JPS6157566B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6157566B2
JPS6157566B2 JP5431678A JP5431678A JPS6157566B2 JP S6157566 B2 JPS6157566 B2 JP S6157566B2 JP 5431678 A JP5431678 A JP 5431678A JP 5431678 A JP5431678 A JP 5431678A JP S6157566 B2 JPS6157566 B2 JP S6157566B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
noise
impulse response
interval
integration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP5431678A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS54146675A (en
Inventor
Fukuji Kawakami
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Gakki Co Ltd
Original Assignee
Nippon Gakki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Gakki Co Ltd filed Critical Nippon Gakki Co Ltd
Priority to JP5431678A priority Critical patent/JPS54146675A/ja
Publication of JPS54146675A publication Critical patent/JPS54146675A/ja
Publication of JPS6157566B2 publication Critical patent/JPS6157566B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、伝送系の過渡特性、例えば残響特
性を測定する方法、特に伝送系に生ずる雑音の影
響を補正して精度の高い過渡特性を測定するとと
もに、かかる測定結果をリアルタイムにて得るこ
とができる方法に関するものである。
一般に、音響的な見地から特定の音響室の種々
の特性を知るために目的に応じた特性測定を行な
う必要がしばしば生じる。例えば、1つのホール
にて溝演を行う場合であるとか、楽団による音楽
演奏を行う場合に、スピーチあるいは音楽につい
ての音響効果という点が重要になつてくる。この
場合に、1つ信号源からの信号に対する減衰特性
であるとか、あるいは残響時間というような事項
が明確に把握されていれば、催し物が行われる会
場の構造であるとか音響学的な特性から高い音響
的効果を狙うことができる訳である。
種々の音響的特性のうち、例えば残響時間特性
などを含む過渡特性または減衰特性を測定する方
法は、従来いくつか考えられていた。
1つの方法として、例えば定常(態)のバンド
ノイズを断としたときの受音点の減衰曲線を測定
する方法がある。かかる測定された残響時間値に
ついての減衰曲線の変動の影響を最小化するのに
は、残響測定を何回も繰返し、その平均をとる方
法がある。しかしながら、この方法は能率的でな
いばかりでなく、減衰の真の特性を明らかにでき
ない。
ところで、過渡特性を測定する方法として、
M.R.Schroederのいわゆるインパルス二乗積分法
が知られている。その原理は、定常状態から音源
バンドノイズを断とした場合の受音点の過渡特性
例えば残響減衰曲線の無限回の平均に相当する本
質的な過渡応答特性<S2(t)>を音源・受音点
間のインパルスレスポンスr(x)から求めんと
するもので、それによると過渡特性のある時点t
における音圧レベルS(t)は下記のように表わ
される。
<S2(t)>=N∫ r2(x)dx ……(1) 但しN:音源バンドノイズのパワー r(x):インパルスレスポンス したがつて、積分区間〔t,+∞〕でインパル
スレスポンスr(x)を二乗し積分すればt時点
における音圧レベルS(t)の二乗の無限回の集
合平均が求められるというものである。
上記原理により実際にある室(チヤンバー)の
過渡特性例えば残響曲線を得る方法は、大きく次
の2通りに分けられる。その(1)は、いわゆるダブ
ルインパルス法と称されるものであり、その(2)は
いわゆる逆方向積分法と称されるものである。
(1)のダブルインパルス方式の原理は、前記(1)の
原理式を下記のように展開して行なう。
<S2(t)>=N∫ r2(x)dx =N∫ r2(x)dx−N∫ r2(x)dx ……(2) ここで積分区間〔0,+∞〕についてのインパ
ルスレスポンスr(x)の二乗積分を先に求めて
おき、これにより時々刻々変化する積分区間
〔0,t〕のインパルスレスポンスr(x)の二
乗積分を順次引算してゆくことにより過渡特性<
S2(t)>が求められる。
第1図は、この原理にしたがつて残響特性の測
定を行なう従来技術による装置の構成を示す。
この図において、対象となる測定室1内でイン
パルス源2(例えばペーパピストル)からの1回
目のインパルスをマイクロフオン3で収音し、そ
の出力を二乗回路4へ送り二乗した後、スイツチ
SWを介して積分回路6へ送り、ここで信号を積
分して表示回路7で表示する。2回目のインパル
スを発生する際には、スイツチSWを切替えて反
転回路5へ接続して反転させたのち積分回路6を
介してその出力を表示するようにすれば、前者か
ら後者を減じていく過程として過渡特性例えば残
響曲線が得られる。
しかしながら、このダブルインパルス方式で
は、音源として2個の同じパルスを精度よく発生
させること、つまり2回目のインパルスを1回目
のものと全く同じように再現することは、技術的
に不可能に近い。したがつて、発生するインパル
スの形が異なつてしまうことによつて測定誤差も
大きくなつてしまう欠点がある。
また、(2)の逆方向積分方式の原理は、(1)の原理
式を、 <S2(t)>=N〓 r2(x)dx =N∫ −∞r2(−x)dx ……(3) のように逆方向に積分して求める方法をとるもの
である。すなわち、積分区間〔t,∞〕を〔−
∞,−t〕に変換して過渡特性<S2(t)>を求め
る。
この方法を実現するための従来技術による装置
の構成を第2図に示す。
この図において、まず収音したマイクロフオン
からのインパルスレスポンスr(x)を一旦テー
プレコーダ4′に録音した後、このテープレコー
ダ4′を逆転して前記インパルスレスポンスを逆
転再生し、その出力を二乗回路5′、積分回路
6′を介して表示装置7′へ供給するようにしてい
る。しかし、この方法では、収音したインパルス
レスポンスを一度テープレコーダに録音するた
め、実時間(リアルタイム)処理ができないとい
う欠点がある。したがつて、即時性に欠ける。
また、室(チヤンバー)などを含む伝送系にお
いては、音源からのインパルスレスポンスr
(x)の外に室内に暗騒音などのノズルn(x)
が存在するので、これが上記インパルスレスポン
スr(x)に重畳されてしまい測定が不正確にな
つてしまう。すなわち、音源からのインパルスレ
スポンスの正確な過渡特性、残響特性が測定でき
ず、本来の特性と異なつた結果が生じてしまうの
である。特に時記と共に減衰してゆくインパルス
レスポンスに対して、室内暗騒音等のノイズが積
分区間のとり方によつて減衰曲線形状に大きく影
響してくる。
例えば積分区間が長すぎると、インパルスレス
ポンスに重畳するノイズの影響を大きく受け過ぎ
るため、正確な過渡特性の測定を行い得ず、また
逆に積分区間が短かすぎるとインパルスレスポン
ス自体の積分区間が短かすぎて積分されない大な
る区間が生じるため、適正な過渡特性の測定を行
い得ない。したがつて、積分区間の設定は長すぎ
ても短かすぎても正確な測定は期待できなくなつ
てしまうので特にS/Nの十分でないデータの場
合等は適正な積分区間の設定が重要な意味を持つ
てくる。
かかる積分区間が適正でないと、上記のように
して得られた過渡特性例えば残響曲線の傾斜自体
が変化してしまい、その特性曲線の信頼性は低下
し、利用できる範囲も僅かで限られたものとなつ
てしまう。
この発明は上記の観点から、残響測定を繰り返
さずに、1つのインパルス例えばトーンバースト
波により、実時間(リアルタイム)で精度の高い
測定がし得るとともに、室内暗騒音のごときノイ
ズの影響を除去することにより、積分区間特に∫
T(∞) r2(x)dtにおける積分終了時点Tを厳
密に設定してやる必要がない伝送系の過渡特性を
測定する方法を提供するものである。
すなわち、この発明による方法は、インパルス
レスポンスr(x)と伝送系に存在するノイズn
(x)の和の二乗から、前記ノイズの実効値neff
の二乗を差し引いた値をある積分区間で積分する
ことによつてノイズの影響を排除し、広レンジに
わたり精度のよい過渡応答曲線<S2(t)>、残
響曲線を測定表示するとともに、かかる測定結果
をリアルタイムにて得ることができることを特徴
とする。
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明
する。
第3a図、第3b図はこの発明の実施例の構成
を示す。この図において、過渡特性(残響特性)
を測定すべき室(チヤンバー)11内には、イン
パルスを発生する音源12とインパルスレスポン
スf(x)を収音するマイクロフオン13とが設
置されており、マイクロフオン13の出力は、二
乗回路14に入力され、この二乗回路の出力は第
1比較回路17に入力されるとともに、他方平滑
用CRフイルタ15を介してサンプリングホール
ド回路16、第2の比較回路19に供給されるよ
うになつている。サンプリングホールド回路16
の出力は第2の比較回路19および加減算回路2
0に供給されるようになつている。第1の比較回
路17と第2の比較回路19との各出力はフリツ
プフロツプ回路18に供給され、同フリツプフロ
ツプ回路18の出力はタイミング制御装置21へ
それぞれ入力されるようになつている。
なお、第1および第2の比較回路17,19
は、それぞれ第1の基準電圧V1およびサンプリ
ングホールド回路16からの第2の基準電圧V2
とそれぞれの入力が比較される。
その際に、図に示すように、V1の基準電圧で
設定された信号の立上りの時点から積分を開始
し、比較回路19内の基準電圧V2レベルとパル
ス曲線の交点の時点Tで積分を終了する。基準電
圧レベルV1とV2とは、任意のレベルに設定でき
るようにしておく。なお、かかる積分区間の終了
時点は、タイマー等を用いて手動で設定できるよ
うにしてもよい。
さて、このようにして第1、第2の比較回路1
7,19からの出力はフリツプフロツプ回路18
に各々入力され、積分区間が設定される。かかる
フリツプフロツプ回路18の出力はタイミング制
御装置21へ与えられ、タイミングパルスの発生
時間を制御してその出力を順次アンドゲート22
―1,22―2,22―3,22―4,……22
―nへ送る。他方、フリツプフロツプ回路18の
出力は前記ゲート22の制御入力端に接続されて
いる。タイミング制御装置21からの出力は上記
第1のアンドゲート回路群22を介して第2のゲ
ート回路群23―1,23―2,23―3,……
23―nへ接続され、その出力は積分区間24―
1,24―2,24―3,……24―nで積分さ
れ、電子スイツチ25、対数圧縮回路26、レベ
ル軸増幅回路27を介して表示装置28に表示さ
れる。この場合、表示装置28の代りに記録装置
に記録するようにしてもよい。なお29は掃引波
形発生回路、30は時間軸増幅器であるが、これ
らの回路・装置は従来のものと同じでよく、この
発明を直接構成するものでないので詳しい説明は
省略する。
さて、第1図の実施例の装置の動作を説明する
前に、この発明の原理を第4図を参照して説明す
る。
まず、測定すべき室11内にある音源12から
のインパルスレスポンスr(x)をマイクロフオ
ン13で収音し、このようなレスポンスr(x)
を解析して室11の過渡特性を測定するのであ
る。
M.R.Schroederの測定原理によつて室のインパ
ルスレスポンスをr(x)とすれば、本質的な過
渡特性は<S2(t)>=∫ r2(x)dxで求めら
れる。
ところで、室のインパルスレスポンスr(x)
を考える場合に、測定すべき室に何らのノイズが
ない理想的な場合のインパルスレスポンスr
(x)の波形は第4図aの破線で示したようにほ
ぼ指数関数的に減少すると考えられる。しかしな
がら、現実には、室内にどうしても種々の原因に
よる一定レベルのノイズn(x)例えば室内暗雑
音等が存在しているので、これがインパルスレス
ポンスr(x)に重畳されて測定結果が乱されて
しまう。すなわち、第4図aに示すように室内の
インパルスレスポンスはノイズn(x)によつ
て、 R(x)=r(x)+n(x) ……(4) に変つてしまう。これを二乗回路14で二乗し
〔第4図b〕、積分したあとでは第4図cに示すよ
うに積分区間の取り方によつて理想的な場合の
T2点に対して、積分区間が長い場合にはT3〔曲
線1で示す〕のように、短かければT1〔曲線2
で示す〕のように変化してしまう。例えば積分区
間が長すぎた場合の曲線1の方は、10og<S2
(t)>′と変つてしまうことを示す。したがつ
て、積分区間をどこまでにするかによつて残響曲
線の傾斜が変つてくると共に信頼できる区間も狭
くなつてしまう訳である。また、最適積分区間を
毎回の測定ごとに選定するのは、現実には非常に
困難である。
この発明による測定方法においては、雑音レベ
ルの影響をできるだけ排除するように区間Tで積
分している。すなわち、第4図でx=0の時にト
リガをかけ、インパルスレスポンスr(x)の初
期から計算を開始するが、積分計算を行う前にノ
イズの実効値neffを算出し、二乗回路14で得
られたR2(x)からn2 effを減算しながらできる
だけ本来のインパルスレスポンスに沿つて積分を
行ない雑音を排除し精度を高める。これを式で表
わせば、雑音レベルの加わつた場合の過渡特性は
(1)および(4)式から、 <S2(t)>′=〓 R2(x)dt =∫ 〔r(x)+n(x)〕2dt =∫ 〔r2(x)+2r(x)・ n(x)+n2(x)〕dt ……(5) となる。ところで、<S2(x)>=∫ r2(x)dt
であるから、〔 〕内の第1項は<S2(t)>に置
換できるので(5)式は、 <S2(t)>′=<S2(t)> +2∫ r(x)・n(x)dx +∫ n2(x)dx となる。ここでインパルスレスポンスr(x)と
ノイズn(x)との間には相がなく、相関のない
信号の積の積分値は0となるので、上式の第2
項、2∫ r(x)・n(x)dx=0となる。し
たがつて、 <S2(t)>′=<S2(t)> +∫ n2(x)dx ……(6) ところで、 (但しneffはノイズの実効値を表わす) となるので、(6)式は結局、 <S2(t)>′=∫ R2(x)dx ≒<S2(t)>+(T−t)n2 eff ……(7) となる。したがつて、左辺S2(t)を求めれば、 <S2(x)>≒∫ R2(x)dx−(T−t)n2 eff =∫ 〔R2(x)−n2 eff〕dx ……(8) となり、積分区間〔t,T〕で(R2(x)−
n2 eff)を積分してやれば略々正確な残響特性が求
められる。
第3a図、第3b図の装置は、上記の原理にし
たがつて自動的に過渡特性を測定し表示する構成
となつている。すなわち、動作においては二乗回
路14で二乗されたインパルスレスポンスr
(x)とノイズn(x)の和の二乗出力はCRフイ
ルタ15で平滑されてサンプリングホールド回路
16、第2の比較回路19に、また第1の比較回
路17に与えられる。比較回路17では、かかる
入力信号が基準電圧V1(V1>n2 eff)にて設定され
た立上りの時点(t≒0)よりタイミング制御装
置21によつてタイミングを調整して前記ゲート
23をONして積分動作可能に構成し、他方第2
の比較回路19で前記入力信号が基準電圧V2
(V2≒n2 eff)となつた時点Tにて前記ゲート23
をOFFして積分動作を終了するべく構成してあ
る。
したがつて、第1の比較回路17と第2の比較
回路19の出力によつて定められるフリツプフロ
ツプの状態によつてタイミング制御装置21を制
御して、この制御装置21の出力を第1のゲート
回路群22の一方の入力へ与え、上記フリツプフ
ロツプ18からの直接の出力が他方の入力に与え
られることによつて第2のゲート回路群23の条
件が定められ該ゲートの開閉が行なわれる。
一方、演算回路20では、二乗回路14から出
力R2(x)とサンプルホールド回路16からの
出力との演算が行なわれる。すなわち、回路14
からのR2(x)の値から、回路16から出力さ
れるノイズの実行値neffの二乗値n2 effが演算回路
20で減算され、〔R2(x)−n2 eff〕なる結果の出
力が順次、ゲート回路23の入力に与えられる。
この場合に、この第2のゲート回路23の開閉を
制御する制御入力端には第1のゲート回路群22
のタイミングパルスとの論理積出力がt1,t2
t3,……toで発生され与えられるので、その出
力により第2ゲート回路群23の開閉が制御され
積分回路24―1,24―2,24―3,……2
4―nで一定区間〔ti,T〕につき<S2(x)>
ti〔R2(x)−n2 eff〕dxの積分が行なわれる。
すなわち、 の積分がそれぞれの積分回路24で行なわれる。
但し、積分時間の上限Tは理論上は∞であるが、
実際上の測定に際しては、信号が減衰して雑音レ
ベルに達したと見られる時間である。そして、こ
れら個々の積分出力により、それに対応する多数
の電子接点をもつ電子スイツチ装置25を動作さ
せて離散的なアナログ情報をつくり、対数圧縮回
路26、レベル軸増幅回路27を介して表示装置
28で表示する。この表示装置は、例えば
CRT、液晶型表示装置、あるいは発光ダイオー
ド(LED)などによる表示装置、あるいはその
他の任意の適当な表示装置であつてよい。
掃引波発生回路29は、通常用いられるもので
よく、電子スイツチ装置25および表示装置28
の時間軸増幅器30に対する掃引を制御する信号
を与えている。
なお、対数圧縮回路26においては、曲線<S2
(t)>を対数圧縮し、デシベル(dB)表示する
操作を行つている。
このようにして処理されたインパルスレスポン
スr(x)は、第5図のように表示装置の性質に
したがつて、CRTの場合には同図aのように、
LED(発光ダイオード)の場合には同図bのよ
うに表わされる。
なお、この発明による装置において、音源から
発生するインパルスは、時記幅の非常に短かい単
一パルスであつても、またある帯域幅をもつ雑音
信号を等しいスペクトラムを有するトーンバース
ト信号であつてもよい。
以上述べたように、この発明においては、雑音
レベルの重畳されたチヤンバーのインパルスレス
ポンスの二乗から、前記ノイズの実効値の二乗を
減算することによつてノイズの影響の補償を行な
い、多数の積分区間を設定し、この積分区間で積
分開始時点を一定間隔だけ偏せて積分してゆくこ
とによつてリアルタイムにて精度の高い測定が実
現できる。また、厳密な積分終了時点を測定せず
とも、全体の積分値から音響的伝送系の過渡特性
が表示可能であり、実時間(リアルタイム)で精
度が高く、かつ測定結果の信頼性が著しく向上改
善できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は先行技術によるダブルインパルス方式
を説明するシステム図およびその波形図を示し、
第2図は先行技術による逆方向積分方式を説明す
るシステム図および波形図を示し、第3a図、第
3b図は、いずれもこの発明による実施例の装置
の構成を示し、第4図は第3a図、第3b図に示
す装置の原理を説明する波形図を示し、第5図は
この発明による実施例の装置の表示例を示す。 11……室(チヤンバー)、12……インパル
ス発生源、13……マイクロフオン、14……二
乗回路、15……平滑フイルタ、16……サンプ
ルホールド回路、17……第1の比較回路、18
……フリツプフロツプ、19……第2の比較回
路、20……演算回路、21……タイミング制御
装置、22……第1のゲート回路、23……第2
のゲート回路、24……積分回路、25……電子
スイツチ装置、26……対数圧縮回路、27……
レベル軸増幅回路、28……表示装置、29……
掃引波形発生回路、30……時間軸増幅器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 音源と受音点との間のインパルスレスポンス
    r(x)を解析して伝送系の過渡特性を測定する
    方法において、受音したインパルスレスポンスr
    (x)と伝送系に存在するノイズn(x)との和
    の信号を二乗して二乗値R2(x)=〔r(x)+n
    (x)〕をつくり、該二乗値R2(x)から前記
    ノイズの実効値の二乗値n2effを減算して〔R2
    (x)−n2eff〕を算出し、該算出値を積分開始時
    点の異なる多数の積分区間〔ti(i=1,2,3
    ……n),T〕でそれぞれ積分し、該積分値から
    前記伝送系の過渡特性を表示、あるいは記録する
    ようにしたことを特徴とする伝送系の過渡特性を
    測定する方法。
JP5431678A 1978-05-08 1978-05-08 Method and device for measuring transient characteristic of transmission system Granted JPS54146675A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5431678A JPS54146675A (en) 1978-05-08 1978-05-08 Method and device for measuring transient characteristic of transmission system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5431678A JPS54146675A (en) 1978-05-08 1978-05-08 Method and device for measuring transient characteristic of transmission system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS54146675A JPS54146675A (en) 1979-11-16
JPS6157566B2 true JPS6157566B2 (ja) 1986-12-08

Family

ID=12967172

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5431678A Granted JPS54146675A (en) 1978-05-08 1978-05-08 Method and device for measuring transient characteristic of transmission system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS54146675A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS54146675A (en) 1979-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Schroeder New method of measuring reverberation time
US4191864A (en) Method and apparatus for measuring attack and release times of hearing aids
US3270833A (en) Method of and apparatus for measuring ensemble averages and decay curves
JPH05118906A (ja) 音響測定方法およびその装置
JPS6157566B2 (ja)
US3111186A (en) Automatic measurement of reverberation time
CN104034970A (zh) 一种基于电脑声卡的声级测量方法
US3343627A (en) Apparatus for and method of determining the acoustic properties of an enclosure
US4272990A (en) Device for the measurement of acoustic reverberation time and method
US3352378A (en) Apparatus for and method of determining the acoustical reverberation time of an enclosure
JPS6341010B2 (ja)
JP2662406B2 (ja) 部分放電測定装置のデータ収集装置
JPH055760Y2 (ja)
GB2137763A (en) Measuring a frequency response characteristic
JPS6113171B2 (ja)
JPS6110182Y2 (ja)
JPH038998Y2 (ja)
Peterson et al. The measurement of noise with the sound spectrograph
SU824097A1 (ru) Способ калибровки аппаратуры акусти-чЕСКОгО КАРОТАжА
Seeley A Compact Direct-Reading Reverberation Meter
JPS6244349Y2 (ja)
Bjor et al. Deterministic excitation signals reduces statistical spread and extraneous noise contamination in sound transmission meausurements
SU896567A1 (ru) Измеритель амплитудно-частотных характеристик пьезоэлектрических преобразователей
SU885850A1 (ru) Стенд дл калибровки датчиков давлени
JPS6153650B2 (ja)