JPS613440U - 反射率測定光学系 - Google Patents

反射率測定光学系

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JPS613440U
JPS613440U JP1984086866U JP8686684U JPS613440U JP S613440 U JPS613440 U JP S613440U JP 1984086866 U JP1984086866 U JP 1984086866U JP 8686684 U JP8686684 U JP 8686684U JP S613440 U JPS613440 U JP S613440U
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JP
Japan
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mirror
optical system
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measurement optical
reflectance measurement
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Application number
JP1984086866U
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隆明 宮下
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
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Publication of JPS613440U publication Critical patent/JPS613440U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は、この考案の一実施例を示す概略斜視図、第２
図は、第１図に示す光学系の校正時の平面図、第３図は
、第１図に示す光学系の測定時の平面図、第４図は、ダ
ハミラーアレイを使用した等倍結像光学系の一例を示す
斜視図、第５図は、従来の反射率測定光学系の一例を示
す概略構成図である。 １・・・ダハミラーアレイ、′１２・・・第１ミラー、
１３・・・第２ミラー、１４・・・回転軸、１５・・・
アーム、１６・・・第３ミラー、１７・・・ブラケット
、１８・・・受光器、Ｌ・・・測定光、′Ｎ・・・法線
。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 測定光を受ける第１ミラーと、前記第１ミラーの法線を
    回転軸としてその回りに１８０゜変位可能で前記第１ミ
    ラーからの反射光を受ける第２ミラーと、前記回転軸に
    ミラーの中心を通るように斜めに取り付けられて前記回
    転軸の回りに１８０’変位苛能で前記第２ミラーからの
    反射光を受けてこれを受光器に導く第３ミラーとを備え
    た反射率測定光学系。
JP1984086866U 1984-06-12 1984-06-12 反射率測定光学系 Pending JPS613440U (ja)

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JP1984086866U JPS613440U (ja) 1984-06-12 1984-06-12 反射率測定光学系

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JPS613440U true JPS613440U (ja) 1986-01-10

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