JPS61292011A - 加工品の良否選別装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の概要〕 円筒研削加工に際し、定寸制御装置により検出される測
定電位と基準電位との電位差が零になったときから研削
が終了するまでの時間を測定することにより、各加工品
の真円度を測定する。

〔産業上の利用分野〕　′ 本発明は精密量産部品の真円度測定方法に関し、更に詳
しくは、円筒研削される加工品の加工中における直径を
測定してその測定値と基準値とを比較し、加工品が真円
の場合には測定値と基準値との差が零のときに研削終了
信号を出力し、且つ、加工品が真円でない場合には測定
値と基準値との差が零になった時点から加工品の真円度
にほぼ比例する時間だけ遅れて研削終了信号を出力する
定寸制御装置を用いて加工品の真円度を測定する方法に
関する。

〔従来技術とその問題点〕

一般に、光フアイバコネクタの接続には高精度の心合わ
せが要求されるため、光フアイバコネクタのフェルール
の外径部には超高精度、例えば加工精度が０．５μｍ、
真円度が０．５μｍが要求される。

このような部品の超精密円筒研削加工には、通常、寸法
設定のための定寸制御装置が用いられる。

例えばマーポス株式会社より市販されている定寸制御装
置は円筒研削される加工品の加工中における外径を測定
してその測定値を電位により出力する測定部と、予め精
密加工されたマスターの外径或いは内径を測定してその
測定値を基準値として電位により出力する基準値設定部
と、制御部とを備えている。制御部は測定部から入力さ
れる測定電位と基準値設定部から入力される基準電位と
を比較し、その電位差が零のときに研削終了信号を出力
するように構成されている。

この種の定寸制御装置を用いて量産部品の円筒研削加工
を行なった場合、加工精度及び真円度が許容公差を越え
るものが発生し得ることが知られている。そこで、従来
は、量産品の加工後の真円度を抜取り検査により別個の
真円度測定機で測丸（１、ていたが、抜取り検査により
不良品が発見された場合には全数について検査選別を行
なうか或いは全数を不良とする必要があり、精密部品は
高価であるため、経済的及び時間的損失が極めて大とな
っていた。

本発明者等は、市販の定寸制御装置を円筒研削加工に用
いた場合に、該定寸制御装置が次のような特性を示すこ
とを見出した。すなわち、定寸制御装置は、通常は、測
定値と基準値との差を示す電位差計の指針が零点に達し
たときに、加工日Ｍの終了信号を発する。そして、回転
砥石が加工品から離間したときに指針はマイナス側に大
きく振れる。しかし、ある加工品の場合には、電位差計
の指針が零点を通過して継続的にマイナス側に進んだ後
に加工終了信号を発し、そして、回転砥石が加工品から
離間したときに指針はマイナス側に大きく振れる。本発
明者等は電位差計の指針が零点に達した時点から加工が
終了するまでの時間遅れと、加工後の真円度との関係を
調べたところ、その時間遅れと加工品の真円度とがほぼ
比例関係にあることが判った。

したがって、本発明が解決すべき問題点は、定寸制御装
置のこのような特性を利用して円筒研削加工品の真円度
を個別に効率良く測定することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

上記問題点を解決するための手段として、本発明は、円
筒研削される加工品の加工中における直径を測定してそ
の測定値と基準値とを比較し、加工品が真円の場合には
測定値と基準値との差が零のときに研削終了信号を出力
し、且つ、加工品が真円でない場合には測定値と基準値
との差が零になった時点から加工品の真円度にほぼ比例
する時間だけ遅れて研削終了信号を出力する定寸制御装
置を用いて加工品の真円度を測定する方法であって、測
定値と基準値との差が零になった時点から研削が終了す
るまでの時間を測定することにより加工品の真円度を測
定することを特徴とする精密量産部品の真円度測定方法
を提供する。

〔作　用〕

上記手段によれば、加工品ごとにその真円度が簡単に測
定されるので、不良品を的確に且つ容易に選別すること
ができるようになる。

〔実施例〕 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。

図を参照すると、定寸制御装置１０は加工品１１の外径
を測定しそめ測定値に応じた電位を出力する測定部１２
と、予め精密加工されたマスター１３の内径若しくは外
径或いは所望の厚みを有するゲージの厚さ等を測定しそ
の測定値に応じた電位を出力す基準値設定部１４と、制
御部１５とを備えている。

制御部１５は測定部１２から入力される測定電位と基準
値設定部１４から入力される基準電位とを比較し、加工
品１１が真円の場合には測定値と基準値との電位差が零
のときに出力端子１５から研削終了信号を出力し、且つ
、加工品１４が真円でない場合には測定値と基準値との
電位差が零になった時点から加工品１１の真円度にほぼ
比例する時間だけ遅れて出力端子１５から研削終了信号
を出力するように構成されている。定寸制御装置１４は
測定値と基準値との電位差を表示する電位差計１６を備
えている。このような特性を有する定寸制御装置１０は
例えばマーボス株式会社から市販されている。

円筒研削盤の回転砥石１７による加工が進むと、測定値
と基準値との電位差が零に近づく。定寸制御装置１０か
ら円筒研削盤に研削終了信号が送られると、円筒研削盤
の回転砥石１７は加工品１１から離間する。回転砥石１
７が加工品１１から離間する瞬間に測定値と基準値との
電位差はマイナス側に大きく変化する。

本発明方法によれば、上記測定値と基準値との電位差が
零になった時点から研削が終了するまでの時間を測定す
ることにより加工品の真円度が測定される。

本発明による真円度測定方法を・具体的に説明すると、
ここでは、定寸制御装置１０により検出される電位差が
第１比較回路２０及び第２比較回路２１に入力される。

第１比較回路２０は定寸制御装置１０からの入力電位（
電位差）Ｖｃを０■と比較し、入力電位ＶｃがＯｖ以下
になったときにカウンタ回路２２のクリア端子ＣＬＲに
入力される出力をハイレベル又はローレベルに切り替え
る。

一方、第２比較回路２１は定寸制御装置１０からの入力
電位（電位差）Ｖｃを予め設定された基準電位Ｖｍ（例
えば−１２Ｖ）と比較し、入力電位Ｖｃが基準電位Ｖｍ
以下になったときにランチ回路２３のクロック端子Ｃに
トリガー信号を送る。

すなわち、第２比較回路２１は回転砥石１７が加工品１
１から離間するときに生じる電位差の急激な変化を検出
する役割りを果たす。

カウンタ回路２２のクロック端子ＣＫにはクロック回路
２４が接続されている。クロック回路２４は水晶発振器
を含む基準クロック発生回路と必要数の分周回路とを備
えている。

カウンタ回路２２は端子ＣＬＲへの入力信号が切り替わ
ったとき、すなわち、第１比較回路２０への入力信号Ｖ
ｃがＯｖ以下のレベルになったときにクロック回路２３
から入力されるパルス数のカウント数を零にし、その後
のカウント数に相当する信号（ここでは４ビツトのディ
ジタル信号）を第３比較回路２５に送る。第３比較回路
２５はカウンタ回路２４からの入力信号と一定値発生回
路２６からの入力信号（４ビツトのディジタル信号）と
を常時比較し、再入力信号の大小に応じてランチ回路２
３のデータ入力端子りにハイレベル又はローレベルの信
号を送る。

ラッチ回路２３の出力端子百はドライバ回路２７を介し
てリレニ２８に接続されている。う・ノチ回路２３がト
リガー信号を入力した時点でカウンタ回路２２から第３
比較回路２５に送ら□れる４ビット信号が一定値発生回
路２６から入力れさる４ビット信号よりも小さいときに
は、リレー２８は消勢状態にある。一方、ラッチ回路２
３がトリガー信号を入力した時点でカウンタ回路２２か
ら第３比較回路２５に送られる４ビ・ノド信号が一定値
発生回路２６から入力れさる４ビット信号よりも大きい
ときには、ランチ回路２３の端子百から出力さ゛れるレ
ベルの切替えにより、リレー２８が励磁される。

リレー２８の励磁によりその接点２８ａが閉成すると、
電磁弁２９が作動し、これにより、加工後の加工品１１
を不良品として選別するためのエアシリンダ３０が作動
して不良品を選別する。

エアシリンダ３０が選別動作を終了すると、リミットス
イッチ３１が作動してランチ回路２３のリセット端子Ｒ
３Ｔにリセット信号が送られる。

加工品１１が真円の場合には、定寸制御装置１０で検出
される電位差Ｖｃが零になったときに研削終了信号が速
やかに発っせられるので、研削の終了に伴う電位差Ｖｃ
のマイナス側への大きな変動は速やかに発生する。した
がって、ラッチ回路２３にトリガー信号が入力されたと
きのカウンタ回路２２の出力信号は一定値発生回路２６
から出力される信号よりも小さい。したがって、リレー
２８は消磁状態にある。一方、加工品１１の加工精度が
悪い場合或いは真円でない場合には、定寸制御装置１０
で検出される電位差Ｖｃが零になった後も電位差Ｖｃは
継続的にマイナス側に変化し、真円度誤差に相当する量
だけマイナス側に変化したときに研削終了信号が発っせ
られる。したがって、研削の終了に伴う電位差のマイナ
ス側への大きな変動は電位差Ｖｃが零になった後述れて
現れる。その遅れ時間はカウンタ回路２２により計測さ
れ、その遅れ時間に相当する出力信号が一定値発生信号
２６からの出力信号よりも大きい場合にリレー２８が励
磁される。加工品１１の量産加工において、加工後の加
工品は順番に次の工程に向けて搬出されるので、エアシ
リンダ３０により不良品を的確に選別することができる
。一定値発生器２６の出力信号の値は加工品の許容公差
に応じて任意に設定することができる。

以上図示実施例につき説明したが、本発明は上記実施例
の態様のみに限定されるものではなく、特許請求の範囲
に記載した発明の範囲内においてその構成要素に種々の
変更を加えることができる。

例えば、定寸制御装置により検出される電位差Ｖｃが零
になったときから加工品の研削が終了するまでの時間は
、研削終了時における電位差Ｖｃのレベルを測定するこ
とにより、間接的に測定することができる。また、加工
品ごとに測定した時間をＸＹレコーダ等に表示し、作業
者がその表示データに基づいて不良品の選別を行なうよ
うにしてもよい。

〔発明の効果〕

以上の説明から明らかなように、本発明による真円度測
定方法によれば、加工品ごとにその真円度を簡単に測定
することができるので、不良品を経済的に且つ効率的に
選別することができるようになる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を示す定寸制御装置及び真円度測
定回路のブロック図である。 １０・・・定寸制御装置、１１・・・加工品、１２・・
・測定部、　　　　１３・・・マスター、１４・・・基
準値設定部、１５・・・制御部、１６・・・電位差計、
　　１７・・・回転砥石、２０・・・第１比較回路、２
１・・・第２比較回路、２２・・・カウンタ回路、２３
・・・ランチ回路、２４・・・クロック回路、２５・・
・第３比較回路、２６・・・一定値発生回路、 ２７・・・ドライバ゛回路、２８・・・リレー、２９・
・・電磁弁、　　　　３０・・・エアシリンダ、３１・
・・リミットスイッチ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、円筒研削される加工品（１１）の加工中における直
   径を測定してその測定値と基準値とを比較し、加工品（
   １１）が真円の場合には測定値と基準値との差が零のと
   きに研削終了信号を出力し、且つ、加工品（１１）が真
   円でない場合には測定値と基準値との差が零になった時
   点から加工品の真円度にほぼ比例する時間だけ遅れて研
   削終了信号を出力する定寸制御装置（１０）を用いて加
   工品の真円度を測定する方法であって、 測定値と基準値との差が零になった時点から研削が終了
   するまでの時間を測定することにより加工品の真円度を
   測定することを特徴とする精密量産部品の真円度測定方
   法。 ２、測定値と基準値との差が零になった時点から研削が
   終了するまでの時間の測定は、該差が零になった時点か
   ら研削の終了に伴って測定値と基準値との差が所定レベ
   ルに達する時点までの時間を測定することにより行なう
   ことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の精密量
   産部品の真円度測定方法。 ３、測定値と基準値との差が零になった時点から研削が
   終了するまでの時間が所定時間を越えた場合に不良品選
   別のための信号を出力することを特徴とする特許請求の
   範囲第１項又は第２項に記載の精密量産部品の真円度測
   定方法。