JPS615518A - 露光用マスク - Google Patents

露光用マスク

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JPS615518A
JPS615518A JP59125041A JP12504184A JPS615518A JP S615518 A JPS615518 A JP S615518A JP 59125041 A JP59125041 A JP 59125041A JP 12504184 A JP12504184 A JP 12504184A JP S615518 A JPS615518 A JP S615518A
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JP
Japan
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mask
thin film
exposure
holder
mask holder
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JP59125041A
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English (en)
Inventor
Yutaka Hayashi
豊 林
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Nippon Kogaku KK
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕。
本発明は、半導体装置例えばICなどの製造プ□ロセス
において使用される露光装置用のマスクにかかるもので
あり、特にX線露光用のマスクに関するものである。 
□ 〔従来技術〕 I C、LSIあるいはVLSIなどの製造プロセスに
は、所定のウェハ上にデバイスを形成するため、必要な
パターンを該ウェハ上に描画するプロセスが含まれてい
る。
このパターン描画には写真製版技術が応用されておシ、
一定の露光装置を用いてウェハ上へのパターン描画が行
なわれる。露光源としては、一般に紫外線あるいは遠紫
外線が用いられて1!りが、■、SI用としては電子ビ
ーム、X@あるいはイオンビームなどが微細加工の必要
性から使用されるようになっている。また、X線などを
使用すると、パターンの精度が向上するという利点もあ
る。
露光方式としては、まず密着方式(コンタクト露光)が
ある。この方式は簡便ではあるが、マスクあるいはウエ
ノ・に傷が付きやすいという不都合がある。そこでマス
クとウニ/・の接触を避けるため、マスクとウエノ・を
極くわずか離すようにした近接方式(プロキシミテイ露
光)がある。
他方、ウエノ・上に同一のパターンを転写する方式とし
ては、一括形と、ステップアンドリピート形がある。一
括形では、マスクに同一パターンが複数配列され、一度
の露光操作で同一パターンがウェハ上に複数転写される
。ステップアンドリピート形では、マスクにはパターン
が1つ又は数個(マルチダイ)のみ形成され、ウエノ・
を載置したウェハステージをマスクに対して相対的に移
動させて複数回の露光操作が行なわれる。
従来のプロキシミテイ露光用のマスク装置は、マスクパ
ターン面とウエノ・表面とを平行状態のまま近距離例え
ば10ないし50μm程度に接近させて露光を行なうよ
うになっている。このためマスクの上面がマスクホルダ
下面に真空吸着され、これによってマスクが位置保持さ
れるようになっている。
しかしながらこのような保持方法では、例えば真空吸着
を行う真空排気系の気密が何らかの原因で破られて真空
圧が低下した場合には、マスクがマスクホルダから落下
する。このような現象は、制御系の誤動作によシ真空配
気系がしゃ断された場合にも生ずる。マスクがウエノ・
上あるいはウェハステージ上に落下すると、マスクに損
傷が生ずるのみならず、ウエノ・ステージの補修点検を
行う必要があシ、装置を動作可能な状態に復起させるた
めには長時間を必要とする。
また、マスク保持の別の形態として、マスクがマスクホ
ルダ上面に真空吸着されて保持されている場合には、真
空圧が低下した場合であっても、マスクがウェハあるい
はウェハステージ上に落下することはない。しかしこの
タイプでは、マスクホルダによってウェハステージの移
動が規制される。従って、ウエノ・をマスクのパターン
領域外に   ”移動させることが困難となり、ステッ
プアンドリピート形の露光を行うには好適ではない。
〔発明の目的〕
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであシ、その
目的は、真空配気系の故障等が生じてもマスクがマスク
ホルダから落下することなく良好に保護される露光用マ
スクを提供することである・本発明の他の目的は、装置
機能特に真空配気系の機能回復彼達やかに露光操作を再
開できる露光用マスクを提供することである。
本発明の更に他の目的は、ステップアンドリピート形の
露光を行うに好適な露光用マスクを提供することである
〔発明の概要〕
本発明による露光用マスクによれば、原画パターン(1
34、234、3,154’)が形成された薄膜(13
6,236,33+5 )の周辺部は、原画パターンの
露光可能なように支持部材(本体130 、230 。
330、フレーム132 、232 、332 )に支
持されている。この支持部材のうち、前記薄膜の支持位
置から所定量前れた位置には、係止手段(108。
268)が設けられている。この係止手段が露光装置に
懸架されることによシ薄膜が支持される。
本発明の主要な実施態様の1つによれば、前記支持部材
は、薄膜を支持する円形の枠体(フレーム132 、2
32 、332 )と、一端が該円形枠体に固着された
筒状部材(130、230、550)とを各々含み、前
記係止手段は、該筒状部材の他端外方に突出して形成さ
れたフランジ部108 、238 を含tr。
〔発明の実施例°〕
以下、本発明にかかる露光用マスクを添附図面に示す実
施例に基づいて詳細に説明する。
第1図には、本発明にかかる露光用マスクが使用される
X線露光装置(以下「X線ステッパ」という)の−例が
示されている。この図において、矢印FA 、 FBの
如く移動可能々テーブル100の左方には、後述するマ
スク搬送機構102が設けられている。
パターンの転写対象であるウェハ104は、テーブル1
00上に載置される。とのウェハ104の上方には、本
発明に係るマスク106が配置されておシ、マスク10
6はウェハ104と対向するパターン面から一定距離の
高さ位置の周縁に設けられたフランジ108によってマ
スクホルダ110に懸架状態で保持されている。
このマスクホルダ110の上方には、アライメント用の
顕微鏡112が配置されておシ、更にこの上方には、X
線源用の真空チャンバ(以下「X線チャンバ」という)
114が配置されている。X線チャンバ114内には、
電子銃116及びX線用ターゲット118が備えられて
おり、電子銃116から発射された電子がX線用ターゲ
ット118に衝突することによって軟X線が発生するよ
うになっている。
このX線は、X線チャンバ114に設けられた窓120
及びヘリウムガスを満したベリラムチャンバー119を
介してマスク106に達し、露光が行なわれるようにな
っている。
次に、本発明にかかる露光用マスクの第1実施例につい
て説明する。第2図には、かかる実施例におけるマスク
ホルダの平面図が示されている・また、第6図には、か
かる実施例におけるマスクの平面図が示されている。こ
のマスクを第1図に示すマスク搬送機構102によって
マスクホルダに装着した状態における端面図が示されて
いる。この端面の方向は、第2図における■−w線に担
った端面の方向に対応する。    1..41,72
、これら第2図ないし!4図において、マスクホルダー
10は、中央部に開口122を有する円板状に形成され
ている。開口122に臨む端縁は、約600の角度で分
割されておシ、□フランジ部124が交互に設けられて
いる。これらのフランジ部124は、上方に突出して形
成されておシ、上面には円弧状のマスク吸着用溝(以下
「吸着用溝」という)126が各々形成されている。他
方、フランジ部124の間には、開口122に臨む端縁
に沿って円弧状の切欠き部128が形成されている。す
なわち、マスクホルダー10の内側端縁には約60°の
角度をもって、フランジ部124と切欠き部128とが
交互に形成されている。
を 次に、マスク106ハ、円筒状の本体130を中心とし
て構成されている。この本体130の下側には、中央に
開口を有するシリコンなどによって形成された環状のフ
レーム132が固着されており、このフレーム132に
は、パターン134を有する薄膜166が張設されてい
る。本体130の上方外周端には、約60°の角度をも
って扇状のフランジ部108゛が設けられている。本体
160の外径は、前述したマスクホルダ110の開口1
22の径に対応しておシ、第4図に示すように、マスク
106のフランジ部108がマスクホルダ110のフラ
ンジ部124の上面に当接し得るように形成されている
。また、マスク106のフランジ部108の間には、マ
スクホルダ110のフランジ部124が挿通できる切欠
き部140が形成されている。このマスク106のパタ
ーン134には、位置合せ用のマーク142 、144
が付されている。
他方、前述したマスク搬送機構102は、そのテーブル
が第4図に示す矢印FC,’FDの如く回転及び上下動
可能に構成されている。ま穴、マスク搬送機構102の
テーブルの上面には、吸着用溝146が円周状に形成さ
れている。
次に、上記実施例の全体的作用について説明する。まず
、第3図に示すマスク10(5は、マスク搬送機構10
2のテーブル上に載置される(手動又畔自動)。次に、
マスク搬送機構102においてマ、スク106の真空吸
着が行なわれるとともに、マスクホルダ110の真、下
にマスク1o6が位置するようにテーブル100を移動
させる。
次に、マスク搬送機構102のテーブルを回転させて、
マスク106のフランジ部108が、マスクホルダ11
0の切欠き部128の位置と対応するようにマスク10
6の配置を変更する。第2図及び第3図に示されている
マスクホルダ110及びマスク1o6の位置は、ちょう
どそのような位置となっている。
この位置合せには、マスク106のパターン134に付
随して設けたマーク142 、144が使用される。
すなわち、マーク142 、144は、フランジ部13
8又は切欠き部140に対して一定の方向を示すM−M
@に沿った位置上に設けられている。従っ下、アライメ
ント用顕微鏡112を用いてマーク142゜144を確
認しつつマスク搬送機構102のテープルの回転を行い
、上述した位置合せを行うようにする。ただし、ここで
はマスク搬送機構10′2のテーブルの回転以置決め精
度がよければ、アライメント用顕微鏡112をわざわざ
用いる必要はない。
かかる位置合せの後、マスク搬送機構102のテーブル
が上方に移動される。このとき、マスク106のフラン
ジ部108は、マスクホルダ110の切欠き部128を
通過して7ランク部124の上面よシ上方に移動される
次に、マスク搬送機構102のテーブルが回転され、マ
スク106のフランジ部108がマスクホルダ110の
フランジ部124の上面に位置するようにマスク108
の回転移動が行なわれる。この位置決めにおいても、前
述したマーク142 、144が使用される。すなわち
、2本のアライメント用顕微鏡112によってマーク1
42 、144がともに検出されるようにマスク搬送機
構102のテーブルの回転が行なわれ、マスク106の
フランジ部108がマスクホルダ110のフランジ部1
24に重なるように位置決めされる。
次に、マスク搬送機構102のテーブルが降下されると
ともに、マスクホルダ1和において真空吸着が行なわれ
、吸着用溝126によってマスク1o6がマスクホルダ
110に懸架状態で吸着固定される。
この後、マスク搬送機構102における吸着用溝146
による吸着が解除され、マスク搬送機構102のテーブ
ルが更に下降し、また、テーブル100によってマスク
搬送機構102は第1図に示す位置に退避する。
以上の操作によってマスク106のマスクホルダ110
に対するセツティングが完了する。この状態について考
察すると、マスク10<5は、フランジ部10日がマス
クホルダ110のフランジ部124に対して真空吸着さ
れることによって保持されている。
このため、真空排気系に故障等が生じたような場合であ
っても、マスク106がマスクホルダ110がら落下す
るおそれがない。さらにマスク1o6のパターン134
は、本体130によってマスクホルダ110よシ下方に
突出するように配置されることと    (なる。す力
わちマスク106のパターン面からフランジ部108の
下面までの高ざを、マスクホルダ110のフランジ部1
24の上面から下面までの厚さよりも大きくなるように
定めた。このため、第1図に示すように、ウェハ104
の移動がマスクホルダ110によって妨げられるおそれ
がない。従って、ステップアンドリピート形の露光を良
好に行うことができる。
次に、本発明の第2実施例について第5図及び第6図を
参照しながら説明する。
第5図にはマスクホルダに対しマスクを装着した状態の
端面が示されている。なお、一部に破断されて諭ない部
分が含まれている。第6図には、マスクホルダの平面図
が示されている。第5図の破断は、第6図ではv−V#
に沿りた方向に対応する。これら第5図及び第6図にお
いて、マスクホルダ210は、中央部に開口222を有
する円環状に形成されている。開口222に臨む端縁は
約180の角度で2分割され、フランジ部224が各々
円弧状に設けられている。これらの7ランク部224は
、上方に突出して形成さ五ており、上面には円弧状の吸
着用@226が各々形成されてφる。他方、7ランク部
224の端部間には、略コ字状の窓部228が切欠いて
形成されている。
次に、1スク208は、円筒状の本体230を中心に構
成されている。この本体230の下側には、第5図に示
すように、中央に開口を有するフレーム232が固着さ
れておシ、このフレーム232KFi、パターン234
を有する薄膜236が張設されている。
本体230の上方外周端には、全周にわたってフランジ
部238が設けられている。本体23oの外径は、マス
クホルダ210の開口222の径に対応しておシ2マス
ク208が上方からマスクホルダ210の開口222内
に挿通し得るようになっている。
他方、本実施例では、マスク搬送機構202は、マスク
ホルダ210の上方に配置されており、矢印FEの如く
上下動可能な腕部250と、該腕部250の端部に一組
設けられた矢印FFの如く回動可能なつめ部252とが
各々設けられている。これらのつめ部252には、先端
が略し字状に曲折されて保持部254が各々形成されて
おり、保持部254の内側には吸着用溝256が各々形
成されている。
次に上記実施例の全体的作用について説明する。
まず、マスク搬送機構202のつめ部252を開閉して
マスク゛20Bのフランジ部238を保持部254によ
って保持する。次に、マスク208をマスクホルダ゛2
10の開口222内に嵌入させ、引き続いて真空排気系
を動作させ、吸着用溝226によって真空吸着を開始す
る。この状態で、マス 負部250を下降に移動きせる。このとき、りめ部ルダ
210の窓部228を挿通する。
以上の動作により、マスク20Bのフランジ部238ジ
部224の上面に当 接することとなる。この時点で、マスクホルダ6により
てマスク208を吸着す る。同時に、マスク搬送機構202の真空排気系を停止
し、吸着tl!256によるマスク208の吸着を解除
する。以上の操作によりマスク208は、マスクホルダ
210に装着されることとなる。
次に、マスク搬送機構202のつめ部252を開き、腕
部250を上昇させる。7このとき、つめ部252は。
マスクホルダ210の窓部228を通して上方に移動す
ることとなる。以上の操作によυ、マスク搬送機構20
2が退避し、マーi fi 208のマスクホルダ21
0に対するセツティングが完了する。この□秋癲が第5
図に示されている。
この実施例にお―ても、前述した第1実11と同様に―
マスク208のマスクホルダ210カらア鴬下が良好に
防止され、また、ステツプア・ノドリピート形の露光が
可能でろる。
なお、上記絶ずれの実施例においても、マスクのセツテ
ィングが完了した後は、ウエノ’lるいはアライメント
用顕微鏡112がマスクの上方の所定位置にセットされ
、マスクとウニ・・の相対酷な位置決め動作の状態に移
行することとなる。しかるのに、アライメント用顕−鏡
112が軟X線路から退避して、露光が行なわれる。 
 − 次に、本発明のi3実施例について第7図を参照しなが
ら説明する。第7図には、マスクホルダに対′してマス
クを装着した状態の端面が示されて   2いる。この
第7図において、〜・クホ見ダ310は。
中央部に開口322を有する円板状に形成されている。
開口322に臨む端縁にはフランジ部324が全周にわ
たって形成されている。このフランジ部324は、開口
322の方向に延般して形成されておシ、下側には、円
周状に吸着用溝326が設けられて−る。      
  ゛     □また、前1ランジ部′624の下側
の段部350に、Fi、、バネ352によって水平方−
向に移動可能にクリックストップ扇のボールクリヅ゛り
354が設けられている。このボールクリック354 
V!、、段部650の周囲に複数個設けられている。
他方、マスク308は、円筒状の本体330を中心に構
成されている。この本体360の下側には、中央に開口
を有するフレーム332が固着されておシ。
このフレ下ムロ52にはパターン664を有する薄膜次
に・、上記実施例の全体的作用にりいて説明する。この
実施例では、第1図るるいは第4図に示されているマス
ク搬送機構102が使用される。このマスク搬送機構1
02によってマス□り308 ti、マスクホルダ31
0の直下に移動される。次に、マスク搬送機構102に
よってマスク308が上方に移□動されるが、このとき
、ポールクリック654が水平方向に移動してマスク3
08の切欠き溝650に係合することとなる。同時にマ
スクホルダ310の一真□空排気系が動作し、吸着用溝
326によりてマスク608が吸着される。従って、!
スフ308は、ボールクリック354によるクリックス
トップ及び吸着溝626による吸着の両者によってマス
クホルダ310に支持されることとなる。このため、真
空排気系の故障等が生じてもマスク308の落下は生じ
ない。また、本体330によってパターン664がマス
クホルダ610よシも下方に位置しているので、ステッ
プアンドリピート形の露光を良好に行うことができる。
なお、以1の第3実施例において、マスク6o8をポー
ルクリック354のみによって支持するようにしてもよ
い。
更に、上記−ずれの実施例においそも、マスクのセツテ
ィングの後は、マスクホルダを上下左右方向に移動させ
、ろるいは適轟な軸を中心として回動させることによっ
てウェハとマスクのギャップ合せやウェハに対するパタ
ーンの位置合せが行な、わ、れる。、、この操作は、例
えば第6図に示されて、、、VSるマークをアライメン
ト用顕微鏡で確認すること、によって行なわれる。
なお、本発明は、何ら上記実施例に限定されるものでは
なく、形状9寸法を支障のない範囲内で変更することは
任意でろる。例えば、第5図及び第6図に示す実施例で
は、マスクをその平面が四角形状となるようにし、マス
クホルダの7ランク部をかか企四角形状の周縁に対応す
るように形成し、適宜箇所に切欠き部や窓部を形成する
ようにしても、同様の作用効果を得ることができる。
また、いずれの実施例も、露光源がX線の場合に限定で
れるものではなく、他の光源例えば遠紫外(Deep 
UV)  領域の光が使用される場合でろっても本発明
は適用されるものでるる。その他、パターンが形成され
ている薄膜は、シリコンなどで形成した円板に対して張
設し、この円板を円環状の本体に対して固着す右ことと
したが、フレーム132、232. り32を省略して
、本体130.230.330に対して直接薄膜を張設
するようにしてもよ―。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明による露光用マスクによれば
、真空排気系の故障等が生じてもマスクがマスクホルダ
から落下するおそれがなく、マスクの損傷、ウェハステ
ージの汚損などが防止されるとともに、露光操作を速や
かに再開でき、また、パターン面がマスクホルダよりも
ウェハ側に位置しているので、ウェハの移動がマスクホ
ルダによって制限されるおそれがなくステップアンドリ
ピート形の露光操作を容易に行うことができるという効
果がある。
また、実施例においてマスクのパターン面とウェハ面と
の平行をとる場合においても1円環状の本体ろるいはこ
の本体に設けられた7ランク部の    ”下面からパ
ターン面までの高さを調整することによって容易に平行
の調整を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる露光用マスクが使用されるX線
ステッパーの一例を示す一部破断した正面図、第2図は
本発明の第1実施例におけるマスクホルダを示す平面図
、第6図は第1実施例におけるマスクを示す平面図、第
4図、は第1実施例におけるマスクのセット状態を示す
端面図、第5図は本発明の第2実施例を示す端面図、第
6図は第2実施例のマスクホルダを示す平面図、第7図
は本発明の第3実施例を示す端面図でめる。 104・・・ウェハ、106.208 、308・・・
マスク、110.210 、310・・・マスクホルダ
、 108 、124 。 224 、238 、324・・・フランジ部、128
 、140・・・切欠き部、  1!i4 、234 
、554・・・パターン、136 、236 。 666・・・薄膜%228・・・窓部、142 、14
4・・・マーク、652・・・バネ、654・・・ポー
ルクリック。 代理人 弁理士 木 村 三 朗 第1図 第Z図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)所定の原画パターンを露光装置を使用して被露光
    基板に転写するための露光用マスクにおいて、前記原画
    パターンが形成された薄膜と、該薄膜の一方の面側に固
    着されるとともに、該薄膜のうち前記原画パターンが形
    成されている部分を除く周辺部を支持する支持部材と、
    該支持部材のうち前記薄膜を支持する位置から薄膜面に
    対して高さ方向に所定量離れた位置に設けられるととも
    に、前記薄膜を前記支持部材を介して前記露光装置に懸
    架状態に係止する係止手段とを各々含むことを特徴とす
    る露光用マスク。
  2. (2)前記保持部材は、前記薄膜を支持する円形の枠体
    と、該円形枠体に一端が固着された筒状部材とを各々含
    み、前記係止手段は、該筒状部材の他端外方に突出して
    形成されたフランジである特許請求の範囲第1項記載の
    露光用マスク。
JP59125041A 1984-06-20 1984-06-20 露光用マスク Pending JPS615518A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007251133A (ja) * 2006-01-31 2007-09-27 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置およびデバイス製造方法
JP2013156353A (ja) * 2012-01-27 2013-08-15 V Technology Co Ltd 露光装置

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