JPS61466A - 電気集じん方法 - Google Patents
電気集じん方法Info
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- JPS61466A JPS61466A JP11998784A JP11998784A JPS61466A JP S61466 A JPS61466 A JP S61466A JP 11998784 A JP11998784 A JP 11998784A JP 11998784 A JP11998784 A JP 11998784A JP S61466 A JPS61466 A JP S61466A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は電気集じん装置に係り、特に捕集するダストの
電気抵抗率が高くて、通常の電気集じん装置では、逆電
離を起して捕集困難となるダストを捕集するのに好適な
電気集じん方法に関する。
電気抵抗率が高くて、通常の電気集じん装置では、逆電
離を起して捕集困難となるダストを捕集するのに好適な
電気集じん方法に関する。
従来の電気集じん装置は、第１図に示すように、接地さ
れた集じん極３と高電圧が印加された放電極２をおもな
構成要素としていた。にで、粒子状物質を同伴した排ガ
スｌは放電極２と集じん極３の間に構成された高電界に
より発生したコロナ放電に伴うイオンが充満した空間を
通過すると、排ガス１中の粒子状物質は荷電して帯電粒
子となり、放電極２と集じん極３の間に構成された高電
界の作用により、集じん極３方向へ駆動され、最終的に
は集じん極３上に捕集され、清浄化された排ガス４とし
て、電気集じん装置の外部へ排気される。このようにし
て、捕集された粒子状物質は集じん極３上に堆積し、定
期的に集じん極３を槌打することにより、集じん極３上
に堆積したダストを払い落としている。電気集じん装置
内では、このような操作が繰り返されて集じん現象が行
われている。しかし、粒子状物質が抵抗率が高いのダス
トにｈると、集じん極３上に堆積したダストの抵抗が高
いために、ダストが持っている電荷が容易に中和されな
いために、集じん極３上に電荷が蓄積されて、電位を持
つ。従って、集じん極３を槌打しても、集じん極３への
付着力の方が大きいため、払い落とすことができない場
合が生ずる。
れた集じん極３と高電圧が印加された放電極２をおもな
構成要素としていた。にで、粒子状物質を同伴した排ガ
スｌは放電極２と集じん極３の間に構成された高電界に
より発生したコロナ放電に伴うイオンが充満した空間を
通過すると、排ガス１中の粒子状物質は荷電して帯電粒
子となり、放電極２と集じん極３の間に構成された高電
界の作用により、集じん極３方向へ駆動され、最終的に
は集じん極３上に捕集され、清浄化された排ガス４とし
て、電気集じん装置の外部へ排気される。このようにし
て、捕集された粒子状物質は集じん極３上に堆積し、定
期的に集じん極３を槌打することにより、集じん極３上
に堆積したダストを払い落としている。電気集じん装置
内では、このような操作が繰り返されて集じん現象が行
われている。しかし、粒子状物質が抵抗率が高いのダス
トにｈると、集じん極３上に堆積したダストの抵抗が高
いために、ダストが持っている電荷が容易に中和されな
いために、集じん極３上に電荷が蓄積されて、電位を持
つ。従って、集じん極３を槌打しても、集じん極３への
付着力の方が大きいため、払い落とすことができない場
合が生ずる。
また、集じん極３上に堆積したダストの電位が大きくな
ると、ダスト層間の電界強度が絶縁破壊強度より大きく
なって、ダスト層で逆電離現象が発生して、集じん作用
が阻害されるという欠点がある。
ると、ダスト層間の電界強度が絶縁破壊強度より大きく
なって、ダスト層で逆電離現象が発生して、集じん作用
が阻害されるという欠点がある。
最近では、このような欠点を解決するため、種々の方法
が発明されており、その詳ＭｆＵハ電気学会技術報告（
■部）第１５８号“石炭燃焼に対する電気集じん最近の
課題と動向”に述べられている。
が発明されており、その詳ＭｆＵハ電気学会技術報告（
■部）第１５８号“石炭燃焼に対する電気集じん最近の
課題と動向”に述べられている。
第２図〜第４図にその例を示す。第２図は、米国のＣａ
ｒｎｅｇｉｅ−Ｍｅｌｏｎ Ｉｎ５ｔｉｔｕｔｅの教授
のＱＷ、 Ｐｅ”Ｙらの３電極式パルス加電方式の構成
図で、第３図はそのときの放電極２に印加する高電圧の
波形および第３電極５に印加する高電圧の波形であり、
集じん実験の結果、その有効性を確認したとＪ。
ｒｎｅｇｉｅ−Ｍｅｌｏｎ Ｉｎ５ｔｉｔｕｔｅの教授
のＱＷ、 Ｐｅ”Ｙらの３電極式パルス加電方式の構成
図で、第３図はそのときの放電極２に印加する高電圧の
波形および第３電極５に印加する高電圧の波形であり、
集じん実験の結果、その有効性を確認したとＪ。
Ａｉｒ ｐｏｌｌｕｔｉｏｎ （：：ｏｎｔｒｏｌ Ａ
ｓ５ｏｃｉａｔｉｏｎ、 ｖｏｌ 、２８゜Ｎｏ、 １
． ｐ５８ （１９７８）で報告しているが未だ実用化
（う、、７い、ワ、。９．４．□。
ｓ５ｏｃｉａｔｉｏｎ、 ｖｏｌ 、２８゜Ｎｏ、 １
． ｐ５８ （１９７８）で報告しているが未だ実用化
（う、、７い、ワ、。９．４．□。
３ｏｕｔｈｅｒｎ Ｂｅ５ｅａｒｃｈ Ｉｎ５ｔｉｔｕ
ｔｅｃｙ） ３電極型予備荷電装置で、この例が本発明
に最も近い。この例が第２図と異なるのは放電極２と集
じん極３の間に格子状の電極６を設け、放電極２に印加
された高電圧７と同極性の高電圧８を格子状電極に印加
している。この例では格子状電極６に電流が流れないよ
うに格子状電極６の電圧を制御した場合にだけ、所期の
性能が達成できたと、東京大学の増田氏らはＩｎ５ｔ、
ｐｈｙｓ、Ｃ０ｎｆ、 Ｓｅｒ、 ＮＯ，４８，ｐ９
． （１９７９）で報告している。しかし、この方法で
は、格子状の電極６に印加する電圧として、放電極２に
印加した高電圧と同極性の高電圧である負の電圧を印加
することによって、該格子状の電極６に流れる電流をゼ
ロにするように調整している。本発明者らが考えるとこ
ろでは、このような方法では格子状の電極６に抵抗が高
いダストが堆積した場合には、通常の電気集じん装置の
集じん極にダストが堆積した場合と同様に、格子状電極
６でも逆゛亀離現象が発生して、集じん現象が阻害され
て、集じん性能が低下すると考えられる。
ｔｅｃｙ） ３電極型予備荷電装置で、この例が本発明
に最も近い。この例が第２図と異なるのは放電極２と集
じん極３の間に格子状の電極６を設け、放電極２に印加
された高電圧７と同極性の高電圧８を格子状電極に印加
している。この例では格子状電極６に電流が流れないよ
うに格子状電極６の電圧を制御した場合にだけ、所期の
性能が達成できたと、東京大学の増田氏らはＩｎ５ｔ、
ｐｈｙｓ、Ｃ０ｎｆ、 Ｓｅｒ、 ＮＯ，４８，ｐ９
． （１９７９）で報告している。しかし、この方法で
は、格子状の電極６に印加する電圧として、放電極２に
印加した高電圧と同極性の高電圧である負の電圧を印加
することによって、該格子状の電極６に流れる電流をゼ
ロにするように調整している。本発明者らが考えるとこ
ろでは、このような方法では格子状の電極６に抵抗が高
いダストが堆積した場合には、通常の電気集じん装置の
集じん極にダストが堆積した場合と同様に、格子状電極
６でも逆゛亀離現象が発生して、集じん現象が阻害され
て、集じん性能が低下すると考えられる。
本発明の目的は捕集しようとする媒しんの抵抗が高い場
合に発生する逆電離現象に伴い生ずる象じん性能の低下
を抑匍］シ、高い集じん性能を発挿する電気集じん方法
を提供することにある。
合に発生する逆電離現象に伴い生ずる象じん性能の低下
を抑匍］シ、高い集じん性能を発挿する電気集じん方法
を提供することにある。
本発明は本発明者らが電気集じん装置の高性能化を図る
ため、電気集じん装置内の粒子の挙動を測定している際
に得られ次実験結果を基に発明したものである。実験は
第５図に示すような装置を用いて行った。ダスト供給器
１０には、供試粉体として、フライアッシュが充たされ
ており、一定量が定量的に、ダスト分散機１１に供給さ
れ、充分に分散されたのち、搬送空気中に供給される。
ため、電気集じん装置内の粒子の挙動を測定している際
に得られ次実験結果を基に発明したものである。実験は
第５図に示すような装置を用いて行った。ダスト供給器
１０には、供試粉体として、フライアッシュが充たされ
ており、一定量が定量的に、ダスト分散機１１に供給さ
れ、充分に分散されたのち、搬送空気中に供給される。
このダストを同伴した空気は整流ダクト１２を経て、供
試電極が内蔵されたテストセクション１３へ入る。この
テストセクション１３に入ると、搬送空気中のダストは
高電圧が印加された放電極２と接地された集じん極３の
間に発生するコロナ放電に伴うイオンによって、帯電し
、電界の作用により集じん極３方向へ駆動され、集じん
極３上に捕集される。ダストが除去された清浄空気は、
マノメータ１４によって、そのガス量が測定され、その
ガス量は調整パルプ１５によって、調整され、排気ファ
ン１６によって、排気される。このときのテストセクシ
ョン１３内におけるダストの挙動を第６図に示しだレー
ザ・ドツプラー速度計を用いて測定した。第６図で、レ
ーザ光源２０から発生したレーザビームはビームスプツ
リタ−２１で２本のビームに分けられ、この内の１本は
光学的周波数変換器２２でその周波数が変換される。そ
の後、２本のビームは集光レンズ２３で集光され、測定
しようとする測定点で焦点を結び、この焦点をダストが
通過すると、散乱光を発生する。２本のビームはビーム
ストッパ２４で遮蔽され、焦点から発生した散乱光だけ
が収束レンズ２５で集められ、このときの散乱光は光電
変換器２６で電気信号に変換され、信号処理系へ送られ
る。この電気信号は信号処理器２７．２８，２９．３０
を経て、データ処理器３１で、演算が行われ、粒子の速
度が計算され、出力される。このときの実験結果の１例
を第７南に示す。この図で、縦軸は測定した粒子の速度
を示し、横軸は接地された集じん極を零とし、放電極を
１５０とした場合の集じん極からの距離を示す。また、
Ａは逆電離現象が発生しない状態での特性を示し、Ｂは
逆電離現象が発生した状態での特性を示す。この図から
、逆電離現象が発生すると、集じん極へ向かう粒子の速
度は著しく減少し、その影響は集じん極と放電極間の距
離の半分以上にも及ぶことが明きらがとなった。この原
因は逆電離現象に伴って発生するイオンが集じん極と放
電極間に発生するコロナ放電に伴うイオンと逆極性のイ
オンであるところから、帯電したダストの電荷を中和す
るからである。本発明はこのような逆電離現象に伴う電
荷の中和作用を抑制する手段として、第４図の電極配置
で、格子状電極には放電極と逆極性の高電圧を間欠的に
印加し、集じん極に捕集されたダストが形成する電荷を
格子状電極に間欠的に印加された高電圧Ｎ、Ｌよっ、Ｃ
やゎ、。え、４イ□工□、２ストの電荷會も、格子状電
極に印加された、放電極と逆極性の電圧によって中和す
ることによって、〔発明の実施例〕 以下、本発明の一実施例を第８図により説明する。この
第８図が第４図と異なるのは、格子状電極６にｔま、切
り換えスイッチ９で高電圧８を印加したり、接地したり
して、間欠的に高電圧８ｔｌ−印加するようにしている
ことである。この時、高電圧８の極性は放電極２に印加
された高電圧と逆極性の高電圧である。本発明は上述の
ような構成のもとに、高電圧が印加された放電極２と格
子状電極６のあいだには常に集じんするための高電界を
構成しておき、集じん極３に捕集されたダストが形成す
る電荷を格子状電極６に間欠的に印加され、かつ、放電
極２と逆極性の電圧によって中和し、また、格子状電極
６に堆積したダストの電荷をも、格子状電極６に印加さ
れた、放電極２と逆極性の電圧によって中和しようとす
るものである。このような構成の電極配置のテストセク
ションヲ第５図のテストセクション１３に用いて、行っ
た粒子挙動の測定結果の一例を第９図に示す。この第９
図の縦軸、横軸は第７図と同様である。図中のＣは本発
明ρ構成の実験結果の特性である。この図から、本発明
の所期の目的である逆電離現象の抑制は達成されたこと
が分かる。そこで、次に第５図の実験装置を用いて、従
来の構成のテストセクションと本発明のテストセクンヨ
ンの集じん性能を比較するために行った集じん性能試験
結果の一例を第１０図に示す。第１０図で縦軸は集じん
性能を示す集じん率、横軸にはテストセクンヨンの消費
電力を示す。この図から、従来の構成であると消費電力
を太きくしていっても、逆゛屯離現象が発生するような
夕゛ストでは、集じん性能は略横這いで飽和の傾向を示
すのに対して、本発明の構成では、消費電力が大きくな
ると、それにつれて集じん率も向上していることが分か
る。
試電極が内蔵されたテストセクション１３へ入る。この
テストセクション１３に入ると、搬送空気中のダストは
高電圧が印加された放電極２と接地された集じん極３の
間に発生するコロナ放電に伴うイオンによって、帯電し
、電界の作用により集じん極３方向へ駆動され、集じん
極３上に捕集される。ダストが除去された清浄空気は、
マノメータ１４によって、そのガス量が測定され、その
ガス量は調整パルプ１５によって、調整され、排気ファ
ン１６によって、排気される。このときのテストセクシ
ョン１３内におけるダストの挙動を第６図に示しだレー
ザ・ドツプラー速度計を用いて測定した。第６図で、レ
ーザ光源２０から発生したレーザビームはビームスプツ
リタ−２１で２本のビームに分けられ、この内の１本は
光学的周波数変換器２２でその周波数が変換される。そ
の後、２本のビームは集光レンズ２３で集光され、測定
しようとする測定点で焦点を結び、この焦点をダストが
通過すると、散乱光を発生する。２本のビームはビーム
ストッパ２４で遮蔽され、焦点から発生した散乱光だけ
が収束レンズ２５で集められ、このときの散乱光は光電
変換器２６で電気信号に変換され、信号処理系へ送られ
る。この電気信号は信号処理器２７．２８，２９．３０
を経て、データ処理器３１で、演算が行われ、粒子の速
度が計算され、出力される。このときの実験結果の１例
を第７南に示す。この図で、縦軸は測定した粒子の速度
を示し、横軸は接地された集じん極を零とし、放電極を
１５０とした場合の集じん極からの距離を示す。また、
Ａは逆電離現象が発生しない状態での特性を示し、Ｂは
逆電離現象が発生した状態での特性を示す。この図から
、逆電離現象が発生すると、集じん極へ向かう粒子の速
度は著しく減少し、その影響は集じん極と放電極間の距
離の半分以上にも及ぶことが明きらがとなった。この原
因は逆電離現象に伴って発生するイオンが集じん極と放
電極間に発生するコロナ放電に伴うイオンと逆極性のイ
オンであるところから、帯電したダストの電荷を中和す
るからである。本発明はこのような逆電離現象に伴う電
荷の中和作用を抑制する手段として、第４図の電極配置
で、格子状電極には放電極と逆極性の高電圧を間欠的に
印加し、集じん極に捕集されたダストが形成する電荷を
格子状電極に間欠的に印加された高電圧Ｎ、Ｌよっ、Ｃ
やゎ、。え、４イ□工□、２ストの電荷會も、格子状電
極に印加された、放電極と逆極性の電圧によって中和す
ることによって、〔発明の実施例〕 以下、本発明の一実施例を第８図により説明する。この
第８図が第４図と異なるのは、格子状電極６にｔま、切
り換えスイッチ９で高電圧８を印加したり、接地したり
して、間欠的に高電圧８ｔｌ−印加するようにしている
ことである。この時、高電圧８の極性は放電極２に印加
された高電圧と逆極性の高電圧である。本発明は上述の
ような構成のもとに、高電圧が印加された放電極２と格
子状電極６のあいだには常に集じんするための高電界を
構成しておき、集じん極３に捕集されたダストが形成す
る電荷を格子状電極６に間欠的に印加され、かつ、放電
極２と逆極性の電圧によって中和し、また、格子状電極
６に堆積したダストの電荷をも、格子状電極６に印加さ
れた、放電極２と逆極性の電圧によって中和しようとす
るものである。このような構成の電極配置のテストセク
ションヲ第５図のテストセクション１３に用いて、行っ
た粒子挙動の測定結果の一例を第９図に示す。この第９
図の縦軸、横軸は第７図と同様である。図中のＣは本発
明ρ構成の実験結果の特性である。この図から、本発明
の所期の目的である逆電離現象の抑制は達成されたこと
が分かる。そこで、次に第５図の実験装置を用いて、従
来の構成のテストセクションと本発明のテストセクンヨ
ンの集じん性能を比較するために行った集じん性能試験
結果の一例を第１０図に示す。第１０図で縦軸は集じん
性能を示す集じん率、横軸にはテストセクンヨンの消費
電力を示す。この図から、従来の構成であると消費電力
を太きくしていっても、逆゛屯離現象が発生するような
夕゛ストでは、集じん性能は略横這いで飽和の傾向を示
すのに対して、本発明の構成では、消費電力が大きくな
ると、それにつれて集じん率も向上していることが分か
る。
以上のように、本発明によれば、通電Ａｍ現象が発生す
るような高抵抗のダストヲ高効率で補集できるという効
果がある。
るような高抵抗のダストヲ高効率で補集できるという効
果がある。
本発明によれば、逆電離現象を抑制できるので、高抵抗
ダストを効率よく捕集できるという効果がある。
ダストを効率よく捕集できるという効果がある。
第１図は電気集じん装置内部の電極構成の斜視図、第２
図は３電極式パルス加電方式の電極構成の平面図、第３
図は３電極式パルス加電方式の電圧波形図、第４図は３
電極型予備荷電装置の構成の平面図、第５図は電気集じ
ん装置の高性能化のだめの実験装置の構成囚、第６図は
レーザ・ドツプラー速度計の系統図、第７図は従来型の
電気集じん装置の電極構成で逆電離現象が発生するよう
な高抵抗ターストと逆電離現象が発生しないようなダス
トを捕集したｋきの電気集じん装置内の粒子速度の比較
図、第８図は、本発明の構成の平面図、第９図は逆電離
現象が発生するような高抵抗ダストを捕集する際の本発
明と従来型の電気集じん装置ｌ１内の粒子速度の比較図
、第１０図は逆電離現象が発生するような高抵抗ダスト
を捕集する際の本発明と従来型の電気集じん装置の集じ
ん性能の比較図である。 ２・・・放電極、３・・・集じん極、６・・・格子状電
極、７・・・高電圧電源、８・・・高電圧電源、９・・
・切り１ν）えスイッチ。
図は３電極式パルス加電方式の電極構成の平面図、第３
図は３電極式パルス加電方式の電圧波形図、第４図は３
電極型予備荷電装置の構成の平面図、第５図は電気集じ
ん装置の高性能化のだめの実験装置の構成囚、第６図は
レーザ・ドツプラー速度計の系統図、第７図は従来型の
電気集じん装置の電極構成で逆電離現象が発生するよう
な高抵抗ターストと逆電離現象が発生しないようなダス
トを捕集したｋきの電気集じん装置内の粒子速度の比較
図、第８図は、本発明の構成の平面図、第９図は逆電離
現象が発生するような高抵抗ダストを捕集する際の本発
明と従来型の電気集じん装置ｌ１内の粒子速度の比較図
、第１０図は逆電離現象が発生するような高抵抗ダスト
を捕集する際の本発明と従来型の電気集じん装置の集じ
ん性能の比較図である。 ２・・・放電極、３・・・集じん極、６・・・格子状電
極、７・・・高電圧電源、８・・・高電圧電源、９・・
・切り１ν）えスイッチ。
Claims (1)
- １、排ガス煙道入口と、排ガス煙道出口と、接地された
集じん極と、高電圧が印加された放電極を主な構成要素
とする電気集じん装置において、接地された集じん極の
上面に平行に、且つ、放電極と集じん極の間の空間に格
子状の電極を設け、該格子状の電極に高電圧を間欠的に
印加することを特徴とする電気集じん方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11998784A JPS61466A (ja) | 1984-06-13 | 1984-06-13 | 電気集じん方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11998784A JPS61466A (ja) | 1984-06-13 | 1984-06-13 | 電気集じん方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61466A true JPS61466A (ja) | 1986-01-06 |
Family
ID=14775099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11998784A Pending JPS61466A (ja) | 1984-06-13 | 1984-06-13 | 電気集じん方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61466A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56136668A (en) * | 1980-03-29 | 1981-10-26 | Senichi Masuda | Electrical dust precipitator |
-
1984
- 1984-06-13 JP JP11998784A patent/JPS61466A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56136668A (en) * | 1980-03-29 | 1981-10-26 | Senichi Masuda | Electrical dust precipitator |
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