JPS6148100B2 - - Google Patents
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- JPS6148100B2 JPS6148100B2 JP8341881A JP8341881A JPS6148100B2 JP S6148100 B2 JPS6148100 B2 JP S6148100B2 JP 8341881 A JP8341881 A JP 8341881A JP 8341881 A JP8341881 A JP 8341881A JP S6148100 B2 JPS6148100 B2 JP S6148100B2
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- particle separator
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- Expired
Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
- G01N1/2211—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling with cyclones
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
- G01N2001/222—Other features
- G01N2001/2223—Other features aerosol sampling devices
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は発光分光分析における固体試料エー
ロゾル発生装置に系るものである。一般に固体試
料からそのエーロゾルを発生する方法としてはア
ーク放電又はスパーク放電などによる気化法が用
いられている。そして発生したエーロゾルは化学
炎、Ｄ−Ｃアークプラズマ、誘導結合プラズマ
（ICP）などの光源によつて励起され分析され
る。この分析法は試料の蒸発過程と励起過程とが
別々に行なわれるため、通常の発光分光分析で問
題となる種々の干渉の原因解明に有効な手だんと
して、あるいは金属業界の異材検出の手段として
研究開発されてきた。しかし従来の装置において
は実用分析装置として使用する場合いくつかの欠
点が指適されていた。それを次にあげる。
ロゾル発生装置に系るものである。一般に固体試
料からそのエーロゾルを発生する方法としてはア
ーク放電又はスパーク放電などによる気化法が用
いられている。そして発生したエーロゾルは化学
炎、Ｄ−Ｃアークプラズマ、誘導結合プラズマ
（ICP）などの光源によつて励起され分析され
る。この分析法は試料の蒸発過程と励起過程とが
別々に行なわれるため、通常の発光分光分析で問
題となる種々の干渉の原因解明に有効な手だんと
して、あるいは金属業界の異材検出の手段として
研究開発されてきた。しかし従来の装置において
は実用分析装置として使用する場合いくつかの欠
点が指適されていた。それを次にあげる。
(1) 放電により蒸発した試料は放電室内、搬送管
内で凝集し、発光光源に搬送されるまでに０か
ら数百ミクロンまでの粒径分布となる。このう
ち径の大きい粒子は発光々源内では完全に原子
化されないと考えられる。完全に原子化される
粒子に較べ桁違いに多い原子数を持つ大径粒子
が搬送経路中滞留したり、原子化過程で不安定
な動きをすることは粒子数の比率が小さくとも
測光強度を不安定にする要因になる。従来の装
置では、このような粗大化した粒子もすべて発
光々源内に導入していたため分析結果が不安定
で分析精度がよくなかつた。
内で凝集し、発光光源に搬送されるまでに０か
ら数百ミクロンまでの粒径分布となる。このう
ち径の大きい粒子は発光々源内では完全に原子
化されないと考えられる。完全に原子化される
粒子に較べ桁違いに多い原子数を持つ大径粒子
が搬送経路中滞留したり、原子化過程で不安定
な動きをすることは粒子数の比率が小さくとも
測光強度を不安定にする要因になる。従来の装
置では、このような粗大化した粒子もすべて発
光々源内に導入していたため分析結果が不安定
で分析精度がよくなかつた。
(2) 従来の装置では試料を気化するための放電室
内に流したガスにより粒子を搬送し、そのまゝ
発光々源に導入する単一流路を用いていたた
め、放電室内、発光々源のガス流量を独立に決
定できなかつた。又放電室内、搬送管内に付着
した粒子を分析ごとに流量を増しておし出す操
作をする際、流量の増加が発光々源の条件によ
り制約をうけ完全に粒子を追い出せず前回試料
の影響が残る可能性が大きかつた。
内に流したガスにより粒子を搬送し、そのまゝ
発光々源に導入する単一流路を用いていたた
め、放電室内、発光々源のガス流量を独立に決
定できなかつた。又放電室内、搬送管内に付着
した粒子を分析ごとに流量を増しておし出す操
作をする際、流量の増加が発光々源の条件によ
り制約をうけ完全に粒子を追い出せず前回試料
の影響が残る可能性が大きかつた。
この発明はエーロゾル搬送管の末端すなわち発
光々源直前にエーロゾル処理部をつけ、それに対
応するガスコントロール系をもうけることによ
り、上記の問題点を解消するものである。上記(1)
の対策については粒子の凝集はさけられないた
め、搬送後に微細粒子のみとり出すこととし、遠
心分離器（サイクロン）を用いた。上記(2)につい
てはサイクロン部の入口部分、出口部分にそれぞ
れ、混合部、分流部を作り、放電部、発光々源部
にそれぞれ任意のガス流量を選ぶことができるよ
うにした。以下実施例によつてこの発明を説明す
る。
光々源直前にエーロゾル処理部をつけ、それに対
応するガスコントロール系をもうけることによ
り、上記の問題点を解消するものである。上記(1)
の対策については粒子の凝集はさけられないた
め、搬送後に微細粒子のみとり出すこととし、遠
心分離器（サイクロン）を用いた。上記(2)につい
てはサイクロン部の入口部分、出口部分にそれぞ
れ、混合部、分流部を作り、放電部、発光々源部
にそれぞれ任意のガス流量を選ぶことができるよ
うにした。以下実施例によつてこの発明を説明す
る。
第１図は本発明の一実施例を示す。Ｓは放電部
で、こゝでスパーク放電で発生した試料ｍのエー
ロゾルはステンレス管Ｐ中を搬送され、よどみ点
のできないよう同軸二重構造とした混合部Ｍの中
心管Pmより流入する。そして混合部の外管Pbよ
り流入する希釈用のガスと混合され、サイクロン
Ｃで必要な流入速度をもつガス流となる。このエ
ーロゾルをサイクロンＣの外筒Cb、内筒Ciの間
に接線方向に流入させると試料粒子は旋回をしな
がら下におりてゆく。その時粒子は遠心力とスト
ークスの抵抗をうけ外壁方向にドリフトしてゆ
く。このドリフト速度は粒径に比例するため大き
い粒子ほど壁に到達する時間は短かい。壁に到達
した粒子はダストホールに落ち、到達しなかつた
微細粒子だけが内筒を上がつてゆく。内筒の上部
は分流部となつており、上昇した粒子はよどみ点
ができないように内筒に同軸型に挿入されたセン
ター管Cmをとおり発光光源部Ｌに導入される。
外筒Cbからとり出されたエーロゾルは調節バル
ブVeを通し排出される。このバルブVeを調節す
ることにより発光々源部Ｌに導入するエーロゾル
量を調節する。分析ごとに放電部Ｓ内、搬送管Ｐ
内を清掃する時は希釈ガスとして混合部Ｍに流し
ていたガスを放電部Ｓ内に流しこむ。これは分析
時のガス量に比べ数倍の量にあたり付着した粒子
は実用上問題にならない程度まで流し出される。
この場合も発光々源部Ｌに流入するガス量は変化
せず悪影響はあたえない。
で、こゝでスパーク放電で発生した試料ｍのエー
ロゾルはステンレス管Ｐ中を搬送され、よどみ点
のできないよう同軸二重構造とした混合部Ｍの中
心管Pmより流入する。そして混合部の外管Pbよ
り流入する希釈用のガスと混合され、サイクロン
Ｃで必要な流入速度をもつガス流となる。このエ
ーロゾルをサイクロンＣの外筒Cb、内筒Ciの間
に接線方向に流入させると試料粒子は旋回をしな
がら下におりてゆく。その時粒子は遠心力とスト
ークスの抵抗をうけ外壁方向にドリフトしてゆ
く。このドリフト速度は粒径に比例するため大き
い粒子ほど壁に到達する時間は短かい。壁に到達
した粒子はダストホールに落ち、到達しなかつた
微細粒子だけが内筒を上がつてゆく。内筒の上部
は分流部となつており、上昇した粒子はよどみ点
ができないように内筒に同軸型に挿入されたセン
ター管Cmをとおり発光光源部Ｌに導入される。
外筒Cbからとり出されたエーロゾルは調節バル
ブVeを通し排出される。このバルブVeを調節す
ることにより発光々源部Ｌに導入するエーロゾル
量を調節する。分析ごとに放電部Ｓ内、搬送管Ｐ
内を清掃する時は希釈ガスとして混合部Ｍに流し
ていたガスを放電部Ｓ内に流しこむ。これは分析
時のガス量に比べ数倍の量にあたり付着した粒子
は実用上問題にならない程度まで流し出される。
この場合も発光々源部Ｌに流入するガス量は変化
せず悪影響はあたえない。
実際に作製したサイクロン部の断面図を第２図
に示す。１は捕獲された粗大粒子のたまるダスト
ホール、２はサイクロン外筒、３はサイクロン内
筒である。４は混合部、５は分流部である。
に示す。１は捕獲された粗大粒子のたまるダスト
ホール、２はサイクロン外筒、３はサイクロン内
筒である。４は混合部、５は分流部である。
この装置において処理後のエーロゾル粒径は、
計算値にどおり10μ以下となつた。
計算値にどおり10μ以下となつた。
以上細述したようにサイクロンを使用したこと
により従来そのまゝ発光光源内に導入していた粒
度分布の広いエーロゾルから微細粒のみのエーロ
ゾルを作ることに成功した。又混合部、分流部を
もうけたことにより放電室と発光々源部のガス流
量を独立して決定でき、分析の最適条件を選ぶこ
とが可能になり、大流量のガスによるパージが可
能になつた。そのため従来のエーロゾル発生装置
の難点を解決することができ十分実用分析が可能
となつた。
により従来そのまゝ発光光源内に導入していた粒
度分布の広いエーロゾルから微細粒のみのエーロ
ゾルを作ることに成功した。又混合部、分流部を
もうけたことにより放電室と発光々源部のガス流
量を独立して決定でき、分析の最適条件を選ぶこ
とが可能になり、大流量のガスによるパージが可
能になつた。そのため従来のエーロゾル発生装置
の難点を解決することができ十分実用分析が可能
となつた。
第１図は本発明の一実施例装置の全体を示す配
管図、第２図は同じくサイクロン粒子分別部の縦
断面図である。 Ｓ……試料気化用放電部、Ｐ……搬送管、Ｍ…
…混合部、Ｃ……サイクロン、Ｌ……試料原子化
光源。
管図、第２図は同じくサイクロン粒子分別部の縦
断面図である。 Ｓ……試料気化用放電部、Ｐ……搬送管、Ｍ…
…混合部、Ｃ……サイクロン、Ｌ……試料原子化
光源。
Claims (1)
- １ 固体試料を気化させる部分と、サイクロン型
粒子分別装置とよりなり、搬送ガスによつて上記
固体試料を気化させる部分で発生した試料蒸気を
上記サイクロン型粒子分別装置に移送させる構成
で、上記試料を移送させる管がサイクロン型粒子
分別装置の作動ガス供給管内に挿入開口させてあ
り、上記サイクロン型粒子分別装置の中心部上方
から抽気するガス管を試料原子化部に導くと共に
上記抽気ガス管の外周に上記粒子分別装置の排気
管を設け、試料蒸気を上記固体試料気化部から上
記粒子分別装置まで搬送するガスの流量、上記粒
子分別装置の作動ガス供給量及び排気ガス量を各
別に調節できるようにしたことを特徴とする固体
エーロゾル発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8341881A JPS57198848A (en) | 1981-05-30 | 1981-05-30 | Producing apparatus for solid aerosol |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8341881A JPS57198848A (en) | 1981-05-30 | 1981-05-30 | Producing apparatus for solid aerosol |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57198848A JPS57198848A (en) | 1982-12-06 |
| JPS6148100B2 true JPS6148100B2 (ja) | 1986-10-22 |
Family
ID=13801884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8341881A Granted JPS57198848A (en) | 1981-05-30 | 1981-05-30 | Producing apparatus for solid aerosol |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57198848A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104865106B (zh) * | 2015-06-15 | 2017-06-20 | 华北电力大学（保定） | 一种微生物气溶胶采样装置 |
-
1981
- 1981-05-30 JP JP8341881A patent/JPS57198848A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57198848A (en) | 1982-12-06 |
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