JPS6179111A - 透明体表面の検査方法 - Google Patents

透明体表面の検査方法

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JPS6179111A
JPS6179111A JP20253384A JP20253384A JPS6179111A JP S6179111 A JPS6179111 A JP S6179111A JP 20253384 A JP20253384 A JP 20253384A JP 20253384 A JP20253384 A JP 20253384A JP S6179111 A JPS6179111 A JP S6179111A
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JP
Japan
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light
inspection
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transparent
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JP20253384A
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JPH042881B2 (ja
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Akira Hagiwara
明 萩原
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SASAKI GLASS KK
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SASAKI GLASS KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、ガラス、プラスチック等の透明体の表面を検
査する方法に関する。
〔発明の背景〕
従来よ)、例えばガラス加工製品であるガラス食器(タ
ンブラ−等)の製品検査は種々の方法によって行なわれ
ており、古くは作業員による目視による光の透過、屈折
、反射などの総曾的な検査が知られる他、近時では機械
的、光学的な機器を用いた検査も広く行なわれるよう例
なっている。
機器検査としては、例えばブリセレクタと呼ばれる第4
図に示すような光学検査法があり、発光部5から検査対
象物6を透過した光を検査部7で入力し、検査部ではリ
ニヤCCD等を柑いて検査対象物の回転をさせながら透
過光の光強度変化を情報として製品の良否を判断する方
式のもの、あるいはCSマシンと呼ばれる第5図に示す
ような機械的および光学的ないくつかの検査ステーショ
ンをもつものもあり、これは一般的に、機械的に高き、
口径、真円等の測定、天面のチェック等を行ない、光学
的に胴バネ、口部チェックなどを行なっている。
しかし、これらの機器検査による場仕は検査対象の細か
い形状については検査測定できない問題がちシ、特に表
面の型スジ、サザナミ、キズなどの不良判断には限界が
伴なうし、前記CSマシンでは各機器のセツティングが
容易でないなどの難もある。一方目視検査は機器検査特
有の難はないが、検査基準のバラツキ(個人差、疲労の
影響等)、照明設備等への配慮など別の問題がある。
したがってこれらのことからして、機器検査における従
来の弱点を改善することが求められ、特に製品表面の細
かなスジ等の正確かつ簡易な検査方法の提案が望まれて
いる。
〔発明の目的〕
本発明は以上のような観点からなされえものであり、製
品に対し、非接触な状態で検査できる光学検査法により
、ガラス、プラスチック等の透明体表面のスジ等の検出
を容易とした検査方法の提供を目的とする。
〔発明の概要〕
光学検査法によシガラス体表面の検査を行なう場合に問
題となるのは、検査対象が透明体(若干の着色された透
明体も同じ)であるため、光の屈折15反射等にて検査
光として得られる入力情報が一定光路に特定されない点
にある。これは、入力された検査光の光強度に変化を生
じた場合に、この原因が製品の表面、内部、反対側表面
のいずれに存在しているか簡単には判別できないことに
つながる。
そこで本発明者等は、検査対象が透明体であることを前
提として、検査光として測定IsWされる光が特定され
た一つの光路をたどったものとなるようにすることの工
夫を重ねた結果、不発明をなすに至ったのであり、これ
はガラス、プラスチック等の透明体も、全波長領域の光
に対し透明ではなく、所定領域の波長光に対しては不透
明(光を透過しない)であることに着目してなされたも
のである。
而して前記した目的を達成するためになされた本発明方
法の要旨とするところは、ガラス、プラスチック等の透
明体を検査対象として、この透明体を実質的に透過しな
い波長の光を透明体表面で反射させ、この反射光を測定
判断装置の入力信号とすることを特徴とする透明体表面
の検査方法にある。
本発明の検査対象となる透明体は、本床が代表的に適用
されるタンブラ−等のガラス食器である場曾の他、これ
以外のガラス製品、レンズ等、あるいはプラスチック製
品など、あるいは着色された透明体であってもよく、要
は゛、通常(可視領域の波長光)は透明であるが、これ
以外のある所定の波長の光を透過しないものであればよ
い。例えば一般的な食器用のガラスは第3図の分光透過
曲線中のA、、 A、、  A、で示す如く波長約33
0nm以下の(紫外)光に対して実質的に不透明であり
、同第3図のBで示す一般写真撮影用レンズは波長約3
60nm以下の光に対して実質的に不透明である。また
プラスチックでは例えばアクリル樹脂透明体は390n
m以下の波長の光に対して実質的不透明である。
したがって、これらの各透明体に対して夫々の透過しな
い波長領域の光を検査光として使用できる。
〔発明の実施態様〕
本発明を図面に示した実施態様に基づいて更に詳しく説
明すると、第1図に示す如く、検査対象物1(例えばガ
ラス食器)に対して光源2と受光部3を所定の位置関係
に配置し、受光部3は更に測定判断装置4に成気的〈接
続されるみ前記光源2は例えばガラス食器に対して33
0nm以下の検査光を発光するもの(フィルターの利用
等による)を用いてもよいが、一般的にこの330nm
以下の波長光を含むキセノンランプ等が好ましく使用さ
れる。
受光部3は、一般的には、前記330 nm以下の検査
光を通すがそれ以上の波長は遮蔽するフィルター(図示
せず)と、このフィルターを介して検査光を受けるIJ
 ニヤCCD等の組合せにより構成され、CODからの
電気信号を受けた測定判断装置4が検査光強度の変動の
大きさ等に基づいて検査製品の良否を判断するよう罠な
っている。
このような構成によれば、例えば第2図により説明され
る如く、検査対象物1に対して光源から照射された光は
、屈折、透過反射等によって■、■、■の方向に進み、
また室内照明等の系外光源(図中仮想光源2′で示す)
からの光■が存在することになるが、受光部のフィルタ
ーを通してリニヤCCDに入射される検査光は光■のみ
となり、他は入射されない。したがってガラス食器等の
表面検査が非接触の光学方式で正確、迅速にかつ容易に
行なえることになる。
なお、検査の対象は例えばガラス食器の外表面は勿論、
対象物の形状、光源・受光部の配置関係により内表面に
ついても検査可能である仁とは言うまでもない〇 〔発明の効果〕 本発明は以上述べた如く非接触型の光学方式の検査法と
して、ガラス、プラスチック等の透明体表面を正確、詳
細に、しかも容易に検査できるものであり、その有用性
は極めて犬なるものである。
【図面の簡単な説明】
図面第1図は本発明方法の実施態様を説明するための図
、第2図は検査対象とこれに照射された光の関係を説明
する図、第3図は透明体の分光透過曲線を示す図、第4
図、第5図は夫々、従来法を説明するだめの1である0 1・・・検査対象物    2・・・光源2′・・・仮
想光臨     3・・・受光部(検査部)4・・・測
定判断装置B、5・・・光源6・・・検査対象物   
 7・・・受光部0第 〕1; 第2 4′

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ガラス、プラスチック等の透明体を検査対象として、こ
    の透明体を実質的に透過しない波長の光を透明体表面で
    反射させ、この反射光を測定判断装置の入力信号とする
    ことを特徴とする透明体表面の検査方法。
JP20253384A 1984-09-27 1984-09-27 透明体表面の検査方法 Granted JPS6179111A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20253384A JPS6179111A (ja) 1984-09-27 1984-09-27 透明体表面の検査方法

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JP20253384A JPS6179111A (ja) 1984-09-27 1984-09-27 透明体表面の検査方法

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Publication Number Publication Date
JPS6179111A true JPS6179111A (ja) 1986-04-22
JPH042881B2 JPH042881B2 (ja) 1992-01-21

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ID=16459070

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007271410A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Dainippon Printing Co Ltd 欠陥検出方法、欠陥検出装置及び欠陥検出プログラム
CN105571824A (zh) * 2014-10-13 2016-05-11 南昌欧菲光电技术有限公司 滤光片检验方法和装置

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JP2007271410A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Dainippon Printing Co Ltd 欠陥検出方法、欠陥検出装置及び欠陥検出プログラム
CN105571824A (zh) * 2014-10-13 2016-05-11 南昌欧菲光电技术有限公司 滤光片检验方法和装置
CN105571824B (zh) * 2014-10-13 2019-01-04 南昌欧菲光电技术有限公司 滤光片检验方法和装置

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JPH042881B2 (ja) 1992-01-21

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