JPS6164231A - 組織スペクトル測定プロ−ブ - Google Patents

組織スペクトル測定プロ−ブ

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JPS6164231A
JPS6164231A JP59185893A JP18589384A JPS6164231A JP S6164231 A JPS6164231 A JP S6164231A JP 59185893 A JP59185893 A JP 59185893A JP 18589384 A JP18589384 A JP 18589384A JP S6164231 A JPS6164231 A JP S6164231A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
light
tissue
probe
spectrum measurement
Prior art date
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Pending
Application number
JP59185893A
Other languages
English (en)
Inventor
野村 紀久夫
幸朗 四谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS6164231A publication Critical patent/JPS6164231A/ja
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Measuring And Recording Apparatus For Diagnosis (AREA)
  • Endoscopes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)発明の属する技術分野 本発明は組織スペクトル測定プローブに関し、より詳細
には測定プローブと測定対象組織との接触検知手段のた
めの電気回路部分を内蔵した、組織プローブに関する。
(ロ)従来技術とその問題点 第4図は組織スペクトル測定プローブの構成概念および
測定原理を示す概要図、そして第5図は第4図に対応す
るブロック図である。
プローブ1は概ね互いに並行する複数の送光用光ファイ
バ素線2と受光用光ファイバ素線3とを含み、これら複
数の送光用光ファイバ素線2および受光用光ファイバ素
線3は先端側にて外周を被覆層4に覆れた一体の光ファ
イバ束5として構成され、その先端は測定端部6を形成
している。また複数の送光用光ファイバ素線2と受光用
光ファイバ素線3は後端側においては互いに分岐独立し
た光ファイバ束全形成している。(以下「複数の光ファ
イバ素線」のことを適宜「光ファイバ」と略記する。)
送光用光ファイバ2の分岐側端部には光源8およびレン
ズ9が隣接して設けられ、また受光用光ファイバ3の分
岐側端部には分光器1゜およびイメージセンサアレイ1
1ヲ含む分析装置12が隣接して設けられている。
測定端部6を測定対象組織13に接触させた状態で光源
8からレンズ9を経て送光用光ファイバ2に光を送9こ
み、測定端部6がら光を測定対象組織13に照射する。
組織からの反射光を受光用ファイバ3で受は分光器10
およびイメージセンサアレイ11ヲ含む分析装置12に
伝達し、ここで測定光をスペクトル分析する。分析結果
はCRTやグラフィックブリ/りにより表示することが
できる。
実際のプローブ1の形状としては第6図に示すように送
光用光ファイバ2と受光用光ファイ・く3の分岐側端部
がコネクタ部18として形成されており、分岐した送光
用光ファイバ2および受光用光ファイバ3はそれぞれコ
ネクタ金具20.19に接続されている。プローブ1は
コネクタ部18を介して光源および分析装置を含む測定
装置に接続される。
このような組織スペクトル測定プローブを使用して正確
な測定を行うためには、測定の際プローブが測定対象組
織に接触したこと全確認することが必要である。この方
法として第7図に示すように高周波微小電流を測定対象
組織を含む測定対象物14上に設けたアース電極15と
プローブ1先端に取付けたスリーブ16との間に流し、
プローブ先端が組織に接触した際の接触イ/ピーグ/ス
を測定する方法が用いられている。第8図は第7図の接
触検知方法に使用される接触検知回路の回路図、第9図
はプローブ先端外周に嵌挿されるスリーブ16とスリー
ブ16に接続されたリード線17を示す。
しかしながら上記従来のプローブのための接触検知の装
置においては下記問題点があった。
(1)スリーブ16がプローブ先端外周に嵌挿される構
造のため、スリーブが取付けられた状態ではプローブ先
端部の径が大きくなってしまう。
(2)  l) −)゛線17がプローブの外部をプロ
ーブに沿って延伸することになる。
組織スペクトル測定プローブは内視鏡の鉗子口?通じて
体内、たとえば胃の粘膜のスにクトルを調べることが必
要とされる場合があるが、上記理由によりスリーブ全取
付けた状態ではプローブを内視鏡の鉗子口を通して体内
へ挿入することが困難であった。またこの外部リード線
を伴ったスリースを取付けたプローブは取扱いも面倒な
ものであった。
(ハ)発明の目的 本発明は上記従来の事情に鑑みなされたものであって、
測定対象組織との接触検知を行うことができ、なおかつ
内視鏡の鉗子口を通して体内に挿入することができ、さ
らに取扱いが簡単な組織スペクトル測定プローブを提供
することを目的としている。
に)発明の構成 この目的のため本発明は互いに概ね並行する複数の送光
用光ファイバ素線と受光用光ファイバ素線がそれぞれの
端面が同一面上に整列され几一体光ファイバ束として形
成された測定端部と、前記複数の送光用光ファイバ素線
と受光用光ファイバ素線が互いに分岐独立した光ファイ
バ束を形成してそれぞれ送光および受光コネクタ金具に
接続されたコネクタ端部とを有し、前記測定端部が」]
1定対象組織に接触させられる組織スペクトル測定ブロ
ーズにおいて、前記複数の送光用または受光用光ファイ
バ素線の少くとも1本が全長にわたり外周に金属被膜を
形成されており、前記金属被膜を形成された光ファイバ
素線が前記送光または受光コネクタ金具の少くとも一方
に導電可能に接触するよう接続されたことを特徴とする
これによシ測定対象組織との接触検知を行うことがでさ
、なおかつ内視鏡の鉗子口を通して体内に挿入すること
ができ、さらに取扱いが簡単な組織スペクトル測定プロ
ーブが提供される。
(ホ)発明の実施例 以下図面を参照して本発明の好ましい実施例について説
明する。第1図は本発明に係る組織スペクトル測定プロ
ーブの軸方向断面図である。組織スペクトル測定プロー
ブ21は第6図に示したプローブ1と基本的に同様であ
シ複数の送光用光ファイバ素線2′と受光用光ファイバ
素線3′が先端側では被覆層4に覆れた一体の光ファイ
バ束5として構成され、その先端が測定端部6を形成し
ている。またコネクタ部11−形成する他端では互いに
分岐独立してそれぞれ送光および受光コネクタ金具20
.19に接続されている。しかしながら本発明によるプ
ローブにおいてはあらかじめ化学メッキ、真空蒸着また
はスパッタリング等の手段により十分な導電性を有する
金属被膜を外周全長にわたって形成された光ファイバ素
線が少くとも1本送光用および/または受光用光ファイ
バに組み込まれている。第1図に示した実施例において
は複数の受光用光ファイバ素線3′のすべてが金属被膜
22を設けられている。これら外周全長に金属被膜22
ヲ設けられた複数の受光用光ファイバ素線3′はプロー
ブ21の全長、すなわち測定端部6先端から受光コネク
タ金具19まで延伸している。プローブ21の測定端部
6先端においては光ファイバ素線の端面ば全て同一面上
に整列されている。そして複数の受光用光ファイバ素線
3′外周の金属被膜22の先端断面が露出してプローブ
21の導電接触部23ヲ形成する。また受光用コネクタ
金具19部分においては複数の受光用光ファイバ素線3
′が一列に並置され、各々の素線がその外周面を両側か
らコネクタ金具19により挟圧保持されている。したが
って受光用光ファイバ素線の外周の金属被@22が受光
用コネクタ金具19と接触して互いに導電可能とされて
いる。この構造において受光用コネクタ金具19を第8
図に示したプローブ導電接触部への回路に接続すること
により高周波微小電流が受光コネクタ金具19から受光
用光ファイバ素線3′の外周の金属被膜22へ流れ、す
なわち測定端部6先端の導電接触部23へ流れる。した
がってプローブ21の測定端部6が測定対象組織に接触
すると導電接触部23も測定対象組織に接触するため第
7図に示した場合と同様にアース電極15と導電接触部
23との間に高周波微小電流が流れ、このときの接触イ
ンピーダンスを測定することによりプローブ21の接触
検知全行うことができる。光ファイバ素線の金属被膜は
本実施例によらず受光用光ファイバ素線3′のかわりに
送光用光ファイバ素線2′に設けることもできるし、受
光用光ファイバ素線3′と送光用光ファイバ素線2′の
両方に設けることもできる。上記光ファイバ素線の金属
被膜は微小電流を通すだけなので極めて薄層で良く、か
つ1本の光ファイバ素線のみに金属被膜を設けるだけで
も機能を満足することができる。金属被膜の材質として
は生体に直接接触することを考慮し、白金、金、鎖環耐
食性に優れ几貴金属であることが望ましい。組織スペク
トル測定プローブの接触検知のため上記外周に金属被膜
を形成した光ファイバ素線をプローブに含める方法は金
属リード線を光ファイバ束に含めて延伸させる方法に比
ベプローブ使用時の曲げ、ねじり等に対する耐久性に優
れ、またプローグ外表面を滑らかに保つ上で有利である
(ハ)発明の効果 以上のように本発明においては互いに概ね並行する複数
の送光用光ファイバ素線と受光用光ファイバ素線がそれ
ぞれの端面が同一面上に整列され九一体光ファイバ束と
して形成された測定端部と、前記複数の送光用光ファイ
バ素線と受光用光ファイバ素線が互いに分岐独立した光
ファイバ束を形成してそれぞれ送光および受光コネクタ
金具に接続され念コネクタ端部とヲ有し、前記測定端部
が測定対象組織に接触させられる組織スにクトル測定プ
ローブにおいて、前記複数の送光用または受光用光ファ
イバ素線の少くとも1本が全長にわたり外周に金属被膜
全形成されており、前記金属被膜全形成された光ファイ
バ素線が前記送光または受光コネクタ金具の少くとも一
方に導゛電可能に接触するよう接続されたことを特徴と
する。
これによりプローブに含まれて延伸する1本または複数
の光ファイバ素線の外周に形成された金属被膜が測定端
部先端でその断面を露出しかつ測定端部先端からコネク
タ金具の間を導電可能とさせるtめ、リート9線全外部
に延伸させることなくプローブの対象組織への接触検知
を可能にした組織スにクトル測定プローブが提供される
。また1本または複数の光ファイバ素線の外周に形成さ
れた金属被膜は薄層である念め金属被膜の存在によるプ
ローブ外径寸法の増加はきわめてわずかである。したが
ってこの組織スにクトル測定プローブは内視鏡の鉗子口
を通して体内に挿入するのに適し、しかも取扱いが簡単
である。
【図面の簡単な説明】
纂1図は本発明による組織測定プローブの軸方向断面図
、 第2図は第1図の線A−AK沿った断面図、第3図は第
1図の右側面図、 第4図は組織ス(クトル測定プローブの構成概念および
測定原理を示す概要図、 第5図は第4図に対応するブロック図、第6図は組織ス
ペクトル測定プローブの実際の輪郭を示す斜視図、 第7図は組織スペクトル測定プローブを使用する際の接
触検知方法を示す概要図、 第8図は第7図の接触検知方法に使用される接触検知回
路の回路図、 第9図は従来の組織ス〈クトル測定プローブに使用され
てい友接触検知のためのり−ド線付スリーブの斜視図。 1.21・・・組織スにクトル測定プコーグ2.2′・
・・送光用光ファイバ素線 3.3′・・・受光用光ファイバ素線 6・・・測定端部     18・・・コネクタ部19
・・・受光コネクタ金具 20・・・送光コネクタ金具
22・・・金属被膜 第4図 第7図 第8図 第9図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)互いに概ね並行する複数の送光用光ファイバ素線
    と受光用光ファイバ素線がそれぞれの端面が同一面上に
    整列された一体光ファイバ束として形成された測定端部
    と、前記複数の送光用光ファイバ素線と受光用光ファイ
    バ素線が互いに分岐独立した光ファイバ束を形成してそ
    れぞれ送光および受光コネクタ金具に接続されたコネク
    タ端部とを有し、前記測定端部が測定対象組織に接触さ
    せられる組織スペクトル測定プローブにおいて、前記複
    数の送光用または受光用光ファイバ素線の少くとも1本
    が全長にわたり外周に金属被膜を形成されており、前記
    金属被膜を形成された光ファイバ素線が前記送光または
    受光コネクタ金具の少くとも一方に導電可能に接触する
    よう接続されたことを特徴とする組織スペクトル測定プ
    ローブ。
  2. (2)前記金属被膜が化学メッキ、真空蒸着またはスパ
    ッタリングのいずれかの方法により光ファイバ素線の外
    周に形成されたことを特徴とする特許請求の範囲第1項
    に記載の組織スペクトル測定プローブ。
  3. (3)前記金属被膜が貴金属からなることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項または第2項に記載の組織スペク
    トル測定プローブ。
  4. (4)前記貴金属が金、銀または白金のいずれかである
    ことを特徴とする特許請求の範囲第3項に記載の組織ス
    ペクトル測定プローブ。
JP59185893A 1984-09-05 1984-09-05 組織スペクトル測定プロ−ブ Pending JPS6164231A (ja)

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JPS6164231A true JPS6164231A (ja) 1986-04-02

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6340529A (ja) * 1986-08-05 1988-02-20 大塚電子株式会社 生体の臓器、組織の拡散反射特性測定方法およびその装置

Cited By (1)

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