JPS6143646B2 - - Google Patents
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- JPS6143646B2 JPS6143646B2 JP53052092A JP5209278A JPS6143646B2 JP S6143646 B2 JPS6143646 B2 JP S6143646B2 JP 53052092 A JP53052092 A JP 53052092A JP 5209278 A JP5209278 A JP 5209278A JP S6143646 B2 JPS6143646 B2 JP S6143646B2
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- JP
- Japan
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- spectrum
- marker
- horizontal axis
- scanning
- peak position
- Prior art date
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 34
- 239000003550 marker Substances 0.000 claims description 32
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 239000010421 standard material Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Recording Measured Values (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、マーカー装置に係り、特にスペクト
ルの横軸の較正に用いるに好適なマーカー装置に
関する。
ルの横軸の較正に用いるに好適なマーカー装置に
関する。
従来の分析装置においては、例えば、スペクト
ルの横軸として分光光度計における波数又は波
長、質量分析計における比質量（ｍ／ｅ）等が採
用される場合の目盛としてマーカーを記録紙に記
録するマーカー装置がある。従来のマーカー装置
によるマーカー表示の一例を第１図に示す。第１
図は、赤外分光光度計において通常標準物質とし
て用いられるポリスチレンのスペクトル曲線１０
をあらわすものであり、横軸は波数であり、縦軸
は透過率である。ここで、スペクトル曲線１０の
既知のピーク位置１１，１２，１３を読み取るた
めに、波数軸２０上に一定間隔毎に短いパルスマ
ーカー２１および長いパルスマーカー２２が記載
されている。このパルスマーカー２１，２２を用
いてスペクトル曲線１０のピーク位置１１，１
２，１３を読み取るものであり、標準物質のピー
ク位置は既知であることから、パルスマーカーに
よる読み取り値と比較することにより波数較正を
行うことができる。この波数較正の精度を向上さ
せるためには、パルスマーカーによる波数読み取
り精度を上げれば良いわけである。しかしなが
ら、読み取り精度向上のために、マーカー間隔を
狭くすることにも限度があるとともに、あまり間
隔を狭くすると読み取りにくくなり波数較正を正
確に行うことができないという問題点がある。
ルの横軸として分光光度計における波数又は波
長、質量分析計における比質量（ｍ／ｅ）等が採
用される場合の目盛としてマーカーを記録紙に記
録するマーカー装置がある。従来のマーカー装置
によるマーカー表示の一例を第１図に示す。第１
図は、赤外分光光度計において通常標準物質とし
て用いられるポリスチレンのスペクトル曲線１０
をあらわすものであり、横軸は波数であり、縦軸
は透過率である。ここで、スペクトル曲線１０の
既知のピーク位置１１，１２，１３を読み取るた
めに、波数軸２０上に一定間隔毎に短いパルスマ
ーカー２１および長いパルスマーカー２２が記載
されている。このパルスマーカー２１，２２を用
いてスペクトル曲線１０のピーク位置１１，１
２，１３を読み取るものであり、標準物質のピー
ク位置は既知であることから、パルスマーカーに
よる読み取り値と比較することにより波数較正を
行うことができる。この波数較正の精度を向上さ
せるためには、パルスマーカーによる波数読み取
り精度を上げれば良いわけである。しかしなが
ら、読み取り精度向上のために、マーカー間隔を
狭くすることにも限度があるとともに、あまり間
隔を狭くすると読み取りにくくなり波数較正を正
確に行うことができないという問題点がある。
また、パルスマーカーの表示位置を波数軸上で
なく、スペクトル曲線上に表示する例もあるが、
上述と同様の問題点がある。
なく、スペクトル曲線上に表示する例もあるが、
上述と同様の問題点がある。
さらに、別の方法として、スペクトル曲線のピ
ーク位置を検出し、データ処理により波数読み取
りを行うものがある。この方法によるピーク位置
検出は、スペクトル曲線の一次微分値が零となる
点を検出するものである。しかしながら、一次微
分値が零となる点を検出する方法は、雑音の影響
を受けやすいこと、吸収線の巾広いピークに対し
ては精度良くピーク位置を検出できないこと、近
接線の固定が困難なことなどの問題点を有してい
る。したがつて、この方法によつても、波数較正
を正確に行うことができないという問題点があ
る。
ーク位置を検出し、データ処理により波数読み取
りを行うものがある。この方法によるピーク位置
検出は、スペクトル曲線の一次微分値が零となる
点を検出するものである。しかしながら、一次微
分値が零となる点を検出する方法は、雑音の影響
を受けやすいこと、吸収線の巾広いピークに対し
ては精度良くピーク位置を検出できないこと、近
接線の固定が困難なことなどの問題点を有してい
る。したがつて、この方法によつても、波数較正
を正確に行うことができないという問題点があ
る。
本発明は、上述に問題点に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、スペクトル曲線のピーク位
置の横軸の読み取りを容易にしかも正確に行な
え、正確な横軸較正の可能なマーカー装置を提供
するにある。
であり、その目的は、スペクトル曲線のピーク位
置の横軸の読み取りを容易にしかも正確に行な
え、正確な横軸較正の可能なマーカー装置を提供
するにある。
本発明は、既知のピーク位置の横軸値と横軸走
査時における横軸値の一致時にスペクトル上にマ
ーカーを記するようにしたものである。
査時における横軸値の一致時にスペクトル上にマ
ーカーを記するようにしたものである。
本発明の一実施例について第２図および第３図
を用いて説明する。第２図において、走査制御回
路５０は、スペクトル曲線における横軸の走査を
制御する回路である。走査制御回路５０として
は、例えば、分光光度計やＸ線分析装置における
分光器の波長走査にパルスモータを用いる場合に
おいては、パルスモータに供給するパルスを制御
する回路、質量分析計における磁場走査のための
磁石に印加する電圧を制御する回路、核磁気共鳴
装置における磁場走査あるいは周波数走査を制御
する回路等がある。ここでは、走査制御回路５０
をパルスモータに供給するパルスを制御する回路
として以下に説明する。走査制御回路５０が発す
るパルスは、パルスモータ（図示せず）等に供給
されるとともに、カウンタ３０に読み込まれる。
比較器３５は、カウンタ３０の内容と記憶装置８
０の複数の内容の一部を保持したレジスタ４５の
内容とを比較し、比較信号を出力する。アドレス
カウンタ４０は、比較器３５の出力信号を受け
て、記憶装置８０の中の読み出すべきアドレスを
指定する。タイマ５５は、比較器３５の出力信号
を受けて、一定のタイムシーケンスで信号を出力
する。加減算器６０は、タイマ５５からの信号を
受けて、検出器（図示せず）から得られたスペク
トルデータ６１に電源６５からの一定電圧を加減
算して記録計７０に出力する。
を用いて説明する。第２図において、走査制御回
路５０は、スペクトル曲線における横軸の走査を
制御する回路である。走査制御回路５０として
は、例えば、分光光度計やＸ線分析装置における
分光器の波長走査にパルスモータを用いる場合に
おいては、パルスモータに供給するパルスを制御
する回路、質量分析計における磁場走査のための
磁石に印加する電圧を制御する回路、核磁気共鳴
装置における磁場走査あるいは周波数走査を制御
する回路等がある。ここでは、走査制御回路５０
をパルスモータに供給するパルスを制御する回路
として以下に説明する。走査制御回路５０が発す
るパルスは、パルスモータ（図示せず）等に供給
されるとともに、カウンタ３０に読み込まれる。
比較器３５は、カウンタ３０の内容と記憶装置８
０の複数の内容の一部を保持したレジスタ４５の
内容とを比較し、比較信号を出力する。アドレス
カウンタ４０は、比較器３５の出力信号を受け
て、記憶装置８０の中の読み出すべきアドレスを
指定する。タイマ５５は、比較器３５の出力信号
を受けて、一定のタイムシーケンスで信号を出力
する。加減算器６０は、タイマ５５からの信号を
受けて、検出器（図示せず）から得られたスペク
トルデータ６１に電源６５からの一定電圧を加減
算して記録計７０に出力する。
本実施例の作用について以下に説明する。記憶
装置８０には、標準物質のスペクトルのピーク位
置の横軸値、例えば、第１図に示すスペクトルの
ピーク位置１１，１２，１３の波数が順次アドレ
スを指定して記憶されている。それぞれのアドレ
ス位置をｉ，ｉ＋１，ｉ＋２とする。分析機器に
よつて標準物質のスペクトルを測定するために、
走査制御回路５０により走査を開始すると、パル
ス信号５１がカウンタ３０にて計数される。一
方、走査開始時には、アドレスカウンタ４０は、
アドレス選択信号４１により記憶装置８０のアド
レスｉを指定しており、アドレスｉの記憶内容、
すなわち、ピーク位置１１の波数が、レジスタ４
５に保持される。走査によつて変化するカウンタ
３０の内容Ａと、一定値にあるレジスタ４５の内
容Ｂが比較器３５において比較され、それぞれの
内容が一致したとき、比較器３５は一致信号３６
を出力する。走査制御回路５０が一致信号３６を
受けると、走査を停止する。また、走査制御回路
５０による走査に伴つて得られるスペクトルデー
タ６１も記録計７０に記録されているが、一致信
号３６を受けて記録計７０の横軸送りを停止す
る。一方、タイマ５５は一致信号３６を受けて作
動を開始する。タイマ５５が作動を開始し、t1秒
後に加算命令５６を発生する。加減算器６０は、
加算命令５６を受けると、スペクトルデータ６１
に定電圧源６５から一定電圧６２を加算する。第
３図は、第２図に示す装置により記録計に記録さ
れたスペクトルであるが、上述の加算命令５６に
よりスペクトル１０の上に正マーカー２６が記録
される。次にタイマ５５はt2秒後に減算命令５７
を発生する。加減算器６０は、減算命令５７を受
けると、スペクトルデータ６１に定電圧源６５か
らの一定電圧６２を減算する。したがつて、第３
図に示すように、スペクトル１０の上に負マーカ
ー２７が記録され、これでマーカー２１が記録さ
れることになる。さらにタイマ５５はt3秒後に開
始信号５８を発生する。開始信号５８を受けて、
走査制御回路５０は走査を開始するとともに記録
計７０も横軸送りを開始する。走査開始に伴つて
カウンタ３０の内容は増加する。したがつて、カ
ウンタ３０の内容Ａはルジスタ４５の内容Ｂより
大きくなり、比較器３５は不一致信号３７を発生
する。不一致信号３７をアドレスカウンタ４０が
受けると、指定するアドレスを“１”増して記憶
装置のアドレスｉ＋１を指定する。アドレスｉ＋
１の内容、すなわち、ピーク位置１２に対する波
数がレジスタ４５に保持される。したがつて、内
容Ａは内容Ｂより小さくなり、走査に伴つてカウ
ンタ３０の内容Ａがレジスタ４５の内容Ｂと一致
すると上述したようにスペクトル上にマーカーが
記録される。以上の繰り返しにより、第３図に示
す如く、スペクトル１０の上にマーカー２１，２
２，２３が記録される。ここで、第１図と第３図
を比較してみると明らかなように、第３図の方が
ピーク位置とマーカーの確認が容易である。すな
わち、マーカー２１とピーク位置１１は一致して
おり、マーカー２２に対してピーク位置１２は右
方にずれており、マーカー２３に対してはピーク
位置１３が左方にずれていることが明らかであ
る。
装置８０には、標準物質のスペクトルのピーク位
置の横軸値、例えば、第１図に示すスペクトルの
ピーク位置１１，１２，１３の波数が順次アドレ
スを指定して記憶されている。それぞれのアドレ
ス位置をｉ，ｉ＋１，ｉ＋２とする。分析機器に
よつて標準物質のスペクトルを測定するために、
走査制御回路５０により走査を開始すると、パル
ス信号５１がカウンタ３０にて計数される。一
方、走査開始時には、アドレスカウンタ４０は、
アドレス選択信号４１により記憶装置８０のアド
レスｉを指定しており、アドレスｉの記憶内容、
すなわち、ピーク位置１１の波数が、レジスタ４
５に保持される。走査によつて変化するカウンタ
３０の内容Ａと、一定値にあるレジスタ４５の内
容Ｂが比較器３５において比較され、それぞれの
内容が一致したとき、比較器３５は一致信号３６
を出力する。走査制御回路５０が一致信号３６を
受けると、走査を停止する。また、走査制御回路
５０による走査に伴つて得られるスペクトルデー
タ６１も記録計７０に記録されているが、一致信
号３６を受けて記録計７０の横軸送りを停止す
る。一方、タイマ５５は一致信号３６を受けて作
動を開始する。タイマ５５が作動を開始し、t1秒
後に加算命令５６を発生する。加減算器６０は、
加算命令５６を受けると、スペクトルデータ６１
に定電圧源６５から一定電圧６２を加算する。第
３図は、第２図に示す装置により記録計に記録さ
れたスペクトルであるが、上述の加算命令５６に
よりスペクトル１０の上に正マーカー２６が記録
される。次にタイマ５５はt2秒後に減算命令５７
を発生する。加減算器６０は、減算命令５７を受
けると、スペクトルデータ６１に定電圧源６５か
らの一定電圧６２を減算する。したがつて、第３
図に示すように、スペクトル１０の上に負マーカ
ー２７が記録され、これでマーカー２１が記録さ
れることになる。さらにタイマ５５はt3秒後に開
始信号５８を発生する。開始信号５８を受けて、
走査制御回路５０は走査を開始するとともに記録
計７０も横軸送りを開始する。走査開始に伴つて
カウンタ３０の内容は増加する。したがつて、カ
ウンタ３０の内容Ａはルジスタ４５の内容Ｂより
大きくなり、比較器３５は不一致信号３７を発生
する。不一致信号３７をアドレスカウンタ４０が
受けると、指定するアドレスを“１”増して記憶
装置のアドレスｉ＋１を指定する。アドレスｉ＋
１の内容、すなわち、ピーク位置１２に対する波
数がレジスタ４５に保持される。したがつて、内
容Ａは内容Ｂより小さくなり、走査に伴つてカウ
ンタ３０の内容Ａがレジスタ４５の内容Ｂと一致
すると上述したようにスペクトル上にマーカーが
記録される。以上の繰り返しにより、第３図に示
す如く、スペクトル１０の上にマーカー２１，２
２，２３が記録される。ここで、第１図と第３図
を比較してみると明らかなように、第３図の方が
ピーク位置とマーカーの確認が容易である。すな
わち、マーカー２１とピーク位置１１は一致して
おり、マーカー２２に対してピーク位置１２は右
方にずれており、マーカー２３に対してはピーク
位置１３が左方にずれていることが明らかであ
る。
以上の説明では、マーカーをスペクトルの上方
および下方に記載するものとしているが、いずれ
か一方を記載するのみでもよい。しかしながら、
スペクトルの吸収線が鋭い場合には、マーカーと
スペクトルが重畳することも生じるため、上下方
にマーカーを記載することにより、一方が重畳し
ても確認できるという利点はある。
および下方に記載するものとしているが、いずれ
か一方を記載するのみでもよい。しかしながら、
スペクトルの吸収線が鋭い場合には、マーカーと
スペクトルが重畳することも生じるため、上下方
にマーカーを記載することにより、一方が重畳し
ても確認できるという利点はある。
また、以上の説明では、カウンタ３０は走査制
御回路５０が被制御部印加する信号、例えばパル
スモータに供給するパルスを計数するものとして
いるが、被制御部の駆動状態、例えばパルスモー
タの回転等からの信号を計数するようにしてもよ
い。
御回路５０が被制御部印加する信号、例えばパル
スモータに供給するパルスを計数するものとして
いるが、被制御部の駆動状態、例えばパルスモー
タの回転等からの信号を計数するようにしてもよ
い。
また、上述したように、カウンタ３０および走
査制御回路５０については、分析機器の種類に応
じてその態様を変え得るものである。例えば、質
量分析計では、磁場走査のための電圧をアナログ
量として比較器に入力するか、デイジタル量に変
換した後比較器に入力するようにすることも可能
である。
査制御回路５０については、分析機器の種類に応
じてその態様を変え得るものである。例えば、質
量分析計では、磁場走査のための電圧をアナログ
量として比較器に入力するか、デイジタル量に変
換した後比較器に入力するようにすることも可能
である。
本発明の一実施例によれば、マーカーの位置と
スペクトルのピーク位置との差が容易に判別でき
るため、スペクトル曲線のピーク位置の読み取り
を容易にしかも正確に行なえ、正確な横軸較正が
可能となる。
スペクトルのピーク位置との差が容易に判別でき
るため、スペクトル曲線のピーク位置の読み取り
を容易にしかも正確に行なえ、正確な横軸較正が
可能となる。
また、スペクトルの上方、下方のそれぞれにマ
ーカーを記するため、一方のマーカーがスペクト
ルと重畳してもピーク位置との差が判別できる。
ーカーを記するため、一方のマーカーがスペクト
ルと重畳してもピーク位置との差が判別できる。
また、較正に際して標準物質のスペクトルのピ
ーク位置の横軸目盛りを記憶する必要もない。
ーク位置の横軸目盛りを記憶する必要もない。
本発明の変形例について第４図を用いて説明す
る。該変形例は、第２図の一実施例の主要部を演
算記憶装置９０により行なわせるものであり、演
算記憶装置９０内には、所定のプログラムが記憶
されており、該プログラムに従い動作するもので
ある。演算記憶装置９０からの出力データは、出
力インタフエイス９５を介して分析機器１００に
供給される。分析機器１００から出力される種々
のデータは、入力インタフエイス１１０を介して
演算記憶装置９０にて演算処理され、Ａ／Ｄ変換
器１０５によりデイジタル信号に変換されたスペ
クトルデータに対してマーカーを付与する。そし
て、Ｄ／Ａ変換器１１５でアナログ信号に変換さ
れた後、記録計７０に記録される。
る。該変形例は、第２図の一実施例の主要部を演
算記憶装置９０により行なわせるものであり、演
算記憶装置９０内には、所定のプログラムが記憶
されており、該プログラムに従い動作するもので
ある。演算記憶装置９０からの出力データは、出
力インタフエイス９５を介して分析機器１００に
供給される。分析機器１００から出力される種々
のデータは、入力インタフエイス１１０を介して
演算記憶装置９０にて演算処理され、Ａ／Ｄ変換
器１０５によりデイジタル信号に変換されたスペ
クトルデータに対してマーカーを付与する。そし
て、Ｄ／Ａ変換器１１５でアナログ信号に変換さ
れた後、記録計７０に記録される。
本発明によれば、スペクトル曲線のピーク位置
の横軸の読み取りを容易にしかも正確に行なえ、
正確な横軸較正が可能となる。
の横軸の読み取りを容易にしかも正確に行なえ、
正確な横軸較正が可能となる。
第１図は、従来のマーカー装置によるマーカー
の説明図であり、第２図は、本発明の一実施例の
ブロツク図であり、第３図は、本発明の一実施例
のマーカーの説明図であり、第４図は、本発明の
変形例のブロツク図である。 ３５……比較器、６０……加減算器、６５……
電源、７０……記録計、８０……記憶装置。
の説明図であり、第２図は、本発明の一実施例の
ブロツク図であり、第３図は、本発明の一実施例
のマーカーの説明図であり、第４図は、本発明の
変形例のブロツク図である。 ３５……比較器、６０……加減算器、６５……
電源、７０……記録計、８０……記憶装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 横軸を走査して得られるスペクトルにマーカ
ーを記すマーカー装置において、標準物質のスペ
クトルの任意のピーク位置の既知の横軸値を記憶
する手段と、横軸走査時における横軸値と上記記
憶手段に記憶された横軸の一致を検出してスペク
トル上にマーカーを記す手段とを備えたことを特
徴とするマーカー装置。 ２ 特許請求の範囲第１項において、上記スペク
トル上にマーカーを記す手段は、上記スペクトル
の縦軸方向に上記スペクトルをはさんで上方およ
び下方にマーカーを記すことを特徴とするマーカ
ー装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5209278A JPS54143686A (en) | 1978-04-29 | 1978-04-29 | Marker device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5209278A JPS54143686A (en) | 1978-04-29 | 1978-04-29 | Marker device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54143686A JPS54143686A (en) | 1979-11-09 |
| JPS6143646B2 true JPS6143646B2 (ja) | 1986-09-29 |
Family
ID=12905182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5209278A Granted JPS54143686A (en) | 1978-04-29 | 1978-04-29 | Marker device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS54143686A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56126727A (en) * | 1980-03-10 | 1981-10-05 | Shimadzu Corp | Recording device for spectroscopic measuring device |
| US4926428A (en) * | 1987-08-31 | 1990-05-15 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakucho | Method and apparatus for sensing the wavelength of a laser beam |
-
1978
- 1978-04-29 JP JP5209278A patent/JPS54143686A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54143686A (en) | 1979-11-09 |
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