JPS616198A - ダイヤモンド薄膜の製造法 - Google Patents
ダイヤモンド薄膜の製造法Info
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- JPS616198A JPS616198A JP12439284A JP12439284A JPS616198A JP S616198 A JPS616198 A JP S616198A JP 12439284 A JP12439284 A JP 12439284A JP 12439284 A JP12439284 A JP 12439284A JP S616198 A JPS616198 A JP S616198A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/0605—Carbon
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/0021—Reactive sputtering or evaporation
- C23C14/0036—Reactive sputtering
- C23C14/0057—Reactive sputtering using reactive gases other than O2, H2O, N2, NH3 or CH4
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、ダイヤモンドPIFおよびその製造法に関し
、さらに詳しくは水素でパシベート(作成)され主構造
がC−C結合を有する微粒子の集合体ダイヤモンド薄膜
とその製造法に関するものである。
、さらに詳しくは水素でパシベート(作成)され主構造
がC−C結合を有する微粒子の集合体ダイヤモンド薄膜
とその製造法に関するものである。
ダイヤモンドは地球上に存在する固体物質の中で最高の
硬度を有し、電気的には絶縁体であり30〜650℃で
熱伝導率が最も高く(例えば銅の約5倍)、また光学的
には赤外領域の一部を除いて紫外、可視、赤外線領域に
戸る広い範囲で光透ボ率が優れている。
硬度を有し、電気的には絶縁体であり30〜650℃で
熱伝導率が最も高く(例えば銅の約5倍)、また光学的
には赤外領域の一部を除いて紫外、可視、赤外線領域に
戸る広い範囲で光透ボ率が優れている。
また特定の不純物をドープすると半導体特性を示すこと
も知られている。
も知られている。
このように広い分野において優れた特性を有するため、
例えば硬度を利用してダイヤモンドペースト、カッター
などに使用されているが、その合成法がもっばら高圧法
に依存しているため平板状のものは得られず、実用−ヒ
の観漬から電子デバイス技術分野江おいての利用がなさ
れないでいる、しかし、ダイヤモンドは、バンドギャッ
プが広いため適当な不純物ドーピングによりp型、n型
のダイヤモンド薄膜ができ、p−n接合ができれば動作
温度に制約を受けるS i 、GaAs等を主体として
いる現在の半導体デバイスに代って熱的に安定な材料と
して使用できるし、太陽電池の窓材にも使用できる。さ
らにまた、現在強く希求、されているGaAsのパシベ
ーション膜にもつとも有望と期待される。
例えば硬度を利用してダイヤモンドペースト、カッター
などに使用されているが、その合成法がもっばら高圧法
に依存しているため平板状のものは得られず、実用−ヒ
の観漬から電子デバイス技術分野江おいての利用がなさ
れないでいる、しかし、ダイヤモンドは、バンドギャッ
プが広いため適当な不純物ドーピングによりp型、n型
のダイヤモンド薄膜ができ、p−n接合ができれば動作
温度に制約を受けるS i 、GaAs等を主体として
いる現在の半導体デバイスに代って熱的に安定な材料と
して使用できるし、太陽電池の窓材にも使用できる。さ
らにまた、現在強く希求、されているGaAsのパシベ
ーション膜にもつとも有望と期待される。
最近では、上述の要RVC応じることのできる材料を提
供するため圧気相からの合成法が研究されているが、こ
れらは総てCVD法(ChemicalVapor D
eposition method)を使い原料ガスと
してCH4’、 C2H,などのハイドロカーボンとH
2の混合ガスをプラズマ放電分解させ、あるいはおよそ
2000℃以上に加熱したタングステンフィラメント上
で熱分解させることKより薄膜ができるとされている。
供するため圧気相からの合成法が研究されているが、こ
れらは総てCVD法(ChemicalVapor D
eposition method)を使い原料ガスと
してCH4’、 C2H,などのハイドロカーボンとH
2の混合ガスをプラズマ放電分解させ、あるいはおよそ
2000℃以上に加熱したタングステンフィラメント上
で熱分解させることKより薄膜ができるとされている。
しかし、これらの方法は、その条件あるいはその効率な
どの面において非常に困難な要素を含んでおり研究室的
規模はともかく工業化することは難かしい。
どの面において非常に困難な要素を含んでおり研究室的
規模はともかく工業化することは難かしい。
このような情況の中で本発明者らは先に高周波電力を印
加してスパッタを行うこと罠よりダイヤモンド薄膜を得
る方法を提供(特願昭58−222218号)したが、
この方法は未だ次のような改良されなければならない点
を有していた。
加してスパッタを行うこと罠よりダイヤモンド薄膜を得
る方法を提供(特願昭58−222218号)したが、
この方法は未だ次のような改良されなければならない点
を有していた。
1、 高周波電力を印加するためコンデンサおよびリア
クタンスでマツチングをとらねば−jCらず、効率的に
電力が供給されない、。
クタンスでマツチングをとらねば−jCらず、効率的に
電力が供給されない、。
2 実際にターゲットにどの程度の常、力が投入されて
いるか正確にわからない。 ′6 任童の電力にコ
ントロールすることがむすかI−い。
いるか正確にわからない。 ′6 任童の電力にコ
ントロールすることがむすかI−い。
4 基板にバイアス重圧をかける場合、高周波スパッタ
ではプラズマが大きく広がってしまうためバイアス効契
−が明確でない。
ではプラズマが大きく広がってしまうためバイアス効契
−が明確でない。
5、 缶周e v、源が必要となり設備が太きyrもの
となろ2. 6、 ?現性が、P、い。
となろ2. 6、 ?現性が、P、い。
Z 専門ケ、ガスの水素は、戸「の数k Q−ap K
比較しP10Ω−鎖と非常に放電インピーダンスが低い
ため、RF放電ではマツチングがとりにくい。
比較しP10Ω−鎖と非常に放電インピーダンスが低い
ため、RF放電ではマツチングがとりにくい。
本発明は、ト述の状況に鑑み種々検討の結果、スパッタ
リングの際に直流雷汗を印加するという手法をとり入れ
ることによりダイヤモンド薄膜を製造し得ることを見出
し完成したものである、〔発明の概要〕 具体的には、例えば0.01Torrの水素雰囲気に維
持されているプレーナ型マグネトロンスパッタ装置でI
K V 、陽極電流0.2Aの直流電力により水素プ
ラズマを作り励起されたト1イオンやラジカルによって
グラファイトターゲット(75門φ)をたたくこと罠よ
り基板上にダイヤモンド微粒子が堆積1.その表面KC
8以下のアルキル基が結合したダイヤモンド!膜を形成
することが認められた、このダイヤモンドの形成過程は
、例えば励起されたI4イオンがグラファイトをたたい
たときCとトIが半結合したプラズマ種を作りこれが基
板、ヒに堆積して前述の如き特異な構造を有するダイヤ
モンドを作るものと推論された。
リングの際に直流雷汗を印加するという手法をとり入れ
ることによりダイヤモンド薄膜を製造し得ることを見出
し完成したものである、〔発明の概要〕 具体的には、例えば0.01Torrの水素雰囲気に維
持されているプレーナ型マグネトロンスパッタ装置でI
K V 、陽極電流0.2Aの直流電力により水素プ
ラズマを作り励起されたト1イオンやラジカルによって
グラファイトターゲット(75門φ)をたたくこと罠よ
り基板上にダイヤモンド微粒子が堆積1.その表面KC
8以下のアルキル基が結合したダイヤモンド!膜を形成
することが認められた、このダイヤモンドの形成過程は
、例えば励起されたI4イオンがグラファイトをたたい
たときCとトIが半結合したプラズマ種を作りこれが基
板、ヒに堆積して前述の如き特異な構造を有するダイヤ
モンドを作るものと推論された。
本発明によって得た薄膜の赤外吸収ン(ぺ)r l、ル
からこの膜にはアルキル基を有しているが有機高分子膜
ではなく、またこのアルキル基のC数は6以下であるこ
とが判明した。この膜は、有機溶媒や無機酸に対しても
おかされることはなかった。
からこの膜にはアルキル基を有しているが有機高分子膜
ではなく、またこのアルキル基のC数は6以下であるこ
とが判明した。この膜は、有機溶媒や無機酸に対しても
おかされることはなかった。
また800℃、1時間でアニーリング処理を行ったのち
も表面にある結合の弱い一部の1(は離脱するが、本質
的t「ダイヤモンド構造の変化は認められず、一方、元
素分析の結果からこの膜は、C1H及び微−敬のNしか
含んでいないことがS認された。
も表面にある結合の弱い一部の1(は離脱するが、本質
的t「ダイヤモンド構造の変化は認められず、一方、元
素分析の結果からこの膜は、C1H及び微−敬のNしか
含んでいないことがS認された。
光透過性も225−、に吸収帯をもち、400=、=付
近と赤外領域に吸収をもつ+27’l) 47.、優れ
た光透過性を示した。また透過電子顕微鏡による観察で
は、数ηmの微粒子の存在を確認し、′竺子線回折パタ
ーンはダイヤモンド多結晶のリングパターンを示17た
。さらj(この%l樺表面は、走査電子苅微鉾轡ゼ(分
解能10.、、)により何等の構造を認め得ないほど驚
異的な平滑度を示した。
近と赤外領域に吸収をもつ+27’l) 47.、優れ
た光透過性を示した。また透過電子顕微鏡による観察で
は、数ηmの微粒子の存在を確認し、′竺子線回折パタ
ーンはダイヤモンド多結晶のリングパターンを示17た
。さらj(この%l樺表面は、走査電子苅微鉾轡ゼ(分
解能10.、、)により何等の構造を認め得ないほど驚
異的な平滑度を示した。
なお、この薄膜は、Nを含むことと紫外線によるフォト
ルミネッセンスにより■b型半導体ダイヤモンドと判断
できろ。またNの混入のないものは無色透明であり絶縁
体とみられる。
ルミネッセンスにより■b型半導体ダイヤモンドと判断
できろ。またNの混入のないものは無色透明であり絶縁
体とみられる。
以上説明したように本発明によって得たダイヤモンド薄
膜は、その暦法の簡便さ、作製温度の低さ、戸のモルフ
オロジー(平滑度)などにおいて従来用いられていたC
VD法忙よるものに比較して極めてユニー、りでありか
りr゛−ピングも簡単に行え電子デバイスへの応用に大
いに貢献し、得るものである。
膜は、その暦法の簡便さ、作製温度の低さ、戸のモルフ
オロジー(平滑度)などにおいて従来用いられていたC
VD法忙よるものに比較して極めてユニー、りでありか
りr゛−ピングも簡単に行え電子デバイスへの応用に大
いに貢献し、得るものである。
以下実施例によって更に本発明の構成を具体的に説明す
る。
る。
実施例1
第1図にその概念的断面図を示したスパッタ装置の真空
室1内に75闘φのグラファイトティスフターゲット2
を用い対向電極との距峠を約45yzKとった。基板材
質3としてSI、ガラス、A/。
室1内に75闘φのグラファイトティスフターゲット2
を用い対向電極との距峠を約45yzKとった。基板材
質3としてSI、ガラス、A/。
TIQ2を用(・これを対向電極上につりつけた4、p
−9宇をあらかじめI X 1Q−’ Torrまで■
空にしたのち純度99.999%のト1□を雰1用気ガ
ス導)、W4より導入し0.01Torr<@つた。陽
極電圧1に■の直流電圧を電源6から供給し2時間スパ
ッタを行ったがこの時の電流は0.2Aであった、スパ
ッタ期間中、基板温度は100℃を超えないように制御
した、 処理を終了した時、基板。ヒに透明膜が得られた。
−9宇をあらかじめI X 1Q−’ Torrまで■
空にしたのち純度99.999%のト1□を雰1用気ガ
ス導)、W4より導入し0.01Torr<@つた。陽
極電圧1に■の直流電圧を電源6から供給し2時間スパ
ッタを行ったがこの時の電流は0.2Aであった、スパ
ッタ期間中、基板温度は100℃を超えないように制御
した、 処理を終了した時、基板。ヒに透明膜が得られた。
この膜は、幅広い光透過性を有し、吸収端は約225?
L?FLであった。赤外吸収スペクトルからこの膜は炭
素数6以下のアルキル基を含むカーボン膜テチリ、X線
回折及び電子線回折からダイヤモンド構造を含む膜であ
ることが確認された。
L?FLであった。赤外吸収スペクトルからこの膜は炭
素数6以下のアルキル基を含むカーボン膜テチリ、X線
回折及び電子線回折からダイヤモンド構造を含む膜であ
ることが確認された。
実施例2
真空室に142を導入したのち真空度を0.1Torr
に保ち、スパッタリング付の電圧を1K V 、 0.
3Aとしたほかは実施例10手順を繰返した、基板上に
は、透明膜が得られた。このものの各物性挙動は実施例
1と同じ挙動を示した。雰囲気ガスの圧力が低い程、微
結晶カーボンまたはアモルファスカーボンに結合してい
るHの量が少なくなり、また人力電力が少ない程Hの量
が少なくなる傾向が認められた。
に保ち、スパッタリング付の電圧を1K V 、 0.
3Aとしたほかは実施例10手順を繰返した、基板上に
は、透明膜が得られた。このものの各物性挙動は実施例
1と同じ挙動を示した。雰囲気ガスの圧力が低い程、微
結晶カーボンまたはアモルファスカーボンに結合してい
るHの量が少なくなり、また人力電力が少ない程Hの量
が少なくなる傾向が認められた。
実施例ろ
第1(2)Kモデル的に示した装置のターゲット2と基
板3との間にステンレス金網を おき直流200■のバ
イアス電圧を印加した状態で実施例2を繰返17た。
板3との間にステンレス金網を おき直流200■のバ
イアス電圧を印加した状態で実施例2を繰返17た。
このようKして得た膜の表面状態は、iZ4アス電圧を
印加しない時に比較して未殉アルキル基の量が少なく、
ダイヤモンド構造をとり易い傾向が認められた。
印加しない時に比較して未殉アルキル基の量が少なく、
ダイヤモンド構造をとり易い傾向が認められた。
〔発明の効果〕
以上の如き構成からなる本発明のl゛イヤモンド薄膜製
造法は、従来行われていた(” V D法などKよるも
のと比較し7て勝るとも劣らず、具体的には次のような
効果を有するも恥である。
造法は、従来行われていた(” V D法などKよるも
のと比較し7て勝るとも劣らず、具体的には次のような
効果を有するも恥である。
1、 再現性が良い。
2、 rlI流電圧電圧用するため電源が安価であり
かつ制御が容易である。
かつ制御が容易である。
6、 基板にバイアス電圧をかける場合直流であるため
制御が容易でかつスパッタ部2・芋板部を独守して制御
することがでとる。
制御が容易でかつスパッタ部2・芋板部を独守して制御
することがでとる。
4、 様々な膜質の薄膜を得ることができろ。
5、 プラズマの広がりを抑制することができ、より均
質な膜となる。
質な膜となる。
第1図はプレー−ト型マグネトロンスパック装置の断面
図であろ(1 1・・・真空室 2・・グラファイトターゲット5・・
基板 代理人 弁理士 木 村 ヨ 朗 第1図 手続補正書
図であろ(1 1・・・真空室 2・・グラファイトターゲット5・・
基板 代理人 弁理士 木 村 ヨ 朗 第1図 手続補正書
Claims (1)
- グラファイトターゲットをもつスパッタリング装置中で
水素圧力が10^−^3〜10^−^1Torrの条件
下で直流電圧を印加してスパッタすることにより基板上
に表面をアルキル基(炭素数3以下)がとりまき内部が
4配位炭素によるダイヤモンド構造をもつ微粒子ダイヤ
モンド薄膜を形成させることからなるダイヤモンド薄膜
の製造法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12439284A JPS616198A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | ダイヤモンド薄膜の製造法 |
| CA000468432A CA1235087A (en) | 1983-11-28 | 1984-11-22 | Diamond-like thin film and method for making the same |
| EP84308159A EP0156069B1 (en) | 1983-11-28 | 1984-11-23 | Diamond-like thin film and method for making the same |
| DE8484308159T DE3478475D1 (en) | 1983-11-28 | 1984-11-23 | Diamond-like thin film and method for making the same |
| US07/020,226 US4767517A (en) | 1983-11-28 | 1987-03-02 | Process of depositing diamond-like thin film by cathode sputtering |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12439284A JPS616198A (ja) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | ダイヤモンド薄膜の製造法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS616198A true JPS616198A (ja) | 1986-01-11 |
| JPH0421638B2 JPH0421638B2 (ja) | 1992-04-13 |
Family
ID=14884285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12439284A Granted JPS616198A (ja) | 1983-11-28 | 1984-06-19 | ダイヤモンド薄膜の製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS616198A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63213656A (ja) * | 1987-02-28 | 1988-09-06 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 炭素薄膜の形成装置 |
| JPH01192794A (ja) * | 1988-01-26 | 1989-08-02 | Nachi Fujikoshi Corp | ダイヤモンドの気相合成法 |
| JPH02399U (ja) * | 1988-06-08 | 1990-01-05 | ||
| US4972250A (en) * | 1987-03-02 | 1990-11-20 | Microwave Technology, Inc. | Protective coating useful as passivation layer for semiconductor devices |
| US5087959A (en) * | 1987-03-02 | 1992-02-11 | Microwave Technology, Inc. | Protective coating useful as a passivation layer for semiconductor devices |
| JPH05129241A (ja) * | 1991-10-21 | 1993-05-25 | Hitachi Chem Co Ltd | プラズマエツチング用電極板 |
| JP2002534763A (ja) * | 1998-12-23 | 2002-10-15 | ジェンセン エレクトロニック アーベー | 放電管 |
| WO2005008762A1 (ja) * | 2003-07-17 | 2005-01-27 | Rorze Corporation | 低誘電率膜、及びその製造方法、並びにそれを用いた電子部品 |
-
1984
- 1984-06-19 JP JP12439284A patent/JPS616198A/ja active Granted
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63213656A (ja) * | 1987-02-28 | 1988-09-06 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 炭素薄膜の形成装置 |
| US4972250A (en) * | 1987-03-02 | 1990-11-20 | Microwave Technology, Inc. | Protective coating useful as passivation layer for semiconductor devices |
| US5087959A (en) * | 1987-03-02 | 1992-02-11 | Microwave Technology, Inc. | Protective coating useful as a passivation layer for semiconductor devices |
| JPH01192794A (ja) * | 1988-01-26 | 1989-08-02 | Nachi Fujikoshi Corp | ダイヤモンドの気相合成法 |
| JPH02399U (ja) * | 1988-06-08 | 1990-01-05 | ||
| JPH05129241A (ja) * | 1991-10-21 | 1993-05-25 | Hitachi Chem Co Ltd | プラズマエツチング用電極板 |
| JP2002534763A (ja) * | 1998-12-23 | 2002-10-15 | ジェンセン エレクトロニック アーベー | 放電管 |
| WO2005008762A1 (ja) * | 2003-07-17 | 2005-01-27 | Rorze Corporation | 低誘電率膜、及びその製造方法、並びにそれを用いた電子部品 |
| US7749920B2 (en) | 2003-07-17 | 2010-07-06 | Rorze Corporation | Low dielectric constant films and manufacturing method thereof, as well as electronic parts using the same |
| US8158536B2 (en) | 2003-07-17 | 2012-04-17 | Rorze Corporation | Low dielectric constant films and manufacturing method thereof, as well as electronic parts using the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0421638B2 (ja) | 1992-04-13 |
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