe−Neレーザ光を拡散面の反対側か
ら入射した時の基板表面から輝度が最大となる位置まで
の距離を測定した。
NAfはレンズの半径を焦点距離で割った値で開口数を
表わす。しかしこの開口数はレンズに収差があるときは
全域で有効に使うことはできない。
そこで第6図に示すように平板マイクロレンズ//lI
n飴すtn劉1ハa; W Flll筺り銅1ハ歓ヱ槽
祐バーターンlざを配置し、上記レンズによる結像パタ
ーンを、!、jXj倍の顕微鏡lりで観察した。
この観察によるとレンズに収差がある場合には、収差の
あるレンズの領域は結像に寄与しないため画角が小さく
なる。この画角の半角の正弦(Sin)を有効開口数N
AI)として第1−j表中に示した。
また第7図にレンズの偏平率d/aと有効開口数NAp
との関係をグラフで示す。同グラフから、平板マイクロ
レンズの有効開口数はレンズの偏平率d/aが約013
g付近で極大となることがわかる。
これは上記点付近でレンズの球面収差が負から正に変化
するためで、収差が極小となる。また偏平率d/aがO
,Sないし0.69の範囲内で0676以上の有効開口
数が得られ、0.を乙ないし0.78の範囲内でおよそ
0.1以上の有効開口数が得られることがわかる。
また第ざ図に、マスク開口比とレンズの有効開口数NA
pとの関係をグラフで示した。同図グラフの横軸は、レ
ンズ径2aとマスク開口径jrmとの比をとっている。
同図から、a/rmが八7Sないし≠、jの範囲内で約
0.1以上の有効開口数が得られ、特にa/rmが1、
りないし3.3の範囲内では約0./6以上の大きい有
効開口数が得られることがわかる。
具体例2 具体例1と同一の組成のガラス基板3枚を用意し、イオ
ン拡散防止マスクとしてTi膜をこれら基板表面に付着
した後、マスク膜に直径ttooμmφの開口を設け、
これらマスク付き基板を1Iqo℃の溶融塩にそれぞれ
76時間、741時間、376時間浸漬して平板マイク
ロレンズを製作した。
基板中に形成されたレンズの直径2aは、上記各処理時
間に対してそれぞれQ、4mtn、Q、ワ闘、1.乙順
レンズの厚みdは0./ILJ O,2!m、 0.≦
闘、焦点距離はコ、j羽、2.2釦−6.7詣であり、
格子縞パターンから観察された有効開口数NApは0.
/2 、0.2 。
0.12であった。
またそれぞれのレンズの偏平率cl/aは、OJ3゜O
0!≦、0.75、レンズ半径aとマスク開口半径rm
との比a/rmは八j 、 2.2!; 、 lA、0
であった。
以上の結果から、0 、9 mm径程度の大きさのレン
ズに対しても偏平率をO,S を付近にすることにより
、レンズの収差を極小化、NAを極大化できることが確
認できた。
〔発明の効果〕
本発明によれば、収差が小さく有効開口数の大きい平板
マイクロレンズを得ることができる。
本発明に係る平板マイクロレンズは、一般の画像伝送用
、光ビーム集光・コリメート用光学系など広範な用途で
有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の平板マイクロレンズの実施例を示す断
面図、第2図は第1図のレンズの集光機能を示す断面図
、第3図はレンズ断面の偏平度が小さすぎる場合の集光
状態を示す断面図、第4図はレンズの偏平度が大きすぎ
る場合の集光状態を示す断面図、第5図は本発明に係る
レンズを製作する場合のマスク開口とレンズ径との関係
を説明する断面図、第に図はレンズの有効開口数の測定
方法を模式的に示す斜視図、第7図はレンズ偏平率d/
aとレンズの有効開口数NApとの関係を示すグラフ、
第g図はイオン拡散処理時に基板面に設ケタマスクの開
口の径と得られるレンズ径との比に対するレンズ有効開
口数の関係を示すグラフ、第4図は従来の平板マイクロ
レンズの断面図、第1O図および第11図は平板マイク
ロレンズのレンズ形状例を示す平面図、第12図はイオ
ン拡散処理の方法例を示す断面図、第73図は従来の平
板マイクロレンズにおけるレンズ径とレンズ厚みとの関
係を説明する断面図である。 /、10・・・・・・平板マイクロレンズ 2.//・
目・・基板3.12・・・・・・屈折率勾配レンズ!;
、/1・・・・・・イオン透過防止マスクt、/7・・
・・・・マスク開口 7・・曲溶融塩/3・・・・・・
光軸 /!、/!;A、/jB・・面焦点lざ・・・・
・・パターン 19・・・・・・顕微鏡第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 第7図 イオン傾取処貫麟間 レン及扇平辛  d/a 第8図 1、ソ 関口’dc、  a/rm 第9図 第10図  第11図 第12図 第13図 手続補正書 昭和60年6月29日

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)透明基板内に、この基板面法線方向に光軸をもち
    、且つ光軸方向および光軸に直交する方向に向けてなだ
    らかに変化する屈折率勾配をもつレンズを一体形成した
    平板マイクロレンズにおいて、前記光軸上でのレンズ厚
    みをdとし、基板面上でのレンズ径を2aとしたとき、
    d/aを0.46ないし0.78の範囲内としたことを
    特徴とする平板マイクロレンズ。
  2. (2)特許請求の範囲第1項において、基板がガラスで
    あり、前記屈折率勾配レンズがイオン拡散で形成されて
    いる平板マイクロレンズ。
  3. (3)特許請求の範囲第1項において、前記dとaとの
    比が、0.5≦d/a≦0.69の範囲内である平板マ
    イクロレンズ。
  4. (4)透明基板の面に、所定の開口を残して拡散防止マ
    スクを施し、前記開口を通して基板の屈折率増大に寄与
    する物質を基板内に拡散させることにより、前記物質の
    濃度勾配に基づく屈折率勾配をもつレンズを基板内に一
    体形成する方法において、マスクの前記開口の大きさを
    、該開口の半径をrm、得ようとするレンズ径をaとし
    て1.75≦a/rm≦4.5の範囲内に選ぶことを特
    徴とする平板マイクロレンズの製造方法。
JP60125896A 1985-03-05 1985-06-10 平板状レンズ Expired - Lifetime JPH0644082B2 (ja)

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