JPS61295703A - 信号抑圧装置 - Google Patents
信号抑圧装置Info
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- JPS61295703A JPS61295703A JP13747985A JP13747985A JPS61295703A JP S61295703 A JPS61295703 A JP S61295703A JP 13747985 A JP13747985 A JP 13747985A JP 13747985 A JP13747985 A JP 13747985A JP S61295703 A JPS61295703 A JP S61295703A
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract description 7
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 15
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は例えば被試験回路、素子等のスプリアス特性
、相互変調歪等を測定する場合に用いることができる信
号抑圧装置に関する。
、相互変調歪等を測定する場合に用いることができる信
号抑圧装置に関する。
「従来技術」
高周波増・幅器或は周波数混合器等の各種の回路におけ
るスプリアス特性或は相互変調歪等を測定するには第7
図に示すように基準信号発振器1から被測定回路2に基
準信号3を与え、被測定回路2の出力信号4を例えばス
ペクトラムアナライザのような測定器5に与え、測定器
5によって出力信号4の状態を表示させ被測定回路5の
応答状態を判定する。
るスプリアス特性或は相互変調歪等を測定するには第7
図に示すように基準信号発振器1から被測定回路2に基
準信号3を与え、被測定回路2の出力信号4を例えばス
ペクトラムアナライザのような測定器5に与え、測定器
5によって出力信号4の状態を表示させ被測定回路5の
応答状態を判定する。
ここで例えば基準信号発生器1から第8図人に示す周波
数fを持つ信号3を与え、被測定回路2かも第8図Bに
示すような周波数成分を持つ応答出力信号4が出力され
たとする。
数fを持つ信号3を与え、被測定回路2かも第8図Bに
示すような周波数成分を持つ応答出力信号4が出力され
たとする。
応答出力信号4は基準発振器1から与えられた基準信号
3と、その高周波3A、3B、3C・・・と近傍スプリ
アス信号SPI、 SF3と、信号3の上下に現われる
雑音成分Nとが含まれる。
3と、その高周波3A、3B、3C・・・と近傍スプリ
アス信号SPI、 SF3と、信号3の上下に現われる
雑音成分Nとが含まれる。
測定器5に与えられる信号4において基準信号3と近傍
スプリアス信号SPI、 SF3のレベル比は一般に大
きい。また基準信号3と雑音成分Nとのレベル比も大き
い。
スプリアス信号SPI、 SF3のレベル比は一般に大
きい。また基準信号3と雑音成分Nとのレベル比も大き
い。
つまり被測定回路2の応答出力信号4をスペクトラムア
ナライザに表示させると第9図に示すように信号3と、
第2、第3高調波3A、3Bまでは表示されるが、近傍
スズリアンス信号SPI、 SF3及び雑音成分Nは表
示画面上には明瞭に現われない。
ナライザに表示させると第9図に示すように信号3と、
第2、第3高調波3A、3Bまでは表示されるが、近傍
スズリアンス信号SPI、 SF3及び雑音成分Nは表
示画面上には明瞭に現われない。
このため信号3と近傍スプリアス信号SP1.5P20
レベルの比或は信号3と雑音成分Nとのレベルの比、つ
まりSN比を測定することができない。
レベルの比或は信号3と雑音成分Nとのレベルの比、つ
まりSN比を測定することができない。
このため従来は第9図に符号6を付して示すように信号
30周波数fにおいて急峻に立下る特性のノツチフィル
タ7を第10図に示すように被測定回路2と測定器5と
の間に挿入し、このノツチフィルタ7によって信号3の
成分を除去し、これによりスペクトラムアナライザのダ
イナミックレンジに影響されずに近傍スプリアス信号S
P1. SF3と雑音成分Nを大きく拡大して表示する
ことができるようにし、そのレベル値を測定することが
行われている。
30周波数fにおいて急峻に立下る特性のノツチフィル
タ7を第10図に示すように被測定回路2と測定器5と
の間に挿入し、このノツチフィルタ7によって信号3の
成分を除去し、これによりスペクトラムアナライザのダ
イナミックレンジに影響されずに近傍スプリアス信号S
P1. SF3と雑音成分Nを大きく拡大して表示する
ことができるようにし、そのレベル値を測定することが
行われている。
「発明が解決しようとする問題点」
ノツチフィルタ・7は減衰特性が急峻であってもその帯
域幅は有限であるため希望周波数fの近傍に発生するス
プリアス信号SP1,5P20レベルに影響を与え誤差
が生じる不都合がある。
域幅は有限であるため希望周波数fの近傍に発生するス
プリアス信号SP1,5P20レベルに影響を与え誤差
が生じる不都合がある。
また希望周波数f以外の部分において特性に凹凸いわゆ
るリップル8を有し、このリップル8の影響により高調
波成分3A、3B等のレベルを変化させてしまいこの点
でも測定誤差が生じる不都合がある。
るリップル8を有し、このリップル8の影響により高調
波成分3A、3B等のレベルを変化させてしまいこの点
でも測定誤差が生じる不都合がある。
「問題点を解決するための手段」
この発明では除去したい希望周波数の信号を摘出する手
段と、この希望信号摘出手段によって摘出した信号が与
えられ、この信号に同期した位相で単一周波数の信号を
発生させる発振器と、この発振器から出力される単一周
波数の信号の位相を調整する位相調整手段と、単一周波
数の信号を所定のレベルまで増幅する増幅器と、単一周
波数の信号のレベルを調整するレベル調整手段と、除去
したい希望周波数の信号を含む被測定信号と単一周波数
信号を結合し、被測定信号から希望する周波数成分の信
号を除去する電力結合器とによって信号抑圧装置を構成
したものである。
段と、この希望信号摘出手段によって摘出した信号が与
えられ、この信号に同期した位相で単一周波数の信号を
発生させる発振器と、この発振器から出力される単一周
波数の信号の位相を調整する位相調整手段と、単一周波
数の信号を所定のレベルまで増幅する増幅器と、単一周
波数の信号のレベルを調整するレベル調整手段と、除去
したい希望周波数の信号を含む被測定信号と単一周波数
信号を結合し、被測定信号から希望する周波数成分の信
号を除去する電力結合器とによって信号抑圧装置を構成
したものである。
この発明の構成によれば雑音成分Nを含む希望周波数信
号を摘出し、その希望周波数信号に同期して発振器を発
振させることによって雑音成分を含まない希望周波数と
一致した単一周波数の信号を得ることができる。
号を摘出し、その希望周波数信号に同期して発振器を発
振させることによって雑音成分を含まない希望周波数と
一致した単一周波数の信号を得ることができる。
この単一周波数の信号を増幅器によって増幅し、位相を
希望局゛波数信号の位相に対して逆位相の関係に調整し
、更にレベル調整手段によって希望周波数信号のレベル
と同一レベルに調整し、これらの信号を電力結合器によ
って結合することにより被測定信号の中から希望周波数
の信号を除去した信号を得ることができる。
希望局゛波数信号の位相に対して逆位相の関係に調整し
、更にレベル調整手段によって希望周波数信号のレベル
と同一レベルに調整し、これらの信号を電力結合器によ
って結合することにより被測定信号の中から希望周波数
の信号を除去した信号を得ることができる。
よってこの発明によれば希望周波数信号の近傍に発生す
る近傍スプリアス及び希望周波数信号の高調波のレベル
を変化させることなく希望周波数信号だけを抑圧するこ
とができる。
る近傍スプリアス及び希望周波数信号の高調波のレベル
を変化させることなく希望周波数信号だけを抑圧するこ
とができる。
従ってこの発明によれば希望周波数の信号のレベルと、
近傍スプリアス信号のレベル及び雑音成成のレベルをそ
れぞれ正確に測定することができる。よって測定誤差が
極めて小さい測定結果を得ることができる。
近傍スプリアス信号のレベル及び雑音成成のレベルをそ
れぞれ正確に測定することができる。よって測定誤差が
極めて小さい測定結果を得ることができる。
「実施例」
第1図にこの発明の一実施例を示す。第1図において1
1はこの発明による信号抑圧装置を示す。
1はこの発明による信号抑圧装置を示す。
この発明による信号抑圧装置11は入力端子11Aと出
′力端子11Bを有し、入力端子11Aに被測定回路2
から出力される被測定信号4を与える。出力端子11B
には例えばスペクトラムアナライザのような測定器5を
接続する。
′力端子11Bを有し、入力端子11Aに被測定回路2
から出力される被測定信号4を与える。出力端子11B
には例えばスペクトラムアナライザのような測定器5を
接続する。
入力端子11Aに与えられた被測定信号は電力分岐器1
2によって2分岐される。電力分岐器12の一方の分岐
出力端子12Aに信号摘出手段13を接続し、他方の分
岐出力端子12Bには電力結合器22の一方の入力端子
22Aに接続する。
2によって2分岐される。電力分岐器12の一方の分岐
出力端子12Aに信号摘出手段13を接続し、他方の分
岐出力端子12Bには電力結合器22の一方の入力端子
22Aに接続する。
信号摘出手段13は例えば同調増幅器のような可変狭帯
域フィルタ特性を有する回路によづて構成することがで
き、この可変狭帯域フィルタ特性によって被測定信号4
の中の希望する周波数の信号、例えば第2図に示した周
波数fの信号3を摘出する。
域フィルタ特性を有する回路によづて構成することがで
き、この可変狭帯域フィルタ特性によって被測定信号4
の中の希望する周波数の信号、例えば第2図に示した周
波数fの信号3を摘出する。
信号摘出手段13によって摘出した信号3は例えば位相
比較器14に与えられる。この位相比較器14の他方の
入力端子には発振器15の発振信号23が与えられ、こ
の発振信号23と信号摘出手段13によって摘出した信
号30位相を比較し、その位相比較出力24によって発
振器15の発振周波数を制御する。このため発振器15
には電圧制御発振器を用いるとよい。
比較器14に与えられる。この位相比較器14の他方の
入力端子には発振器15の発振信号23が与えられ、こ
の発振信号23と信号摘出手段13によって摘出した信
号30位相を比較し、その位相比較出力24によって発
振器15の発振周波数を制御する。このため発振器15
には電圧制御発振器を用いるとよい。
このよ5に位相比較出力によって発振器15の発振周波
数を制御することにより発振器15から希望する周波数
の信号3の周波数と合致した単一周波数の信号23を得
ることができる。
数を制御することにより発振器15から希望する周波数
の信号3の周波数と合致した単一周波数の信号23を得
ることができる。
発振器15から得られる単一周波数の信号23は位相調
整手段16で位相調整される。つまり電力結合器22に
おいて被測定信号4に含まれる抑圧を希望する信号3の
位相に対して逆位相となるよ5に調整する。
整手段16で位相調整される。つまり電力結合器22に
おいて被測定信号4に含まれる抑圧を希望する信号3の
位相に対して逆位相となるよ5に調整する。
位相調整された信号25は増幅器17によって所望のレ
ベルまで増幅し、必要に応じて可変バンドパスフィルタ
18を通じてレベル調整手段19に供給される。
ベルまで増幅し、必要に応じて可変バンドパスフィルタ
18を通じてレベル調整手段19に供給される。
レベル調整手段19では抑圧を希望する信号30レベル
と単一周波数の信号23のレベルが一致するようにレベ
ル調整し、そのレベル調整された信号を電力結合器22
の他方の入力端子22Bに与える。なおスイッチ21は
接点Aを選択すると信号抑圧モードとして動作し、接点
Bを選択すると通常の測定モードとなる。
と単一周波数の信号23のレベルが一致するようにレベ
ル調整し、そのレベル調整された信号を電力結合器22
の他方の入力端子22Bに与える。なおスイッチ21は
接点Aを選択すると信号抑圧モードとして動作し、接点
Bを選択すると通常の測定モードとなる。
上述の構成において基準信号発生器1から周波数fの基
準信号3を被試験回路2に与えたとき、被試験回路2か
ら第2図Aに示すように基準信号3と、雑音成分N、ス
プリアス信号8P1. SP、2及びB2t、1g高調
波3A、3B等を含む出力信号4が出力されたとする。
準信号3を被試験回路2に与えたとき、被試験回路2か
ら第2図Aに示すように基準信号3と、雑音成分N、ス
プリアス信号8P1. SP、2及びB2t、1g高調
波3A、3B等を含む出力信号4が出力されたとする。
この出力信号4を入力端子11Aに入力すると、出力信
号4は電力分岐器12の二つの出力端子12Aと12B
に分岐されて出力される。
号4は電力分岐器12の二つの出力端子12Aと12B
に分岐されて出力される。
信号摘出手段13は応答出力信号4の中の抑圧を希望す
る希望周波数信号、この例では信号3を希望周波数信号
とした場合を示し、この信号30周波数fに同調させ、
信号3を摘出する。ここで希望周波数信号3を摘出する
が希望周波数信号3には雑音成分N及びその近傍にスプ
リアス信号、SPl 、 SP2が存在するため信号
摘出手段13から摘出される希望周波数信号3は完全な
単一周波数の信号として摘出す・ることはできない。
る希望周波数信号、この例では信号3を希望周波数信号
とした場合を示し、この信号30周波数fに同調させ、
信号3を摘出する。ここで希望周波数信号3を摘出する
が希望周波数信号3には雑音成分N及びその近傍にスプ
リアス信号、SPl 、 SP2が存在するため信号
摘出手段13から摘出される希望周波数信号3は完全な
単一周波数の信号として摘出す・ることはできない。
よってこの発明では希望周波数信号3を位相比較器14
に与え、この位相比較器14において発振器15の発振
信号と位相比較し、その位相比較結果によって発振器1
5の発振周波数を制御することにより1発振器15の発
振周波数を希望周波数信号3の周波数fと一致した信号
23を得る。
に与え、この位相比較器14において発振器15の発振
信号と位相比較し、その位相比較結果によって発振器1
5の発振周波数を制御することにより1発振器15の発
振周波数を希望周波数信号3の周波数fと一致した信号
23を得る。
このようにして発振器15から出力される信号23は希
望周波数fを持つ単一周波数信号となる。
望周波数fを持つ単一周波数信号となる。
つまり雑音成分Nスプリアス信号SPI、SP2を含ま
ない単一スペクトラム信号が得られる。
ない単一スペクトラム信号が得られる。
よってこの単一周波数信号23を位相調整手段16によ
って希望周波数信号30位相と逆位相の信号25(第2
図B)に変換し、この逆位相の信号25を増幅器17で
増幅し、可変バンドパスフィルタ18とレベル調整手段
19を通じて電力結合器22の一方の入力端子22Bに
与える。
って希望周波数信号30位相と逆位相の信号25(第2
図B)に変換し、この逆位相の信号25を増幅器17で
増幅し、可変バンドパスフィルタ18とレベル調整手段
19を通じて電力結合器22の一方の入力端子22Bに
与える。
レベル調整手段19により被測定信号4に含まれる希望
周波数信号3のレベルと信号25のレベルを合致するよ
うに調整することにより電力結合器22において希望周
波数信号3と信号25が互に打消され、希望周波数信号
は抑圧される。
周波数信号3のレベルと信号25のレベルを合致するよ
うに調整することにより電力結合器22において希望周
波数信号3と信号25が互に打消され、希望周波数信号
は抑圧される。
従って被測定信号4の中の信号3を抑圧した信号をスペ
クトラムアナライザのような測定器5に与えることによ
り、測定器5のダイナミックレンジがレベルの大きい信
号3にじゃまされることがなくなり、この結果信号3と
比較してレベルが小さい信号つまりノイズN、スプリア
ス信号SP1゜SF3 、高調波3A、3B等を第3図
に示すように大きく表示することができ、これらのレベ
ルを正確に測定することができる。
クトラムアナライザのような測定器5に与えることによ
り、測定器5のダイナミックレンジがレベルの大きい信
号3にじゃまされることがなくなり、この結果信号3と
比較してレベルが小さい信号つまりノイズN、スプリア
ス信号SP1゜SF3 、高調波3A、3B等を第3図
に示すように大きく表示することができ、これらのレベ
ルを正確に測定することができる。
「発明の変形実施例」
第4図はこの発明の他の実施例を示す。この例では希望
周波数信号の周波数が高い場合の例を示す。
周波数信号の周波数が高い場合の例を示す。
このため第1図の実施例と異なる構成としては信号摘出
手段13が周波数混合器13A、13Bと、バンドパス
フィルタ13C,13DとKJ:って構成した点と、こ
れら周波数混合器13A、13B及び後述する周波数変
換手段28を構成する周波数混合器28A、28Bに局
部発振信号り、 fzを与える二つの局部発振器26.
27を設けた点と、信号25を出力する側に周波数混合
器28A。
手段13が周波数混合器13A、13Bと、バンドパス
フィルタ13C,13DとKJ:って構成した点と、こ
れら周波数混合器13A、13B及び後述する周波数変
換手段28を構成する周波数混合器28A、28Bに局
部発振信号り、 fzを与える二つの局部発振器26.
27を設けた点と、信号25を出力する側に周波数混合
器28A。
28Bとバンドパスフィルタ28Cとローパスフイ、ル
タ28Dによって構成した周波数変換手段28を設けた
点である。
タ28Dによって構成した周波数変換手段28を設けた
点である。
このように信号摘出手段13として周波数混合器13A
、13Bとバンドパスフィルタ13C,13Dを用いた
構成にしたことにより希望周波数信号の周波数fが例え
ば数10 MHz以上のように高い周波数であってもそ
の周波数fを局部発振器26゜27の局部発振信号と周
波数混合することによって周波数変換し、低い周波数の
信号として取出すことができ、る。よって発振器15は
普通の電圧利発振器を用いることができる。
、13Bとバンドパスフィルタ13C,13Dを用いた
構成にしたことにより希望周波数信号の周波数fが例え
ば数10 MHz以上のように高い周波数であってもそ
の周波数fを局部発振器26゜27の局部発振信号と周
波数混合することによって周波数変換し、低い周波数の
信号として取出すことができ、る。よって発振器15は
普通の電圧利発振器を用いることができる。
発振器15の発振信号23は位相調整手段16で位相調
整され希望周波数信号の位相と逆位相の信号25に変換
され、この信号25を周波数変換手段28によって元の
周波数fに戻すことにより被測定信号4に含まれる希望
周波数信号と同じ周波数で位相が逆の信号を得ることが
できる。
整され希望周波数信号の位相と逆位相の信号25に変換
され、この信号25を周波数変換手段28によって元の
周波数fに戻すことにより被測定信号4に含まれる希望
周波数信号と同じ周波数で位相が逆の信号を得ることが
できる。
この信号を増幅器17と、可変バンドパスフィルタ18
及びレベル調整手段19を通じて電力結合器22に与え
ることにより被測定信号4に含まれる希望周波数信号を
抑圧することができ、これによって第1図の実施例と同
様の作用効果が得られる。
及びレベル調整手段19を通じて電力結合器22に与え
ることにより被測定信号4に含まれる希望周波数信号を
抑圧することができ、これによって第1図の実施例と同
様の作用効果が得られる。
なおこの実施例では第3の局部発振器29を設げ、局部
発振器270局部発振信号の代りにこの第3の局部発振
器27の発振信号をスイッチ31を通じて周波数混合器
28Aに与える構造を付加している。
発振器270局部発振信号の代りにこの第3の局部発振
器27の発振信号をスイッチ31を通じて周波数混合器
28Aに与える構造を付加している。
この構成を付加したことによりスイッチ31を接点Bに
転換すると信号抑圧モードではなく、第5図に示すよう
に信号3の他に局部発振器29の発振周波数で決まる周
波数の信号32を出力端子11Bに出力することができ
る。
転換すると信号抑圧モードではなく、第5図に示すよう
に信号3の他に局部発振器29の発振周波数で決まる周
波数の信号32を出力端子11Bに出力することができ
る。
ここで信号30周波数をf、局部発振器27の発振周波
数をfz、局部発振器29の発振周波数をf2+Δ゛f
とした場合、信号32の周波数はf+Δfとなる。
数をfz、局部発振器29の発振周波数をf2+Δ゛f
とした場合、信号32の周波数はf+Δfとなる。
スイッチ31を接点Bに転換して動作させる場合には第
6図に示すように信号抑圧装置11の入力端子11Aに
基準発振器1から基準信号3を与え、出力端子11Bに
被測定回路2を接続し、被測定回路2の出力側に測定器
5を接続する。
6図に示すように信号抑圧装置11の入力端子11Aに
基準発振器1から基準信号3を与え、出力端子11Bに
被測定回路2を接続し、被測定回路2の出力側に測定器
5を接続する。
よって基準発振器1かパら周波数fの基準信号3を与え
た場合、被測定回路2には周波数fとf十Δfの互に周
波数が近接し、レベルが等しい二つの信号を与えること
ができる。この二つの信号3及び32を与えることによ
り被測定回路2として例えば増幅器或は周波数混合器等
のように非直線ディバイスとした場合、これら非直線デ
ィバイスの3次相互変調歪を測定することができる。
た場合、被測定回路2には周波数fとf十Δfの互に周
波数が近接し、レベルが等しい二つの信号を与えること
ができる。この二つの信号3及び32を与えることによ
り被測定回路2として例えば増幅器或は周波数混合器等
のように非直線ディバイスとした場合、これら非直線デ
ィバイスの3次相互変調歪を測定することができる。
「発明の作用効果」
以上説明したようにこの発明によれば希望信号を抑圧す
ることができ、この抑圧により測定に障害となる信号を
除去することができる。特に信号摘出手段13の摘出周
波数を自由に変えることができるよりに構成することに
より任意の周波数の信号を抑圧することができる。
ることができ、この抑圧により測定に障害となる信号を
除去することができる。特に信号摘出手段13の摘出周
波数を自由に変えることができるよりに構成することに
より任意の周波数の信号を抑圧することができる。
また第4図で説明した実施例のように第3局部発振器2
9を設け、この局部発振器29の信号により基準信号発
振器1の信号に近接した周波数の信号32を発生できる
構成を付加することにより非直線ディバスの3次相互変
調歪を測定することができ便利である。
9を設け、この局部発振器29の信号により基準信号発
振器1の信号に近接した周波数の信号32を発生できる
構成を付加することにより非直線ディバスの3次相互変
調歪を測定することができ便利である。
第1図はこの発明の一実施例を説明するためのブロック
図、第2図は第1図の動作を説明するためのグラフ、第
3図はこの発明の信号抑圧装置によって希望周波数信号
を抑圧した状態を説明するための波形図、第4図はこの
発明の他の実施例を説明するためのブロック図、第5図
は第4図の実施例の動作を説明するためのグラフ、第6
図は第4図に示した実施例の付加的な機能を利用する状
態を説明するためのブロック図、第7図は従来の測定方
法を説明するためのブロック図、第8図は第7図の動作
を説明するためのグラフ、第9図は従来の測定方法の問
題点を改善する方法の一例を説明するためのグラフ、第
10図は第9図で説明した従来の改善方法の構成を説明
するためのブロック図である。 1:基準信号発振器、2:被測定回路、3:基準信号、
4:被測定信号、5:測定器、11:信号抑圧装置、1
2:電力分岐器、13:信号摘出手段、14:位相比較
器、15:発振器、16二位相調整手段、17:増幅器
、18:可変バントパスフィルタ、19ニレベルFA
整手段。
図、第2図は第1図の動作を説明するためのグラフ、第
3図はこの発明の信号抑圧装置によって希望周波数信号
を抑圧した状態を説明するための波形図、第4図はこの
発明の他の実施例を説明するためのブロック図、第5図
は第4図の実施例の動作を説明するためのグラフ、第6
図は第4図に示した実施例の付加的な機能を利用する状
態を説明するためのブロック図、第7図は従来の測定方
法を説明するためのブロック図、第8図は第7図の動作
を説明するためのグラフ、第9図は従来の測定方法の問
題点を改善する方法の一例を説明するためのグラフ、第
10図は第9図で説明した従来の改善方法の構成を説明
するためのブロック図である。 1:基準信号発振器、2:被測定回路、3:基準信号、
4:被測定信号、5:測定器、11:信号抑圧装置、1
2:電力分岐器、13:信号摘出手段、14:位相比較
器、15:発振器、16二位相調整手段、17:増幅器
、18:可変バントパスフィルタ、19ニレベルFA
整手段。
Claims (1)
- (1)A、複数の周波数成分を含む被測定信号から希望
する周波数成分の信号を取出す信号摘出手段と、 B、この信号摘出手段によつて摘出した信号と同期し単
一周波数成分から成る信号を発生する発振器と、 C、この発振器から出力される単一周波数の信号の位相
を調整し上記希望する周波数成分の信号の位相と逆位相
の信号を得る位相調整手段と、 D、上記単一周波数成分の信号を増幅する増幅器と、 E、上記単一周波数成分の信号のレベルを調整するレベ
ル調整手段と、 F、上記被測定信号と上記単一周波数の信号を結合し上
記被測定信号の中の上記希望する周波数の信号を抑圧し
た信号を取出す電力結合器と、 から成る信号抑圧装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60137479A JPH0760976B2 (ja) | 1985-06-24 | 1985-06-24 | 信号抑圧装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60137479A JPH0760976B2 (ja) | 1985-06-24 | 1985-06-24 | 信号抑圧装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61295703A true JPS61295703A (ja) | 1986-12-26 |
| JPH0760976B2 JPH0760976B2 (ja) | 1995-06-28 |
Family
ID=15199586
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60137479A Expired - Lifetime JPH0760976B2 (ja) | 1985-06-24 | 1985-06-24 | 信号抑圧装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0760976B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992022130A1 (en) * | 1991-06-06 | 1992-12-10 | Wiltron Measurements Limited | Improved signal generator and testing apparatus |
| JP2012202764A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | スペクトル測定システム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57192117A (en) * | 1981-05-18 | 1982-11-26 | Ibm | Method of removing dispersive sinusoidal noise |
-
1985
- 1985-06-24 JP JP60137479A patent/JPH0760976B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57192117A (en) * | 1981-05-18 | 1982-11-26 | Ibm | Method of removing dispersive sinusoidal noise |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992022130A1 (en) * | 1991-06-06 | 1992-12-10 | Wiltron Measurements Limited | Improved signal generator and testing apparatus |
| JP2012202764A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | スペクトル測定システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0760976B2 (ja) | 1995-06-28 |
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