JPS6141978A - 可搬型温度試験装置 - Google Patents

可搬型温度試験装置

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Publication number
JPS6141978A
JPS6141978A JP16379084A JP16379084A JPS6141978A JP S6141978 A JPS6141978 A JP S6141978A JP 16379084 A JP16379084 A JP 16379084A JP 16379084 A JP16379084 A JP 16379084A JP S6141978 A JPS6141978 A JP S6141978A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
box
under test
test
device under
testing device
Prior art date
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Pending
Application number
JP16379084A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Nakao
寛 中尾
Hideaki Hayashi
秀昭 林
Manabu Motoji
泉二 学
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS6141978A publication Critical patent/JPS6141978A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、電子計算機等の被試験装置の低温試験等を、
被試験装置の据え付は場所で行うための可搬型温度試験
装置に関する。
〔発明の背景〕
従来、電子計算機の低温試験等の温度試験は。
電子計算機を環境試験室に搬入して行っていた。
したがって、電子計算機の解体、環境試験室への搬入、
電子計算機の稼動に必要なケーブルの接続、電子計算機
の機能動作の確認など9多くの準備作業を要した。試験
終了後にも、電子計算機を元の場所に再び据え付けし、
ケーブルを接続するなど、多くの手数がかNった。特に
、電子計算機と環境試験室の設置場所が遠く離れている
場合、電子計算機の稼動に時間と費用がか\す、また試
験のために長時間に亘って電子計算機を使用できなくな
る等の欠点あった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上述の問題点を解消するために、電子
計算機等の被試験装置の設置場所に運び、そこで被試験
装置を据え付けた状態で低温試験等を行うことができる
可搬型温度試験装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明の可搬型温度試験装置は、底面のみ開放し、少な
くとも一つの側面が開閉可能な函体と、該函体を移動可
能に支持するために該函体に取り付けた回転体と、該函
体の内部を冷却するための冷却装置とを具備することを
特徴とするものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図を参照して説明する。
第1図において、1は函体であり、この中に電子討算機
等の被試験装置を収容し、試験が行われる。二〇函体1
の底面は開放している。函体1の前後左右の側面の中、
前面と後面は左右に開閉できる扉8,9となっている。
この扉8.9は函体1の内部を外から監視でき、かつ必
要な断熱作用を持つように、ガラス板等の透明板の二重
構造となっている。左右の側面も、同様な透明板の二重
構造となっている。函体1の天板12は、断熱材を含ん
だ二重構造となっている。
左右の側面10.11の下部には、当該装置を容易に移
動可能に支持するための複数の回転体5が取り付けられ
ている。また、側面10.11の下部と床面等との隙間
を通じて空気が出入りしないように、柔軟なスカート6
が設けられている。
天板1には、函体1の内部を冷却するための冷却装置2
が設けられている。右側面10には、冷却装置2の運転
を制御するための操作!!!3が取り付けられ、また冷
却装置i!2より排出される水を受けるための容器4が
着脱可能に設けられている。
被試験装置の試験を行う場合、温度試験装置を被試験装
置の設置場所へ移動させる1回転体5により支持されて
いるから、この移動は容易である。
そして、前面のs8または後面の扉9を開放した状態で
、温度試験装置を前後に移動させ、函体1の内部に被試
験装置を収容する。つまり、据え付は状態の被試験装置
に、函体1を覆いかぶせる形になる。函体1の底面が開
放しており、少なくとも一側面を開放可能しているから
1以上のように簡単な方法で、据え付は状態の被試験装
置を函体1内に収容できる訳である。その後、s8,9
を閉じれば、函体1はその各面と床面(被試験装置の設
置面)とではゾ気密状態となる。そして、低温度試験装
置の電源ケーブル(図示せず)をコンセントに接続すれ
ば、試験準備は完了である。
低温試験を実施する場合、操作盤3の操作によって冷却
装置i!2を動作させ、函体1の内部を低温にする。函
体lの左右側面10.11と前後側面の扉8.9は透明
であるから、扉8または9を開くことなく、試験中に被
試験装置を外部がら監視することができる。
ナオ、函体lははゾ気密状態に保たれるから、冷却装置
2を停止させた状態で被試験装置を作動させ、その発熱
によって函体1の内部温度を上昇させることにより、高
温試験を行うこともできる。
また、被試験装置の自己発熱と、冷却装置2の冷却動作
を組み合せることにより、低温がら高温までの温度サイ
クル試験を行うこともできる。
以上、一実施例について説明したが1本発明はそれだけ
に限定されるものではなく、適宜変形して実施できるも
のである。
例えば、上記実施例におylては、函体の二何面を開閉
可能としたが、−側面だけを開閉可能としてもよい、但
し、上記実施例のように二面を開閉可能とする方が、函
体のいずれの側からも被試験装置を収容できるという利
点がある。
上記実施例では、函体の前後左右の側面を透明材料で形
成したが、一部の側面だけを透明にしてもよく、また、
すべての側面を不透明にしてもよい6但し、上記実施例
のようにすれば、試験中の被試験装置を何れの方向から
も観察できるという利点がある。
また、上記実施例では、装置の床占有面積をできるだけ
減らし、装置の移動を容易にするために。
冷却装置を函体の天板に設けている。しかし、冷却装置
を函体の他の部分に取付けたり、あるいは函体と独立さ
せることも可能である。
さらに、函体内部を加熱するための加熱装置を設けても
よい。
〔発明の効果〕
以上に説明したように1本発明の可搬型温度試験装置は
、被試験装置を据え付けた状態のまま試験を行うことが
でき、従来のような被試験装置の解体、移動、ケーブル
接続、動作再確認、再据え付は等の作業が不要となり、
試験に要する時間も短縮できる等の効果を達成できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略斜視図である。 1・・・函体、  2・・・冷却装置、  5・・・回
転体、6・・・スカート、  8.9・・・扉。 第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)底面のみ開放し、少なくとも一つの側面が開閉可
    能な函体と、該函体を移動可能に支持するために該函体
    に取り付けた回転体と、該函体の内部を冷却するための
    冷却装置とを具備して成る可搬型温度試験装置。
JP16379084A 1984-08-06 1984-08-06 可搬型温度試験装置 Pending JPS6141978A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16379084A JPS6141978A (ja) 1984-08-06 1984-08-06 可搬型温度試験装置

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JP16379084A JPS6141978A (ja) 1984-08-06 1984-08-06 可搬型温度試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6141978A true JPS6141978A (ja) 1986-02-28

Family

ID=15780752

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16379084A Pending JPS6141978A (ja) 1984-08-06 1984-08-06 可搬型温度試験装置

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JP (1) JPS6141978A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6062727A (en) * 1997-03-07 2000-05-16 Setaram - Societe D'etudes D'automatisation De Regulation Et D'appareils De Mesures Measuring instrument for the thermal and/or reactive properties of one or several material samples

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6062727A (en) * 1997-03-07 2000-05-16 Setaram - Societe D'etudes D'automatisation De Regulation Et D'appareils De Mesures Measuring instrument for the thermal and/or reactive properties of one or several material samples

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