JPS6161185B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6161185B2 JPS6161185B2 JP7032778A JP7032778A JPS6161185B2 JP S6161185 B2 JPS6161185 B2 JP S6161185B2 JP 7032778 A JP7032778 A JP 7032778A JP 7032778 A JP7032778 A JP 7032778A JP S6161185 B2 JPS6161185 B2 JP S6161185B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dropout
- level
- agc circuit
- signal
- flip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Signal Processing Not Specific To The Method Of Recording And Reproducing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はドロツプアウトの計数装置に係り、記
録媒体の再生信号に発生することのあるドロツプ
アウト(情報の一部欠落)を、その持続時間別に
同時に計数し得る計数装置を提供することを目的
とする。
録媒体の再生信号に発生することのあるドロツプ
アウト(情報の一部欠落)を、その持続時間別に
同時に計数し得る計数装置を提供することを目的
とする。
記録媒体に例えば周波数変調された信号の形態
で記録されている情報信号を再生すると、記録媒
体の傷、記録媒体表面上に付着した異物その他
種々の原因により、再生信号が瞬間的に欠落する
(ドロツプアウトが生ずる)ことがあることは周
知の通りである。当然のことながら、このドロツ
プアウトの持続時間は種々あり、また記録媒体が
異なれば発生するドロツプアウトの数も異なる。
従来このドロツプアウトをその持続時間別に計数
し得る装置が知られており、これにより記録媒体
から再生される信号に生ずるドロツプアウトの持
続時間毎の数を識別できる。
で記録されている情報信号を再生すると、記録媒
体の傷、記録媒体表面上に付着した異物その他
種々の原因により、再生信号が瞬間的に欠落する
(ドロツプアウトが生ずる)ことがあることは周
知の通りである。当然のことながら、このドロツ
プアウトの持続時間は種々あり、また記録媒体が
異なれば発生するドロツプアウトの数も異なる。
従来このドロツプアウトをその持続時間別に計数
し得る装置が知られており、これにより記録媒体
から再生される信号に生ずるドロツプアウトの持
続時間毎の数を識別できる。
しかるに、上記の従来のドロツプアウトの計数
装置は、例えば3種類の持続時間についてドロツ
プアウトの発生数を計数する場合、各持続時間毎
に記録媒体を再生する必要があるため、この場合
は計3回記録媒体を繰り返し再生する必要があ
り、その操作が煩雑であつた。またドロツプアウ
トの発生数は記録媒体を再生する毎に異なるのが
一般的であるから、上記の繰り返し再生によりド
ロツプアウトの計数値が異なつてしまい、しかも
前と全く同じ所を再生するのは困難であり、これ
らのことよりドロツプアウトの計数が不正確であ
つた。更に、上記の繰り返し再生を必要とするた
め、ドロツプアウトの持続時間毎の計数に時間が
かかるという欠点があつた。
装置は、例えば3種類の持続時間についてドロツ
プアウトの発生数を計数する場合、各持続時間毎
に記録媒体を再生する必要があるため、この場合
は計3回記録媒体を繰り返し再生する必要があ
り、その操作が煩雑であつた。またドロツプアウ
トの発生数は記録媒体を再生する毎に異なるのが
一般的であるから、上記の繰り返し再生によりド
ロツプアウトの計数値が異なつてしまい、しかも
前と全く同じ所を再生するのは困難であり、これ
らのことよりドロツプアウトの計数が不正確であ
つた。更に、上記の繰り返し再生を必要とするた
め、ドロツプアウトの持続時間毎の計数に時間が
かかるという欠点があつた。
また、例えば2ヘツドヘリカルスキヤン型磁気
記録再生装置の再生信号のドロツプアウトを計数
する場合、ヘツド切換点(スイツチングポイン
ト)でノイズが発生することがあるが、このノイ
ズのため、計数装置内に設けられたAGC回路が
入力再生信号を小レベルにするよう制御されてし
まい、このときドロツプアウト計数装置はこれを
ドロツプアウトとして計数し誤動作してしまうこ
とがある。そこで、従来のドロツプアウトの計数
装置は上記の誤動作を防止するため、再生信号よ
り分離した垂直同期信号から所定幅のパルスを発
生せしめ、このパルスにより上記AGC回路をヘ
ツド切換時に制御する構成としていた。しかる
に、この従来のドロツプアウトの計数装置は、上
記パルスを発生する回路の温度ドリフトにより、
その出力パルスのパルス幅が変動してしまい、ス
イツチングノイズを除去できずにやはり誤動作す
ることがあつた。
記録再生装置の再生信号のドロツプアウトを計数
する場合、ヘツド切換点(スイツチングポイン
ト)でノイズが発生することがあるが、このノイ
ズのため、計数装置内に設けられたAGC回路が
入力再生信号を小レベルにするよう制御されてし
まい、このときドロツプアウト計数装置はこれを
ドロツプアウトとして計数し誤動作してしまうこ
とがある。そこで、従来のドロツプアウトの計数
装置は上記の誤動作を防止するため、再生信号よ
り分離した垂直同期信号から所定幅のパルスを発
生せしめ、このパルスにより上記AGC回路をヘ
ツド切換時に制御する構成としていた。しかる
に、この従来のドロツプアウトの計数装置は、上
記パルスを発生する回路の温度ドリフトにより、
その出力パルスのパルス幅が変動してしまい、ス
イツチングノイズを除去できずにやはり誤動作す
ることがあつた。
本発明は上記の諸欠点を除去したものであり、
以下図面と共にその一実施例につき説明する。
以下図面と共にその一実施例につき説明する。
第1図は本発明になるドロツプアウトの計数装
置の一実施例の回路系統図を示す。説明の便宜
上、ヘリカルスキヤン型磁気記録再生装置より再
生した被周波数変調映像信号のドロツプアウトの
持続時間毎の計数をする場合について説明する。
入力端子1より入来した再生被周波数変調映像信
号は時定数の大なるAGC回路2を経て時定数が
極めて小に選定されたAGC回路3に供給され
る。すなわち、再生被周波数変調映像信号は通常
そのエンベロープはトラツキングずれ等のため若
干変化しているが、AGC回路2により、AGC回
路3のAGC動作にとつて最適なレベルとなるよ
うに制御された後、応答の極めて早いAGC回路
3により、そのエンベロープが均一とされる。従
つて、メータを目視しながらボリユームでその都
度AGC回路3の入力レベルを調整していた従来
のドロツプアウトの計数装置に比し、本実施例で
はAGC回路2により自動的に上記の動作を行な
うことができ、しかもエンベロープの変化量を従
来に比し正確に検出することができる。
置の一実施例の回路系統図を示す。説明の便宜
上、ヘリカルスキヤン型磁気記録再生装置より再
生した被周波数変調映像信号のドロツプアウトの
持続時間毎の計数をする場合について説明する。
入力端子1より入来した再生被周波数変調映像信
号は時定数の大なるAGC回路2を経て時定数が
極めて小に選定されたAGC回路3に供給され
る。すなわち、再生被周波数変調映像信号は通常
そのエンベロープはトラツキングずれ等のため若
干変化しているが、AGC回路2により、AGC回
路3のAGC動作にとつて最適なレベルとなるよ
うに制御された後、応答の極めて早いAGC回路
3により、そのエンベロープが均一とされる。従
つて、メータを目視しながらボリユームでその都
度AGC回路3の入力レベルを調整していた従来
のドロツプアウトの計数装置に比し、本実施例で
はAGC回路2により自動的に上記の動作を行な
うことができ、しかもエンベロープの変化量を従
来に比し正確に検出することができる。
エンベロープが平坦とされた上記の再生被周波
数変調映像信号は、互いに異なる減衰率のアツテ
ネータ4,5、及び6に夫々同時に供給される。
ドロツプアウトレベル選択スイツチSW1により、
アツテネータ4〜6のうちいずれか一のアツテネ
ータの出力信号が選択されて高域フイルタ7に供
給され、ここで高域周波数成分のみ取り出されて
増幅器8で増幅される。高域フイルタ7はAGC
回路2,3の時定数による低域過渡特性によつて
計数に誤差を生ずるのを防止するためと、入力信
号中に低域変換搬送色信号が含まれている場合は
それを除去するために設けられている。増幅器8
は広帯域のリニヤアンプで、わずかな被周波数変
調波の落ち込みも拡大されるが、ドロツプアウト
のレベル検出の精度を上げるにはアンプ1段だけ
ではゲインが不足である。しかし、アンプ1段で
あまりゲインをとると電源電圧で飽和するがその
飽和はコントロールされていない飽和なのでドロ
ツプアウトのレベル検出の精度を落とす。
数変調映像信号は、互いに異なる減衰率のアツテ
ネータ4,5、及び6に夫々同時に供給される。
ドロツプアウトレベル選択スイツチSW1により、
アツテネータ4〜6のうちいずれか一のアツテネ
ータの出力信号が選択されて高域フイルタ7に供
給され、ここで高域周波数成分のみ取り出されて
増幅器8で増幅される。高域フイルタ7はAGC
回路2,3の時定数による低域過渡特性によつて
計数に誤差を生ずるのを防止するためと、入力信
号中に低域変換搬送色信号が含まれている場合は
それを除去するために設けられている。増幅器8
は広帯域のリニヤアンプで、わずかな被周波数変
調波の落ち込みも拡大されるが、ドロツプアウト
のレベル検出の精度を上げるにはアンプ1段だけ
ではゲインが不足である。しかし、アンプ1段で
あまりゲインをとると電源電圧で飽和するがその
飽和はコントロールされていない飽和なのでドロ
ツプアウトのレベル検出の精度を落とす。
そこで、本実施例では第2図と共に後述する、
広帯域で、かつ極めて精密にコントロールされた
リミツタ回路9を通して被周波数変調波を小レベ
ルとし、しかる後に再び増幅器10で増幅するこ
とにより、ドロツプアウトのレベル検出精度(レ
ベル分解能)を向上している。
広帯域で、かつ極めて精密にコントロールされた
リミツタ回路9を通して被周波数変調波を小レベ
ルとし、しかる後に再び増幅器10で増幅するこ
とにより、ドロツプアウトのレベル検出精度(レ
ベル分解能)を向上している。
第2図は上記リミツタ回路9の一実施例の具体
的回路図を示す。通常のリミツタ回路は常に飽和
で用いるのでリミツタ回路のシユレツシユホール
ド・レベルを割る小なる入力に対しては、強大な
リミツタゲインのため発振するのが普通である
が、ここに用いるリミツタ回路は、シユレツシユ
ホールド・レベルを割る動作レベルでのリニアリ
テイと広帯域特性とが重要であり、またリミツタ
ゲイン、及びリミツタレベルの温度特性が極めて
優れていることが要求される。この要求を満たす
のが第2図に示すリミツタ回路である。
的回路図を示す。通常のリミツタ回路は常に飽和
で用いるのでリミツタ回路のシユレツシユホール
ド・レベルを割る小なる入力に対しては、強大な
リミツタゲインのため発振するのが普通である
が、ここに用いるリミツタ回路は、シユレツシユ
ホールド・レベルを割る動作レベルでのリニアリ
テイと広帯域特性とが重要であり、またリミツタ
ゲイン、及びリミツタレベルの温度特性が極めて
優れていることが要求される。この要求を満たす
のが第2図に示すリミツタ回路である。
第2図において、入力端子55より入来した信
号(増幅器8の出力信号)は、直流阻止用コンデ
ンサC1を通してNPNトランジスタX1のベースに
印加される。このトランジスタX1は抵抗R1,R2
によりベースバイアスされており、そのエミツタ
より可変抵抗器R3の摺動子を通してNPNトラン
ジスタX2のベースに出力を供給する一方、抵抗
R4を通して後述するPNPトランジスタX6のベー
スに出力を供給する。トランジスタX2のコレク
タ・エミツタにNPNトランジスタX3のコレク
タ・エミツタが並列接続されている。トランジス
タX3のベースへは抵抗R5を通してトランジスタ
X2のベースの直流バイアスより低い直流バイア
スが加わり、コンデンサC2で交流的にグラウン
ドにバイパスされている。すなわち、トランジス
タX3はトランジスタX2に温度補償されたバイア
スを与えている。また、上記抵抗R3とR5との接
続点は抵抗R6及び可変抵抗器R7を直列に介して
接地されている。更にトランジスタX2とX3のエ
ミツタは夫々抵抗R8を介して接地されている。
号(増幅器8の出力信号)は、直流阻止用コンデ
ンサC1を通してNPNトランジスタX1のベースに
印加される。このトランジスタX1は抵抗R1,R2
によりベースバイアスされており、そのエミツタ
より可変抵抗器R3の摺動子を通してNPNトラン
ジスタX2のベースに出力を供給する一方、抵抗
R4を通して後述するPNPトランジスタX6のベー
スに出力を供給する。トランジスタX2のコレク
タ・エミツタにNPNトランジスタX3のコレク
タ・エミツタが並列接続されている。トランジス
タX3のベースへは抵抗R5を通してトランジスタ
X2のベースの直流バイアスより低い直流バイア
スが加わり、コンデンサC2で交流的にグラウン
ドにバイパスされている。すなわち、トランジス
タX3はトランジスタX2に温度補償されたバイア
スを与えている。また、上記抵抗R3とR5との接
続点は抵抗R6及び可変抵抗器R7を直列に介して
接地されている。更にトランジスタX2とX3のエ
ミツタは夫々抵抗R8を介して接地されている。
いま、トランジスタX2のベース電位をE1、ト
ランジスタX2及びX3のエミツタ電位をE2、トラ
ンジスタX3のベース電位をE3とすると、E1がE3
より小なるときは、トランジスタX2のベース・
エミツタ間は逆バイアスとなるから出力されず、
一方、E1がE3より大なるときは、トランジスタ
X2のベース・エミツタ間が順バイアスされるた
め、出力される。従つて、トランジスタX2,X3
のエミツタより入力信号は上側だけの半波整流の
ような波形とされて出力される。ただし、この出
力信号は入力信号のゼロクロス点より上側の部分
だけではなく、ゼロクロス点よりE1−E3だけ低
いレベルより上側の部分が出力される。
ランジスタX2及びX3のエミツタ電位をE2、トラ
ンジスタX3のベース電位をE3とすると、E1がE3
より小なるときは、トランジスタX2のベース・
エミツタ間は逆バイアスとなるから出力されず、
一方、E1がE3より大なるときは、トランジスタ
X2のベース・エミツタ間が順バイアスされるた
め、出力される。従つて、トランジスタX2,X3
のエミツタより入力信号は上側だけの半波整流の
ような波形とされて出力される。ただし、この出
力信号は入力信号のゼロクロス点より上側の部分
だけではなく、ゼロクロス点よりE1−E3だけ低
いレベルより上側の部分が出力される。
上記のトランジスタX2,X3のエミツタより取
り出された半波整流の如き波形の信号は、抵抗
R9と共にエミツタフオロワ回路を構成している
PNPトランジスタX4を通してPNPトランジスタ
X5のベースに印加される。このエミツタフオロ
ワ回路は、トランジスタX2のベース・エミツタ
間の温度特性を補償し、かつ、次段の直流レベル
を最適にするために設けられている。このため、
トランジスタX4のエミツタが接続されている
PNPトランジスタX5のベースの電位をE4とする
と、E4はE2よりトランジスタX4の導通時のベー
ス・エミツタ間電位分だけ高く、またE2はトラ
ンジスタX2の導通時のベース・エミツタ間電位
分だけE1より低いので、E1とE4とは等しくな
る。
り出された半波整流の如き波形の信号は、抵抗
R9と共にエミツタフオロワ回路を構成している
PNPトランジスタX4を通してPNPトランジスタ
X5のベースに印加される。このエミツタフオロ
ワ回路は、トランジスタX2のベース・エミツタ
間の温度特性を補償し、かつ、次段の直流レベル
を最適にするために設けられている。このため、
トランジスタX4のエミツタが接続されている
PNPトランジスタX5のベースの電位をE4とする
と、E4はE2よりトランジスタX4の導通時のベー
ス・エミツタ間電位分だけ高く、またE2はトラ
ンジスタX2の導通時のベース・エミツタ間電位
分だけE1より低いので、E1とE4とは等しくな
る。
トランジスタX5のコレクタ、エミツタはトラ
ンジスタX6のコレクタ、エミツタと並列に接続
されており、またトランジスタX6のベースはコ
ンデンサC3により交流的にグラウンドにバイパ
スされている。すなわち、トランジスタX6はト
ランジスタX5に温度補償されたバイアスを与え
ている。いま、トランジスタX5,X6のエミツタ
電位をE5、トランジスタX6のベース電位をE6と
すると、トランジスタX5,X6のエミツタより取
り出される信号は、前述したトランジスタX2,
X3の動作と同様に、トランジスタX5のベース入
力信号のゼロクロス点よりE6−E4だけ大なるレ
ベルより小なるレベルの信号となる。
ンジスタX6のコレクタ、エミツタと並列に接続
されており、またトランジスタX6のベースはコ
ンデンサC3により交流的にグラウンドにバイパ
スされている。すなわち、トランジスタX6はト
ランジスタX5に温度補償されたバイアスを与え
ている。いま、トランジスタX5,X6のエミツタ
電位をE5、トランジスタX6のベース電位をE6と
すると、トランジスタX5,X6のエミツタより取
り出される信号は、前述したトランジスタX2,
X3の動作と同様に、トランジスタX5のベース入
力信号のゼロクロス点よりE6−E4だけ大なるレ
ベルより小なるレベルの信号となる。
従つて、トランジスタX2のベース電位E1が可
変抵抗器R3の中点位置より取り出されたとき
は、前述したE1−E3とE6−E4の絶対値は共に等
しくなり、入力端子55の入力信号のゼロクロス
点を中心として、正,負の両側に等量レベルスラ
イスされた信号が、トランジスタX5,X6のエミ
ツタと抵抗R10の接続点よりリミツタ回路9の出
力電圧として出力端子56に導かれる。従つて、
可変抵抗器R3でリミツタバランスの調整ができ
る。また、可変抵抗器R7によりスライス範囲す
なわち出力のP―P値(スライス量)を可変でき
る。また入力信号が上記E1−E3とE6−E4との間
のP―P値のときには、上記のリミツタ回路9は
電圧増幅度約1のリニヤアンプとして動作する。
変抵抗器R3の中点位置より取り出されたとき
は、前述したE1−E3とE6−E4の絶対値は共に等
しくなり、入力端子55の入力信号のゼロクロス
点を中心として、正,負の両側に等量レベルスラ
イスされた信号が、トランジスタX5,X6のエミ
ツタと抵抗R10の接続点よりリミツタ回路9の出
力電圧として出力端子56に導かれる。従つて、
可変抵抗器R3でリミツタバランスの調整ができ
る。また、可変抵抗器R7によりスライス範囲す
なわち出力のP―P値(スライス量)を可変でき
る。また入力信号が上記E1−E3とE6−E4との間
のP―P値のときには、上記のリミツタ回路9は
電圧増幅度約1のリニヤアンプとして動作する。
以上の動作により、リミツタ回路9より発振す
ることなく取り出されたあるレベル範囲に振幅制
限された信号は増幅器10を経て第1図中、検波
回路11に供給される。この検波回路11は極め
て小レベルの入力信号に対しても検波動作を行な
い、かつ、ダイナミツクレンジの大なる入力信号
に対してもリニヤであることが要求される。
ることなく取り出されたあるレベル範囲に振幅制
限された信号は増幅器10を経て第1図中、検波
回路11に供給される。この検波回路11は極め
て小レベルの入力信号に対しても検波動作を行な
い、かつ、ダイナミツクレンジの大なる入力信号
に対してもリニヤであることが要求される。
第3図は上記の要求を満たす本発明装置に用い
得る検波回路の一実施例の具体的回路図を示す。
同図中、第2図と同一の機能を果す部分には同一
符号を付してある。入力端子57より入来した信
号はコンデンサC1を介してトランジスタX2のベ
ースに印加される一方、抵抗R11,R5を介してト
ランジスタX3のベースに印加される。この抵抗
R11とR5の接続点は抵抗R12を介して直流電源端
子に接続されている。ここで、トランジスタX2
のベース電位E1とトランジスタX3のベース電位
E3とは共に等しくなるように構成されている。
これにより、第2図の動作説明からもわかるよう
に、トランジスタX2,X3のエミツタより出力端
子58に取り出された信号は、ゼロクロス点から
リニヤな検波動作により得られた正極性で、かつ
半波整流されたような信号となる。この検波回路
は同種のトランジスタX2,X3のコレクタ、エミ
ツタが並列接続されており、それらのベース・エ
ミツタ間のダイオードの温度ドリフトが打消され
る。
得る検波回路の一実施例の具体的回路図を示す。
同図中、第2図と同一の機能を果す部分には同一
符号を付してある。入力端子57より入来した信
号はコンデンサC1を介してトランジスタX2のベ
ースに印加される一方、抵抗R11,R5を介してト
ランジスタX3のベースに印加される。この抵抗
R11とR5の接続点は抵抗R12を介して直流電源端
子に接続されている。ここで、トランジスタX2
のベース電位E1とトランジスタX3のベース電位
E3とは共に等しくなるように構成されている。
これにより、第2図の動作説明からもわかるよう
に、トランジスタX2,X3のエミツタより出力端
子58に取り出された信号は、ゼロクロス点から
リニヤな検波動作により得られた正極性で、かつ
半波整流されたような信号となる。この検波回路
は同種のトランジスタX2,X3のコレクタ、エミ
ツタが並列接続されており、それらのベース・エ
ミツタ間のダイオードの温度ドリフトが打消され
る。
第4図は本発明装置に用い得る検波回路の他の
実施例の具体的回路図を示す。同図中、第3図と
同一部分には同一符号を付し、その説明を省略す
る。第4図において、X7は位相分割用NPNトラ
ンジスタで、抵抗R13,R14によりベースバイアス
されている。またコレクタにはコレクタ負荷抵抗
R15、エミツタにはエミツタ抵抗R16が接続されて
いる。このトランジスタX7のコレクタより入力
信号と逆極性の信号が取り出され、コンデンサ
C4を通してNPNトランジスタX8のベースに印加
され、また、これと同時に抵抗R17,R5を夫々通
してトランジスタX3のベースに印加される。こ
れにより、出力端子59には、リニヤな検波動作
によりゼロクロス点から上側で、かつ、両波整流
されたような信号が検波信号として取り出され
る。この検波回路は、同種のトランジスタX2,
X3,X8のコレクタ、エミツタが夫々並列接続さ
れており、ベース・エミツタ間のダイオードの温
度ドリフトが打消される。
実施例の具体的回路図を示す。同図中、第3図と
同一部分には同一符号を付し、その説明を省略す
る。第4図において、X7は位相分割用NPNトラ
ンジスタで、抵抗R13,R14によりベースバイアス
されている。またコレクタにはコレクタ負荷抵抗
R15、エミツタにはエミツタ抵抗R16が接続されて
いる。このトランジスタX7のコレクタより入力
信号と逆極性の信号が取り出され、コンデンサ
C4を通してNPNトランジスタX8のベースに印加
され、また、これと同時に抵抗R17,R5を夫々通
してトランジスタX3のベースに印加される。こ
れにより、出力端子59には、リニヤな検波動作
によりゼロクロス点から上側で、かつ、両波整流
されたような信号が検波信号として取り出され
る。この検波回路は、同種のトランジスタX2,
X3,X8のコレクタ、エミツタが夫々並列接続さ
れており、ベース・エミツタ間のダイオードの温
度ドリフトが打消される。
第3図又は第4図示の検波回路11の出力端子
58又は59より取り出された信号は、第1図に
示す低域フイルタ12を経てシユミツトトリガ回
路13に印加される。本実施例では検波回路11
よりシユミツトトリガ回路13までは直結なの
で、検波回路11が第3図又は第4図に示す如く
温度ドリフトが打消される構成とされていること
は重要である。上記シユミツトトリガ回路13の
シユレツシユホールドレベルは一定なので、前記
スイツチSW1を切換えて高域フイルタ7の入力レ
ベルを切換えることが、ドロツプアウト検出レベ
ルの設定になる。
58又は59より取り出された信号は、第1図に
示す低域フイルタ12を経てシユミツトトリガ回
路13に印加される。本実施例では検波回路11
よりシユミツトトリガ回路13までは直結なの
で、検波回路11が第3図又は第4図に示す如く
温度ドリフトが打消される構成とされていること
は重要である。上記シユミツトトリガ回路13の
シユレツシユホールドレベルは一定なので、前記
スイツチSW1を切換えて高域フイルタ7の入力レ
ベルを切換えることが、ドロツプアウト検出レベ
ルの設定になる。
このようにして、生成されたドロツプアウトパ
ルスは、ドロツプアウト発生時ハイレベルとな
り、3入力NANDゲート14の一の入力端子に印
加される。このNANDゲート14の他の二つの入
力端子には、基準発振器15よりの3.58MHzの基
準パルスと、後述するタイマーの出力信号(タイ
マー動作中はHレベル)とが印加される。これに
より、タイマー動作中で、かつ、ドロツプアウト
が存在する期間だけNANDゲート14は基準発振
器15よりの基準パルスを出力する。このNAND
ゲート14の出力基準パルスは、2ビツトカウン
タ16で周波数が1/4に分周されてその1周期が
1.117μsとされた後4ビツトカウンタ17に印
加され、ここで計数される。
ルスは、ドロツプアウト発生時ハイレベルとな
り、3入力NANDゲート14の一の入力端子に印
加される。このNANDゲート14の他の二つの入
力端子には、基準発振器15よりの3.58MHzの基
準パルスと、後述するタイマーの出力信号(タイ
マー動作中はHレベル)とが印加される。これに
より、タイマー動作中で、かつ、ドロツプアウト
が存在する期間だけNANDゲート14は基準発振
器15よりの基準パルスを出力する。このNAND
ゲート14の出力基準パルスは、2ビツトカウン
タ16で周波数が1/4に分周されてその1周期が
1.117μsとされた後4ビツトカウンタ17に印
加され、ここで計数される。
4ビツトカウンタ17の1ビツト目の出力端子
は2入力ANDゲート18の一方の入力端子に接
続され、2ビツト目の出力端子は3入力ANDゲ
ート19の一つの入力端子に接続され、また3ビ
ツト目の出力端子はRSフリツプフロツプ20の
セツト端子、ANDゲート19の一つの入力端子
に夫々接続され、更に4ビツト目の出力端子は
ANDゲート18の他方の入力端子、ANDゲート
19の残りの入力端子に夫々接続されている。
は2入力ANDゲート18の一方の入力端子に接
続され、2ビツト目の出力端子は3入力ANDゲ
ート19の一つの入力端子に接続され、また3ビ
ツト目の出力端子はRSフリツプフロツプ20の
セツト端子、ANDゲート19の一つの入力端子
に夫々接続され、更に4ビツト目の出力端子は
ANDゲート18の他方の入力端子、ANDゲート
19の残りの入力端子に夫々接続されている。
従つて、例えば4.46μs以上持続するドロツプ
アウトが生じた場合には、フリツプフロツプ19
がセツトされることにより、デイケード・カウン
タ23,24,25で計数される。またRSフリ
ツプフロツプ21のセツト入力は4ビツトカウン
タ17の1ビツト目と4ビツト目のAND出力で
トリガされるから、10μs(=1.117×9)以上
の持続時間のドロツプアウト発生時にデイケー
ド・カウンタ26,27,28に信号を出力し、
これらにより計数される。またRSフリツプフロ
ツプ22のセツト入力は4ビツトカウンタ17の
2,3,4ビツト目のAND出力でトリガされる
から、15.6μs(=1.117×14)以上の持続時間
のドロツプアウト発生時にデイケード・カウンタ
29,30,31に信号を出力し、これらにより
そのドロツプアウト発生数が計数される。上記の
デイケード・カウンタ23〜25、26〜28、
29〜31は夫々4.46μs以上、10μs以上、
15.6μs以上の持続時間のドロツプアウトの発生
数を3桁まで計数する。ドロツプアウトが無くな
ると、シユミツトトリガ回路13の出力はHレベ
ルよりLレベルとなるため、このシユミツトトリ
ガ回路13の出力はこの立下り時点でRSフリツ
プフロツプ20〜22をリセツトする一方、イン
バータ32を通して4ビツトカウンタ17をリセ
ツトする。
アウトが生じた場合には、フリツプフロツプ19
がセツトされることにより、デイケード・カウン
タ23,24,25で計数される。またRSフリ
ツプフロツプ21のセツト入力は4ビツトカウン
タ17の1ビツト目と4ビツト目のAND出力で
トリガされるから、10μs(=1.117×9)以上
の持続時間のドロツプアウト発生時にデイケー
ド・カウンタ26,27,28に信号を出力し、
これらにより計数される。またRSフリツプフロ
ツプ22のセツト入力は4ビツトカウンタ17の
2,3,4ビツト目のAND出力でトリガされる
から、15.6μs(=1.117×14)以上の持続時間
のドロツプアウト発生時にデイケード・カウンタ
29,30,31に信号を出力し、これらにより
そのドロツプアウト発生数が計数される。上記の
デイケード・カウンタ23〜25、26〜28、
29〜31は夫々4.46μs以上、10μs以上、
15.6μs以上の持続時間のドロツプアウトの発生
数を3桁まで計数する。ドロツプアウトが無くな
ると、シユミツトトリガ回路13の出力はHレベ
ルよりLレベルとなるため、このシユミツトトリ
ガ回路13の出力はこの立下り時点でRSフリツ
プフロツプ20〜22をリセツトする一方、イン
バータ32を通して4ビツトカウンタ17をリセ
ツトする。
このようにして、4.46μs以上、10μs以上、
15.6μs以上の持続時間を有するドロツプアウト
の発生数が夫々デイケード・カウンタ23〜2
5、26〜28、29〜31で記録媒体の1回の
再生だけで夫々同時に計数でき、これらのデイケ
ードカウンタ23〜31の各出力を例えば発光ダ
イオードの7セグメントの表示器で10進表示する
ことにより、操作者は極めて簡単な操作で短時間
でドロツプアウトの持続時間別の発生数を同時に
知ることができる。
15.6μs以上の持続時間を有するドロツプアウト
の発生数が夫々デイケード・カウンタ23〜2
5、26〜28、29〜31で記録媒体の1回の
再生だけで夫々同時に計数でき、これらのデイケ
ードカウンタ23〜31の各出力を例えば発光ダ
イオードの7セグメントの表示器で10進表示する
ことにより、操作者は極めて簡単な操作で短時間
でドロツプアウトの持続時間別の発生数を同時に
知ることができる。
他方、基準発振器15の出力基準パルスは分周
回路33により分周されて1秒間1発宛のパルス
が出力される。この分周回路33の出力パルス
は、1/30カウンタ34、1/2カウンタ35及び36 に順次印加される。従つて、1/30カウンタ34の出 力より切換スイツチSW2の接点aには30秒毎に1
回パルスが加えられ、1/2カウンタ35の出力よ
り切換スイツチSW2の接点bには1分毎に1回パ
ルスが加えられ、更に1/2カウンタ36の出力よ
り切換スイツチSW2の接点cには2分毎に1回パ
ルスが加えられることになる。
回路33により分周されて1秒間1発宛のパルス
が出力される。この分周回路33の出力パルス
は、1/30カウンタ34、1/2カウンタ35及び36 に順次印加される。従つて、1/30カウンタ34の出 力より切換スイツチSW2の接点aには30秒毎に1
回パルスが加えられ、1/2カウンタ35の出力よ
り切換スイツチSW2の接点bには1分毎に1回パ
ルスが加えられ、更に1/2カウンタ36の出力よ
り切換スイツチSW2の接点cには2分毎に1回パ
ルスが加えられることになる。
切換スイツチSW2は接点a〜cのうち任意の接
点に選択接続され、これにより選択された設定時
間(ここでは上記の説明から明らかなように30
秒、1分、2分のいずれか)後にRSフリツプフ
ロツプ37はセツトされ、ORゲート38、NOR
ゲート39を順次経てタイマー動作終了信号とし
て3入力NANDゲート14に印加され、これを閉
じる。これによりドロツプアウト発生数の計数が
終了し、デイケード・カウンタ23〜31はその
計数結果を保持している。また、これと同時に、
RSフリツプフロツプ37のQ出力は単安定マル
チバイブレータ(以下MMと記す)40に印加さ
れ、これをトリガしてMM40よりその設定時定
数により決まる一定時間、出力端子41に正極性
のパルスを出力し、プリンタ(図示せず)による
デイケード・カウンタ23〜25、26〜28、
29〜31の夫々に記憶保持されている計数値の
プリントを開始させる。
点に選択接続され、これにより選択された設定時
間(ここでは上記の説明から明らかなように30
秒、1分、2分のいずれか)後にRSフリツプフ
ロツプ37はセツトされ、ORゲート38、NOR
ゲート39を順次経てタイマー動作終了信号とし
て3入力NANDゲート14に印加され、これを閉
じる。これによりドロツプアウト発生数の計数が
終了し、デイケード・カウンタ23〜31はその
計数結果を保持している。また、これと同時に、
RSフリツプフロツプ37のQ出力は単安定マル
チバイブレータ(以下MMと記す)40に印加さ
れ、これをトリガしてMM40よりその設定時定
数により決まる一定時間、出力端子41に正極性
のパルスを出力し、プリンタ(図示せず)による
デイケード・カウンタ23〜25、26〜28、
29〜31の夫々に記憶保持されている計数値の
プリントを開始させる。
また、タイマー動作終了後スイツチSW3を閉成
すると、NORゲート42は正パルスを出力し、
この正パルスは全てのデイケード・カウンタ23
〜31、分周回路33、カウンタ34〜36、
RSフリツプフロツプ37を夫々リセツトする。
そしてスイツチSW3が開成された瞬間から再び新
たなドロツプアウト発生数の計数が開始される。
すると、NORゲート42は正パルスを出力し、
この正パルスは全てのデイケード・カウンタ23
〜31、分周回路33、カウンタ34〜36、
RSフリツプフロツプ37を夫々リセツトする。
そしてスイツチSW3が開成された瞬間から再び新
たなドロツプアウト発生数の計数が開始される。
端子43は上記のリセツトをリモコンで行なう
場合の入力端子で、また端子44はこのドロツプ
アウトの計数装置をプリンタと接続した場合プリ
ンタの印字中信号を入力する端子である。このプ
リンタの印字中信号は前記の出力端子41の出力
パルスによりプリント動作が開始されると同時に
Lレベルで入力され、微分回路45、インバータ
46を経て2入力NORゲート42に印加され
る。プリンタの印字が終了すると、入力端子44
はHレベルとなり、NORゲート42より正のパ
ルスを出力せしめ、デイケード・カウンタ23〜
31、分周回路33、カウンタ34〜36、RS
フリツプフロツプ37を夫々リセツトさせる。
場合の入力端子で、また端子44はこのドロツプ
アウトの計数装置をプリンタと接続した場合プリ
ンタの印字中信号を入力する端子である。このプ
リンタの印字中信号は前記の出力端子41の出力
パルスによりプリント動作が開始されると同時に
Lレベルで入力され、微分回路45、インバータ
46を経て2入力NORゲート42に印加され
る。プリンタの印字が終了すると、入力端子44
はHレベルとなり、NORゲート42より正のパ
ルスを出力せしめ、デイケード・カウンタ23〜
31、分周回路33、カウンタ34〜36、RS
フリツプフロツプ37を夫々リセツトさせる。
このようにして、このドロツプアウトの計数装
置とプリンタとを接続することにより、自動的に
磁気テープの再生が終了するまでセツト→計数→
プリント→リセツト→セツトを繰り返す。
置とプリンタとを接続することにより、自動的に
磁気テープの再生が終了するまでセツト→計数→
プリント→リセツト→セツトを繰り返す。
次にスイツチングポイントで発生するノイズに
よる誤動作の防止動作につき説明する。第1図
中、47よりヘツド切換時のスイツチングパルス
が入来して二分され、一方はそのまま微分回路4
8に印加され、他方はインバータ49で極性反転
された後微分回路50に印加される。微分回路4
8,50の出力信号は夫々2入力ORゲート51
を通してHレベルとされてNORゲート39に印
加される。これにより、NANDゲート14はスイ
ツチングパルスの立上り時点と立下り時点のそれ
ぞれから微分回路48,50の時定数で決まる一
定時間(約2ms)は閉じられる。こうしてスイツ
チングポイントで発生するノイズの計数が防止さ
れる。本実施例では、スイツチングパルスそのも
のを用いているので、従来の如き温度ドリフトは
全く問題とならず、よつて確実に誤動作を防止で
きる。
よる誤動作の防止動作につき説明する。第1図
中、47よりヘツド切換時のスイツチングパルス
が入来して二分され、一方はそのまま微分回路4
8に印加され、他方はインバータ49で極性反転
された後微分回路50に印加される。微分回路4
8,50の出力信号は夫々2入力ORゲート51
を通してHレベルとされてNORゲート39に印
加される。これにより、NANDゲート14はスイ
ツチングパルスの立上り時点と立下り時点のそれ
ぞれから微分回路48,50の時定数で決まる一
定時間(約2ms)は閉じられる。こうしてスイツ
チングポイントで発生するノイズの計数が防止さ
れる。本実施例では、スイツチングパルスそのも
のを用いているので、従来の如き温度ドリフトは
全く問題とならず、よつて確実に誤動作を防止で
きる。
なお、上記の実施例では、磁気テープに周波数
変調されて記録された映像信号の再生信号のドロ
ツプアウトの計数動作につき説明したが、要は映
像信号あるいはその他の情報信号が被変調の形態
で磁気テープその他の記録媒体に記録されている
場合の、その再生信号に適用できる。
変調されて記録された映像信号の再生信号のドロ
ツプアウトの計数動作につき説明したが、要は映
像信号あるいはその他の情報信号が被変調の形態
で磁気テープその他の記録媒体に記録されている
場合の、その再生信号に適用できる。
上述の如く、本発明になるドロツプアウトの計
数装置は、第1のAGC回路によりその入力被変
調波のレベルを第2のAGC回路の最適動作入力
レベル範囲内のレベルとして時定数の小なる第2
のAGC回路に印加し、この第2のAGC回路によ
り略一定レベルとされた再生信号のレベルを検出
することによりドロツプアウトを検出するように
したため、自動的に第2のAGC回路の入力レベ
ルを最適レベル範囲内とすることができ、加えて
エンベロープの変化量を従来に比しより正確に検
出することができるのでドロツプアウトの検出が
正確となり、また、上記のドロツプアウト検出パ
ルスと基準発振器の出力基準信号との論理出力に
よりドロツプアウトの持続時間基準信号をNビツ
トの計数器(Nは任意の正の整数)で計数し、こ
の計数器のN個の出力をM個(Mは任意の正の整
数、但しM<2N)のフリツプフロツプに夫々適
宜選択入力せしめてこれらをセツトし、かつ、ド
ロツプアウトが検出されなくなつた時点の上記ド
ロツプアウト検出パルスの後縁でM個のフリツプ
フロツプをリセツトし、M個のフリツプフロツプ
に対応して設けられたM組の計数回路によりM個
のフリツプフロツプの出力発生数を計数するよう
構成したため、発生したドロツプアウトの持続時
間別に夫々M個同時に1回の再生動作で計数し分
けることができ、従つて従来に比し計数動作が極
めて短時間で、しかも簡単な操作ででき、またド
ロツプアウトの発生数を正確に計数でき、更に複
数ヘツドの磁気記録再生装置に適用した場合は、
ヘツド切換毎に出力されるスイツチングパルスの
立上り時点と立下り時点に対応する位相で、か
つ、極性の揃えたパルスを生成し、この生成パル
スで前記計数器への前記基準信号入力を遮断する
ようにしたため、スイツチングパルス発生時に生
ずるノイズによる誤動作を、温度ドリフトの影響
を受けることなく正確に防止できる等の数々の特
長を有するものである。
数装置は、第1のAGC回路によりその入力被変
調波のレベルを第2のAGC回路の最適動作入力
レベル範囲内のレベルとして時定数の小なる第2
のAGC回路に印加し、この第2のAGC回路によ
り略一定レベルとされた再生信号のレベルを検出
することによりドロツプアウトを検出するように
したため、自動的に第2のAGC回路の入力レベ
ルを最適レベル範囲内とすることができ、加えて
エンベロープの変化量を従来に比しより正確に検
出することができるのでドロツプアウトの検出が
正確となり、また、上記のドロツプアウト検出パ
ルスと基準発振器の出力基準信号との論理出力に
よりドロツプアウトの持続時間基準信号をNビツ
トの計数器(Nは任意の正の整数)で計数し、こ
の計数器のN個の出力をM個(Mは任意の正の整
数、但しM<2N)のフリツプフロツプに夫々適
宜選択入力せしめてこれらをセツトし、かつ、ド
ロツプアウトが検出されなくなつた時点の上記ド
ロツプアウト検出パルスの後縁でM個のフリツプ
フロツプをリセツトし、M個のフリツプフロツプ
に対応して設けられたM組の計数回路によりM個
のフリツプフロツプの出力発生数を計数するよう
構成したため、発生したドロツプアウトの持続時
間別に夫々M個同時に1回の再生動作で計数し分
けることができ、従つて従来に比し計数動作が極
めて短時間で、しかも簡単な操作ででき、またド
ロツプアウトの発生数を正確に計数でき、更に複
数ヘツドの磁気記録再生装置に適用した場合は、
ヘツド切換毎に出力されるスイツチングパルスの
立上り時点と立下り時点に対応する位相で、か
つ、極性の揃えたパルスを生成し、この生成パル
スで前記計数器への前記基準信号入力を遮断する
ようにしたため、スイツチングパルス発生時に生
ずるノイズによる誤動作を、温度ドリフトの影響
を受けることなく正確に防止できる等の数々の特
長を有するものである。
第1図は本発明装置の一実施例を示すブロツク
系統図、第2図は第1図の要部の一実施例を示す
具体的回路図、第3図及び第4図は夫々第1図の
他の要部の各実施例を示す具体的回路図である。 1……再生被周波数変調波入力端子、2,3…
…AGC回路、9……リミツタ回路、11……検
波回路、15……基準発振器、17……4ビツト
カウンタ、43……リセツト信号入力端子、44
……印字中信号入力端子、47……スイツチング
パルス入力端子。
系統図、第2図は第1図の要部の一実施例を示す
具体的回路図、第3図及び第4図は夫々第1図の
他の要部の各実施例を示す具体的回路図である。 1……再生被周波数変調波入力端子、2,3…
…AGC回路、9……リミツタ回路、11……検
波回路、15……基準発振器、17……4ビツト
カウンタ、43……リセツト信号入力端子、44
……印字中信号入力端子、47……スイツチング
パルス入力端子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 記録媒体より再生された情報信号をAGC回
路を通して後レベル検出してドロツプアウトを検
出し、この検出ドロツプアウトの発生数を計数す
る装置において、上記再生信号のレベルを第1の
AGC回路により第2のAGC回路の最適動作入力
レベル範囲内のレベルとして時定数の小なる該第
2のAGC回路に印加し、該第2のAGC回路によ
り上記再生信号を略一定レベルとして出力するよ
う構成したことを特徴とするドロツプアウトの計
数装置。 2 記録媒体より再生された情報信号を第1の
AGC回路により第2のAGC回路の最適動作入力
レベル範囲内のレベルとして時定数の小なる該第
2のAGC回路に印加し、該第2のAGC回路によ
り略一定レベルとされた上記再生信号のレベルを
検出してドロツプアウトを検出し、ドロツプアウ
トの検出パルスと基準発振器の出力基準信号との
論理出力によりドロツプアウトの持続時間該基準
信号をNビツトの計数器(Nは任意の正の整数)
で計数し、該計数器のN個の出力をM個(Mは任
意の正の整数、但しM<2N)のフリツプフロツ
プに夫々適宜選択入力せしめてこれらをセツト
し、かつ、ドロツプアウトが検出されなくなつた
時点の上記ドロツプアウト検出パルスの後縁で該
M個のフリツプフロツプをリセツトし、該M個の
フリツプフロツプに対応して設けられたM組の計
数回路により該M個のフリツプフロツプの出力発
生数を計数するよう構成したことを特徴とするド
ロツプアウトの計数装置。 3 記録媒体より複数ヘツドの各出力を切換えて
再生された情報信号を第1のAGC回路により第
2のAGC回路の最適動作入力レベル範囲内のレ
ベルとして時定数の小なる該第2のAGC回路に
印加し、該第2のAGC回路により略一定レベル
とされた上記再生信号のレベルを検出してドロツ
プアウトを検出し、ドロツプアウトの検出パルス
と基準発振器の出力基準信号との論理出力により
ドロツプアウトの持続時間該基準信号をNビツト
の計数器(Nは任意の正の整数)で計数し、該計
数器のN個の出力をM個(Mは任意の正の整数、
但しM<2N)のフリツプフロツプに夫々適宜選
択入力せしめてこれらをセツトし、かつ、ドロツ
プアウトが検出されなくなつた時点の上記ドロツ
プアウト検出パルスの後縁で該M個のフリツプフ
ロツプをリセツトし、他方、前記複数のヘツドの
切換毎に出力されるスイツチングパルスの立上り
時点と立下り時点とに対応する位相で、かつ、極
性の揃えたパルスを生成し、この生成パルスで上
記計数器への上記基準信号入力を遮断し、該M個
のフリツプフロツプに対応して設けられたM組の
計数回路により該M個のフリツプフロツプの出力
発生数を計数するよう構成したことを特徴とする
ドロツプアウトの計数装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7032778A JPS54161907A (en) | 1978-06-13 | 1978-06-13 | Counting device of drop-outs |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7032778A JPS54161907A (en) | 1978-06-13 | 1978-06-13 | Counting device of drop-outs |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54161907A JPS54161907A (en) | 1979-12-22 |
| JPS6161185B2 true JPS6161185B2 (ja) | 1986-12-24 |
Family
ID=13428225
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7032778A Granted JPS54161907A (en) | 1978-06-13 | 1978-06-13 | Counting device of drop-outs |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS54161907A (ja) |
-
1978
- 1978-06-13 JP JP7032778A patent/JPS54161907A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54161907A (en) | 1979-12-22 |
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