JPS61292536A - 光学的測定方法 - Google Patents
光学的測定方法Info
- Publication number
- JPS61292536A JPS61292536A JP60133955A JP13395585A JPS61292536A JP S61292536 A JPS61292536 A JP S61292536A JP 60133955 A JP60133955 A JP 60133955A JP 13395585 A JP13395585 A JP 13395585A JP S61292536 A JPS61292536 A JP S61292536A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- energy
- time
- wave
- ratio
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は二色赤外線水分計や二色放射温度計などの測
定に用いる光学的測定方法に関する。
定に用いる光学的測定方法に関する。
［従来の技術］
被測定物から放射されるは放射エネルギ、あるいは物体
に２つの異なる波長を有する波を放射し、この物体から
反射（または透過）する波のエネルギを測定して、この
物体の特性を求めることが行なわれている。
に２つの異なる波長を有する波を放射し、この物体から
反射（または透過）する波のエネルギを測定して、この
物体の特性を求めることが行なわれている。
このような従来の光学的測定方法を例えば二色赤外線水
分計を例にとって説明する。
分計を例にとって説明する。
第２図は従来の赤外線水分計の検出機構を示す図である
。
。
第２図において、１は水分を含んだ被測定物、２は被測
定物に赤外線をあてるための光源電球、３は被測定物か
ら反射される赤外線を受光する受光ミラ、４は光源電球
から放射される赤外線のうち一定の波長を有する赤外線
のみ透過させる光学フィルタ４１を備えた一定の速度で
回転しているセクタである。
定物に赤外線をあてるための光源電球、３は被測定物か
ら反射される赤外線を受光する受光ミラ、４は光源電球
から放射される赤外線のうち一定の波長を有する赤外線
のみ透過させる光学フィルタ４１を備えた一定の速度で
回転しているセクタである。
このような構成において光源電球２から放射される赤外
線は回転するセクタ４の光学的フィルタ４１を透過して
被測定物３にあたり、この被測定物３によって反射され
、この反射された赤外線は受光ミラ３によって受光され
る。
線は回転するセクタ４の光学的フィルタ４１を透過して
被測定物３にあたり、この被測定物３によって反射され
、この反射された赤外線は受光ミラ３によって受光され
る。
ここにセクタ４の光学的フィルタ４１は一定の波長を有
する赤外線のみ透過させるので、セクタ４の周囲に一定
の間隔で交互に波長の異なる赤外線のみ透過させるよう
な光学的フィルタを取付けておけば、受光ミラで受光さ
れる赤外線は一定の時間間隔で交互に波長の異なる赤外
線が受光されることになる。次にこの検出機構によって
検出された赤外線の波のエネルギを測定する方法を第３
図のグラフに基づいて説明する。
する赤外線のみ透過させるので、セクタ４の周囲に一定
の間隔で交互に波長の異なる赤外線のみ透過させるよう
な光学的フィルタを取付けておけば、受光ミラで受光さ
れる赤外線は一定の時間間隔で交互に波長の異なる赤外
線が受光されることになる。次にこの検出機構によって
検出された赤外線の波のエネルギを測定する方法を第３
図のグラフに基づいて説明する。
第３図において、Ｒ１は波長入１に対する赤外線の波の
エネルギ、Ｒ２は波長入２に対する赤外線の波のエネル
ギである。
エネルギ、Ｒ２は波長入２に対する赤外線の波のエネル
ギである。
第３図に示すように赤外線の波のエネルギＲ１、Ｒ２は
一定の時間間隔で交互に測定され、時間とともに赤外線
の波のエネルギは変化している。
一定の時間間隔で交互に測定され、時間とともに赤外線
の波のエネルギは変化している。
ここに互いに異なる２波長の波のエネルギＲ３、Ｒ２の
比率を求める場合、この比率をＲｒａｔｉｏとし、時分
割でＲ＋ （Ｔｎ−＋）、 Ｒ２（Ｔｎ）、Ｒ＋ （Ｔ
ｎ＋ｔ） １Ｒ２（１作２）、 Ｒ＋ （Ｔ（ト）３）
の順序で波のエネルギＲ＋ 、Ｒ２が測定されたとする
と、この波のエネルギの比率演算は、 として演算されることになる。
比率を求める場合、この比率をＲｒａｔｉｏとし、時分
割でＲ＋ （Ｔｎ−＋）、 Ｒ２（Ｔｎ）、Ｒ＋ （Ｔ
ｎ＋ｔ） １Ｒ２（１作２）、 Ｒ＋ （Ｔ（ト）３）
の順序で波のエネルギＲ＋ 、Ｒ２が測定されたとする
と、この波のエネルギの比率演算は、 として演算されることになる。
この比率演算に基づいて被測定物の含水量が測定される
。
。
［発明が解決しようとする問題点］
しかして従来の光学的測定方法は互いに異なる。
時間で測定した波のエネルギの比率を演算しているため
に、物体の特性が時間とともに変化している場合には、
エネルギの比率が階段的に変化することになり、真の比
率に対してオーバシュートまたはアンダーシュート等不
正確な比率が過渡的に現われるようになってしまう問題
点が生じていた。
に、物体の特性が時間とともに変化している場合には、
エネルギの比率が階段的に変化することになり、真の比
率に対してオーバシュートまたはアンダーシュート等不
正確な比率が過渡的に現われるようになってしまう問題
点が生じていた。
［問題点を解決するための手段］
このためこの発明にかかる光学的測定方法は、被測定物
からの異なる波長を有する波のエネルギを交互に計測し
て前記波長の異なる波のエネルギの比率を求め、この比
率に基づいて前記被測定物の特性を求める光学的測定方
法において、同一波長に対する前後２回の計測に基づ、
く波のエネルギからその同一波長と異なる他の波長の波
のエネルギの測定時間における前記同一波長の平均の波
のエネルギを求め、この平均した同一波長に対する波の
エネルギと前記同一波長と異なる他の波長の波のエネル
ギとの比率を求めて、この比率に基づいて被測定物の特
性を求めることを特徴とするものである。
からの異なる波長を有する波のエネルギを交互に計測し
て前記波長の異なる波のエネルギの比率を求め、この比
率に基づいて前記被測定物の特性を求める光学的測定方
法において、同一波長に対する前後２回の計測に基づ、
く波のエネルギからその同一波長と異なる他の波長の波
のエネルギの測定時間における前記同一波長の平均の波
のエネルギを求め、この平均した同一波長に対する波の
エネルギと前記同一波長と異なる他の波長の波のエネル
ギとの比率を求めて、この比率に基づいて被測定物の特
性を求めることを特徴とするものである。
［作用］
同一波長に対する前後２回の計測に基づく波のエネルギ
からその同一波長と異なる他の波長の波のエネルギの測
定時間における前記同一波長の平均の波のエネルギを求
める。
からその同一波長と異なる他の波長の波のエネルギの測
定時間における前記同一波長の平均の波のエネルギを求
める。
この平均した波のエネルギと、この波とは異なる他の波
長を有する波のエネルギの比率を求めこの比率を、前記
測定時間における波のエネルギの比率とする。
長を有する波のエネルギの比率を求めこの比率を、前記
測定時間における波のエネルギの比率とする。
［実施例］
以下図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
第１図（ａ）は本発明にかかる光学的測定方法を説明す
るため、互いに異なる２つの波長の波のエネルギのグラ
フを示したものである。
るため、互いに異なる２つの波長の波のエネルギのグラ
フを示したものである。
この第１図（ａ）において横軸は時間、縦軸は波のエネ
ルギの大きさを表わしている。
ルギの大きさを表わしている。
またＲ＋ （Ｔｎ−２）＋ Ｒ＋ （Ｔｎ）、Ｒ＋ （
Ｔｒ１＋ｚ）は時間ｔ ｎ−２、ｔｎ、ｔｎ＋２におけ
る波長入１の波のエネルギを表わし、 Ｒ２（Ｔ’ｎ−
＋）＋ Ｒ２（Ｔｎ＋＋）、 Ｒ２（Ｔｎ＋ｉ）は時間
を旧、 ｔ ｎｌ ｌ ｔ ｎ１３における波長入２の
波のエネルギを表わしている。
Ｔｒ１＋ｚ）は時間ｔ ｎ−２、ｔｎ、ｔｎ＋２におけ
る波長入１の波のエネルギを表わし、 Ｒ２（Ｔ’ｎ−
＋）＋ Ｒ２（Ｔｎ＋＋）、 Ｒ２（Ｔｎ＋ｉ）は時間
を旧、 ｔ ｎｌ ｌ ｔ ｎ１３における波長入２の
波のエネルギを表わしている。
しかして互いに異なる２波長の波のエネルギＲＩ、Ｒ２
の比率Ｒｒａｔｉａを求め、る場合この波のエネルギの
比率演算は ることになる。
の比率Ｒｒａｔｉａを求め、る場合この波のエネルギの
比率演算は ることになる。
ここにおいて時間（ｔｎ−を旧）＝時間（ｔ ｎ、ｌ
−ｔｎ）であるからＥ Ｒ２（Ｔｎ−＋） ＋ Ｒ２（
Ｔｒｏ＋） ］ ／ ２は時間ｔｎにおける波長入２の
波のエネルギの相加平均となっている。
−ｔｎ）であるからＥ Ｒ２（Ｔｎ−＋） ＋ Ｒ２（
Ｔｒｏ＋） ］ ／ ２は時間ｔｎにおける波長入２の
波のエネルギの相加平均となっている。
なお上記実施例において時間（ｔｎ−ｔｎ−＋）と時間
（ｔｎ◆＋−ｔｎ）の値が異なる場合には時間（ｔｎ−
ｔｎ−＋） ＝時間ｍ９時間（ｔｎ番１−ｔｎ）＝時間
ｎとするとことになる。
（ｔｎ◆＋−ｔｎ）の値が異なる場合には時間（ｔｎ−
ｔｎ−＋） ＝時間ｍ９時間（ｔｎ番１−ｔｎ）＝時間
ｎとするとことになる。
次に波長が異なる３以上の波のエネルギの比率を求める
場合を第１図（ｂ）に基づいて説明する。
場合を第１図（ｂ）に基づいて説明する。
第１図（ｂ）に示すように波長入１ 、λ２゜入３のそ
れぞれの波のエネルギをＲ＋ 、Ｒ２、Ｒ３とし・時間
ｔｒ）４ ＋ ｔｎ−１＋ 七〇４における波長λ、の
エネルギＲ１の測定値をＲ＋ （ＴｒＩ−４）、 Ｒ＋
（Ｔｎ−＋）、 Ｒ１（Ｔｎ−ｚ）、時間ｔ ４３
、 ｔ ｎ、 ｔｒｓｚにおける波長入２のエネルギＲ
２の測定値をＲ２（Ｔｌ）３）、 Ｒ２（Ｔｎ） 。
れぞれの波のエネルギをＲ＋ 、Ｒ２、Ｒ３とし・時間
ｔｒ）４ ＋ ｔｎ−１＋ 七〇４における波長λ、の
エネルギＲ１の測定値をＲ＋ （ＴｒＩ−４）、 Ｒ＋
（Ｔｎ−＋）、 Ｒ１（Ｔｎ−ｚ）、時間ｔ ４３
、 ｔ ｎ、 ｔｒｓｚにおける波長入２のエネルギＲ
２の測定値をＲ２（Ｔｌ）３）、 Ｒ２（Ｔｎ） 。
Ｒ２（Ｔｎ＋ｚ） 、時間 ｔｎ−２，ｔｎｎｌ 、
ｔｎｎにおける波長入３のエネルギＲ３（Ｔｎ−ｔ’）
、 Ｒ３（Ｔｎ＋＋）、 Ｒ３（Ｔｌｗ）とすると、 時間ｔｎにおける波長入咀の波のエネルギＲ＋の平均値
ρ（ｔｎ）は また時間（ｔｎ）における波長入３の波のエネルギＲ３
の平均値Ｒ３（ｔｎ）は したがって互いに異なる３つの波長を有する波のエネル
ギの比率を表わす一般式はＲ２／ （Ｒ１＋Ｒ３）で表
わされるのでＲａｔｉａ＝ で表わすことができる。
ｔｎｎにおける波長入３のエネルギＲ３（Ｔｎ−ｔ’）
、 Ｒ３（Ｔｎ＋＋）、 Ｒ３（Ｔｌｗ）とすると、 時間ｔｎにおける波長入咀の波のエネルギＲ＋の平均値
ρ（ｔｎ）は また時間（ｔｎ）における波長入３の波のエネルギＲ３
の平均値Ｒ３（ｔｎ）は したがって互いに異なる３つの波長を有する波のエネル
ギの比率を表わす一般式はＲ２／ （Ｒ１＋Ｒ３）で表
わされるのでＲａｔｉａ＝ で表わすことができる。
［発明の効果］
、以上説明したようにこの発明にかかる光学的測定方法
によれば同一波長における前後２回の計測に基づく波の
エネルギからその同一波長と異なる他の波長のエネルギ
の測定時間における前記同一波長の平均の波のエネルギ
を求め、この平均した同一波長における波のエネルギと
前記同一波長と異なる他の波長のエネルギとの比率を求
めて、この比率に基づいて物体の特性を求めるように構
成したので、波のエネルギが過渡的に変化する場合の追
従性を改善することができる。
によれば同一波長における前後２回の計測に基づく波の
エネルギからその同一波長と異なる他の波長のエネルギ
の測定時間における前記同一波長の平均の波のエネルギ
を求め、この平均した同一波長における波のエネルギと
前記同一波長と異なる他の波長のエネルギとの比率を求
めて、この比率に基づいて物体の特性を求めるように構
成したので、波のエネルギが過渡的に変化する場合の追
従性を改善することができる。
第り図（ａ）及び第１図（ｂ）は本発明にかかる光学的
測定方法を説明するためのグラフ、第２図は従来の光学
的測定機構を示す概略図、第３図は従来の光学的測定方
法を説明するためのグラフである。 ■・・・被測定物、２・・・光源電球、３・・・受光ミ
ラ、４・・・セクタ、 Ｒ＋ 、Ｒ２、Ｒ３・・・波の
エネルギ。 所 丹 ■ 第１図（ａ） 第１ 図（ｂ）
測定方法を説明するためのグラフ、第２図は従来の光学
的測定機構を示す概略図、第３図は従来の光学的測定方
法を説明するためのグラフである。 ■・・・被測定物、２・・・光源電球、３・・・受光ミ
ラ、４・・・セクタ、 Ｒ＋ 、Ｒ２、Ｒ３・・・波の
エネルギ。 所 丹 ■ 第１図（ａ） 第１ 図（ｂ）
Claims (1)
- 被測定物からの異なる波長を有する波のエネルギを交互
に計測して前記波長の異なる波のエネルギの比率を求め
、この比率に基づいて前記被測定物の特性を求める光学
的測定方法において、同一波長に対する前後２回の計測
に基づく波のエネルギからその同一波長と異なる他の波
長の波のエネルギの測定時間における前記同一波長の平
均の波のエネルギを求め、この平均した同一波長に対す
る波のエネルギと前記同一波長と異なる他の波長の波の
エネルギとの比率を求めて、この比率に基づいて被測定
物の特性を求めることを特徴とする光学的測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60133955A JPS61292536A (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 光学的測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60133955A JPS61292536A (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 光学的測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61292536A true JPS61292536A (ja) | 1986-12-23 |
Family
ID=15116983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60133955A Pending JPS61292536A (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 光学的測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61292536A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55156843A (en) * | 1979-02-26 | 1980-12-06 | Technicon Instr | Analyzer |
-
1985
- 1985-06-21 JP JP60133955A patent/JPS61292536A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55156843A (en) * | 1979-02-26 | 1980-12-06 | Technicon Instr | Analyzer |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1265938A (en) | Temperature measurement | |
| US4859065A (en) | Temperature measurement | |
| US4371785A (en) | Method and apparatus for detection and analysis of fluids | |
| GB2033079A (en) | Infrared interference type film thickness measuring method and instrument | |
| JPS5621004A (en) | Optical sensing system | |
| FR2412062A1 (fr) | Pyrometre optique et technique pour la mesure d'une temperature | |
| JPS5847657B2 (ja) | リユウタイブンセキキ | |
| US4952061A (en) | Method and apparatus for sensing or determining one or more properties or the identity of a sample | |
| JPH06500387A (ja) | 多波長高温計 | |
| JPS636483A (ja) | 時間間隔測定装置 | |
| JPS55144513A (en) | Measuring method of emissivity | |
| SU763699A1 (ru) | Способ бесконтактного измерени температуры | |
| JP2897389B2 (ja) | 温度測定方法及び分布型光ファイバー温度センサー | |
| JPS637327B2 (ja) | ||
| SU412496A1 (ru) | СПОСОБ ОТНОСИТЕЛЬНОГО ИЗМЕРЕНИЯ СТЕПЕНИ ЧЕРНОТЫ ТВЕРДЫХ ТЕЛtjObi" л;;.-^!-':?-?;^*^?».WIJ в S ,- ' • < . -, - '.-^ r^V •• f i 'Л' ^-*r-; •..--•.-.;^н,.» s (f'J | |
| EP0736766A1 (en) | Method of and device for measuring the refractive index of wafers of vitreous material | |
| SU789689A1 (ru) | Способ определени целых пор дков интерференции пол ризованных лучей | |
| SU930009A1 (ru) | Способ определени углового положени объекта | |
| RU2095765C1 (ru) | Цветовой пирометр | |
| SU1017978A1 (ru) | Способ определени показател преломлени твердых сред | |
| JPH0210441Y2 (ja) | ||
| SU922597A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента поглощени | |
| SU1052856A1 (ru) | Интерференционное устройство дл измерени размеров деталей | |
| SU1024862A1 (ru) | Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра | |
| JPS6138806B2 (ja) |