JPS6134900A - Ｘ線断層撮影装置における自動露出制御装置 - Google Patents
Ｘ線断層撮影装置における自動露出制御装置Info
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- JPS6134900A JPS6134900A JP15559384A JP15559384A JPS6134900A JP S6134900 A JPS6134900 A JP S6134900A JP 15559384 A JP15559384 A JP 15559384A JP 15559384 A JP15559384 A JP 15559384A JP S6134900 A JPS6134900 A JP S6134900A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/38—Exposure time
- H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
- H05G1/44—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube in which the switching instant is determined by measuring the amount of radiation directly
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/32—Supply voltage of the X-ray apparatus or tube
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、テトロードを制御素子とした管電圧制御部を
有するＸ線断層撮影装置における自動露出制御装置に関
し、特に撮影部位の透過Ｘ線量を検出して上記管電圧制
御部を制御することによりＸ線管装置く印加する管電圧
を自動調節するよう忙した自動露出制御装置に関する。
有するＸ線断層撮影装置における自動露出制御装置に関
し、特に撮影部位の透過Ｘ線量を検出して上記管電圧制
御部を制御することによりＸ線管装置く印加する管電圧
を自動調節するよう忙した自動露出制御装置に関する。
従来の技術
従来のこの種の自動露出制御装置は、撮影目的部位処よ
ってＸ線管装置の初期の管電流値を設定し、断層撮影中
忙おける断層厚等の変化に対して自動的忙管電流を調節
するもので、いわゆる管電流変化による自動露出制御方
式であった。すなわち、Ｘ線管装置の管電圧を予めセッ
トしておき、断層振れ角に比例する断層時間及びフィル
ムの黒化度レベルを所定の値に設定して撮影を開始し、
被写体の後方に設けられた電龍笛でその透過Ｘ線量を検
出して比較器に送り、その出力信号により加熱回路を制
御してＸ線管装置の管電流を調節し、フィルムの黒化度
を一定にするようにしていた。
ってＸ線管装置の初期の管電流値を設定し、断層撮影中
忙おける断層厚等の変化に対して自動的忙管電流を調節
するもので、いわゆる管電流変化による自動露出制御方
式であった。すなわち、Ｘ線管装置の管電圧を予めセッ
トしておき、断層振れ角に比例する断層時間及びフィル
ムの黒化度レベルを所定の値に設定して撮影を開始し、
被写体の後方に設けられた電龍笛でその透過Ｘ線量を検
出して比較器に送り、その出力信号により加熱回路を制
御してＸ線管装置の管電流を調節し、フィルムの黒化度
を一定にするようにしていた。
ここで、Ｘ線の曝射線量をＲ（レントゲン）、管電圧を
■、管電流をｍｌ１、断層時間（撮影時間）をＳｅｃ
ｓ比例定数なＫとすると、Ｘ線の曝射ｆｆａ量Ｒは、 Ｒ必ＫＶ３〜’ Ｘ ｍｌ、Ｘ５ｅｃ ・・・■と表わ
され、このＲによってフィルムの黒化度が変化する。
■、管電流をｍｌ１、断層時間（撮影時間）をＳｅｃ
ｓ比例定数なＫとすると、Ｘ線の曝射ｆｆａ量Ｒは、 Ｒ必ＫＶ３〜’ Ｘ ｍｌ、Ｘ５ｅｃ ・・・■と表わ
され、このＲによってフィルムの黒化度が変化する。
発明が解決しようとする問題点
しかし、上記０式から明らかなように曝射線ｉＲは管電
流ｍｌ、に比例して変化し、従来技術においては管電流
献を調節して曝射線量Ｒを変化させて露出を制御してい
たので、この露出を制御するために管電流ｍｌ、を大幅
に調節すると、Ｘ線管装置の許容負荷（定格電流）の制
限を越えてしまうことがあった。したがって、Ｘ線管球
の寿命が短くなることがあった。また、上記Ｘ線管装置
の許容負荷を越えないように管電流−１を抑えると、十
分な露出制御ができずフィルムの黒化度が一定とならな
いことがあった。或いは、断層時間ｓｅｃが長くなって
、断層撮影に要する時間が長くなるものであった。そこ
で、本発明はこのような問題点を解決することを目的と
する。
流ｍｌ、に比例して変化し、従来技術においては管電流
献を調節して曝射線量Ｒを変化させて露出を制御してい
たので、この露出を制御するために管電流ｍｌ、を大幅
に調節すると、Ｘ線管装置の許容負荷（定格電流）の制
限を越えてしまうことがあった。したがって、Ｘ線管球
の寿命が短くなることがあった。また、上記Ｘ線管装置
の許容負荷を越えないように管電流−１を抑えると、十
分な露出制御ができずフィルムの黒化度が一定とならな
いことがあった。或いは、断層時間ｓｅｃが長くなって
、断層撮影に要する時間が長くなるものであった。そこ
で、本発明はこのような問題点を解決することを目的と
する。
問題点を解決するための手段
そして上記の問題点は本発明によれば、交流電源を高電
圧発生装置で昇圧し、この高電圧をテトロードを制御素
子とした管電圧制御部で制御してＸ線管装置に管電圧を
印加し、上記Ｘ線管装置を所定の断層振れ角で円弧運動
して被写体の断層写真を撮るＸ線断層撮影装置において
、被写体の後方に設けられその透過Ｘ線量を検出ベルを
設定する基準信号発生部と、上記検出部からの露光線量
信号と基準信号発生部からの黒化度基準信号を入力して
比較する比較器と、この比較器からの差信号を入力して
動作するバイアス制御回路とを組み合せて成り、上記バ
イアス制御回路の制御信号で管電圧制御部のテトロード
を制御してＸ線管装置の管電圧を自動調節すること釦よ
りフィルムの黒化度を一定とするようにしたことを特徴
とするＸ線断層撮影装置における自動露出制御装置を提
供することによって解決される。
圧発生装置で昇圧し、この高電圧をテトロードを制御素
子とした管電圧制御部で制御してＸ線管装置に管電圧を
印加し、上記Ｘ線管装置を所定の断層振れ角で円弧運動
して被写体の断層写真を撮るＸ線断層撮影装置において
、被写体の後方に設けられその透過Ｘ線量を検出ベルを
設定する基準信号発生部と、上記検出部からの露光線量
信号と基準信号発生部からの黒化度基準信号を入力して
比較する比較器と、この比較器からの差信号を入力して
動作するバイアス制御回路とを組み合せて成り、上記バ
イアス制御回路の制御信号で管電圧制御部のテトロード
を制御してＸ線管装置の管電圧を自動調節すること釦よ
りフィルムの黒化度を一定とするようにしたことを特徴
とするＸ線断層撮影装置における自動露出制御装置を提
供することによって解決される。
発明の実施例
以下、本発明の実施例を添付図面に基いて詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明によるＸ線断層撮影装置における自動露
出制御装置を示すブロック図である。
出制御装置を示すブロック図である。
Ｘａ断層撮影装置は、三相の交流電源１と、高電圧発生
装置２と、テトロード（四極管）３を制御素子としだ管
電圧制御部４と、Ｘ線管装置５と、フィルム６とを有し
てなり、交流電源１を高電圧発生装置２で昇圧し、この
高電圧を管電圧制御部４で所定の電圧になるようにコン
トロールし、これを管電圧としてＸ線管装置５１Ｃ印加
し、第２図に示すように、上記Ｘ線管装置５を所定の断
層振れ角αで被写体７０周りを円弧運動させ、この円弧
運動の間に適宜Ｘ線を曝射してフィルム６に被写体７０
目的部位８の断層写真を撮るよ５忙なっている。
装置２と、テトロード（四極管）３を制御素子としだ管
電圧制御部４と、Ｘ線管装置５と、フィルム６とを有し
てなり、交流電源１を高電圧発生装置２で昇圧し、この
高電圧を管電圧制御部４で所定の電圧になるようにコン
トロールし、これを管電圧としてＸ線管装置５１Ｃ印加
し、第２図に示すように、上記Ｘ線管装置５を所定の断
層振れ角αで被写体７０周りを円弧運動させ、この円弧
運動の間に適宜Ｘ線を曝射してフィルム６に被写体７０
目的部位８の断層写真を撮るよ５忙なっている。
このようなＸ線断層撮影装置において、断層写真のフィ
ルム６の黒化度を一定とする自動露出制御装置は、検出
部１１と、基準信号発生部１４と、比較器１５と、バイ
アス制御回路１６とからなる。上記検出部１１は、被写
体Ｔの透過Ｘ線量を検出するもので、被写体Ｔの後方に
設けられＸ線が入射するとその部位が発光するイメージ
インテンシ７アイヤ９と、このイメージインテンシ７ア
イヤ９の出力蛍光面の輝度を検出する光電素子１０とを
組み合せてなる。この検出部１１は、被写体Ｔの断層厚
の変化による透過Ｘ線量の変動を検出する。そして、こ
の検出部１１からの露光線量信号Ｓ１は増幅器１Ｔを介
して比較器１５の一方の端子へ入力する。
ルム６の黒化度を一定とする自動露出制御装置は、検出
部１１と、基準信号発生部１４と、比較器１５と、バイ
アス制御回路１６とからなる。上記検出部１１は、被写
体Ｔの透過Ｘ線量を検出するもので、被写体Ｔの後方に
設けられＸ線が入射するとその部位が発光するイメージ
インテンシ７アイヤ９と、このイメージインテンシ７ア
イヤ９の出力蛍光面の輝度を検出する光電素子１０とを
組み合せてなる。この検出部１１は、被写体Ｔの断層厚
の変化による透過Ｘ線量の変動を検出する。そして、こ
の検出部１１からの露光線量信号Ｓ１は増幅器１Ｔを介
して比較器１５の一方の端子へ入力する。
上記基準信号発生部１４は、フィルム６の黒化度基準信
号Ｓ２を出力するもので、第２図に示すＸ線管装置５の
断層振れ角α（例えば６０度）、β（例えば１００度）
、γ（例えば１４０度）のいずれを選択したかにより切
り換わる切換スイッチ１２と、上記断層根太れ角α、β
、γ（断層時間に比例する）に対応したフィルムの黒化
度基準レベルを設定するレベル設定器１３とを組み合せ
てなる。上記切換スイッチ１２の内部には、断層振れ角
α、β、ｒの種＠に応じて例えば三つの接点１８ａ、１
８ｂ、１８ｃがあり、振れ角α、β、γの選択によりそ
れぞれ接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃがＯＮとなる。この
断層振れ角α、β、γは、結局は、断層撮影における断
層時間を与えるものである。また、上記レベル設定器１
３の内部には、断層振れ角α、β、γの種類に応じて例
えば三つのボリウム１９ａ−１９ｂｊ １９Ｃがある
。そして、上記断層時間の大小によるフィルムの適正な
黒化度は今までの実測値から割り出すことができるので
、各断層時間に応じたフィルムや黒化度基準レベルを上
記各ボリウム１９ａ、１９ｂ、１９ｃにセットしておく
。すなわち、切換スイッチ１２の接点１８ａがＯＮのと
きは、断層振れ角αに相当する断層時間のフィルムの適
正な黒化度の信号が、ボリウム１９ａにセットされた黒
化度基準レベルの値から出力されることとなる。このよ
うにして、基準信号発生部１４から黒化度基準信号Ｓ２
が送出され、この信号ｓ２は比較器１５の他方の端子へ
入力する。
号Ｓ２を出力するもので、第２図に示すＸ線管装置５の
断層振れ角α（例えば６０度）、β（例えば１００度）
、γ（例えば１４０度）のいずれを選択したかにより切
り換わる切換スイッチ１２と、上記断層根太れ角α、β
、γ（断層時間に比例する）に対応したフィルムの黒化
度基準レベルを設定するレベル設定器１３とを組み合せ
てなる。上記切換スイッチ１２の内部には、断層振れ角
α、β、ｒの種＠に応じて例えば三つの接点１８ａ、１
８ｂ、１８ｃがあり、振れ角α、β、γの選択によりそ
れぞれ接点１８ａ、１８ｂ、１８ｃがＯＮとなる。この
断層振れ角α、β、γは、結局は、断層撮影における断
層時間を与えるものである。また、上記レベル設定器１
３の内部には、断層振れ角α、β、γの種類に応じて例
えば三つのボリウム１９ａ−１９ｂｊ １９Ｃがある
。そして、上記断層時間の大小によるフィルムの適正な
黒化度は今までの実測値から割り出すことができるので
、各断層時間に応じたフィルムや黒化度基準レベルを上
記各ボリウム１９ａ、１９ｂ、１９ｃにセットしておく
。すなわち、切換スイッチ１２の接点１８ａがＯＮのと
きは、断層振れ角αに相当する断層時間のフィルムの適
正な黒化度の信号が、ボリウム１９ａにセットされた黒
化度基準レベルの値から出力されることとなる。このよ
うにして、基準信号発生部１４から黒化度基準信号Ｓ２
が送出され、この信号ｓ２は比較器１５の他方の端子へ
入力する。
上記比較器１５は、検出部１１からの露光線量信号Ｓ１
と基準信号発生部１４からの黒化度基準信号Ｓ２とを入
力し、両信号Ｓ１，８２が一致しないときは差信号Ｓ３
を出力する。すなわち、断層撮影中における実際のＸ線
曝射によるフィルム６に対する露光線量を、予めセット
されたフィルムの黒化度基準レベルと常に比較すること
により、実際の露光線量が黒化度基準レベルより多いか
、少いかを検出することができる。
と基準信号発生部１４からの黒化度基準信号Ｓ２とを入
力し、両信号Ｓ１，８２が一致しないときは差信号Ｓ３
を出力する。すなわち、断層撮影中における実際のＸ線
曝射によるフィルム６に対する露光線量を、予めセット
されたフィルムの黒化度基準レベルと常に比較すること
により、実際の露光線量が黒化度基準レベルより多いか
、少いかを検出することができる。
上記比較器１５から出力された差信号Ｓ３は、バイアス
制御回路１６へ入力する。このバイアス制御回路１６は
、管電圧制御部４のテトロード３を制御するもので、上
記差信号Ｓ５が入力したときに作動するようになってい
る。このバイアス制御回路１６の作動により制御信号Ｓ
４が出力され、この信号Ｓ４が上記テトロード３のグリ
ッドバイアス回路（図示省略）へ入力して該テトロード
３のグリッド電圧を制御することにより、Ｘ線管装置５
へ印加される管電圧を自動調節する。この結果、上記Ｘ
線管装置５から曝射されるＸ線量が変化して、フィルム
６の黒化度が黒化度基準レベルに近づくようにフィード
バック制御される。
制御回路１６へ入力する。このバイアス制御回路１６は
、管電圧制御部４のテトロード３を制御するもので、上
記差信号Ｓ５が入力したときに作動するようになってい
る。このバイアス制御回路１６の作動により制御信号Ｓ
４が出力され、この信号Ｓ４が上記テトロード３のグリ
ッドバイアス回路（図示省略）へ入力して該テトロード
３のグリッド電圧を制御することにより、Ｘ線管装置５
へ印加される管電圧を自動調節する。この結果、上記Ｘ
線管装置５から曝射されるＸ線量が変化して、フィルム
６の黒化度が黒化度基準レベルに近づくようにフィード
バック制御される。
次に、本発明による自動露出制御装置の動作について説
明する。まず、Ｘ線管装置５へ供給される管電流献を一
定と一管電圧制御部４に管電圧■の初期値を与えておく
。また、このときのＸ線管装置５の断層振れ角として第
２図におけるαを選択すると、第１図に示す切換スイッ
チ１２の第一の接点１８ａがＯＮとなり、レベル設定器
１３の第一のボリウム１９ａにセットされたフィルムの
黒化度基準レベルを取り出し得るようになる。このよう
な状態で、上記Ｘ線管装置５へ管電圧Ｖを印加するとＸ
線が曝射され、被写体７を透過したＸ線がイメージイン
テンシファイヤ９へ入射して発光させ、その出力蛍光面
の輝度な光電素子１ｏで検出して露光線量信号Ｓ１を出
力する。この信号ｓ１は増幅器１１で増幅されて比較器
１５へ入力する。これと同時圧、基準信号発生部１４か
らは、その第一のボリウム１９ａから断層振れ角αに相
当する断層時間に応じたフィルムの黒化度基準レベルの
値が取り出され、第一の接点１８ａを介して黒化度基準
信号Ｓ２が出力される。この黒化度基準信号Ｓ２は、比
較器１５へ入力して上記実際の露光線量信号Ｓ１と比較
される。そして、上記信号Ｓ１と８２とが一致しないと
きは、フィルＡ６に対する実際の露光線量が黒化度基準
レベルより多いか少いかであるので、差信号Ｓ５を出力
する。
明する。まず、Ｘ線管装置５へ供給される管電流献を一
定と一管電圧制御部４に管電圧■の初期値を与えておく
。また、このときのＸ線管装置５の断層振れ角として第
２図におけるαを選択すると、第１図に示す切換スイッ
チ１２の第一の接点１８ａがＯＮとなり、レベル設定器
１３の第一のボリウム１９ａにセットされたフィルムの
黒化度基準レベルを取り出し得るようになる。このよう
な状態で、上記Ｘ線管装置５へ管電圧Ｖを印加するとＸ
線が曝射され、被写体７を透過したＸ線がイメージイン
テンシファイヤ９へ入射して発光させ、その出力蛍光面
の輝度な光電素子１ｏで検出して露光線量信号Ｓ１を出
力する。この信号ｓ１は増幅器１１で増幅されて比較器
１５へ入力する。これと同時圧、基準信号発生部１４か
らは、その第一のボリウム１９ａから断層振れ角αに相
当する断層時間に応じたフィルムの黒化度基準レベルの
値が取り出され、第一の接点１８ａを介して黒化度基準
信号Ｓ２が出力される。この黒化度基準信号Ｓ２は、比
較器１５へ入力して上記実際の露光線量信号Ｓ１と比較
される。そして、上記信号Ｓ１と８２とが一致しないと
きは、フィルＡ６に対する実際の露光線量が黒化度基準
レベルより多いか少いかであるので、差信号Ｓ５を出力
する。
この差信号Ｓ３は、バイアス制御回路１６へ入力する。
すると、該バイアス制御回路１６が作動して、上記差信
号Ｓ３の大きさに応じた制御信号Ｓ４を管電圧制御部４
へ出力する。この制御信号Ｓ４の入力により、上記管電
圧制御部４のテトロード３のグリッド電圧が制御され、
Ｘ線管装置５へ印加する管電圧Ｖを上記制御信号Ｓ４の
大きさに応じた分だけ上昇又は下降させる。この結果、
Ｘ線管装置５から曝射されるＸ線量が変化し、次回のＸ
線曝射における検出部１１からの露光線量信号Ｓ１が変
化する。したがって、黒化度基準信号Ｓ２との差信号Ｓ
３も変化し、信号Ｓ１と信号Ｓ２とが一致すると差信号
Ｓ３はゼロとなる。
号Ｓ３の大きさに応じた制御信号Ｓ４を管電圧制御部４
へ出力する。この制御信号Ｓ４の入力により、上記管電
圧制御部４のテトロード３のグリッド電圧が制御され、
Ｘ線管装置５へ印加する管電圧Ｖを上記制御信号Ｓ４の
大きさに応じた分だけ上昇又は下降させる。この結果、
Ｘ線管装置５から曝射されるＸ線量が変化し、次回のＸ
線曝射における検出部１１からの露光線量信号Ｓ１が変
化する。したがって、黒化度基準信号Ｓ２との差信号Ｓ
３も変化し、信号Ｓ１と信号Ｓ２とが一致すると差信号
Ｓ３はゼロとなる。
このようにして、第２図に示すように、Ｘ線管装置５を
矢印Ａ、Ｂのように円弧運動させながらＸ線曝射をし、
これに従ってフィルム６も矢印Ｃのように円弧運動させ
ながら露光する。そして、この断層撮影中に上記のよう
なフィードバック制御をすることにより、第３図（ａ）
Ｋ示すように管電圧Ｖが自動調節され、第３図（ｂ）に
示すようにフィルム６の黒化度が黒化度基準レベルに沿
って一定とされる。なお、第２図において断層振れ角β
又はｒを選択したときは、切換スイッチ１２はそれぞれ
第二の接点１８ｂ又は第三の接点１８ＧがＯＮとなり、
以下、前記と同様の制御が行われる。
矢印Ａ、Ｂのように円弧運動させながらＸ線曝射をし、
これに従ってフィルム６も矢印Ｃのように円弧運動させ
ながら露光する。そして、この断層撮影中に上記のよう
なフィードバック制御をすることにより、第３図（ａ）
Ｋ示すように管電圧Ｖが自動調節され、第３図（ｂ）に
示すようにフィルム６の黒化度が黒化度基準レベルに沿
って一定とされる。なお、第２図において断層振れ角β
又はｒを選択したときは、切換スイッチ１２はそれぞれ
第二の接点１８ｂ又は第三の接点１８ＧがＯＮとなり、
以下、前記と同様の制御が行われる。
第４図は他の実施例を示すブロック図である。
この実施例は、被写体の透過Ｘ線量を検出する検出部１
１′を、電離箱２０と電流電圧変換器２１との組み合せ
で構成したものであり、他の部分は第１図と全く同様で
ある。
１′を、電離箱２０と電流電圧変換器２１との組み合せ
で構成したものであり、他の部分は第１図と全く同様で
ある。
発明の効果
本発明は以上説明したよ５に、検出部１１と基準信号発
生部１４とから信号８１．８２を取り込み、バイアス制
御回路１６の制御信号Ｓ４で管電圧制御部４のテトロー
ド３を制御することにより、Ｘ線管装置５の管電圧を自
動調節してフィルム６の黒化度を一定とすることができ
る。ここで、前記０式から明らかなよ５に、Ｘ線の曝射
線量Ｒは管電圧Ｖの３〜４乗に比例して変化するので、
管電圧Ｖの小さい調節でＲを大幅に変化できる。したが
って、Ｘ線管装置５の゛許容負荷に対して余裕をもって
露出の制御ができる。
生部１４とから信号８１．８２を取り込み、バイアス制
御回路１６の制御信号Ｓ４で管電圧制御部４のテトロー
ド３を制御することにより、Ｘ線管装置５の管電圧を自
動調節してフィルム６の黒化度を一定とすることができ
る。ここで、前記０式から明らかなよ５に、Ｘ線の曝射
線量Ｒは管電圧Ｖの３〜４乗に比例して変化するので、
管電圧Ｖの小さい調節でＲを大幅に変化できる。したが
って、Ｘ線管装置５の゛許容負荷に対して余裕をもって
露出の制御ができる。
このことから、Ｘ線管球の寿命を長くすることができる
。また、被写体７の断層厚の大きな変化に対しても十分
に露出制御をすることができ、あらゆる場合においてフ
ィルム６の黒化度を一定とすることができる。さらに、
特に断層時間を長（することを要さず、断層撮影に要す
る時間を短（することも可能である。
。また、被写体７の断層厚の大きな変化に対しても十分
に露出制御をすることができ、あらゆる場合においてフ
ィルム６の黒化度を一定とすることができる。さらに、
特に断層時間を長（することを要さず、断層撮影に要す
る時間を短（することも可能である。
ｉ１図は本発明によるＸ線断層撮影装置忙おける自動露
出制御装置を示すブロック図、第２図はＸ線管装置の断
層振れ角及びその円弧運動を示す説明図、第３図（ａ）
ｓ （ｂ）は管電圧の変化及びフィルム黒化度を示す
グラフ、第４図は本発明の他の実施例を示すブロック図
である。 １・・・交流電源、 ２・・・高電圧発生装置、 ３・・・テトロード、 ４・・・管電圧制御部、 ５・・・Ｘ線管装置、 ６・・・フィルム、 ７・−・被 写 体、 １１ 、 １１’−−・検 出 部、 １４・・・基準信号発生部、 １５−・・比 較 器、 １６・・・バイアス制御回路、 α、β、ｒ−・・断層振れ角、 Ｓｌ−・・露光線量信号、 Ｓ２・−・黒化度基準信号、 Ｓ３・・・差 信 号、 Ｓ４・・・制御信号。
出制御装置を示すブロック図、第２図はＸ線管装置の断
層振れ角及びその円弧運動を示す説明図、第３図（ａ）
ｓ （ｂ）は管電圧の変化及びフィルム黒化度を示す
グラフ、第４図は本発明の他の実施例を示すブロック図
である。 １・・・交流電源、 ２・・・高電圧発生装置、 ３・・・テトロード、 ４・・・管電圧制御部、 ５・・・Ｘ線管装置、 ６・・・フィルム、 ７・−・被 写 体、 １１ 、 １１’−−・検 出 部、 １４・・・基準信号発生部、 １５−・・比 較 器、 １６・・・バイアス制御回路、 α、β、ｒ−・・断層振れ角、 Ｓｌ−・・露光線量信号、 Ｓ２・−・黒化度基準信号、 Ｓ３・・・差 信 号、 Ｓ４・・・制御信号。
Claims (1)
- 交流電源を高電圧発生装置で昇圧し、この高電圧をテト
ロードを制御素子とした管電圧制御部で制御してＸ線管
装置に管電圧を印加し、上記Ｘ線管装置を所定の断層振
れ角で円弧運動して被写体の断層写真を撮るＸ線断層撮
影装置において、被写体の後方に設けられその透過Ｘ線
量を検出する検出部と、Ｘ線管装置の断層振れ角の選択
によつてそれに対応したフィルムの黒化度基準レベルを
設定する基準信号発生部と、上記検出部からの露光線量
信号と基準信号発生部からの黒化度基準信号を入力して
比較する比較器と、この比較器からの差信号を入力して
動作するバイアス制御回路とを組み合せて成り、上記バ
イアス制御回路の制御信号で管電圧制御部のテトロード
を制御してＸ線管装置の管電圧を自動調節することによ
りフィルムの黒化度を一定とするようにしたことを特徴
とするＸ線断層撮影装置における自動露出制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15559384A JPS6134900A (ja) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | Ｘ線断層撮影装置における自動露出制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15559384A JPS6134900A (ja) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | Ｘ線断層撮影装置における自動露出制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6134900A true JPS6134900A (ja) | 1986-02-19 |
Family
ID=15609419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15559384A Pending JPS6134900A (ja) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | Ｘ線断層撮影装置における自動露出制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6134900A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000195696A (ja) * | 1998-12-30 | 2000-07-14 | General Electric Co <Ge> | 学習ベ―スの性能予測を伴う放射線透過検査システム |
-
1984
- 1984-07-27 JP JP15559384A patent/JPS6134900A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000195696A (ja) * | 1998-12-30 | 2000-07-14 | General Electric Co <Ge> | 学習ベ―スの性能予測を伴う放射線透過検査システム |
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