JPS6146761B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6146761B2
JPS6146761B2 JP425381A JP425381A JPS6146761B2 JP S6146761 B2 JPS6146761 B2 JP S6146761B2 JP 425381 A JP425381 A JP 425381A JP 425381 A JP425381 A JP 425381A JP S6146761 B2 JPS6146761 B2 JP S6146761B2
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JP
Japan
Prior art keywords
rotating member
spindle
rotating shaft
frame
rotating
Prior art date
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Expired
Application number
JP425381A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57118101A (en
Inventor
Seigo Takahashi
Hideo Sakata
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd filed Critical Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Priority to JP425381A priority Critical patent/JPS57118101A/ja
Publication of JPS57118101A publication Critical patent/JPS57118101A/ja
Publication of JPS6146761B2 publication Critical patent/JPS6146761B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/18Micrometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、直進型マイクロメータに係り、特
に、アンビルが配設されたフレームと、該フレー
ムに摺動自在に支承された、測定時に先端が被測
定物に当接される直進型のスピンドルとを有し、
アンビルとスピンドル間に被測定物を挾持した時
のスピンドルの直進変位から被測定物の長さを測
定する直進型マイクロメータの改良に関する。
被測定物の長さを測定する測長器の一種にマイ
クロメータがある。これは、アンビルが配設され
たフレームと、該フレームに支承された、測定時
に先端が被測定物に当接されるスピンドルとを備
え、アンビルとスピンドル間に被測定物を挾持し
た時のスピンドルの変位から被測定物の長さを測
定するものであり、従来は、フレームに対するス
ピンドルの変位量を、スピンドルの後方に配設さ
れた、精密に加工されたねじの送り量を基準に、
ねじの斜面による拡大を利用して読み取る、いわ
ゆる機械式の回転式マイクロメータが主に用いら
れている。
一方近年、エレクトロニクス化の進展に伴な
い、機械式マイクロメータの寸法読み取り部分を
光電検出装置に置き換えた、いわゆる電子式マイ
クロメータが提案されている。これは、例えば、
アンビルが配設されたフレームと、該フレームに
摺動自在に支承された、測定時に先端が被測定物
に当接される直進型のスピンドルと、前記フレー
ムに固着された固定スケールと、前記スピンドル
と連動された可動スケールとを備え、スピンドル
の直進変位に伴なう可動スケールと固定スケール
間の物理量の変化、例えば、通過光量或いは反射
光量の変化から、アンビルとスピンドル間に挾持
された被測定物の長さを測定するものである。こ
のような電子式の直進型マイクロメータによれ
ば、従来の機械式マイクロメータに比べて精度の
高い測定が可能となるものであるが、従来は、測
定圧を一定とするためには、測定者が、所定の測
定圧がかかるよう、スピンドルを一定圧で押えて
いなければならず、操作感に若干の問題があつ
た。
このような電子式の直進型マイクロメータにお
ける前記のような欠点を解消するべく、スピンド
ルの自由戻りを阻止すると共に、測定力を一定す
るために、スピンドルを全ストロークに渡り往復
動させるための往復機構と、該往復機構を任意の
位置でロツクするためのラチエツト機構と、該ラ
チエツト機構が作動している時に前記スピンドル
を被測定物に対して一定の測定力で押圧するため
の定圧機構とを設けることも考えられるが、この
ような直進型マイクロメータにおいては、前記往
復機構を構成するスライダを操作するためのスラ
イドノブを、マイクロメータ本体の側面に、スピ
ンドルの移動範囲全域に渡つて移動可能な状態で
配置する必要が有り、本体加工上、及び操作上不
便であつた。特に、前記スライドノブに加えて、
前記ラチエツト機構により前記往復機構がロツク
された状態で、前記定圧機構による押圧力に打勝
つて、前記スピンドルを所定ストロークだけ引戻
して被測定物を解放するための解放機構を設けた
ものにおいては、更に、該解放機構を構成する解
放アームを操作するためのスノツプノブを、マイ
クロメータ本体の、前記スライドノブが設けられ
ていない側の側面に、スピンドルの移動範囲全域
に渡つて移動可能な状態で配置する必要が有り、
本体加工上、及び操作上極めて不便であつた。
直進型マイクロメータにおける前記のような欠
点を解消するべく、前記のような直進型マイクロ
メータにおいて、スピンドルの側面に形成された
ラツクと、周面に該ラツクと噛合するピニオンが
形成され、前記フレームに回動自在に支承された
第1の回動部材と、操作ダイヤルが固着され、前
記第1の回動部材と同一軸線上で前記フレームに
回動自在に支承された第2の回動部材と、所定の
相対移動許容範囲を有し、該許容範囲内で所定の
付勢力により前記第1の回動部材をスピンドル前
進方向に付勢するための、前記第1の回動部材と
第2の回動部材を連動する連動機構と、前記第2
の回動部材のスピンドル後退方向への自由戻りを
阻止するためのラチエツト機構とを備えることも
考えられる。このような電子式の直進型マイクロ
メータによれば、操作ダイヤルの操作によりスピ
ンドルが直進し、測定力が印加され、片手操作も
可能である。又、ノブ等をマイクロメータ本体の
側面全域に渡つて移動可能とする必要が無く、本
体加工上有利である等の特徴を有するが、スピン
ドルを後退させる際にはラチエツト機構を開放す
る必要があり、このためのレバー操作を行なう必
要があつた。又、スピンドル移動時にラチエツト
機構からラチエツト音が発生するという問題点を
有した。
本発明は、前記従来の欠点を解消するべく成さ
れたもので、操作ダイヤルを操作するだけで、ス
ピンドルの直進、測定力印加、後退を行なうこと
ができ、又、ノブ等をマイクロメータ本体の側面
全域に渡つて移動可能とする必要が無く、本体加
工上有利である直進型マイクロメータを提供する
ことを目的とする。
本発明は、アンビルが配設されたフレームと、
該フレームに摺動自在に支承された、測定時に先
端が被測定物に当接される直進型のスピンドルと
を有し、アンビルとスピンドル間に被測定物を挾
持した時のスピンドルの直進変位から被測定物の
長さを測定する直進型マイクロメータにおいて、
前記フレームに回動自在に支承された、一端に操
作ダイヤルが固着された回動軸と、該回動軸に回
動自在に支承された、周面に前記スピンドルの側
面に形成されたラツクと噛合するピニオンが形成
された第1の回動部材と、前記回動軸に固着され
た第2の回動部材と、前記回動軸に螺合された、
該回動軸の軸線方向に移動可能な第3の回動部材
と、所定の相対移動許容範囲を有し、該許容範囲
内で所定の付勢力により前記第1の回動部材をス
ピンドル前進方向に付勢するための、前記第1の
回動部材と回動軸を連動する連動機構と、測定時
に前記第3の回動部材を回動軸の軸線方向に移動
してフレームに密着させ、前記回動軸の回動を阻
止するブレーキ機構とを備えることにより前記目
的を達成したものである。
又、前記連動機構を、前記第2の回動部材の周
縁部に形成された円弧状長穴と、前記第1の回動
部材に固着された、前記円弧状長穴を挿通するピ
ンと、該ピンと前記回動軸の周面間に張架された
ばねとを用いて構成したものである。
更に、前記ブレーキ機構を、前記第3の回動部
材の周縁部に形成された丸穴と、前記第1の回動
部材に固着された、前記丸穴に挿入されるピンと
を用いて構成したものである。
又、前記連動機構を構成するピンと、前記ブレ
ーキ機構を構成するピンを単一部材としたもので
ある。
以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に
説明する。本実施例は、第1図乃至第4図に示す
如く、先端内側にアンビル12が配設された略U
字形状のフレーム10と、該フレーム10に摺動
自在に支承された、測定時に先端14aが被測定
物に当接される直進型のスピンドル14と、前記
フレーム10の後端面に植設されたガイド支柱1
6と、該ガイド支柱16の後端に固着されたホル
ダ18に支持された、固定スケールである、ガラ
ス製の平板上の光の透過部と不透過部が等間隔の
縞模様に形成されて成るインデツクススケール2
0と、前記スピンドル14に固着されたスケール
ホルダ22に前端が固着された、可動スケールで
ある。ガラス製の平板上に光の透過部と不透過部
が等間隔の縞模様に形成されて成るメインスケー
ル24と、前記ホルダ18に支持された光源(図
示省略)と、受光基板26を介して同じくホルダ
18に支持された、前記光源より照射され、メイ
ンスケール24及びインデツクススケール20を
透過した光を受光する受光素子(図示省略)とを
備え、スピンドル14の変位に伴なうメインスケ
ール24とインデツクススケール20間の通過光
量の変化から、フレーム10のアンビル12とス
ピンドル14の先端14a間に挾持された被測定
物の長さを測定する電子式の直進型マイクロメー
タにおいて、固定板30,32を介して前記フレ
ーム10に回動自在に支承された、一端に操作ダ
イヤル34がビス36により固着された回動軸3
8と、該回動軸38に回動自在に支承された、周
面に前記スピンドル14の下面に形成されたラツ
ク14bと噛合するピニオン40aが形成された
第1の回動部材40と、前記回動軸38と一体的
に形成された第2の回動部材42と、前記回動軸
38に螺合された、該回動軸38の軸線方向に移
動可能な第3の回動部材44と、所定の相対移動
許容範囲Aを有し、該許容範囲内で所定の付勢力
により前記第1の回動部材40をスピンドル前進
方向に付勢するための、前記第2の回動部材42
の周縁部に形成された円弧状長穴42a、前記第
1の回動部材40に固着された、前記円弧状長穴
42aを挿通するピン46、該ピン46と前記回
動軸38の周面間に張架されたばね48を用いて
構成される連動機構と、測定時に前記第3の回動
部材44を回動軸38の軸線方向に移動して固定
板30に密着させ、前記回動軸38の回動を阻止
するための、前記第3の回動部材44の周縁部に
形成された丸穴44a、前記第1の回動部材40
に固着された、前記丸穴44aに挿入される、前
記連動機構を構成するピン46と一体化されたピ
ンから構成されるブレーキ機構とを備えたもので
ある。図において、52は、ケースカバーであ
る。
前記回動軸38は、前記第1の回動部材40を
支承する部分と、前記第3の回動部材44を支承
する部分とで径が変えられており、該回動軸38
が、第1の回動部材40或いは第3の回動部材4
4から脱離しないようにされている。
又、前記円弧状長穴42aの長さは、第3の回
動部材44のブレーキがかかる迄の移動量より若
干長めとされている。
更に、前記連動機構を構成するばね48は、S
字状のコイルばねとされ、回動軸38に巻き付け
られている。更にこのばね48は、第1の回動部
材40のピニオン40aによりスピンドル14が
前進し、アンビル12と当接した時に、直ちに所
定の押圧力が印加されるよう、予め付勢されてい
る。
前記ガイド支柱16は中空状とされ、その内部
に光電検出装置等の電源となる電池50が収容さ
れている。
以下作用を説明する。測定に際しては、先ず操
作ダイヤル34を回転して、回動軸38を第1図
の時計方向に回転させる。すると、ばね48、ピ
ン46を介して第1の回動部材40も第1図の時
計方向に回動され、該第1の回動部材40の周面
に形成されたピニオン40aと噛合するラツク1
4bによりスピンドル14が完全に後退して測定
に備えられる。
次いで、フレーム10のアンビル12とスピン
ドル14の先端14aの間に被測定物を介装し、
操作ダイヤル34を前記と逆方向に回転する。す
ると、回動軸38が第1図の反時計方向に回転
し、ばね48、ピン46を介して第1の回動部材
40も第1図の反時計方向に回動する。この時に
おいて、第2の回動部材42とピン46の相対的
な位置関係は、第2図に示す如く、ピン46が第
2の回動部材42の円弧状長穴42aの後部と係
合した状態になつている。これによりスピンドル
14が前進され、アンビル12とスピンドル14
の先端14a間で被測定物が挾持される状態とな
ると、スピンドル14の前進が停止する。この
時、第1の回動部材40は最早前進方向に回動す
ることができなくなる。更に操作ダイヤル34を
前進方向に回転させると、第5図に示す如く、第
2の回動部材42が第1の回動部材40(ピン4
6)に対して許容範囲A内で回転した状態とな
る。この時、ピン46は停止しているのに回動軸
38は更に回動するので、第3の回動部材44
は、第4図に矢印Bで示す左方向にねじにより移
行され、固定板30と密着されて回動軸38の回
動が阻止される。この時、第3の回動部材44の
丸穴44aとピン46は滑動している。従つて、
この状態で測定者が操作ダイヤル34から手を離
しても、スピンドル14が戻ることがなく、ばね
48によりスピンドル14に所定の測定圧が加え
られた状態で測定が行なわれる。具体的には、基
準位置に対するスピンドル14の変位に伴なうイ
ンデツクススケール20とメインスケール24間
の相対変位量を、通過光量の変化から検出するこ
とにより、メインスケール24の基準位置からの
変化量を知ることができる。従つて、メインスケ
ール24が固着されているスピンドル14の変位
量を知ることができ、被測定物の長さを測定する
ことができる。この時において、ばね48により
スピンドル14が常時被測定物に当接する方向に
押圧されているため、測定者の操作力のばらつき
等に拘わらず、常に一定の測定力が付与され、正
確な測定が可能である。又、ばね48は予め付勢
されているので、スピンドル14の先端が被測定
物と当接した状態で、直ちに所定の押圧力が加え
られ、迅速な測定が可能である。
測定終了時には、操作ダイヤル34を逆方向に
回転させるのみで、先ず、第3の回動部材44の
固定板30に対する密着状態が解かれ、次いで、
ばね48、ピン46を介して第1の回動部材40
が第1図の時計方向に回転されて、スピンドル1
4が後退させられる。
本実施例においては、連動機構を構成するピン
とブレーキ機構を構成するピンが単一部材とされ
ているため、構成が単純である。
尚前記実施例においては、第3の回動部材44
を固定板30に密着させるようにしていたが、回
動軸38をフレーム10により直接支承する構成
の場合には、第3の回動部材44をフレーム10
に直接密着させることも勿論可能である。
前記実施例においては、本発明が、可動スケー
ルと固定スケール間の通過光量の変化からスピン
ドルの直進変位を測定する電子式の直進型マイク
ロメータに適用されていたが、本発明の適用範囲
はこれに限定されず、固定スケールと可動スケー
ル間の反射光量の変化から測定対象の変位を測定
する電子式の直進型マイクロメータ、或いは、可
動スケールと固定スケール間の他の物理量の変化
からスピンドルの直進変位を測定する、一般の直
進型マイクロメータにも同様に適用できることは
明らかである。
又、前記実施例は、本発明をマイクロメータに
適用したものであつたが、本発明は、マイクロメ
ータ以外の測長器であるノギスやハイトゲージに
も同様に適用できることは明らかである。
以上説明した通り、本発明によれば、操作ダイ
ヤルの操作のみで、スピンドルの直進、測定力印
加、後退ができ、片手操作も可能である。又、操
作ノブ等をマイクロメータ本体の側面全域に渡つ
て移動可能な状態で配設する必要が無く、本体加
工上有利である。更に、スピンドル移動時にラチ
エツト音が発生しない等の優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る直進型マイクロメータ
の実施例の構成を示す正面図、第2図は同じく縦
断面図、第3図は、第1図の−線に沿う横断
面図、第4図は、第1図の−線に沿う横断面
図、第5図は、前記実施例の連動機構の要部の測
定状態を示す正面図である。 10……フレーム、12……アンビル、14…
…スピンドル、30,32……固定板、34……
操作ダイヤル、38……回動軸、40……第1の
回動部材、40a……ピニオン、42……第2の
回動部材、42a……円弧状長穴、44……第3
の回動部材、44a……丸穴、46……ピン、4
8……ばね。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 アンビルが配設されたフレームと、該フレー
    ムに摺動自在に支承された、測定時に先端が被測
    定物に当接される直進型のスピンドルとを有し、
    アンビルとスピンドル間に被測定物を挾持した時
    のスピンドルの直進変位から被測定物の長さを測
    定する直進型マイクロメータにおいて、前記フレ
    ームに回動自在に支承された、一端に操作ダイヤ
    ルが固着された回動軸と、該回動軸に回動自在に
    支承された、周面に前記スピンドルの側面に形成
    されたラツクと噛合するピニオンが形成された第
    1の回動部材と、前記回動軸に固着された第2の
    回動部材と、前記回動軸に螺合された、該回動軸
    の軸線方向に移動可能な第3の回動部材と、所定
    の相対移動許容範囲を有し、該許容範囲内で所定
    の付勢力により前記第1の回動部材をスピンドル
    前進方向に付勢するための、前記第1の回動部材
    と回動軸を連動するため前記第2の回動部材の周
    縁部に形成された円弧状長穴に前記第1の回動部
    材に固着されたピンが挿通し該ピンと前記回動軸
    の周面間にばねが張架されて構成される連動機構
    と、測定時に前記第3の回動部材を回動軸の軸線
    方向に移動してフレームに密着させ、前記回動軸
    の回動を阻止するため前記第3の回動部材の周縁
    部に形成された丸穴に前記第1の回動部材に固着
    されたピンが挿入されて構成されるブレーキ機構
    と、を備えたことを特徴とする直進型マイクロメ
    ータ。
JP425381A 1981-01-14 1981-01-14 Rectlinear type micrometer Granted JPS57118101A (en)

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JP425381A JPS57118101A (en) 1981-01-14 1981-01-14 Rectlinear type micrometer

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JPS57118101A JPS57118101A (en) 1982-07-22
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6241188U (ja) * 1985-08-30 1987-03-12

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6241188U (ja) * 1985-08-30 1987-03-12

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