JPS61294304A - リ−ド曲り検出装置 - Google Patents

リ−ド曲り検出装置

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Publication number
JPS61294304A
JPS61294304A JP13551385A JP13551385A JPS61294304A JP S61294304 A JPS61294304 A JP S61294304A JP 13551385 A JP13551385 A JP 13551385A JP 13551385 A JP13551385 A JP 13551385A JP S61294304 A JPS61294304 A JP S61294304A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
optical fiber
fiber array
pins
detecting
Prior art date
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Pending
Application number
JP13551385A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideyuki Tsujimura
秀之 辻村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、集積回路(以下ICと略す)パッケージの外
観検査内の、特にリードの横方同曲シを検査する装置に
関するものである。
〔従来の技術〕
従来、この種の検出装置としては、第4図に示す様に矢
印DIR方向に移動してくるICIを一旦止めてリード
1αの側面に備えたラインセンナを使用したカメラ又は
エリアセンナを使用したカメラCAでリードlcLの全
体像をとらえ、画像処理による方法でリードの横方向白
シを検出していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の検出装置では、カメラを使用して全リー
ドを一度に有効に撮る為、ICのピン数が少ない時は1
ピン分のリードが大きく撮れ、ICのピン数が多い時は
1ビン分のリードが小さく撮れることになる。
このことはICのピン数が多くなると、1ビン分にしめ
る画素の数が少なくなり精度が悪く、最悪では測定不能
になる。 mI]ち多ピンICの検出ができないという
欠点がある。
本発明は通過するICのリードを互いに隣り合つた2ビ
ン分ずつ処理を行い検査するリード曲り検出装置を提供
するものである。
〔問題点を解決するための手段〕一 本発明は一本の光ファイバーを一直線上に等間隔にN本
(但し、Nは整数)並べた構造を持つ光ファイバーアレ
ーをICのパッケージのリードの長手方向に対して直角
に配置した装置において、光ファイバーアレー内の任意
の光ファイバーM本(但しMは1以上の整数)によりリ
ードの有無を検出する手段と、リードを検出した時に、
ファイバーアレー内の各々の光ファイバーに対し、光の
有無を検出する手段と、各々の光ファイバーの光の有無
より得られた出力より、互いに隣り合ったリードを対象
に各々の中心位置を求め、各々の中心位置の間隔を判定
する手段とを有することを特徴とするリード曲り検出装
置である。
〔実施例〕 以下、本発明の一実施例を図により説明する。
1本の光ファイバーAを一直線上に等間隔に並べて構成
される光ファイバーアレーFAの実施例を第3図に示す
。このファイバーアレーで投光に対しては一般に行われ
ている透過型又は反射型どちらでもよい。
今、DIP (DUAL IN PA幻弘GE)型IC
の横方同曲りを例にとって説明する。その外観が第1図
である。
工C1がDIRの方向に滑走し、そのICIのリード側
面の先端部付近が検出出来る位置で、IJ −ドの長手
方向に対して直角に光ファイバーアレーFAR,FAL
を左右に取り付ける。又このファイバーアレーFAR,
FALは透過型ファイバーとし、光源LTは第1図の様
にICIの内側に位置するものとする。
この状態で本発明の動作原理を説明する。
第1図の向かって右側のファイバーアレーFARの動作
について説明する。第1図の平面図を第2図に示す、又
ファイバーアレーFARの検出部DTは、図面上外部よ
り光が入射されている時は白とし、光が遮断された時は
黒とする°。ICがファイバーアレーFAR部にない時
は、光源LTよシ出た光はすべてファイバーアレーFA
R部に入り、検出部DTはすべて白になっている。とこ
ろがICIがDIRの方向に滑走し、ICIのリードが
ファイバーアレーFAR部を横切ると、リードの通過部
に相当する光ファイバーへの入射光は遮断されそれに対
応した検出部DTは黒になる。
そこで検出部の任意の位置(第2図のPM)に注目し、
その位置をモニタするものとする。即ち、その位置PM
をリードが通過するのをモニタする。
第2図でICIがDIRの方向に滑走し、ICの最初の
リードPIRがモニタ位置PMを通過した時、検出部D
Tは第2図のDT、の様にリードPlR及びリードP2
Rで遮光された部分が黒く検出されることになる。即ち
このデータを−Hラッチする。
ここで得られたデータに基づき判定部2でリードPER
に相当する部分PBIの中心位置Pc0、リードP2R
に相当する部分Pniの中心位置P(*を求めその距離
PLを求めることによって、リードPIRとリードP2
Rの間隔PLが求まる。次に2番目のり一ドP2Bがモ
ニタ位置PMを通過する時の検出器DTのデータよりリ
ードP2RとリードP3Rのリード間隔が求まる。以下
同様にしてすべてのリード間隔を求めることが出来る。
この場合の分解能は、等間隔で並んでいる一本の光ファ
イバーの間隔で決まる。
同様に右側のファイバーアレー跪についても同様である
・又モニタ位置PMを任意の1点としたが、雑音の影響
をさける為隣り合う2点、又は間隔をおいて数点選択し
てもよい。
又実施例では投光を外部に設け、ファイバーアレーを透
過型として使用したが、一本の光ファイバーを反射型と
して反射型ファイバーアレーを構成し、リードよりの反
射光を検出器で検出し、処理する方法を用いても良い。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は通過してくるICのリード
を互いに隣り合った2ピン分づつ処理しているため、I
Cのビン数に無関係に、又一旦ICを停止させる必要も
なく、又一本の光ファイバーの断面を小さくすることに
よシ高精度に測定でき、処理も簡単であるため測定時間
の短縮及び低価で実現できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に使用したファイバーアレーの
配置図、第2図は第1図の上面図、第3図は本発明の実
施例に使用されるファイバーアレーの斜視図、第4図は
従来装置の正面図である。 1・・・IC,2・・・判定部、F・・・1本の光ファ
イバー、FA 、 FAR、FAL・・・光ファイバー
アレー、PIR,P2R。 P3R,P4R,PNR・・・ICのリード端子、DT
、DTI・・・検出部 特許出願人  日本電気株式会社 ■ DIR第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一本の光ファイバーを一直線上に等間隔にN本(
    但しNは整数)並べた構造を持つ光ファイバーアレーを
    集積回路のパッケージのリードの長手方向に対して直角
    に配置した装置において、光ファイバーアレー内の任意
    の光ファイバーM本(但しMは1以上の整数)によりリ
    ードの有無を検出する手段と、リードを検出した時にフ
    ァイバーアレー内の各々の光ファイバーに対し、光の有
    無を検出する手段と、各々光ファイバーの光の有無より
    得られた出力より、互いに隣り合つたリードを対象に各
    々の中心位置を求め、各々の中心位置の間隔を判定する
    手段とを有することを特徴とするリード曲り検出装置。
JP13551385A 1985-06-21 1985-06-21 リ−ド曲り検出装置 Pending JPS61294304A (ja)

Priority Applications (1)

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JP13551385A JPS61294304A (ja) 1985-06-21 1985-06-21 リ−ド曲り検出装置

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JP13551385A JPS61294304A (ja) 1985-06-21 1985-06-21 リ−ド曲り検出装置

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JPS61294304A true JPS61294304A (ja) 1986-12-25

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ID=15153519

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13551385A Pending JPS61294304A (ja) 1985-06-21 1985-06-21 リ−ド曲り検出装置

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